JPH0590388A - Transferring apparatus - Google Patents
Transferring apparatusInfo
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- JPH0590388A JPH0590388A JP25057991A JP25057991A JPH0590388A JP H0590388 A JPH0590388 A JP H0590388A JP 25057991 A JP25057991 A JP 25057991A JP 25057991 A JP25057991 A JP 25057991A JP H0590388 A JPH0590388 A JP H0590388A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、不純物拡散、熱処理
を行う処理炉へ、半導体ウエハを外部搬送機器から自動
的に移し替え搬送する移替装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a transfer device for automatically transferring and transferring semiconductor wafers from an external transfer device to a processing furnace for impurity diffusion and heat treatment.
【0002】[0002]
【従来の技術】図4および図5はこの種従来の移替装置
の構成を示す正面図および平面図、図6は半導体ウエハ
を収納するカセットを示す斜視図である。図において、
1は半導体ウエハ2を収納するカセット、3はこのカセ
ット1を複数個収納するストッカー、4は数十枚の半導
体ウエハ2を等間隔、水平状態に保持する保持溝(図示
せず)を有する熱処理用ボート、5はこの熱処理用ボー
ト4を拡散炉6内に送り込むエレベータ、7はストッカ
ー3内に収納されたカセット1内の半導体ウエハ2を熱
処理用ボート4へ移し替える移替機で、真空吸着等の手
段により半導体ウエハ2を一枚ずつハンドリングし、図
中矢印で示すように、走行動作(矢印X)、上昇、下降
動作(矢印Z)、前進、後退動作(矢印Y1、Y2)、旋
回動作(矢印θ)が可能な移替ハンド7aを具備してい
る。2. Description of the Related Art FIGS. 4 and 5 are a front view and a plan view showing the structure of a conventional transfer device of this kind, and FIG. 6 is a perspective view showing a cassette for storing semiconductor wafers. In the figure,
Reference numeral 1 is a cassette for storing semiconductor wafers 2, 3 is a stocker for storing a plurality of these cassettes 1, 4 is a heat treatment having holding grooves (not shown) for holding several tens of semiconductor wafers 2 at equal intervals in a horizontal state A boat 5 is an elevator for feeding the heat treatment boat 4 into the diffusion furnace 6, and 7 is a transfer machine for transferring the semiconductor wafers 2 in the cassette 1 housed in the stocker 3 to the heat treatment boat 4 by vacuum suction. The semiconductor wafers 2 are handled one by one by means such as the like, and as shown by the arrows in the figure, a traveling operation (arrow X), an ascending / descending operation (arrow Z), a forward / backward operation (arrows Y 1 , Y 2 ). , A transfer hand 7a capable of turning motion (arrow θ).
【0003】次に、上記のように構成された従来の移替
装置の動作について説明する。まず、実際に製品となり
うる半導体ウエハが収納された本番カセットが作業者に
よりストッカー3の所定の位置に挿入される。なお、図
に示すように、ストッカー3内には6個のカセット1が
収納されているが、その内4個が本番カセット、また、
1個がプロセス検査用ウエハを収納する検査用カセッ
ト、さらに、残りの1個が処理完了後に検査用ウエハを
回収するための回収カセットである。そして、ストッカ
ー3内でのカセット1の載置姿勢は、半導体ウエハ2が
水平状態で且つカセット1のウエハ取り出し面が内側に
向いた状態になっている。Next, the operation of the conventional transfer device configured as described above will be described. First, an operator inserts a production cassette in which a semiconductor wafer that can actually be a product is stored, into the stocker 3 at a predetermined position. In addition, as shown in the figure, six cassettes 1 are stored in the stocker 3, but four of them are production cassettes, and
One is an inspection cassette for storing the process inspection wafers, and the other one is a recovery cassette for recovering the inspection wafers after the processing is completed. The cassette 1 is placed in the stocker 3 in such a manner that the semiconductor wafer 2 is horizontal and the wafer take-out surface of the cassette 1 faces inward.
