JPS6131920B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6131920B2 JPS6131920B2 JP5489777A JP5489777A JPS6131920B2 JP S6131920 B2 JPS6131920 B2 JP S6131920B2 JP 5489777 A JP5489777 A JP 5489777A JP 5489777 A JP5489777 A JP 5489777A JP S6131920 B2 JPS6131920 B2 JP S6131920B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- conversion element
- light
- differential amplifier
- probe
- electric
- Prior art date
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- Expired
Links
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 21
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 15
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 9
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 2
- 101150015217 FET4 gene Proteins 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000012777 electrically insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はオシロスコープのような計測器等に使
用するプローブ装置に関するものである。
用するプローブ装置に関するものである。
従来、プローブ装置はプローブ（探針）と呼ぶ
先端部から被測定信号を得てから計測器等の測定
器系に接続するまですべてを電気回路により構成
していた。
先端部から被測定信号を得てから計測器等の測定
器系に接続するまですべてを電気回路により構成
していた。
このためにとくに、測定系と被測定系の基準電
位もしくは接地電位を共通にしなければならなか
つた。そのため、測定系と被測定系とが同一電源
の場合、漏洩電流による測定系、被測定系とも破
損するという事故が発生し、問題となつていた。
またこれらの接続を行うことにより生じる相互の
電気的干渉を防ぐことはきわめて困難である。
位もしくは接地電位を共通にしなければならなか
つた。そのため、測定系と被測定系とが同一電源
の場合、漏洩電流による測定系、被測定系とも破
損するという事故が発生し、問題となつていた。
またこれらの接続を行うことにより生じる相互の
電気的干渉を防ぐことはきわめて困難である。
本発明はこれらの従来の欠点を解決したプロー
ブ装置を提供するものである。以下にその一実施
例について説明する。図面においてＡは被測定系
に接続するプローブの頭部、Ｂは被測定系とのイ
ンターフエースを行なうインターフエース部であ
る。１はプローブ、２は被測定系とプローブ頭部
Ａの基準電位点を接続するためのクリツプ、３は
対過電圧保護回路、４は電界効果トランジスタ
（FET）、５，６はそれぞれ発光ダイオード等の
電気―光変換素子、７は定電流源、８はFET４
と同一特性のFET、９，１０はグラスフアイバ
ー等の光伝導材料で伝導材率をよくするために外
周を非透過体で覆うことが好ましい。１１，１２
は光―電気変換素子、１３は光―電気変換素子１
１，１２の電圧の差を出力する出力回路、１４は
出力端子である。
ブ装置を提供するものである。以下にその一実施
例について説明する。図面においてＡは被測定系
に接続するプローブの頭部、Ｂは被測定系とのイ
ンターフエースを行なうインターフエース部であ
る。１はプローブ、２は被測定系とプローブ頭部
Ａの基準電位点を接続するためのクリツプ、３は
対過電圧保護回路、４は電界効果トランジスタ
（FET）、５，６はそれぞれ発光ダイオード等の
電気―光変換素子、７は定電流源、８はFET４
と同一特性のFET、９，１０はグラスフアイバ
ー等の光伝導材料で伝導材率をよくするために外
周を非透過体で覆うことが好ましい。１１，１２
は光―電気変換素子、１３は光―電気変換素子１
１，１２の電圧の差を出力する出力回路、１４は
出力端子である。
次にこの実施例の動作について説明する。
プローブ１から被測定信号が入力されない場合
には、FET４のゲートにはオフセツト電位が印
加され、FET８のゲートには上記オフセツト電
位に相当する基準電位ＶOが印加されている。そ
して、定電流源７にはFET４，８から等量の電
流が流れ込むこととなるので、電気―光変換素子
５，６は等量の光を発生する。この光は光伝導材
料９，１０を介して光―電気変換素子１１，１２
に達し、電位気信号となつて出力回路１３に入力
される。これら光―電気変換素子１１，１２の信
号は電位差がないので出力端子１４は「oV」と
なる。
には、FET４のゲートにはオフセツト電位が印
加され、FET８のゲートには上記オフセツト電
位に相当する基準電位ＶOが印加されている。そ
して、定電流源７にはFET４，８から等量の電
流が流れ込むこととなるので、電気―光変換素子
５，６は等量の光を発生する。この光は光伝導材
料９，１０を介して光―電気変換素子１１，１２
に達し、電位気信号となつて出力回路１３に入力
される。これら光―電気変換素子１１，１２の信
号は電位差がないので出力端子１４は「oV」と
なる。
次に、プローブ１から被測定信号が入力される
