JPS6131916A - 自動測距装置 - Google Patents
自動測距装置Info
- Publication number
- JPS6131916A JPS6131916A JP15298084A JP15298084A JPS6131916A JP S6131916 A JPS6131916 A JP S6131916A JP 15298084 A JP15298084 A JP 15298084A JP 15298084 A JP15298084 A JP 15298084A JP S6131916 A JPS6131916 A JP S6131916A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- image
- luminous flux
- beam splitter
- distance measuring
- Prior art date
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- Pending
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、照射型の自動測距装置に関する。
第１図は、従来の照射型の自動測距装置を示したもので
ある０図中１は発光素子、２は受光レンズ、３は光電変
換素子アレイ、４は被測距対象物５は発光素子より発し
た光束、６は４より反射した受光レンズ２に到達する光
束を示す発光素子の光軸上にある被測距対象物を照射す
ると、反射光線の一部は径路６を通って受光レンズ２に
入射し、光電変換素子上に照射面の像が結像する。被測
距対象物４が、均一な反射面であれば、第２図に示すよ
うに、光電変換素子゛−アレイ３上の光量分布の中心位
置が、実際の対象物４までの距離に対応する。しかし、
第３図に示すように対象物４が、不均一な反射面である
と、光電変換素子アレイ上の光量分布の中心位置と、実
際の対象物４までの距離に対応した正しい合焦位置との
間にずれが生じ、測距誤シが生じる。
ある０図中１は発光素子、２は受光レンズ、３は光電変
換素子アレイ、４は被測距対象物５は発光素子より発し
た光束、６は４より反射した受光レンズ２に到達する光
束を示す発光素子の光軸上にある被測距対象物を照射す
ると、反射光線の一部は径路６を通って受光レンズ２に
入射し、光電変換素子上に照射面の像が結像する。被測
距対象物４が、均一な反射面であれば、第２図に示すよ
うに、光電変換素子゛−アレイ３上の光量分布の中心位
置が、実際の対象物４までの距離に対応する。しかし、
第３図に示すように対象物４が、不均一な反射面である
と、光電変換素子アレイ上の光量分布の中心位置と、実
際の対象物４までの距離に対応した正しい合焦位置との
間にずれが生じ、測距誤シが生じる。
第４図は、上記方法の改善例である。発光素子７が照射
して生じた反射光は、光電変換素子アレイ９．１１によ
り各々光量分布を生じさせる・。
して生じた反射光は、光電変換素子アレイ９．１１によ
り各々光量分布を生じさせる・。
各々のアレイ上の光量分布の中心位置は、対象物１２０
反射面の中心方向を示す入射角度に対応しているから、
三角測量の原理で、対象物との距離を求める事ができる
。
反射面の中心方向を示す入射角度に対応しているから、
三角測量の原理で、対象物との距離を求める事ができる
。
しかし、測距誤差の発生を少なくするこの方法では、受
光素子数が倍になる欠点を有しているＯ 〔発明の目的〕 本発明の目的は、測距誤差の少ない自動測距装置を提供
することにある。
光素子数が倍になる欠点を有しているＯ 〔発明の目的〕 本発明の目的は、測距誤差の少ない自動測距装置を提供
することにある。
第５図に本発明の概略説明図を示す。
ビームスプリッタ１３の発光素子側に、凸レンズ２１が
あシ、発光素子より生じる光束を、平行光束として対象
物１８に照射する機能をもつ。
あシ、発光素子より生じる光束を、平行光束として対象
物１８に照射する機能をもつ。
対象物１８で反射した光束の一部は、光路１９゜２０を
径て、ビームスプリッタ１３．１４に入射する・。
径て、ビームスプリッタ１３．１４に入射する・。
ビー、ムスプリッタ１４に入射した光束は、内部の斜面
で反射し、凸レンズ２２を径て光電変換素子１７０入射
角に対応する位置に結像する。ビームスプリッタ１３に
入射した光束は、内部の斜面で反射した後、チョッパ１
６で周期的にさえぎられ、ビームスプリッタ１４を直進
し、凸レンズ２２テ′光電変換素子１７の入射角度に対
応する位置に結像する。
で反射し、凸レンズ２２を径て光電変換素子１７０入射
角に対応する位置に結像する。ビームスプリッタ１３に
入射した光束は、内部の斜面で反射した後、チョッパ１
６で周期的にさえぎられ、ビームスプリッタ１４を直進
し、凸レンズ２２テ′光電変換素子１７の入射角度に対
応する位置に結像する。
光電変換素子１７上の光量分布は、第６図に示すように
、光束１９と２０の合成像と光束２０のみの像の２つの
場合がある。合成像と、光束２０のみの像との差が、光
束１９のみの像であるからこれらを電気的に処理する事
で第４図に示す方式と同一方式の自動測距装置が実現す
る。
、光束１９と２０の合成像と光束２０のみの像の２つの
場合がある。合成像と、光束２０のみの像との差が、光
束１９のみの像であるからこれらを電気的に処理する事
で第４図に示す方式と同一方式の自動測距装置が実現す
る。
以下、本発明の一実施例を第７図によって説明する。図
中、２３は発光素子、２４．２５はレンズ。
