JPS61287632A - Wafer insertion-takeout device - Google Patents

Wafer insertion-takeout device

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Publication number
JPS61287632A
JPS61287632A JP60126341A JP12634185A JPS61287632A JP S61287632 A JPS61287632 A JP S61287632A JP 60126341 A JP60126341 A JP 60126341A JP 12634185 A JP12634185 A JP 12634185A JP S61287632 A JPS61287632 A JP S61287632A
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JP
Japan
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wafer
carrier
belt
frame
tilting
Prior art date
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Pending
Application number
JP60126341A
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Japanese (ja)
Inventor
Shunzo Imai
今井 俊三
Ryozo Hiraga
平賀 亮三
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Abstract

PURPOSE:To make insertion or takeout of a wafer to or from an optional housing groove inside a carrier performable at any time, by intercepting a front surface of the front-ward tiltable wafer carrier provided with an excite with a moving belt, while installing a wafer passing port in a part of the belt. CONSTITUTION:A device measures a position of a wafer passing hole 20a on the basis of a turning angle position of a sprocket 21 as a pusher 3 advances it tip end from a position 3a to 3b out of horizontality. Next, drums 22 and 22a are rotated by a motor, shifting a moving belt 20 to some extent, and the passing hole 20 is stopped at the front of a housing groove for the desired wafer. Afterward, the belt is moved to a corresponding position by forward and lifting mechanisms of a conveyor system, a frame 1 tilted with pushing force by a pusher 11, therefore a carrier housing 23 is tilted frontward by rotation of a cam 29, and it is controlled so as to cause a tip end of the frame 1 to be oppositely situated just before the passing hole 20a, whereby a wafer 25 slides inside the housing groove toward the belt 20, and the wafer situated in a position of the passing hole 20a alone passes through the belt 20, receiving vibrations of an exciter 40, and it goes out on the frame 1.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の利用分野] 本発明は、半導体焼付装置や検査装置などの半導体製造
装置において、多段のウェハ収納溝を有するウェハキャ
リアにウェハを挿入し、或いはそこからウェハを取り出
すためのウェハ挿入・取出装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Application of the Invention] The present invention is a semiconductor manufacturing device such as a semiconductor printing device or an inspection device, in which a wafer is inserted into a wafer carrier having a multistage wafer storage groove, or a wafer is removed from the wafer carrier. The present invention relates to a wafer insertion/takeout device for taking out wafers.

[従来技術] 従来のこの種のウェハ挿入・取出装置の概略を第48お
よび4b図に示す。
[Prior Art] A conventional wafer insertion/removal device of this type is schematically shown in FIGS. 48 and 4b.

ウェハキャリア101は内側面に多段の収納溝101a
を有し、各収納溝にはウェハ102がそれぞれ載置収納
される。キャリア101は図示しないモータにより回転
されるギヤ103によって上下移動するラック104と
結合されており、高さ位置を変えて下から順にウェハ1
02を搬送ベルト105上に載せて取り出すことができ
るようになっている。
The wafer carrier 101 has multistage storage grooves 101a on the inner surface.
A wafer 102 is placed and stored in each storage groove. The carrier 101 is connected to a rack 104 which is moved up and down by a gear 103 rotated by a motor (not shown), and the wafers 1 are loaded in order from the bottom by changing the height position.
02 can be placed on the conveyor belt 105 and taken out.

しかしながら従来の装置では、前記のような構成のため
、ウェハキャリアに収納されたウェハを順に下から取出
し、挿入時には逆に上の収納溝から順に挿入しなければ
ならず、多段の収納溝に対して例えば一段置き或いは任
意の段にウェハを挿入したりまたはそこから取り出した
りすることはできないという不都合があった。従来、特
にウェハの検査装置などでは前記不都合のためにウェハ
キャリアとして供給キャリアと回収キャリアとの一対の
キャリアを必ず準備しており、検査しないウェハも−H
供給キャリアから取り出して回収装置の大型化を招く欠
点があった。
However, in conventional equipment, due to the above-mentioned configuration, the wafers stored in the wafer carrier must be taken out from the bottom in order, and when inserted, the wafers must be inserted in the reverse order from the top storage groove, which makes it difficult to accommodate multiple storage grooves. However, there is a disadvantage in that it is not possible to insert or remove wafers from, for example, every other stage or any arbitrary stage. Conventionally, especially in wafer inspection equipment, a pair of carriers, a supply carrier and a collection carrier, are always prepared as wafer carriers due to the above-mentioned disadvantages, and wafers that are not inspected are also
There is a drawback that the collection device taken out from the supply carrier becomes larger.