【0004】この状態でスタートスイッチが押される
と、まず、移替機7は移替ハンド7aが最初に移し替え
られるカセットの前面に位置するように、矢印X方向の
走行運動を行う。次に、カセット1内の半導体ウエハ2
の取り出し順序は、カセット1の下側から順次行われる
のが一般的であるので、移替ハンド7aは矢印Y1方向
に前進動作を行い所望のカセット1の最下部の半導体ウ
エハ2の下方に侵入する。そして、前進動作完了後矢印
Z方向に微量上昇して半導体ウエハ2をカセット1の溝
から浮上させると同時に真空により吸着する。ウエハ2
を吸着すると移替ハンド7aは矢印Y2方向に後退動作
を行って元の位置に復帰し、矢印θ方向に旋回動作を行
って180゜水平反転する。When the start switch is pressed in this state, first, the transfer machine 7 makes a traveling motion in the direction of arrow X so that the transfer hand 7a is located in front of the cassette to which the transfer hand 7a is first transferred. Next, the semiconductor wafer 2 in the cassette 1
Since the taking-out order is generally performed sequentially from the lower side of the cassette 1, the transfer hand 7a moves forward in the direction of the arrow Y 1 and is moved below the lowermost semiconductor wafer 2 of the desired cassette 1. invade. After completion of the forward movement, the semiconductor wafer 2 is slightly lifted in the direction of arrow Z to levitate the semiconductor wafer 2 from the groove of the cassette 1 and at the same time sucked by vacuum. Wafer 2
When sucked, the transfer hand 7a moves backward in the direction of the arrow Y 2 to return to the original position, and turns in the direction of the arrow θ to horizontally flip 180 °.
【0005】次に、移替機7は移替ハンド7aが熱処理
用ボート4の前面に位置するように矢印X方向の走行動
作を行う。半導体ウエハ2の熱処理用ボート4内への挿
入順序は、熱処理用ボート4の上側から順次行われるの
が一般的であるので、移替ハンド7aは半導体ウエハ2
と熱処理用ボート4の溝(図示せず)とが一致するよう
に、矢印Z方向に上昇(下降)動作を行った後矢印Y2
方向に前進する。そして、前進動作完了後真空吸着を解
除して矢印Z方向に微量下降動作を行うことにより、半
導体ウエハ2は熱処理用ボート4の溝に乗り移る。次
に、移替ハンド7aは矢印Y2方向に動作して元の位置
に復帰し、矢印θ方向に旋回運動を行って180゜水平
反転する。以上の動作でカセット1内から熱処理用ボー
ト4への1枚の半導体ウエハ2の移替動作は完了し、以
下、この動作を繰り返すことによりカセット1内の半導
体ウエハ2は全て熱処理用ボート4内へ順次移し替えら
れる。なおこの場合、検査用ウエハについても同様の動
作によって、熱処理用ボート4の所定の位置に複数枚移
し替えられる。Next, the transfer machine 7 performs a traveling operation in the direction of arrow X so that the transfer hand 7a is located in front of the heat treatment boat 4. Since the order of inserting the semiconductor wafers 2 into the heat treatment boat 4 is generally from the upper side of the heat treatment boat 4, the transfer hand 7a is not included in the semiconductor wafer 2
After performing an ascending (descending) operation in the arrow Z direction so that the groove and the groove (not shown) of the heat treatment boat 4 coincide with each other, the arrow Y 2
Move forward in the direction. Then, after the advancing operation is completed, the vacuum suction is released and the minute descending operation is performed in the arrow Z direction, so that the semiconductor wafer 2 is transferred to the groove of the heat treatment boat 4. Next, the transfer hand 7a moves in the direction of the arrow Y 2 to return to the original position, and makes a turning motion in the direction of the arrow θ to horizontally flip 180 °. With the above operation, the transfer operation of one semiconductor wafer 2 from the cassette 1 to the heat treatment boat 4 is completed, and by repeating this operation, all the semiconductor wafers 2 in the cassette 1 are stored in the heat treatment boat 4. Are sequentially transferred to. In this case, a plurality of inspection wafers are also transferred to a predetermined position of the heat treatment boat 4 by the same operation.