中、２３は発光素子、２４．２５はレンズ。
２６は光電変換素子アレイ、２７．２８はビームスプリ
ッタ、２９は固体光チヨツパ−，３０は、素子駆動及信
号処理回路、３１はケース、３２．３３は反射光光束、
３４は対象物を示す。
ッタ、２９は固体光チヨツパ−，３０は、素子駆動及信
号処理回路、３１はケース、３２．３３は反射光光束、
３４は対象物を示す。
発光素子３１より発した光束は、ビームスプリッタ２７
を直進して、対、原物３４を照射する。
を直進して、対、原物３４を照射する。
対象物３４で反射した光束の一部は、径路５２を径てビ
ームスプリッタ２８に入射し、レンズ２５で光電変換素
子アレイ上に結像する。また、反射光束の一部は、径路
３３を径て、ビームスプリッタ２７で反射し、固体光チ
ヨツパ−２９に入射する。チョッパー２９は、印加電圧
によって、光の透過、遮断をする素子である。光が透過
する状態であれば、光電変換素子上に３２５６の入射角
に相当する光量分布が生じ、遮断する状態では、３２の
みの入射角に相当する光量分布か生じる。これを、信号
処理して、測距を行なう〔発明の効果〕 本発明によれば、光電変換素子アレイ１個で、２個使用
時と同レベルの測距精度を得る効果がある。
ームスプリッタ２８に入射し、レンズ２５で光電変換素
子アレイ上に結像する。また、反射光束の一部は、径路
３３を径て、ビームスプリッタ２７で反射し、固体光チ
ヨツパ−２９に入射する。チョッパー２９は、印加電圧
によって、光の透過、遮断をする素子である。光が透過
する状態であれば、光電変換素子上に３２５６の入射角
に相当する光量分布が生じ、遮断する状態では、３２の
みの入射角に相当する光量分布か生じる。これを、信号
処理して、測距を行なう〔発明の効果〕 本発明によれば、光電変換素子アレイ１個で、２個使用
時と同レベルの測距精度を得る効果がある。
第１図は、従来の単受光素子の照射型自動測距装置イの
構成図、第２図、第６図はその説明図。 第４図は従来の２受光素子の照射型口Ｗｂ側距装置の構
成図、第５図、第６図は、不発明の説明・図、第７図は
、本発明の一実施例の構成図である０ ２３・・・・・発光ダイオード ２７．２８・・・・・・ビームスフＩＪ 、、、 ター
２９・・・・・・光チョッパ ２４．２５・・・・・・レンズ ２６・・・・・・光電変換素子アレイ 第 １０ 第２２ 第３０ 僚幻冑ｒ−の 位置 位置 躬 ５乙 第６図 ｔ；−丁アしイ」：／１イ立１
構成図、第２図、第６図はその説明図。 第４図は従来の２受光素子の照射型口Ｗｂ側距装置の構
成図、第５図、第６図は、不発明の説明・図、第７図は
、本発明の一実施例の構成図である０ ２３・・・・・発光ダイオード ２７．２８・・・・・・ビームスフＩＪ 、、、 ター
２９・・・・・・光チョッパ ２４．２５・・・・・・レンズ ２６・・・・・・光電変換素子アレイ 第 １０ 第２２ 第３０ 僚幻冑ｒ−の 位置 位置 躬 ５乙 第６図 ｔ；−丁アしイ」：／１イ立１
Claims (1)
- １、指向される対象物を照射する発光部と、照射面より
反射する光束を受光する受光部と、信号処理部より構成
された自動測距装置において、受光窓を２つ有し、一方
は、発光部より生ずる光束の光軸上に配置し、他方は、
該受光窓より光軸と直角方向に、ずれた位置に配置し、
各窓に入射する２つの光束は、発光部より生じる光束束
の光軸上にあるビームスプリッタと光チョッパにより時
分割に結像レンズに入射し、測距方向に設けた光電変換
素子アレイにより時分割に２系統の光量分布が得られる
受光部を有する自動測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15298084A JPS6131916A (ja) | 1984-07-25 | 1984-07-25 | 自動測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15298084A JPS6131916A (ja) | 1984-07-25 | 1984-07-25 | 自動測距装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6131916A true JPS6131916A (ja) | 1986-02-14 |
Family
ID=15552328
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15298084A Pending JPS6131916A (ja) | 1984-07-25 | 1984-07-25 | 自動測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6131916A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009097833A (ja) * | 2007-10-19 | 2009-05-07 | Daikin Ind Ltd | 空気熱交換器 |
-
1984
- 1984-07-25 JP JP15298084A patent/JPS6131916A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009097833A (ja) * | 2007-10-19 | 2009-05-07 | Daikin Ind Ltd | 空気熱交換器 |
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