[発明の目的] 本発明の課題は、前述の従来技術の欠点を除去して、ウ
ェハキャリアから取り出したウェハを元のウェハキャリ
アの同じ収納溝に戻すことを可能にして供給キャリアと
回収キャリアを同一ウェハキャリアで兼ねさせることの
できるウェハ挿入・取出装置を提供することである。
[Object of the Invention] An object of the present invention is to eliminate the drawbacks of the prior art mentioned above, and to make it possible to return a wafer taken out from a wafer carrier to the same storage groove of the original wafer carrier, so that a supply carrier and a collection carrier can be combined. It is an object of the present invention to provide a wafer insertion/extraction device that can be used as a wafer carrier.

[発明の構成] 前述の課題を達成するために本発明のウェハ挿入・取出
装置はウェハキャリアを傾動させる手段とウェハ選択手
段とざらにウェハキャリアに微小振動を与える加振手段
を備えており、前記キャリア傾動手段は、ウェハ収納溝
を多段に備えたウェハキャリアを、前記加振手段により
該ウェハキャリアおよびウェハに微小振動が与えられた
ときにウェハがその自重によってウェハ収納溝に沿って
滑動するに充分な角度だけ傾動させ、また前記選択手段
は、傾動後のウェハキャリアに対してウェハの滑動によ
るウェハキャリア内外間の移動を予め選択した所望のウ
ェハ収納溝についてのみ許容してその他の収納溝につい
てはこれを阻止するようになされている。
[Structure of the Invention] In order to achieve the above-mentioned problems, the wafer insertion/removal device of the present invention includes means for tilting a wafer carrier, a wafer selection means, and an excitation means for roughly applying minute vibrations to the wafer carrier. The carrier tilting means slides a wafer carrier having multiple stages of wafer storage grooves along the wafer storage grooves by its own weight when the wafer carrier and the wafer are subjected to minute vibrations by the vibration excitation means. The selection means allows movement of the wafer between the inside and outside of the wafer carrier due to sliding of the wafer with respect to the wafer carrier after the tilting, only for a preselected desired wafer storage groove, and for other storage grooves. Efforts have been made to prevent this.

本発明のひとつの態様において、前記選択手段はウェハ
通過孔付きの可動ベルトを含み、この可動ベルトはウェ
ハキャリアの前面を遮るように配設され、可動ベルトを
送り移動させることによりそのウェハ通過孔を所望位置
のウェハ収納溝の前面に位置させ、これにより、この選
択されたウェハ収納溝とキャリア外部との間のウェハの
移動を前記ウェハ通過孔を介して可能とし、その他の収
納溝に対しては可動ベルトで遮蔽するように構成される
。また、本発明の他の態様においては、前記加振手段は
前記傾動手段としてのキャリアハウジング内に付設され
た加振器を作動させて微小振動を与えるように構成され
る。
In one embodiment of the present invention, the selection means includes a movable belt with a wafer passage hole, the movable belt is disposed so as to block the front surface of the wafer carrier, and the movable belt is moved to move the movable belt to open the wafer passage hole. is located in front of the wafer storage groove at a desired position, thereby allowing the wafer to be moved between the selected wafer storage groove and the outside of the carrier via the wafer passage hole, and with respect to the other storage grooves. It is constructed to be shielded by a movable belt. Further, in another aspect of the present invention, the vibration excitation means is configured to apply a minute vibration by operating a vibrator attached within the carrier housing as the tilting means.