【0006】以上の移替動作が完了すると、エレベータ
5が上昇して熱処理用ボート4は拡散炉6内に挿入され
拡散処理が開始される。そして、拡散炉6内での拡散処
理が終了すると、エレベータ5が下降し熱処理用ボート
4は拡散炉6外に取り出され、上記したカセット1内か
ら熱処理用ボート4への移替動作とは逆に、熱処理用ボ
ート4内からカセット1への半導体ウエハ2の移替動作
が開始される。ここで、半導体ウエハ2はストッカー3
内の元のカセット1の元の溝に戻されるが、検査用ウエ
ハは回収用カセット内に戻される。熱処理用ボート4内
の半導体ウエハ2が全てストッカー3内の所定のカセッ
ト1内に戻されると、作業者によりストッカー3から払
い出され、回収用カセット内の検査用ウエハを抜き取っ
て拡散処理の検証が行われた後、本番カセットは次工程
に送られる。When the above transfer operation is completed, the elevator 5 rises and the heat treatment boat 4 is inserted into the diffusion furnace 6 to start the diffusion process. Then, when the diffusion process in the diffusion furnace 6 is completed, the elevator 5 descends and the heat treatment boat 4 is taken out of the diffusion furnace 6, which is the reverse of the above-described transfer operation from the cassette 1 to the heat treatment boat 4. Then, the transfer operation of the semiconductor wafer 2 from the heat treatment boat 4 to the cassette 1 is started. Here, the semiconductor wafer 2 is stored in the stocker 3
The inspection wafer is returned to the original groove of the original cassette 1 in the inside. When all of the semiconductor wafers 2 in the heat treatment boat 4 are returned to the predetermined cassette 1 in the stocker 3, the worker ejects the semiconductor wafers 2 from the stocker 3 and extracts the inspection wafer from the recovery cassette to verify the diffusion process. After that, the production cassette is sent to the next step.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】従来の移替装置は以上
のように構成されているので、ストッカー3の収納能力
が低く拡散炉6の稼動率の低下を招くため、作業者が拡
散炉6の稼動状況を遂次監視しながらカセット1の投
入、払い出しをしなければならないという問題点があっ
た。Since the conventional transfer device is configured as described above, the storage capacity of the stocker 3 is low and the operation rate of the diffusion furnace 6 is lowered, so that the worker is required to operate the diffusion furnace 6. There was a problem that the cassette 1 had to be put in and taken out while continuously monitoring the operation status of the.
【0008】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、拡散炉の稼動率を大幅に向上さ
せ且つカセットの投入、払い出しの自動化が可能な移替
装置を提供することを目的とするものである。The present invention has been made to solve the above problems, and provides a transfer device capable of significantly improving the operation rate of a diffusion furnace and automating the loading and unloading of cassettes. The purpose is.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】この発明に係る請求項1
の移替装置は、半導体ウエハを収納するカセットを少な
くとも半導体ウエハ1回分の処理量が収納可能な個数だ
け載置でき且つ外部搬送機器とカセットの授受を行うカ
セットステージと、カセットを複数個収納可能なストッ
カーと、このストッカーと1回分の処理量だけ半導体ウ
エハを収納し処理炉内に導く処理用ボートとの間に配設
され少なくとも2個のカセットが載置可能な移替ステー
ジと、カセットステージ上のカセットをストッカーに搬
送する第1のカセット搬送手段と、ストッカー内のカセ
ットを移替ステージに搬送する第2のカセット搬送手段
と、移替ステージ上のカセット内から処理用ボート内に
半導体ウエハを移し替えるウエハ移替手段とを備えたも
のであり、請求項2の移替装置は請求項1において、ス
トッカーには、少なくとも2回分の処理量の半導体ウエ
ハを収納する本番カセットと、この本番カセットの不足
分補充のためのダミーウエハを収納するダミーカセット
と、プロセス検証をするための検査用ウエハを収納する
検査用カセットと、処理後に検査用ウエハを回収するた
めの回収用カセットとを収納するようにしたものであ
る。[Means for Solving the Problems] Claim 1 according to the present invention
The transfer device can store at least as many semiconductor wafer cassettes as can accommodate at least one semiconductor wafer throughput, and can accommodate a plurality of cassette stages and cassette stages for exchanging cassettes with external transfer equipment. Stocker and a transfer stage, which is arranged between the stocker and a processing boat that accommodates semiconductor wafers by a processing amount for one time and introduces the semiconductor wafers into the processing furnace, on which at least two cassettes can be placed, and a cassette stage. First cassette carrying means for carrying the upper cassette to the stocker, second cassette carrying means for carrying the cassette in the stocker to the transfer stage, and semiconductor wafers in the processing boat from inside the cassette on the transfer stage. And a wafer transfer means for transferring the wafer. The transfer device according to claim 2 is the transfer device according to claim 1, wherein A production cassette that stores semiconductor wafers of a throughput of at least two times, a dummy cassette that stores dummy wafers to supplement the shortage of the production cassette, and an inspection cassette that stores inspection wafers for process verification. And a recovery cassette for recovering the inspection wafer after processing.
