JPS6136172B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6136172B2 JPS6136172B2 JP305978A JP305978A JPS6136172B2 JP S6136172 B2 JPS6136172 B2 JP S6136172B2 JP 305978 A JP305978 A JP 305978A JP 305978 A JP305978 A JP 305978A JP S6136172 B2 JPS6136172 B2 JP S6136172B2
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- Japan
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- level
- output
- heating
- detector
- level detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 14
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 11
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 11
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 10
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、不純物濃度測定装置の改良に関す
る。
る。
従来、プランギング計と称される不純物濃度測
定装置が知られている。この装置は、液体に含ま
れる不純物の飽和溶解度が温度によつて変化する
現象を利用したもので、通常、第1図に示すよう
に構成されている。すなわち、試料液体を通流さ
せる流路1内に上記流路1の通流断面積を局部的
に小さくする絞り板2を設け、さらに上記絞り板
2の上流側に加熱冷却機構3を、また下流側に電
磁流量計等からなる流量計4を設けている。加熱
冷却機構3は、流路1を選択的に加熱するヒータ
5と、流路1を選択的に冷却する送風機6とで構
成されている。そして、上記ヒータ5と送風機6
とは制御器7を介して排他的に入力が供給され
る。しかして、前記流量計4の出力は、レベル検
出器8に導入される。レベル検出器8は第2図
a,bに示すように流量計4の出力Pがあるレベ
ルV1より高い場合には出力Xを送出し、レベル
V0より低い場合には反転出力Yを送出するよう
に構成されている。そして、上記出力X、Yは、
制御器7に導入され、この制御器7は、出力Xが
導入されたとき送風器6を付勢するように制御
し、また出力Yが導入されたときヒータ5を付勢
するように制御する。なお、図中9は絞り板2の
近傍温度を検出する温度検出器を示している。
定装置が知られている。この装置は、液体に含ま
れる不純物の飽和溶解度が温度によつて変化する
現象を利用したもので、通常、第1図に示すよう
に構成されている。すなわち、試料液体を通流さ
せる流路1内に上記流路1の通流断面積を局部的
に小さくする絞り板2を設け、さらに上記絞り板
2の上流側に加熱冷却機構3を、また下流側に電
磁流量計等からなる流量計4を設けている。加熱
冷却機構3は、流路1を選択的に加熱するヒータ
5と、流路1を選択的に冷却する送風機6とで構
成されている。そして、上記ヒータ5と送風機6
とは制御器7を介して排他的に入力が供給され
る。しかして、前記流量計4の出力は、レベル検
出器8に導入される。レベル検出器8は第2図
a,bに示すように流量計4の出力Pがあるレベ
ルV1より高い場合には出力Xを送出し、レベル
V0より低い場合には反転出力Yを送出するよう
に構成されている。そして、上記出力X、Yは、
制御器7に導入され、この制御器7は、出力Xが
導入されたとき送風器6を付勢するように制御
し、また出力Yが導入されたときヒータ5を付勢
するように制御する。なお、図中9は絞り板2の
近傍温度を検出する温度検出器を示している。
しかして、この装置は次にようにして不純物濃
度を測定するようにしている。すなわち、レベル
V0を設定した状態で流路1に試料液体を通流さ
せる。この場合、流量計4の出力レベルがレベル
V0より高いときは、信号Xが送出され、これに
よつて送風機6だけが付勢される。このため、絞
り板2をある温度に冷却された液体が通過するこ
とになる。今、液体中に不純物が含まれていると
すると、この不純物の飽和溶解度が温度によつて
変化し、飽和溶解度を越えた分が絞り板2に析出
される。したがつて、絞り板2の通流面積が小さ
くなり、これに伴なつて流量計4の出力も減少す
る。そして、流量計4の出力がレベルV0より低
下すると、こんどはレベル検出器8から信号Yが
出力され、これによつてヒータ5だけが付勢され
る。ヒータ5の付勢によつて絞り板2を通過する
液体の温度も上昇するので、今まで絞り板2に析