[発明の作用] 本発明のウェハ挿入・取出装置では、ウェハ挿入・取出
時にウェハキャリアを傾動して収納溝内に納められてい
るウェハの自重による滑動を可能化するとともに加振手
段によりウェハキャリア従ってウェハに微小摂動が与え
られるので、ウェハがより容易に滑動し得る状態となっ
ているので、挿入または取り出し対象の収納溝位置の前
面にウェハ搬送手段を位置させれば、所望の収納溝との
間でウェハの出し入れが可能であり、この際、出し入れ
対象外の収納溝の前面を選択手段によって遮蔽して、出
し入れを行なう収納溝についてのみウェハの滑動による
出し入れが可能となる。このため供給キャリアと回収キ
ャリアとに分けずとも、成る収納溝から取り出したウェ
ハを同一キャリアの元の収納溝に任意に戻すことが可能
であって、所望の任意の収納溝に対するウェハの出し入
れが任意に実行可能である。 本発明の一層の理解のた
めに、−実施例を図面と共に説明すれば以下の通りであ
る。
[Function of the Invention] In the wafer insertion/removal device of the present invention, the wafer carrier is tilted during wafer insertion/removal to enable the wafer stored in the storage groove to slide due to its own weight, and the wafer carrier is moved by the vibration means. Therefore, since a minute perturbation is applied to the wafer, the wafer is in a state where it can slide more easily. Therefore, if the wafer transfer means is positioned in front of the storage groove position to be inserted or removed, it is possible to move the wafer to the desired storage groove. Wafers can be taken in and taken out between the storage grooves, and at this time, the front surfaces of storage grooves that are not to be taken in and taken out are shielded by the selection means, so that wafers can be slid in and out only from the storage grooves to be taken in and taken out. Therefore, it is possible to arbitrarily return wafers taken out from storage grooves to the original storage groove of the same carrier without separating them into a supply carrier and a recovery carrier, and it is possible to put wafers in and out of any desired storage groove. Can be executed arbitrarily. For a better understanding of the present invention, embodiments will be described below with reference to the drawings.

[実施例コ 第1〜3図は本発明の実施例を示す。第1図では、ウェ
ハ25をウェハキャリア24内の収納溝に対して挿入・
取出操作するウェハ搬送装置の受渡部が、1度ウェハキ
ャリア24の前面に位置している。
[Embodiment Figures 1 to 3 show embodiments of the present invention. In FIG. 1, the wafer 25 is inserted into the storage groove in the wafer carrier 24.
The delivery section of the wafer transport device that performs the take-out operation is once located in front of the wafer carrier 24.

受渡部は、傾動フレーム1にガイド2,4によって摺動
可能に案内支持されたブツシャ3を含み、傾動フレーム
1は軸支部5によって固定フレーム9に枢支され、スプ
リング7によって常時時計方向に付勢されている。6.
8はスプリング7の引掛は部材であり、このスプリング
7に抗して傾動フレーム1を傾動させるために固定フレ
ーム9にはガイド10により別のブツシャ11が摺動可
能に取り付けられている。なお、3aはブツシャ3の後
退限における先端位置、3bは前進端における先端位置
を示す。以上の符号1〜11で示す各部材により前記受
渡部が構成され、該受渡部は図示しない搬送機構により
矢印X方向およびY方向に移動可能である。
The transfer section includes a pusher 3 that is slidably guided and supported by guides 2 and 4 on a tilting frame 1, and the tilting frame 1 is pivoted to a fixed frame 9 by a shaft support 5, and is always rotated clockwise by a spring 7. Forced. 6.
Reference numeral 8 designates a member for hooking the spring 7, and in order to tilt the tilting frame 1 against the spring 7, another button 11 is slidably attached to the fixed frame 9 by a guide 10. Note that 3a indicates the tip position of the bushing 3 at the backward limit, and 3b indicates the tip position at the forward end. The above-mentioned members indicated by reference numerals 1 to 11 constitute the transfer section, and the transfer section is movable in the directions of arrows X and Y by a transport mechanism (not shown).

一方、ウェハキャリア24側においては、ウェハ25の
通過孔20aを有する上下スライド扉となる可動ベルト
20がウェハキャリア25の前面を遮っており、この可
動ベルト20はウェハキャリアを保持するキャリアハウ
ジング23に軸支されたベルト送りスプロケット21.
21aを介してドラム22,22aに巻きとられており
、スプロケット21,21aの回転によってベルト20
を移動させることによりその通過孔20aを所望の収納
溝前面位置に位置させることができるようになっている
。キャリアハウジング23は支軸30によって枢支され
、ブツシャ27の上下動で支軸30のまわりに傾動可能
である。ブツシャ27は、図示しないモータによって軸
29aのまわりに回転されるカム29とベアリング28
を介して接触しており、固定ガイド26によって支持さ
れている。
On the other hand, on the wafer carrier 24 side, a movable belt 20 serving as a vertical sliding door having a passage hole 20a for the wafer 25 blocks the front surface of the wafer carrier 25, and this movable belt 20 is attached to a carrier housing 23 that holds the wafer carrier. Pivotally supported belt feed sprocket 21.
The belt 20 is wound around the drums 22, 22a via the belt 21a, and the belt 20 is wound by the rotation of the sprockets 21, 21a.
By moving the passage hole 20a, it is possible to position the passage hole 20a at a desired position in front of the storage groove. The carrier housing 23 is pivotally supported by a support shaft 30, and can be tilted around the support shaft 30 by vertical movement of the bushing 27. The bushing 27 includes a cam 29 and a bearing 28 that are rotated around a shaft 29a by a motor (not shown).
and is supported by a fixed guide 26.