【0010】[0010]
【作用】この発明における移替装置のカセットステージ
は、外部搬送機器とのカセットの受け渡しを自動的に行
い、又、ストッカーはカセットを複数個収納することに
よって、常に処理前本番カセットの仕掛かりを確保す
る。The cassette stage of the transfer device according to the present invention automatically transfers the cassette to and from the external carrier device, and the stocker stores a plurality of cassettes, so that the unprocessed production cassette is always processed. Secure.
【0011】[0011]
【実施例】実施例1.以下、この発明の実施例を図につ
いて説明する。図1および図2はこの発明の実施例1に
おける移替装置の構成をそれぞれ示す正面図および平面
図である。図において、カセット1、半導体ウエハ2、
熱処理用ボート4、エレベータ5および拡散炉6は図4
における従来装置のものと同様である。8は外部搬送機
(図示せず)あるいは作業者との間でカセット1の投
入、払い出しの際の受け渡しを行うカセットステージ
で、少なくとも半導体ウエハ2の1回分の処理量が収納
可能なカセット1の個数が載置できるようになってい
る。9はストッカーで、図3に示すように、A部および
B部には拡散処理2回分の本番カセット1a、1bが、
又、C部には本番カセット1a、1bの不足分補充のた
めのダミーカセット1cが、さらに、D部にはプロセス
検証をするための検査用ウエハを収納する検査用カセッ
ト1dが、さらに又、E部には拡散処理完了後に検査用
ウエハを回収する回収用カセット1eがそれぞれ収納さ
れている。EXAMPLES Example 1. Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. 1 and 2 are a front view and a plan view, respectively, showing the configuration of a transfer device according to a first embodiment of the present invention. In the figure, a cassette 1, a semiconductor wafer 2,
The heat treatment boat 4, the elevator 5 and the diffusion furnace 6 are shown in FIG.
The same as that of the conventional device in. Reference numeral 8 denotes a cassette stage for loading and unloading the cassette 1 with an external carrier (not shown) or an operator, and the cassette stage 8 can store at least one processing amount of the semiconductor wafer 2. The number can be placed. 9 is a stocker, and as shown in FIG. 3, the production cassettes 1a and 1b for two diffusion treatments are provided in the parts A and B, respectively.
Further, a dummy cassette 1c for supplementing the shortage of the production cassettes 1a and 1b is provided in the C section, and an inspection cassette 1d for accommodating an inspection wafer for process verification is further provided in the D section. In the E section, recovery cassettes 1e for recovering the inspection wafers after the completion of the diffusion process are housed, respectively.
【0012】10はカセットステージ8上のカセット1
をストッカー9に搬送し、図3に示すそれぞれの部分に
収納する第1の搬送ロボット、11は少なくとも2個の
カセット1が載置可能な移替ステージ、12はストッカ
ー9内の各カセット1a〜1eをそれぞれ所定の順序で
移替ステージ11上に搬送する第2の搬送ロボット、1
3は移替ステージ11上のカセット1内の半導体ウエハ
2を熱処理用ボート4内に移し替える移替機で、図4に
おける従来装置の移替機と同様の機能を有している。Reference numeral 10 is a cassette 1 on the cassette stage 8.
Is transferred to the stocker 9 and is stored in the respective parts shown in FIG. 3, 11 is a transfer stage on which at least two cassettes 1 can be placed, and 12 is each cassette 1a-in the stocker 9. A second transfer robot that transfers 1e onto the transfer stage 11 in a predetermined order, 1
A transfer machine 3 transfers the semiconductor wafers 2 in the cassette 1 on the transfer stage 11 into the heat treatment boat 4, and has the same function as the transfer machine of the conventional apparatus in FIG.