出されていた不純物もその温度における飽和溶解
度に達するまで溶解する。したがつて、こんどは
絞り板2の通流面積が大きくなり、これに伴なつ
て流量計4の出力も増大する。そして、流量計4
の出力が増大してレベルV0を越えると、前述の
如く信号Xが送出され送風機6が付勢される。上
述した動作から明らかなように、この装置は、流
量がほぼ一定となるように絞り板2を通過する液
体の温度を制御している。したがつて、不純物が
多量に含まれているときには、絞り板2を通過す
る液体の温度が必然的に高く保たれ、また不純物
が少量しか含まれていないときには、絞り板2を
通過する液体の温度が必然的に低く保たれるの
で、温度と不純物濃度との関係を予め求めてお
き、この関係と温度検出器9から得られた温度と
から不純物濃度を求めるようにしている。
度を測定するようにしている。すなわち、レベル
V0を設定した状態で流路1に試料液体を通流さ
せる。この場合、流量計4の出力レベルがレベル
V0より高いときは、信号Xが送出され、これに
よつて送風機6だけが付勢される。このため、絞
り板2をある温度に冷却された液体が通過するこ
とになる。今、液体中に不純物が含まれていると
すると、この不純物の飽和溶解度が温度によつて
変化し、飽和溶解度を越えた分が絞り板2に析出
される。したがつて、絞り板2の通流面積が小さ
くなり、これに伴なつて流量計4の出力も減少す
る。そして、流量計4の出力がレベルV0より低
下すると、こんどはレベル検出器8から信号Yが
出力され、これによつてヒータ5だけが付勢され
る。ヒータ5の付勢によつて絞り板2を通過する
液体の温度も上昇するので、今まで絞り板2に析
出されていた不純物もその温度における飽和溶解
度に達するまで溶解する。したがつて、こんどは
絞り板2の通流面積が大きくなり、これに伴なつ
て流量計4の出力も増大する。そして、流量計4
の出力が増大してレベルV0を越えると、前述の
如く信号Xが送出され送風機6が付勢される。上
述した動作から明らかなように、この装置は、流
量がほぼ一定となるように絞り板2を通過する液
体の温度を制御している。したがつて、不純物が
多量に含まれているときには、絞り板2を通過す
る液体の温度が必然的に高く保たれ、また不純物
が少量しか含まれていないときには、絞り板2を
通過する液体の温度が必然的に低く保たれるの
で、温度と不純物濃度との関係を予め求めてお
き、この関係と温度検出器9から得られた温度と
から不純物濃度を求めるようにしている。
しかしながら、上記のように構成された従来の
装置にあつては、次のような問題があつた。すな
わちこの装置は、前述した説明から明らかなよう
に流量計4の出力信号を基準にして加熱冷却機構
3を制御している。したがつて、加熱冷却機構3
を正しく動作させるには、流量計4の出力信号P
がレベルV0より大きいか小さいかをレベル検出
器8で正確に判断させる必要があり、このために
レベル検出器8としては応答性の良いものを用い
なければならない。
装置にあつては、次のような問題があつた。すな
わちこの装置は、前述した説明から明らかなよう
に流量計4の出力信号を基準にして加熱冷却機構
3を制御している。したがつて、加熱冷却機構3
を正しく動作させるには、流量計4の出力信号P
がレベルV0より大きいか小さいかをレベル検出
器8で正確に判断させる必要があり、このために
レベル検出器8としては応答性の良いものを用い
なければならない。
しかし、流量計4として電磁流量計を用いた場
合、電磁流量計の出力信号は一般に数mV〜数10
mVと小さいので、第3図aに示すように雑音成
分の比重が大きくなる。このためレベル検出器8
は雑音成分によつても感応し、その結果、出力信
号が第3図bに示すように理想的な出力形態とは
異なつたものとなり、これが、原因して流量が第
4図に示すように変動し、正確な濃度測定ができ
ない欠点があつた。
合、電磁流量計の出力信号は一般に数mV〜数10
mVと小さいので、第3図aに示すように雑音成
分の比重が大きくなる。このためレベル検出器8
は雑音成分によつても感応し、その結果、出力信
号が第3図bに示すように理想的な出力形態とは
異なつたものとなり、これが、原因して流量が第
4図に示すように変動し、正確な濃度測定ができ
ない欠点があつた。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたも
ので、その目的とするところは、雑音成分によつ
て制御状態が乱されるのを防止でき、もつて、流
量の変動を抑制でき、その結果、正確な濃度測定
を行なえる不純物濃度測定装置を提供することに
ある。
ので、その目的とするところは、雑音成分によつ
て制御状態が乱されるのを防止でき、もつて、流
量の変動を抑制でき、その結果、正確な濃度測定
を行なえる不純物濃度測定装置を提供することに
ある。
以下、本発明の詳細を図示の実施例によつて説
明する。
明する。
第5図では本発明に係る装置の一実施例を示す
もので、第1図と同一部分は同一符号で示してあ