すなわちカム29の回転によりキャリアハウジング23
は支軸30を中心に第1図に示す水平状態から第2図に
示す前傾状態、更には図示しないが逆方向に後傾、すな
わち通過孔20aが上を向く後傾状態に傾動する。また
、キャリアハウジング23には加振器40が備えられて
いる。この加振器40は、ウェハキャリアに微小振動を
加えてウェハを滑り易くするためのものである。
In other words, the carrier housing 23 is rotated by the rotation of the cam 29.
is tilted about the support shaft 30 from the horizontal state shown in FIG. 1 to the forward tilted state shown in FIG. 2, and further to the backward tilted state in the opposite direction (not shown), that is, to the backward tilted state in which the passage hole 20a faces upward. Further, the carrier housing 23 is equipped with a vibrator 40. This vibrator 40 applies minute vibrations to the wafer carrier to make the wafer easier to slide.

第3図は可動ベルト20部分の構成を示す模式斜視図で
あり、可動ベルト20の両側縁部には、スプロケット2
1,218のビン21bと係合してベルト送りをなすた
めの定間隔の送り孔20bが設けられている。スリット
状のウェハ通過孔20aの位置計測については、例えば
スプロケット21と連結された図示しない回転計等によ
って行なえばよい。
FIG. 3 is a schematic perspective view showing the structure of the movable belt 20. Sprockets 2 are provided at both side edges of the movable belt 20.
Feed holes 20b are provided at regular intervals for engaging with 1,218 bins 21b for belt feeding. The position of the slit-shaped wafer passage hole 20a may be measured by, for example, a tachometer (not shown) connected to the sprocket 21.

以上の構成において、先ずキャリア内からのウェハの取
出動作について説明する。
In the above configuration, first, the operation of taking out the wafer from within the carrier will be explained.

始めに装置は第1図の水平状態からプツシ1?3がその
先端を位置3aから3bへ進め、ウェハ通過孔20aの
位置を例えばこのときのスプロケット21の回転角位置
に基づいて計測する。
First, the pushers 1 to 3 move their tips from positions 3a to 3b from the horizontal state shown in FIG. 1, and the position of the wafer passage hole 20a is measured based on, for example, the rotation angle position of the sprocket 21 at this time.

次いで図示しないモータの回転によってドラム22.2
28を回転させて可動ベルト20を移動させ、この間の
スプロケット22の回転数などに基づいてウェハ通過孔
20aの位置を計測しつつ、通過孔20aが所望のウェ
ハの収納されている収納溝の前面で停止するようにする
Next, the drum 22.2 is rotated by a motor (not shown).
28 is rotated to move the movable belt 20, and while measuring the position of the wafer passage hole 20a based on the number of rotations of the sprocket 22 during this period, the passage hole 20a is positioned in front of the storage groove in which the desired wafer is stored. Make it stop at .

この後、受渡部を図示しない搬送装置の前進・昇降機構
によって対応位置に移動させ、そのブツシャ11による
押し上げでフレーム1を第2図に示す如く傾動させる。
Thereafter, the transfer section is moved to a corresponding position by the advancement/elevating mechanism of a transport device (not shown), and the frame 1 is tilted as shown in FIG. 2 by being pushed up by the pusher 11.

次いでカム29の回転によりブツシャ27を介してキャ
リアハウジング23が前傾され、このときウェハ通過孔
20aの直前にフレーム1の先端が対置するように制御
され、ウェハキャリア24内のウェハ25がベルト20
へ向けて収納溝内を滑動し、そのうちの通過孔20aの
位置にあるウェハのみがベルト20を通り抜けて外部の
フレーム1上に出てくる。
Next, the carrier housing 23 is tilted forward by the rotation of the cam 29 via the pusher 27, and at this time, the front end of the frame 1 is controlled to be opposed to the wafer passage hole 20a, and the wafer 25 in the wafer carrier 24 is moved to the belt 20.
The wafer slides in the storage groove toward the belt 20, and only the wafer located at the passage hole 20a passes through the belt 20 and emerges onto the external frame 1.