と、被測定信号がプラスの場合、電気―光変換素
子５に流れる電流が、電気―光変換素子６より多
くなるので、光伝導材料９に伝導される光量が光
伝導材料１０よりも多くなり、光―電気変換素子
１２から出力される電圧も光―電気変換素子１１
より大きくなる。そして出力回路１３からプラス
電圧が出力端子１４へ送出されることになる。
と、被測定信号がプラスの場合、電気―光変換素
子５に流れる電流が、電気―光変換素子６より多
くなるので、光伝導材料９に伝導される光量が光
伝導材料１０よりも多くなり、光―電気変換素子
１２から出力される電圧も光―電気変換素子１１
より大きくなる。そして出力回路１３からプラス
電圧が出力端子１４へ送出されることになる。
そして、被測定信号がマイナスの場合、電気―
光変換素子５に流れる電流が、電気―光変換素子
６より少なくなるので、光伝導材料９に伝導され
る光量が光伝導材料１０より少なくなり、光―電
気変換素子１２から出力される電圧も光―電気変
換素子１１より小さくなる。そして出力回路１３
からマイナス電圧が出力端子１４へ送出されるこ
ととなる。
光変換素子５に流れる電流が、電気―光変換素子
６より少なくなるので、光伝導材料９に伝導され
る光量が光伝導材料１０より少なくなり、光―電
気変換素子１２から出力される電圧も光―電気変
換素子１１より小さくなる。そして出力回路１３
からマイナス電圧が出力端子１４へ送出されるこ
ととなる。
このように、FET４，８と定電流源７とは差
動増幅器として動作することとなる。
動増幅器として動作することとなる。
ところでプローブ頭部Ａとインターフエース部
Ｂとは互いに独立の電源を備えることが容易であ
り、光伝導材料７にグラスフアイバのように電気
的絶縁材を用いればプローブ頭部Ａとインターフ
エース部Ｂは電気的に絶縁することが容易に実現
できる。
Ｂとは互いに独立の電源を備えることが容易であ
り、光伝導材料７にグラスフアイバのように電気
的絶縁材を用いればプローブ頭部Ａとインターフ
エース部Ｂは電気的に絶縁することが容易に実現
できる。
以上の実施例から明らかなように本発明によれ
ば一つもしくは複数の被測定系と測定系のいずれ
とも基準電位の違いを考慮せずに接続することが
可能で、かつ互いの電気的干渉をなくすることが
できるという効果を有する。
ば一つもしくは複数の被測定系と測定系のいずれ
とも基準電位の違いを考慮せずに接続することが
可能で、かつ互いの電気的干渉をなくすることが
できるという効果を有する。
図面は本発明の一実施例によるプローブの構成
図である。 １…プローブ、４，８…電界効果トランジス
タ、５，６…電気―光変換素子、７…定電流源、
９，１０…光伝導材料、１１，１２…光―電気変
換素子。
図である。 １…プローブ、４，８…電界効果トランジス
タ、５，６…電気―光変換素子、７…定電流源、
９，１０…光伝導材料、１１，１２…光―電気変
換素子。
Claims (1)
- １ 差動増幅器と、この差動増幅器のひとつの入
力端子に被測定信号を入力させるプローブと、上
記差動増幅器により増幅された上記被測定信号の
電流に応じて点灯する第１の電気―光変換素子
と、上記差動増幅器の他の入力端子に入力される
基準電位と、上記差動増幅器により増幅された上
記基準電位の電流に応じて点灯する第２の電気―
光変換素子と、上記第１の電気―光変換素子の光
を光伝導材料を介して電気に変換する第１の光―
電気変換素子と、上記第２の電気―光変換素子の
光を光伝導材料を介して電気に変換する第２の光
―電気変換素子と、上記第２の光―電気変換素子
の電圧を基準として、上記第１の光―電気変換素
子の電圧との差を送出することにより上記被測定
信号を得る出力回路とを具備したプローブ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5489777A JPS53139555A (en) | 1977-05-12 | 1977-05-12 | Probe apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5489777A JPS53139555A (en) | 1977-05-12 | 1977-05-12 | Probe apparatus |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS53139555A JPS53139555A (en) | 1978-12-05 |
| JPS6131920B2 true JPS6131920B2 (ja) | 1986-07-23 |
Family
ID=12983381
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5489777A Granted JPS53139555A (en) | 1977-05-12 | 1977-05-12 | Probe apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS53139555A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5719898A (en) * | 1980-07-07 | 1982-02-02 | Tokyo Shibaura Electric Co | Measuring device |
| JPS6362717U (ja) * | 1987-08-07 | 1988-04-25 |
-
1977
- 1977-05-12 JP JP5489777A patent/JPS53139555A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS53139555A (en) | 1978-12-05 |
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