【0013】次に、上記のように構成される実施例1に
おける移替装置の動作について説明する。まず、外部搬
送機あるいは作業者によってカセット1がカセットステ
ージ8上に投入される。投入されたカセット1は半導体
ウエハ2が垂直に立った状態に載置されているため、移
替機13による熱処理用ボート4への半導体ウエハ2の
移替動作の際にハンドリングが容易となるように、図中
一点鎖線で示すようにカセット1内で半導体ウエハ2が
水平状態となるように、カセットステージ8を図示しな
い機構により90゜傾ける。Next, the operation of the transfer apparatus according to the first embodiment having the above-mentioned structure will be described. First, the cassette 1 is loaded onto the cassette stage 8 by an external carrier or an operator. Since the loaded cassette 1 is placed with the semiconductor wafer 2 standing vertically, the handling is facilitated when the semiconductor wafer 2 is transferred to the heat treatment boat 4 by the transfer machine 13. Then, the cassette stage 8 is tilted by 90 ° by a mechanism (not shown) so that the semiconductor wafer 2 becomes horizontal in the cassette 1 as shown by the one-dot chain line in the figure.
【0014】次に、第1の搬送ロボット10によりこの
カセット1をハンドリングし、ストッカー9の所定の位
置(A部)まで搬送する。今、ここで熱処理用ボート4
が半導体ウエハ2の受け入れ体勢が整った状態にあれ
ば、自動的にウエハ移替動作が開始される。まず第2の
搬送ロボット12により、ストッカー9のA部に収納さ
れた本番カセット1aを1個ハンドリングし図3に示す
移替ステージ11のX部に搬送する。そして、移替機1
3によってこの移替ステージ11上の本番カセット1a
内から熱処理用ボート4へ半導体ウエハ2の移し替え
が、従来装置と同様に、本番カセット1a内の下側の半
導体ウエハ2から順次取り出され、熱処理用ボート4の
上側の溝から順次挿入されて行われる。Next, the cassette 1 is handled by the first transfer robot 10 and transferred to a predetermined position (A portion) of the stocker 9. Now heat treatment boat 4
If the semiconductor wafer 2 is ready for receiving, the wafer transfer operation is automatically started. First, the second transfer robot 12 handles one production cassette 1a stored in the A section of the stocker 9 and transfers it to the X section of the transfer stage 11 shown in FIG. And the transfer machine 1
The production cassette 1a on the transfer stage 11 depending on 3.
The transfer of the semiconductor wafers 2 from the inside to the heat treatment boat 4 is sequentially taken out from the lower semiconductor wafer 2 in the production cassette 1a and sequentially inserted from the upper groove of the heat treatment boat 4 as in the conventional apparatus. Done.
【0015】このような移替動作が行われている間、移
替ステージ11上の他方のY部は空部になっているの
で、第2の搬送ロボット12は引き続き次の本番カセッ
ト1aをストッカー9のA部から移替ステージ11のY
部に搬送する。そして、移替ステージ4のX部に置かれ
た最初の本番カセット1a内の半導体ウエハ2の移し替
えが終了すると、移替機13は引き続きY部に置かれた
2番目の本番カセット1a内の半導体ウエハ2の移替動
作を開始する。同時にX部の空になった本番カセット1
aは第2の搬送ロボット12により、ストッカー9のA
部の元の位置に戻され、第2の搬送ロボット12はスト
ッカー9のA部より3番目の本番カセット1aを移替ス
テージ11のX部に搬送する。While the transfer operation is being performed, the other Y part on the transfer stage 11 is empty, so that the second transfer robot 12 continues to stock the next production cassette 1a. 9 part A to transfer stage 11 Y
To the department. Then, when the transfer of the semiconductor wafers 2 in the first production cassette 1a placed in the X section of the transfer stage 4 is completed, the transfer machine 13 continues to store the second production cassette 1a in the Y section. The transfer operation of the semiconductor wafer 2 is started. At the same time, an empty production cassette 1 in the X section
a is A of the stocker 9 by the second transfer robot 12.
The second transfer robot 12 transfers the third production cassette 1a from the A section of the stocker 9 to the X section of the transfer stage 11 after being returned to the original position of the section.