ところで、ウェハキャリアの前傾だけによりウェハの滑
動を開始させるためには、この前傾の角度は大きくなけ
ればならないが、角度が大きすぎると滑動は開始するも
のの一旦動き出したウェハのスピードが大きくなりずぎ
、フレーム1上での静止位置が不安定になり問題を起こ
しやすい。そこで、本発明においては、キャリアハウジ
ング23とウェハキャリア24との間に加振器40を設
け、この加i&器を作動させてウェハおよびウェハキャ
リア24に微小振動を与えることにより、ウェハとウェ
ハキャリア間の静止摩擦力を小さくしている。このため
、ウェハキャリア24の前傾の角度を小さくしてもウェ
ハは滑動を開始し、しかもそのスピードが大きくなり過
ぎるという問題はない。上記ウェハがベルト20の通過
孔20aを通り抜けてフレーム1上に出て来た際、位置
3bに先端を位置させていたブツシャ3を後退させるこ
とにより、ウェハはフレーム1上に取り出される。この
場合、ウェハキャリア24の前傾角を小さくしてウェハ
のスピードを抑えるようにすれば、より衝撃のない受け
取り動作を実現することができる。
By the way, in order for the wafer to start sliding simply by tilting the wafer carrier forward, the angle of this forward tilt must be large; however, if the angle is too large, although the wafer will start sliding, the speed of the wafer will increase once it starts moving. However, the stationary position on the frame 1 becomes unstable, which tends to cause problems. Therefore, in the present invention, a vibrator 40 is provided between the carrier housing 23 and the wafer carrier 24, and this vibration exciter is operated to apply minute vibrations to the wafer and the wafer carrier 24. This reduces the static friction between the two. Therefore, even if the angle of forward inclination of the wafer carrier 24 is reduced, there is no problem that the wafer starts sliding and the speed becomes too high. When the wafer passes through the passage hole 20a of the belt 20 and comes out onto the frame 1, the wafer is taken out onto the frame 1 by retracting the bushing 3 whose tip is located at the position 3b. In this case, by reducing the forward tilt angle of the wafer carrier 24 to suppress the speed of the wafer, a receiving operation with less impact can be realized.

この後、受渡部はフレーム1を水平状態に戻してから別
の場所にウェハを搬送し、ウェハは次なるチャックまた
はハンド装置等に渡されることになる。
Thereafter, the transfer section returns the frame 1 to a horizontal state and transfers the wafer to another location, whereupon the wafer is transferred to the next chuck or hand device.

逆にウェハをキャリア内に挿入する場合は、上)本の逆
の順序で行なわれることは述べるまでもなく、ウェハを
運んできたフレーム1を元の収納溝前面位置に対置させ
てウェハ通過孔20aを同位置に持ち来たし、しかる後
、ブツシャ3によりウェハを収納溝内に押し込み、或い
はフレーム1とキャリアハウジング23が前述と逆方向
への傾動し、ウェハを自重および加振器40が与える微
小振動による滑動によって元の収納溝内に戻すものであ
る。
On the other hand, when inserting a wafer into the carrier, it goes without saying that the process is done in the reverse order as shown above, and the frame 1 that carried the wafer is placed opposite the original front position of the storage groove and inserted into the wafer passage hole. 20a to the same position, and then the pusher 3 pushes the wafer into the storage groove, or the frame 1 and the carrier housing 23 are tilted in the opposite direction to the above, and the wafer is subjected to the minute vibrations given by its own weight and the vibrator 40. It returns to its original storage groove by sliding due to vibration.

