JPS6131925A - 液体ヘリウム液面計 - Google Patents
液体ヘリウム液面計Info
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- JPS6131925A JPS6131925A JP15488384A JP15488384A JPS6131925A JP S6131925 A JPS6131925 A JP S6131925A JP 15488384 A JP15488384 A JP 15488384A JP 15488384 A JP15488384 A JP 15488384A JP S6131925 A JPS6131925 A JP S6131925A
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- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 48
- 239000001307 helium Substances 0.000 title claims abstract description 48
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 48
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 10
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 4
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Classifications
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01F—MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
- G01F23/00—Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm
- G01F23/22—Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm by measuring physical variables, other than linear dimensions, pressure or weight, dependent on the level to be measured, e.g. by difference of heat transfer of steam or water
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- Fluid Mechanics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
超電導線の抵抗変化により液体ヘリウム液面を計測する
液体ヘリウム液面計に関する。
液体ヘリウム液面計に関する。
〈従来技術〉
従来、超電導線の抵抗変化を利用して液体ヘリウムの液
面を計測する液体ヘリウム液面計は、第7図に示すよう
に構成されており、その構成及び計測原理は次の通りで
ある。
面を計測する液体ヘリウム液面計は、第7図に示すよう
に構成されており、その構成及び計測原理は次の通りで
ある。
即ち、第7図において、1は液体ヘリウム、2はこの液
体へ9リウム1に上方から挿入された超電導線、3は定
電流源である。4はゼロ、フルスケール、”メジャーの
切換スイッチ、5はゼロ調整用抵抗、6・7は差動増巾
器、8は基準電圧設定器、9は表示器である。なお端子
a−bは互いに接続されている。
体へ9リウム1に上方から挿入された超電導線、3は定
電流源である。4はゼロ、フルスケール、”メジャーの
切換スイッチ、5はゼロ調整用抵抗、6・7は差動増巾
器、8は基準電圧設定器、9は表示器である。なお端子
a−bは互いに接続されている。
液体ヘリウム1の液面レベルの計測時には、超電導線2
の両端から定電流源3により定電流を流すと、液体ヘリ
ウム1に浸漬された部分は超電導状態となり、その抵抗
値が零となるので、超電導線2の両端電圧Vは、常電導
部の長さ、即ち液体ヘリウム1より上に出た部分の長さ
に比例することになる。
の両端から定電流源3により定電流を流すと、液体ヘリ
ウム1に浸漬された部分は超電導状態となり、その抵抗