る。したがつて、重復する部分の説明は省略す
る。
もので、第1図と同一部分は同一符号で示してあ
る。したがつて、重復する部分の説明は省略す
る。
この装置が従来装置と異なる点は、レベル検出
器として反転特性がヒステリシス特性に設定され
たものを用いたことにある。すなわち、流量計4
の出力信号を記録装置11に導入するとともに増
幅器12を介してレベル検出器13に導入してい
る。レベル検出器13は、たとえば2接点式のメ
ータリレーで、増幅器12の出力信号P0が第6図
に示すように第1の設定レベルV1より増加する
方向に変化した時点から上記第1の設定レベル
V1より小さい第2の設定レベルV2より減少する
方向へ変化するまでの期間は出力Xを送出し、上
記第2の設定レベルV2より減少する方向へ変化
した時点から上記第1の設定レベルV1より増加
する方向へ変化するまでの間は反転出力Yを送出
するように構成されている。すなわち、出力の反
転にヒステリシス特性をもたせている。そしてレ
ベル検出器13の出力は制御器7に導入される。
この制御器7は、出力信号Xが導入されると送風
機6を付勢し、また出力信号Yが導入されるとヒ
ータ5を付勢する。
器として反転特性がヒステリシス特性に設定され
たものを用いたことにある。すなわち、流量計4
の出力信号を記録装置11に導入するとともに増
幅器12を介してレベル検出器13に導入してい
る。レベル検出器13は、たとえば2接点式のメ
ータリレーで、増幅器12の出力信号P0が第6図
に示すように第1の設定レベルV1より増加する
方向に変化した時点から上記第1の設定レベル
V1より小さい第2の設定レベルV2より減少する
方向へ変化するまでの期間は出力Xを送出し、上
記第2の設定レベルV2より減少する方向へ変化
した時点から上記第1の設定レベルV1より増加
する方向へ変化するまでの間は反転出力Yを送出
するように構成されている。すなわち、出力の反
転にヒステリシス特性をもたせている。そしてレ
ベル検出器13の出力は制御器7に導入される。
この制御器7は、出力信号Xが導入されると送風
機6を付勢し、また出力信号Yが導入されるとヒ
ータ5を付勢する。
このような構成であれば、レベル検出器13の
検出特性にヒステリシス特性をもたせているの
で、流量計4の出力信号に雑音成分が混入して
も、この雑音成分によつて必要時点以外の時点に
頻繁に加熱、冷却が繰り返えされる虞れがない。
すなわち、レベル検出器13の入力信号POの波
形は、第3図では説明を簡単化するために大雑把
に描かれているが、実際にはノイズの影響で第6
図に示すような波形となつている。今、時点t1に
着目すると、高調波を含んだレベル検出器13の
入力信号POが第1の設定レベルV1を越ええる
と、レベル検出器13は出力Xを送出する。レベ
ル検出器13は、前述のようなヒステリシス特性
を有しているので、時点t1を経過した後、入力信
号POが第1の設定レベルV1より低下しても第2
の設定レベルV2より低下しない限り出力Xの送
出を継続する。そして、時点t2に至つて入力信号
POのレベルが第2のレベルV2より低下すると、
レベル検出器13は出力Xの送出を停止し代りに
出力Yを送出する。レベル検出器13は、前述の
ようなヒステリシス特性を有しているので、時点
t2を経過した後、入力信号POが第2の設定レベ
ルV2を越えても第1の設定レベルV1を越えない
限り出力Yの送出を継続する。このため、出力
X、Yの切り換り時点において出力X、Yが交互
に送出されて、冷却、加熱が頻繁に繰返される現
象の発生が確実に防止されることになる。したが
つて、流量が変動するのを抑えることが可能とな
り、結局、正確な濃度測定を行なうことができ
る。また、設定レベルを1点とした従来装置に較
べて制御位相を進ませることができるので流量リ
ツプを小さくでき、より正確な濃度測定を実施で
きる利点もある。また、設定レベルが2点である
から、たとえば流量波形がダブルブレークの場合
であつても何ら支障なく濃度測定が行なえる。
検出特性にヒステリシス特性をもたせているの
で、流量計4の出力信号に雑音成分が混入して
も、この雑音成分によつて必要時点以外の時点に
頻繁に加熱、冷却が繰り返えされる虞れがない。
すなわち、レベル検出器13の入力信号POの波
形は、第3図では説明を簡単化するために大雑把
に描かれているが、実際にはノイズの影響で第6
図に示すような波形となつている。今、時点t1に
着目すると、高調波を含んだレベル検出器13の
入力信号POが第1の設定レベルV1を越ええる
と、レベル検出器13は出力Xを送出する。レベ
ル検出器13は、前述のようなヒステリシス特性
を有しているので、時点t1を経過した後、入力信
号POが第1の設定レベルV1より低下しても第2
の設定レベルV2より低下しない限り出力Xの送
出を継続する。そして、時点t2に至つて入力信号
POのレベルが第2のレベルV2より低下すると、
レベル検出器13は出力Xの送出を停止し代りに
出力Yを送出する。レベル検出器13は、前述の
ようなヒステリシス特性を有しているので、時点
