JPS6133531Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 この考案は、アナログ量を示す複数の入力信号
の一つを選択し、このアナログ量に対応したデイ
ジタル量として所定の処理を行う選択計測装置に
関するものである。

従来の選択計測装置は、たとえば第１図に示す
ように、計測すべき物理量を電気的なアナログ量
に変換するｎ個のトランスデユーサ１ａ〜１ｎの
出力信号を選択するｎ個の接点３ａ〜３ｎと、こ
の接点３ａ〜３ｎの一つを介して選択されたトラ
ンスデユーサ１ａ〜１ｎの一つの出力信号のアナ
ログ量をデイジタル量に変換するＡ／Ｄ変換器８
と、得られたデイジタル量にもとづいて所定の処
理を行うデータ処理装置９とを有している。また
各接点３ａ〜３ｎとＡ／Ｄ変換器８との間に挿入
された接点５ａ〜５ｎは、接点３ａ〜３ｎの一つ
が閉路したときに、これに対応するものが図示し
ない選択補助リレーの動作によつて閉路されるよ
うになつている。さらに接点５ａ〜５ｎからＡ／
Ｄ変換器８に至る回路を点検するために、定電圧
源２およびｎ個の接点４ａ〜４ｎが設けられてい
る。

トランスデユーサ１ａに対応する回路を点検す
る場合には、図示しない点検用補助リレーおよび
選択補助リレーの動作によつて、接点３ａは開路
に、また接点４ａおよび５ａは閉路になる。これ
によつてＡ／Ｄ変換器８の入力端には、閉路にな
つた接点４ａおよび５ａを介して、定電圧源２の
出力電圧が供給されることになり、この電圧は、
Ａ／Ｄ変換器８でデイジタル信号に変換されたの
ち、データ処理装置９に入力される。実際にデー
タ処理装置９に入力されたデイジタル量をＸ、定
電圧源２の電圧をデイジタル変換した値をＹとす
るとき、データ処理装置９においてＸ−Ｙの演算
を行い、 ｜Ｘ−Ｙ｜≦Ｋ （Ｋは許容計測誤差） であれば、トランスデユーサ１ａに対応する回路
は正常であるが、 ｜Ｘ−Ｙ｜＞Ｋ であれば異常であると判定することができる。他
のトランスデユーサ１ｂ〜１ｎに対応する回路に
ついても同様にして点検することが可能である。

従来の選択計測装置は以上のように構成されて
いるので、点検を行うためには、各トランスデユ
ーサ１ａ〜１ｎにそれぞれ対応する回路内に、点
検時にだけ開路になるｎ個の接点３ａ〜３ｎと、
点検時にだけ閉路になるｎ個の接点４ａ〜４ｎを
設けることが必要であり、これらの点検用接点を
動作させる補助リレーとともに、全体としての回
路構成が複雑になるとともに、信頼性も低下し、
また点検される範囲も限定されるという欠点があ
つた。

この考案は、従来のものと比較して著るしく少
数の接点を設けるだけで、トランスデユーサから
データ処理装置に至る回路の点検を行うことがで
きるようにした選択計測装置を提供することを目
的としている。

つぎにこの考案の一実施例を図について説明す
る。第２図において、ｎ個のトランスデユーサ１
ａ〜１ｎの各出力端は、選択補助リレー（図示せ
ず）が付勢されたときに閉路になる接点５ａ〜５
ｎをそれぞれ介して、Ａ／Ｄ変換器８の入力端に
連なる線路Ｌ１，Ｌ２に接続されている。そして
Ａ／Ｄ変換器８の出力として得られたデイジタル
量が、第１図の場合と同様にデータ処理装置９に
送られるようになつている。

さらに線路Ｌ２上の適当な個所には接点６が挿
入され、この接点６と並列となるように定電圧源
２が接点７を介して接続されている。計測時に
は、接点６は閉路、接点７は開路であり、したが
つて接点５ａ〜５ｎの一つを閉路にすることによ
つて選択されたトランスデユーサ１ａ〜１ｎの一
つの出力信号は、線路Ｌ１，Ｌ２を経てＡ／Ｄ変
換器８に入力される。また点検時には、接点６が
開路に、接点７が閉路に切換えられ、これによつ
て線路Ｌ２に直列に定電圧源２が挿入される。