値が零となるので、超電導線2の両端電圧Vは、常電導
部の長さ、即ち液体ヘリウム1より上に出た部分の長さ
に比例することになる。
従って、液体ヘリウム1の液面が超電導線2の下端すな
わち零点位置にある時の抵抗をRλとし、液面が超電導
線の下端から任意の位置Xにあるときの超電導線2の抵
抗をRxとしたとき(1)式の関係が成立する。
わち零点位置にある時の抵抗をRλとし、液面が超電導
線の下端から任意の位置Xにあるときの超電導線2の抵
抗をRxとしたとき(1)式の関係が成立する。
但し、 君:超電導線の長さ
に:比例係数
(1)式において、Rxを計測することにより任意の液
面位置Xが求められる。
面位置Xが求められる。
〈発明が解決しようとする問題点〉
しかしながら、実際には超電導線2の常電導部の抵抗に
は温度依存性があるため比例係数には一定でなく、常電
導部の温度分布Tに依存する(k−k(T))。しかも
この温度分布は、液体ヘリウム1のレベルXにより変化
する(T=T (x))。従って(1)式は以下の(2
)式となり、液面比X/βと抵抗比Rx / Rpは非
直線的な関係となる。
は温度依存性があるため比例係数には一定でなく、常電
導部の温度分布Tに依存する(k−k(T))。しかも
この温度分布は、液体ヘリウム1のレベルXにより変化
する(T=T (x))。従って(1)式は以下の(2
)式となり、液面比X/βと抵抗比Rx / Rpは非
直線的な関係となる。
この非直線性に起因する誤差は、”10〜15%の最大
誤差となるのが通常である。従らて第 図に示す従来の
液体ヘリウム液面計の出力の較正曲線は第8図に示すよ
うに零レベルにおける超電導線抵抗の見積り誤差の影響
が大きくなる。
誤差となるのが通常である。従らて第 図に示す従来の
液体ヘリウム液面計の出力の較正曲線は第8図に示すよ
うに零レベルにおける超電導線抵抗の見積り誤差の影響
が大きくなる。
また、この誤差を抑える方法として、超電導線自身の抵
抗温度係数を小さくする方法(特開昭49−60761
、特開昭52−48996 )が考案されているが、
常温から液体ヘリウム温度迄の広範囲の温度変化に対し
てはやはり数%の抵抗変化があるのが実情である。
抗温度係数を小さくする方法(特開昭49−60761
、特開昭52−48996 )が考案されているが、
常温から液体ヘリウム温度迄の広範囲の温度変化に対し
てはやはり数%の抵抗変化があるのが実情である。
本発明は上記問題点に鑑み、いかなる温度分布の環境に
おかれても超電導線の抵抗温度依存性の影響を補正して
常に正確な液面を計測し得るようにすることを目的とす
る。
おかれても超電導線の抵抗温度依存性の影響を補正して
常に正確な液面を計測し得るようにすることを目的とす
る。
く問題を解決するんめの手段〉
この技術的課題を解決する本発明の技術的手段は、液体
ヘリウムに挿入した超電導線の抵抗変化を利用して液体
ヘリウムの液面を測定するようにした液体ヘリウム液面
計において、前記超電導線の長手方向複数の基準位置に
、該長手方向と略直交する方向に屈曲して成る超電導線
の環状部を設け、液体ヘリウム液面がこれらの環状部を
通過する時の超電導線の抵抗の急激な変化を検出して、
この時の超電導線の抵抗値をその基準位置により較正す
ることである。
ヘリウムに挿入した超電導線の抵抗変化を利用して液体
ヘリウムの液面を測定するようにした液体ヘリウム液面
計において、前記超電導線の長手方向複数の基準位置に
、該長手方向と略直交する方向に屈曲して成る超電導線
の環状部を設け、液体ヘリウム液面がこれらの環状部を
通過する時の超電導線の抵抗の急激な変化を検出して、
この時の超電導線の抵抗値をその基準位置により較正す
ることである。
〈作 用〉
各環状部rの基準位置毎に超電導線11の抵抗値を実際
のレベルと較正しているので第4図に示す様に精度の高
い出力が得られる。さらに、すぐ前の2ケの実測値によ
り外挿演算を逐次行うことができるので、近似度の高い
勾配が得られ、従って精度の高い出力が求まる。
のレベルと較正しているので第4図に示す様に精度の高
い出力が得られる。さらに、すぐ前の2ケの実測値によ
り外挿演算を逐次行うことができるので、近似度の高い
勾配が得られ、従って精度の高い出力が求まる。
〈実施例〉
以下、本発明を図示の実施例に従って説明すると、第1
図は本発明の回路構成の一例を示し、同図において、1
0は超電導線11を有するセンサで、超電導線11には
第2図に示す如く長手方向に一定間隔おきに設けられた