[発明の効果] 以上に述べた如く、本発明によれば、前傾可能なウェハ
キャリアの前面を可動ベルトで遮断して該ベルトの一部
にウェハ通過孔を開口しであるので、キャリア内の任意
の位置の収納溝に対してウェハの挿入・取出しが順不同
に行なうことができ、従って従来のようにキャリアを供
給側と回収側との各々に設置けずに、同一キャリアから
供給したウェハを元に戻すことができるようになり、キ
ャリア設置対象の装置の小型化を計ることができるほか
、キャリア自体もウェハの挿入・取出しに収納溝内への
ハンド装置等の進入が不要であるので多段収納溝の段間
の間隙を小寸法にして多数枚のウェハの収納ができるよ
うになるものである。ざらにウェハの取出にあたっては
、ウェハの滑動のスピードを好ましい大きさに抑制する
ことができるため、このスピードが大きすぎて受取位置
での静止位置が不安定となることを防ぐことができる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, the front surface of the wafer carrier that can be tilted forward is blocked by the movable belt, and the wafer passage hole is opened in a part of the belt, so that the inside of the carrier is Wafers can be inserted into and taken out of storage grooves at arbitrary positions in random order. Therefore, wafers fed from the same carrier can be inserted and taken out from the same carrier without having to install carriers on the supply side and collection side as in the past. It is now possible to return the carrier to its original position, allowing for the miniaturization of the equipment on which the carrier is installed, and the carrier itself is multistage, as it is not necessary to enter a hand device, etc. into the storage groove to insert and remove wafers. A large number of wafers can be stored by reducing the gap between the stages of the storage groove. Roughly speaking, when taking out the wafer, the sliding speed of the wafer can be suppressed to a preferable level, so that it is possible to prevent the wafer from becoming too fast and making the stationary position at the receiving position unstable.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の実施例を示す概略側面図、第2図は同
じく傾動状態の概略側面図、第3図は可動ベルト部分の
要部を示す模式傾斜図、第4a図は従来例を示す模式側
面図、第4b図は前回の矢印へ方向からみた正面図であ
る。 1:傾動フレーム、3:ブツシャ、5:軸支部、7:ス
プリング、9:固定フレーム、1−1:フレーム傾動用
ブツシャ、20:可動ベルト、20a :ウエハ通過孔
、21.21a:スプロケット、22.22aニドラム
、23:キャリアハウジング、24:ウェハキャリア、
25:ウェハ、27:キャリア傾動用ブツシャ、29:
カム、29a:カム回転軸、30:支軸、40:加振器
Fig. 1 is a schematic side view showing an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a schematic side view similarly in a tilted state, Fig. 3 is a schematic inclined view showing the main part of the movable belt portion, and Fig. 4a is a conventional example. The schematic side view shown in FIG. 4b is a front view seen from the direction of the previous arrow. 1: Tilt frame, 3: Button, 5: Axial support, 7: Spring, 9: Fixed frame, 1-1: Frame tilting button, 20: Movable belt, 20a: Wafer passage hole, 21.21a: Sprocket, 22 .22a Ni drum, 23: carrier housing, 24: wafer carrier,
25: Wafer, 27: Carrier tilting button, 29:
Cam, 29a: cam rotation shaft, 30: support shaft, 40: vibrator.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 1.ウェハ収納溝を多段に備えたウェハキャリアを傾動
させる手段と、傾動後のウェハキャリアに対してウェハ
の滑動によるウェハキャリア内外間の移動を予め選択し
た所望のウェハ収納溝についてのみ許容してその他のウ
ェハ収納溝についてはこれを阻止する選択手段と、傾動
後のウェハキャリアに微小振動を与える加振手段とを備
えたことを特徴とするウェハ挿入・取出装置。
1. A means for tilting a wafer carrier having multiple stages of wafer storage grooves, and a means for tilting a wafer carrier that allows movement between the inside and outside of the wafer carrier by sliding the wafer against the wafer carrier after tilting only for a preselected desired wafer storage groove; A wafer insertion/retrieval device comprising a selection means for preventing the wafer storage groove from changing, and an excitation means for applying minute vibrations to the wafer carrier after tilting.
2.前記選択手段が、ウェハキャリアの前面を遮るよう
に配設された可動ベルトを含み、選択されたウェハ収納
溝とウェハキャリア外部との間のウェハの移動を許容す
るウェハ通過孔が前記可動ベルトに設けられている特許
請求の範囲第1項に記載のウェハ挿入・取出装置。
2. The selection means includes a movable belt disposed to block the front surface of the wafer carrier, and the movable belt has a wafer passage hole that allows movement of the wafer between the selected wafer storage groove and the outside of the wafer carrier. A wafer insertion/unloading device according to claim 1 is provided.
3.前記加振手段が、前記傾動手段に対し前記ウェハキ
ャリアを支持および振動させる加振器である特許請求の
範囲第1項に記載のウェハ挿入・取出装置。
3. The wafer insertion/removal apparatus according to claim 1, wherein the vibration excitation means is a vibration exciter that supports and vibrates the wafer carrier with respect to the tilting means.
JP60126341A 1985-06-12 1985-06-12 Wafer insertion-takeout device Pending JPS61287632A (en)

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CN114644250A (en) * 2022-05-19 2022-06-21 南通恒懋智能科技发展有限公司 Automatic page device of going up of books with neat function

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