【0016】以上の動作が繰り返されることによって、
ストッカー9のA部に収納された本番カセット1aとD
部に収納された検査用カセット1dとに収容された半導
体ウエハ2の移し替えが完了し、熱処理用ボート4はエ
レベータ5により拡散炉6内に導かれ拡散処理が開始さ
れる。なお、本番カセット1a、1b内の半導体ウエハ
12を全数移し替えても拡散処理1回分に満たない場合
には、ダミーカセット1cが使用され本番カセット1
a、1bと同様にして熱処理用ボート4への搬送が行わ
れる。By repeating the above operation,
Production cassettes 1a and D stored in section A of stocker 9
After the transfer of the semiconductor wafers 2 stored in the inspection cassette 1d stored in the unit is completed, the heat treatment boat 4 is guided into the diffusion furnace 6 by the elevator 5 and the diffusion process is started. If the number of semiconductor wafers 12 in the production cassettes 1a and 1b are all transferred and the amount of the semiconductor wafers 12 is less than one diffusion process, the dummy cassette 1c is used.
The transfer to the heat treatment boat 4 is performed in the same manner as a and 1b.
【0017】拡散炉11内での拡散処理が終了すると、
エレベータ5が下降し熱処理用ボート4内の処理ずみ半
導体ウエハ2は、検査用を除きストッカー9の元のカセ
ットの元の溝に戻す動作が開始される。まず、この戻し
動作は熱処理用ボート4の下側の半導体ウエハから順次
行われるため、第2の搬送ロボット12によりストッカ
ー9内A部の該当する空カセット1aを移替ステージ1
1のX部に搬送し、移替機13によるウエハの戻し動作
が始まる。この動作と並行して第2の搬送ロボット12
はストッカー9内A部の次に該当する空カセット1aを
移替ステージ11のY部に搬送する。When the diffusion process in the diffusion furnace 11 is completed,
The elevator 5 descends, and the processed semiconductor wafer 2 in the heat treatment boat 4 is returned to the original groove of the original cassette of the stocker 9 except for inspection. First, since this returning operation is sequentially performed from the semiconductor wafer under the heat treatment boat 4, the corresponding empty cassette 1a in the A section of the stocker 9 is transferred by the second transfer robot 12 to the transfer stage 1.
Then, the transfer device 13 starts the wafer returning operation. In parallel with this operation, the second transfer robot 12
Transports the corresponding empty cassette 1a next to the A section in the stocker 9 to the Y section of the transfer stage 11.
【0018】X部のカセット1aが半導体ウエハ2で満
杯になると、第2の搬送ロボット12はこのカセット1
aをストッカー9のA部に搬送し、次に3番目の空カセ
ット1aを移替ステージ11のX部に搬送する。以上の
動作を繰り返すことにより、本番ウエハは全てストッカ
ー4内の本番カセット1a内に、また、検査用ウエハは
回収用カセット1e内に戻され移替動作が完了する。When the cassette 1a in the X section is filled with the semiconductor wafers 2, the second transfer robot 12 operates the cassette 1a.
a is conveyed to the A section of the stocker 9, and then the third empty cassette 1a is conveyed to the X section of the transfer stage 11. By repeating the above operation, all the production wafers are returned to the production cassette 1a in the stocker 4, and the inspection wafers are returned to the collection cassette 1e, and the transfer operation is completed.
【0019】尚、これまでの動作の間に、次に拡散処理
する本番カセット1bをストッカー9のB部に収納して
おけば、連続して熱処理用ボート4への半導体ウエハ2
の移替および拡散炉6の拡散処理が行えるため、拡散炉
6の稼動率が向上する。又、次に収納された本番カセッ
ト1bの移替動作と並行して、第1の搬送ロボット10
によりストッカー9内のE部の検査用ウエハが回収され
た回収用カセット1eを、また、続いてA部の本番カセ
ット1aを払い出すことができるため、検査用ウエハに
よる拡散プロセスの検証、本番カセット1aの次工程へ
の進捗が速やかに図れる。If the actual cassette 1b to be subjected to the next diffusion processing is stored in the B section of the stocker 9 during the operation so far, the semiconductor wafers 2 are continuously transferred to the heat treatment boat 4.
And the diffusion process of the diffusion furnace 6 can be performed, so that the operation rate of the diffusion furnace 6 is improved. In addition, in parallel with the transfer operation of the next stored production cassette 1b, the first transfer robot 10
As a result, it is possible to dispense the recovery cassette 1e in which the inspection wafer of the E part in the stocker 9 has been recovered, and subsequently the production cassette 1a of the A part. Therefore, the diffusion process verification by the inspection wafer, the production cassette The progress to the next step of 1a can be swiftly achieved.