複数の基準位置に、咳長手方向と直交する方向に屈曲し
て成る超電導線11の環状部rが設けられている。セン
サ10はデユワ内に設置され、液体ヘリウム12が上方
から注入される。超電導線11の上端及び下端には電流
リード線13及び電圧リード線14が接続されている。
図は本発明の回路構成の一例を示し、同図において、1
0は超電導線11を有するセンサで、超電導線11には
第2図に示す如く長手方向に一定間隔おきに設けられた
複数の基準位置に、咳長手方向と直交する方向に屈曲し
て成る超電導線11の環状部rが設けられている。セン
サ10はデユワ内に設置され、液体ヘリウム12が上方
から注入される。超電導線11の上端及び下端には電流
リード線13及び電圧リード線14が接続されている。
16は定電流電源、17は差動増幅器、18はA/D変
換器、ICはCPU、20はRAM、21はROM、2
2は表示器である。
換器、ICはCPU、20はRAM、21はROM、2
2は表示器である。
次に、回路の動作原理を、第3図に示す液体ヘリウムレ
ベルと超電導線11にかかる電圧VINとの関係を参照
しながら説明する。
ベルと超電導線11にかかる電圧VINとの関係を参照
しながら説明する。
液体ヘリウム12のレベルが増加し超電導線11の最初
の環状部ro (零点位置)に達すると、電圧VIN
は急激に一定幅だけ低下する。CPU19は連続的に電
圧VINを測定しているので、電圧VINが急激に変化
する時点は認知出来る。この時の電圧VINすなわちV
oをRAM20に記憶する。液体ヘリウム12のレベル
が増加し、次の環状部r1に達すると、CPU19は同
様な電圧VINの電圧低下を検知して、その時の電圧V
INすなわち■1をRAM20に記憶するとともに、以
下の(3)式で勾配k。
の環状部ro (零点位置)に達すると、電圧VIN
は急激に一定幅だけ低下する。CPU19は連続的に電
圧VINを測定しているので、電圧VINが急激に変化
する時点は認知出来る。この時の電圧VINすなわちV
oをRAM20に記憶する。液体ヘリウム12のレベル
が増加し、次の環状部r1に達すると、CPU19は同
様な電圧VINの電圧低下を検知して、その時の電圧V
INすなわち■1をRAM20に記憶するとともに、以
下の(3)式で勾配k。
を演算して、表示器22に以下の(4)式に示すレヘル
値lをβ2を認知する迄のレベル変化に対して出力する
。
値lをβ2を認知する迄のレベル変化に対して出力する
。
但し、kI :区間〔β0.β1〕での勾配A=61
+に1 (VIN Vl) (4)但し、β:
区間〔β畜、β2〕の任意の時刻におけるレベル出力値 同様な手順により、CPU19が第m・1番目の環状部
にを認知したら、その時の電圧V INすなわちVmを
RAM20に記憶するとともに、以下の(5)式で変化
勾配kmを演算して、表示器22に以下の(6)式に示
すレベルβをβm++を認知する迄のレベル変化に対し
て出力する。
+に1 (VIN Vl) (4)但し、β:
区間〔β畜、β2〕の任意の時刻におけるレベル出力値 同様な手順により、CPU19が第m・1番目の環状部
にを認知したら、その時の電圧V INすなわちVmを
RAM20に記憶するとともに、以下の(5)式で変化
勾配kmを演算して、表示器22に以下の(6)式に示
すレベルβをβm++を認知する迄のレベル変化に対し
て出力する。
但し、km :区間[6m−+、 (1m ]での勾
配(1=A m+km (VIN Vm ) (
6)但し、1:区間(#m、βm・1〕の任意の時刻に
おけるレベル出力値 以上の様に、各環状部rの基準位置毎に超電導線11の
抵抗値を実際のレベルにより較正しているので第4図に
示す様に精度の高い出力が得られる。
配(1=A m+km (VIN Vm ) (
6)但し、1:区間(#m、βm・1〕の任意の時刻に
おけるレベル出力値 以上の様に、各環状部rの基準位置毎に超電導線11の
抵抗値を実際のレベルにより較正しているので第4図に
示す様に精度の高い出力が得られる。
さらに、すぐ前の2ケの実測値により外挿演算を逐次行
っているので、近似度の高い勾配が得られ従って精度の
高い出力が求まる。
っているので、近似度の高い勾配が得られ従って精度の
高い出力が求まる。
以上の方法により、本液面計を初めて使用する場合にも
自動較正しながら液面レベルの計測ができる。なお、通
常の較正方法はデユワ内に溜った一定レベルの液体ヘリ
ウム12にセンサ1oヲ一定長さ毎挿入して行、出力と
比較する方法をとるが、この方法は超電導線11の温度