t2を経過した後、入力信号POが第2の設定レベ
ルV2を越えても第1の設定レベルV1を越えない
限り出力Yの送出を継続する。このため、出力
X、Yの切り換り時点において出力X、Yが交互
に送出されて、冷却、加熱が頻繁に繰返される現
象の発生が確実に防止されることになる。したが
つて、流量が変動するのを抑えることが可能とな
り、結局、正確な濃度測定を行なうことができ
る。また、設定レベルを1点とした従来装置に較
べて制御位相を進ませることができるので流量リ
ツプを小さくでき、より正確な濃度測定を実施で
きる利点もある。また、設定レベルが2点である
から、たとえば流量波形がダブルブレークの場合
であつても何ら支障なく濃度測定が行なえる。
以上詳述したように、本発明によれば、雑音が
侵入しても制御形態が乱れることがなく、常に安
定した流量制御が行なえ、もつて正確な濃度測定
が行なえる不純物濃度測定装置を提供できる。
侵入しても制御形態が乱れることがなく、常に安
定した流量制御が行なえ、もつて正確な濃度測定
が行なえる不純物濃度測定装置を提供できる。
第1図は従来装置の構成説明図、第2図は同装
置の動作を説明するための図、第3図および第4
図は同装置の問題点を説明するための図、第5図
は本発明の一実施例の構成説明図、第6図は同実
施例の動作を説明するための図である。 1……流路、2……絞り板、3……加熱冷却機
構、4……流量計、7……制御器、9……温度検
出器。
置の動作を説明するための図、第3図および第4
図は同装置の問題点を説明するための図、第5図
は本発明の一実施例の構成説明図、第6図は同実
施例の動作を説明するための図である。 1……流路、2……絞り板、3……加熱冷却機
構、4……流量計、7……制御器、9……温度検
出器。
Claims (1)
- 1 液体流路と、この流路を局部的に狭めるよう
に設けられた絞り部と、この絞り部が位置する部
分より上流側に設けられ前記流路を選択的に加熱
および冷却する加熱冷却機構と、前記絞り部が位
置する部分より下流側に設けられた流量計と、前
記絞り部の温度を検出する温度検出器と、前記流
量計の出力が第1のレベルV1より増加する方向
へ変化した時点から上記第1のレベルV1より小
さい第2のレベルV2より減少する方向へ変化す
るまでの期間は第1の出力を送出し、上記第2の
レベルV2より減少する方向へ変化した時点から
上記第1のレベルV1より増加する方向へ変化す
るまでの期間は第2の出力を送出するヒステリシ
ス特性を有したレベル検出器と、このレベル検出
器から前記第1の出力が送出されて間は前記加熱
冷却機構を冷却側に動作させ、上記レベル検出器
から前記第2の出力が送出されている間は上記加
熱冷却機構を加熱側に動作させる制御器と、前記
流量計の出力と前記温度検出器の出力とを記録す
る記録装置とを具備してなることを特徴とする不
純物濃度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP305978A JPS5496099A (en) | 1978-01-14 | 1978-01-14 | Impurity concentration measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP305978A JPS5496099A (en) | 1978-01-14 | 1978-01-14 | Impurity concentration measuring apparatus |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5496099A JPS5496099A (en) | 1979-07-30 |
| JPS6136172B2 true JPS6136172B2 (ja) | 1986-08-16 |
Family
ID=11546743
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP305978A Granted JPS5496099A (en) | 1978-01-14 | 1978-01-14 | Impurity concentration measuring apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5496099A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6276656U (ja) * | 1985-11-01 | 1987-05-16 |
-
1978
- 1978-01-14 JP JP305978A patent/JPS5496099A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5496099A (en) | 1979-07-30 |
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