つぎにトランスデユーサ１ａからＡ／Ｄ変換器
８に至る回路を点検する場合について説明する。
この点検時には、点検６が閉路、接点７が開路の
状態で、接点５ａを閉路にし、このときにＡ／Ｄ
変換器８から得られるデイジタル量（これをX1
とする）まず検出する。つぎに接点６を開路に、
接点７閉路にして、トランスデユーサ１ａ、接点
５ａおよびＡ／Ｄ変換器８で構成された回路内に
定電圧源２を挿入し、このときにＡ／Ｄ変換器８
から得られるデイジタル量（これをX2とする）
を検出する。ここで、トランスデユーサ１ａの出
力アナログ量を理論的にデイジタル変換した理論
量をＹ１、トランスデユーサ１ａの出力アナログ
量に定電圧源２の出力電圧を加算したアナログ量
を理論的にデイジタル変換した理論量をY2、定
電圧源２の出力電圧を理論的にデイジタル変換し
た理論量をＫ（Ｋ＝Y2−Y1であり、一定値）と
する。

そしてデータ処理装置９では、 Ｋ−（X2−X1） の演算を行う。トランスデユーサ１ａ、接点５ａ
およびＡ／Ｄ変換器８からなる回路に異常がなけ
れば、 ｜Ｋ−（X2−X1）｜≦α〔α：許容計測誤差〕 となるはずである。しかし対象とする回路に異常
にもとづく減衰率Ｐ（Ｐ＜１）が存在する場合に
は、 X2−X1＝PY2−PY1 ＝Ｐ（Y2−Y1）＝PK であるため、 ｜Ｋ−（X2−X1）｜＞α となる。すなわちデータ処理装置９において、｜
Ｋ−（X2−X1）｜とαとの大きさを比較すること
によつて、対象とする回路の異常の有無を判定す
ることができる。また接点５ａ〜５ｎを順次に閉
路にしていくことによつて、トランスデユーサ１
ｂ〜１ｎにそれぞれ対応する回路について点検を
行うことができる。

なお上記の実施例において、接点６および７は
リレーの接点として説明したが、半導体スイツチ
であつてもよい。またこの考案は、トランスデユ
ーサの出力電圧を選択計測する場合のほか、出力
電流を選択計測する場合にも適用できる。

以上のようにこの考案によれば、第１図と第２
図との比較から明らかなように、点検のために必
要とされる接点の数がきわめて少なく、したがつ
て回路構成が簡略になつて安価に構成できるばか
りでなく、この種の装置として最も重要な信頼性
の向上が実現できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の選択計測装置の回路図、第２図
はこの考案の一実施例による選択計測装置の回路
図である。 １ａ〜１ｎ……トランスデユーサ、２……定電
圧源、５ａ〜５ｎ，６，７……接点、８……Ａ／
Ｄ変換器、９……データ処理装置。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 複数のトランスデユーサと、各トランスデユー
   サの出力端側に接続された第１の接点と、第１の
   接点が順次に閉路になることによつて各トランス
   デユーサの出力端が順次に接続される単一のアナ
   ログ・デイジタル変換器と、このアナログ・デイ
   ジタル変換器の出力側に接続されたデータ処理装
   置と、上記アナログ・デイジタル変換器と第１の
   接点の各々との間に挿入され、計測時には閉路
   に、点検時には開路になる第２の接点と、この第
   ２の接点と並列に、計測時には開路に、点検時に
   は閉路になる第３の接点を介して接続された定電
   圧源とを備え、上記データ処理装置は、第２の接
   点が閉路であるときに上記アナログ・デイジタル
   変換器から上記データ処理装置に入力されるデイ
   ジタル量と、第２の接点が開路、第３の接点が閉
   路であるときに上記アナログ・デイジタル変換器
   から上記データ処理装置に入力されるデイジタル
   量との差が一定であるかどうかを検出する回路を
   有している選択計測装置。