勾配が、デユワ内にセンサ10を設置して液が順次溜っ
ていく実際の場合と異なるため、誤差が生じる。本方式
は、この様な誤差がないことも特長としている。
自動較正しながら液面レベルの計測ができる。なお、通
常の較正方法はデユワ内に溜った一定レベルの液体ヘリ
ウム12にセンサ1oヲ一定長さ毎挿入して行、出力と
比較する方法をとるが、この方法は超電導線11の温度
勾配が、デユワ内にセンサ10を設置して液が順次溜っ
ていく実際の場合と異なるため、誤差が生じる。本方式
は、この様な誤差がないことも特長としている。
ところで、一旦各較正値を記憶した後では内部回路を較
正モードから計測モードに切り換えて、馳憶した較正値
を用いて内挿演算で出力することができる。この場合更
に精度は向上する。
正モードから計測モードに切り換えて、馳憶した較正値
を用いて内挿演算で出力することができる。この場合更
に精度は向上する。
なお、最初の較正モードの時に、区間(No。
11〕での出力は、勾配として設計値を用いることによ
り、出力させることとする。
り、出力させることとする。
第5図は本発明を応用した計測回路のブロック図を示し
、同図において、24は入力回路で、長手方向に複数の
環状部rが設けられた前記実施例と同様の超電導線11
の抵抗を計測する。25は較正値入力器で、入力回路2
4が現在計測している抵抗値に相当する液体ヘリウム1
2のレベル値を入力する。
、同図において、24は入力回路で、長手方向に複数の
環状部rが設けられた前記実施例と同様の超電導線11
の抵抗を計測する。25は較正値入力器で、入力回路2
4が現在計測している抵抗値に相当する液体ヘリウム1
2のレベル値を入力する。
26はモード切換スイッチで、これにより較正モードと
計測モードの2つのモード切り換えが可能である。27
はセット入力回路で、較正モードの時に入力回路24の
抵抗値−Rc + nと較正値入力回路25のレベル値
/c、1とを同時に読み込む。28は記憶回路で、上記
の複数の読み込み値の組(Rc、n −βc、n)(
但し、n = 1.+ 2+ 3+’−’−’−’−’
+ In+ m:読み込み個数〕を記憶する。29は演
算回路で、計測モードの時に上記入力回路で計測した抵
抗値Rと上記記憶値(Re、n ・I−c + n
)を用いて液体ヘリウム12のレベルを演算する。30
は演算式記憶回路で、演算回路29により演算するのに
必要な演算式、即ち前記実施例における弐(51(61
を記憶する。31は液体ヘリウム12のレベルを表示す
る表示回路である。
計測モードの2つのモード切り換えが可能である。27
はセット入力回路で、較正モードの時に入力回路24の
抵抗値−Rc + nと較正値入力回路25のレベル値
/c、1とを同時に読み込む。28は記憶回路で、上記
の複数の読み込み値の組(Rc、n −βc、n)(
但し、n = 1.+ 2+ 3+’−’−’−’−’
+ In+ m:読み込み個数〕を記憶する。29は演
算回路で、計測モードの時に上記入力回路で計測した抵
抗値Rと上記記憶値(Re、n ・I−c + n
)を用いて液体ヘリウム12のレベルを演算する。30
は演算式記憶回路で、演算回路29により演算するのに
必要な演算式、即ち前記実施例における弐(51(61
を記憶する。31は液体ヘリウム12のレベルを表示す
る表示回路である。
次に動作を説明する。
最初に、スイッチ26を較正モードに切り換え、液体ヘ
リウム12をデユワ−に一定レベルI!c、n (但
し、n :L2,3.、−−−−−、、m、 m :較
正点数〕毎に注入する。その時超電導線11の抵抗値R
c+n (n −1,2,3,−−−−−−、m
)を入力回路24を通して、同時にレベル値βC,n
(n =L2,3.−−−−−、m )を較正値入
力器25を通して、セント入力回路27でトリガー信号
を入力する毎に記憶回路28に読み込み、較正データ(
Rc、n −4c、n ) (n =1.2,3.
−−−−−−、+++)として記憶しておく。
リウム12をデユワ−に一定レベルI!c、n (但
し、n :L2,3.、−−−−−、、m、 m :較
正点数〕毎に注入する。その時超電導線11の抵抗値R
c+n (n −1,2,3,−−−−−−、m
)を入力回路24を通して、同時にレベル値βC,n
(n =L2,3.−−−−−、m )を較正値入
力器25を通して、セント入力回路27でトリガー信号
を入力する毎に記憶回路28に読み込み、較正データ(
Rc、n −4c、n ) (n =1.2,3.
−−−−−−、+++)として記憶しておく。
次に、スイッチ26を計測モードに切り換えて、入力回
路24を通して、液体ヘリウム計測時の超電導線11の
抵抗Rを読み込む。抵抗Rからその時の液体ヘリウム1
1のレベルβに換算するためには、記憶回路28に記憶
されているデータ(Rc、n −IC,n ) (
n=L2,3’、−一−−−−,m )と抵抗Rを用
い、演算式記憶回路30に記憶された演算式に従って求
める。この演算式は、超電導線11の材質により定めら
れる。以上で求められたレベル!は表示器31に表示さ
れる。
路24を通して、液体ヘリウム計測時の超電導線11の
抵抗Rを読み込む。抵抗Rからその時の液体ヘリウム1
1のレベルβに換算するためには、記憶回路28に記憶
されているデータ(Rc、n −IC,n ) (
n=L2,3’、−一−−−−,m )と抵抗Rを用
い、演算式記憶回路30に記憶された演算式に従って求
める。この演算式は、超電導線11の材質により定めら
れる。以上で求められたレベル!は表示器31に表示さ
れる。
なお、記憶回路28に記憶されたデータは、同一デユワ
−での液体ヘリウム12のレベルの計測を続ける限り保
持される。また別のデユワ−での計測を行うためには、
スイッチ26を較正モードにすると、自動的に前の較正
記憶値をクリヤーされるので、再較正すればよい。
−での液体ヘリウム12のレベルの計測を続ける限り保
持される。また別のデユワ−での計測を行うためには、
スイッチ26を較正モードにすると、自動的に前の較正
記憶値をクリヤーされるので、再較正すればよい。
以上で述べた回路等で計測回路を構成することにより、
デユワ−毎に異なる温度分布の影響を受けることなく、
すなわち種々環境でも汎用的に、しかも非常に高い精度
で液体ヘリウムレベルを計測することができる。つまり
、液体ヘリウムを溜めるデユワ−の形状や構造によりデ
ユワ−内の温度分布は異なり、従って同じ液面レベルで
も超電導線11の抵抗値は異なる故、使用するデユワ−
毎に液体ヘリウム液面計を較正する必要があるが、この
ように形状、構造の異なる種々デユワ−に対しても汎用
的に、非常に高い精度で液体ヘリウムレベルが計測でき
る。なお、この計測回路の動作を流れ図によって示すと
、第6図に示す如くなる。
デユワ−毎に異なる温度分布の影響を受けることなく、
すなわち種々環境でも汎用的に、しかも非常に高い精度
で液体ヘリウムレベルを計測することができる。つまり
、液体ヘリウムを溜めるデユワ−の形状や構造によりデ
ユワ−内の温度分布は異なり、従って同じ液面レベルで
も超電導線11の抵抗値は異なる故、使用するデユワ−
毎に液体ヘリウム液面計を較正する必要があるが、この
ように形状、構造の異なる種々デユワ−に対しても汎用
的に、非常に高い精度で液体ヘリウムレベルが計測でき
る。なお、この計測回路の動作を流れ図によって示すと
、第6図に示す如くなる。
〈発明の効果〉
本発明によれば、超電導線11の長手方向複数の基準位
置に、該長手方向と略直交する方向に屈曲して成る超電
導線11の環状部にを設け、液体ヘリウム液面がこれら
の環状部にを通過する時の超電導線11の抵抗の急激な
変化を検出して、この時の超電導線11の抵抗値をその
基準位置により較正するので、超電導線11の常電溝部
抵抗の温度依存による、この抵抗のレベル変化に対する
非直線性を極めて正確に補正でき、精度の高い出力が得
られる。
置に、該長手方向と略直交する方向に屈曲して成る超電
導線11の環状部にを設け、液体ヘリウム液面がこれら
の環状部にを通過する時の超電導線11の抵抗の急激な
変化を検出して、この時の超電導線11の抵抗値をその
基準位置により較正するので、超電導線11の常電溝部
抵抗の温度依存による、この抵抗のレベル変化に対する
非直線性を極めて正確に補正でき、精度の高い出力が得
られる。
第1図は本発明の一実施例を示す構成図、第2図は同セ
ンサ部分の側面図、第3図は同液体ヘリウムレベルと超
電導線にかかる電圧VINとの関係を示すグラフ、第4
図は同液体ヘリウムレベルと液面計出力との関係を示す
グラフ、第5図は他の実施例を示すブロック回路図、第
6図は同回路の動作を示す流れ図、第7図は従来例を示
す構成図、第8図は従来例液体ヘリウムレベルと液面計
出力との関係を示すグラフである。 11・・・超電導線、12・・・液体ヘリウム、r・・
・環状部。 特 許 出 願 人 株式会社神戸製鋼所手続補正書
(自発) 昭和59年8 月21日 昭和59年特許 願第154883 号2、発 明
の名称 液体ヘリウム液面計 3 補正をする者 事件との関係 特許出願人 (119) 株式会社神戸製鋼所 4、代理人 ・577 6、補正の対象 7、 補正の内容 [11明細書第4頁第1行目の「第 図」を「第7図」
と訂正する。 (2) 同第6員第14行目の「この時のlrこの変
化した時の」と訂正する。 (3)同第6頁第18行目の「その時の電圧vlNすな
わちv、」t−[その低下1後の電圧vINすなわちV
、lお工びv、 Jと訂正する。 (4) 同第7頁第3行目の 訂正・する。 (6) 同第7頁第8行目の「第m+1番目」を「第
m番目」と訂正する。 16) 同第7頁1410行目の[Vm J f 「
v’ntオzびVmJと訂正する。 (7) 同第7頁m14行目の と訂正する。 (81同第9頁@16行目の「個数」を「回数」と訂正
する。 (9)図面の第3図を別紙の通り訂正する。 第3図 液イ本へリッムレベJl/
ンサ部分の側面図、第3図は同液体ヘリウムレベルと超
電導線にかかる電圧VINとの関係を示すグラフ、第4
図は同液体ヘリウムレベルと液面計出力との関係を示す
グラフ、第5図は他の実施例を示すブロック回路図、第
6図は同回路の動作を示す流れ図、第7図は従来例を示
す構成図、第8図は従来例液体ヘリウムレベルと液面計
出力との関係を示すグラフである。 11・・・超電導線、12・・・液体ヘリウム、r・・
・環状部。 特 許 出 願 人 株式会社神戸製鋼所手続補正書
(自発) 昭和59年8 月21日 昭和59年特許 願第154883 号2、発 明
の名称 液体ヘリウム液面計 3 補正をする者 事件との関係 特許出願人 (119) 株式会社神戸製鋼所 4、代理人 ・577 6、補正の対象 7、 補正の内容 [11明細書第4頁第1行目の「第 図」を「第7図」
と訂正する。 (2) 同第6員第14行目の「この時のlrこの変
化した時の」と訂正する。 (3)同第6頁第18行目の「その時の電圧vlNすな
わちv、」t−[その低下1後の電圧vINすなわちV
、lお工びv、 Jと訂正する。 (4) 同第7頁第3行目の 訂正・する。 (6) 同第7頁第8行目の「第m+1番目」を「第
m番目」と訂正する。 16) 同第7頁1410行目の[Vm J f 「
v’ntオzびVmJと訂正する。 (7) 同第7頁m14行目の と訂正する。 (81同第9頁@16行目の「個数」を「回数」と訂正
する。 (9)図面の第3図を別紙の通り訂正する。 第3図 液イ本へリッムレベJl/
Claims (1)
- 1、液体ヘリウム12に挿入した超電導線11の抵抗変
化を利用して液体ヘリウム12の液面を測定するように
した液体ヘリウム液面計において、前記超電導線11の
長手方向複数の基準位置に、該長手方向と略直交する方
向に屈曲して成る超電導線11の環状部rを設け、液体
ヘリウム液面がこれらの環状部にを通過する時の超電導
線11の抵抗の急激な変化を検出して、この時の超電導
線11の抵抗値をその基準位置により較正することを特
徴とする液体ヘリウム液面計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15488384A JPS6131925A (ja) | 1984-07-24 | 1984-07-24 | 液体ヘリウム液面計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15488384A JPS6131925A (ja) | 1984-07-24 | 1984-07-24 | 液体ヘリウム液面計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6131925A true JPS6131925A (ja) | 1986-02-14 |
| JPH0339620B2 JPH0339620B2 (ja) | 1991-06-14 |
Family
ID=15594035
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15488384A Granted JPS6131925A (ja) | 1984-07-24 | 1984-07-24 | 液体ヘリウム液面計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6131925A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001099692A (ja) * | 1999-09-29 | 2001-04-13 | Saginomiya Seisakusho Inc | 液面検出用変換器および液面検出器 |
| US10174804B2 (en) | 2015-12-10 | 2019-01-08 | GM Global Technology Operations LLC | Torsional vibration absorber for a vehicle |
-
1984
- 1984-07-24 JP JP15488384A patent/JPS6131925A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001099692A (ja) * | 1999-09-29 | 2001-04-13 | Saginomiya Seisakusho Inc | 液面検出用変換器および液面検出器 |
| US10174804B2 (en) | 2015-12-10 | 2019-01-08 | GM Global Technology Operations LLC | Torsional vibration absorber for a vehicle |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0339620B2 (ja) | 1991-06-14 |
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