【0020】実施例2.尚、上記実施例1においては、
カセットステージ8上のカセット1の姿勢は、収納され
る半導体ウエハ2が垂直に立つ状態で載置されている
が、外部搬送機の機能を変えて半導体ウエハ2が水平と
なるような姿勢で載置すれば、カセットステージ8を9
0゜傾ける必要もなくなり、実施例1と同様の効果を奏
することは言うまでもない。Example 2. In the first embodiment,
The cassette 1 on the cassette stage 8 is placed in a state in which the semiconductor wafer 2 to be stored stands vertically, but the semiconductor wafer 2 is placed in a horizontal position by changing the function of the external carrier. If set, the cassette stage 8 can be set to 9
Needless to say, there is no need to incline by 0 °, and the same effect as in Example 1 is obtained.
【0021】[0021]
【発明の効果】以上のように、この発明の請求項1によ
れば半導体ウエハを収納するカセットを少なくとも半導
体ウエハ1回分の処理量が収納可能な個数だけ載置でき
且つ外部搬送機器とカセットの授受を行うカセットステ
ージと、カセットを複数個収納可能なストッカーと、こ
のストッカーと1回分の処理量だけ半導体ウエハを収納
し処理炉内に導く処理用ボートとの間に配設され少なく
とも2個のカセットが載置可能な移替ステージと、カセ
ットステージ上のカセットをストッカーに搬送する第1
のカセット搬送手段と、ストッカー内のカセットを移替
ステージに搬送する第2のカセット搬送手段と、移替ス
テージ上のカセット内から処理用ボート内に半導体ウエ
ハを移し替えるウエハ移替手段とを備え、又、請求項2
によれば請求項1において、ストッカーには、少なくと
も2回分の処理量の半導体ウエハを収納する本番カセッ
トと、この本番カセットの不足分補充のためのダミーウ
エハを収納するダミーカセットと、プロセス検証をする
ための検査用ウエハを収納する検査用カセットと、処理
後に検査用ウエハを回収するための回収用カセットとを
収納するようにしたので、拡散炉の稼動率を大幅に向上
させ且つカセットの投入、払い出しの自動化が可能な移
替装置を提供することができる。As described above, according to the first aspect of the present invention, the number of cassettes for storing semiconductor wafers can be set at least as large as the amount of processing for one semiconductor wafer can be stored, and external cassettes and cassettes can be installed. At least two cassette stages are provided for transferring and receiving, a stocker capable of accommodating a plurality of cassettes, and a stocker and a processing boat for accommodating a semiconductor wafer of a processing amount for one time and guiding the semiconductor wafer into a processing furnace. A transfer stage on which a cassette can be placed and a first stage that conveys the cassette on the cassette stage to a stocker
Cassette transport means, second cassette transport means for transporting the cassette in the stocker to the transfer stage, and wafer transfer means for transferring the semiconductor wafer from the cassette on the transfer stage to the processing boat. , And claim 2
According to claim 1, in the stocker, the process verification is performed on the production cassette that stores the semiconductor wafers of the processing amount of at least two times, the dummy cassette that stores the dummy wafers to supplement the shortage of the production cassette. Since the inspection cassette for storing the inspection wafer and the recovery cassette for recovering the inspection wafer after processing are accommodated, the operation rate of the diffusion furnace is significantly improved and the cassette is loaded. It is possible to provide a transfer device capable of automated payout.
【図1】この発明の実施例1における移替装置の構成を
示す正面図である。FIG. 1 is a front view showing a configuration of a transfer device according to a first embodiment of the present invention.
【図2】図1における移替装置の構成を示す平面図であ
る。FIG. 2 is a plan view showing a configuration of a transfer device in FIG.
【図3】図1における移替装置の要部を構成するストッ
カー内におけるカセットの収納状態を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a storage state of a cassette in a stocker that constitutes a main part of the transfer device in FIG.
【図4】従来の移替装置の構成を示す正面図である。FIG. 4 is a front view showing a configuration of a conventional transfer device.
【図5】図4における移替装置の構成を示す平面図であ
る。5 is a plan view showing the configuration of the transfer device in FIG.
【図6】移替装置に適用されるカセットの構成を示す斜
視図である。FIG. 6 is a perspective view showing a configuration of a cassette applied to a transfer device.
1 カセット 1a、1b 本番カセット 1c ダミーカセット 1d 検査用カセット 1e 回収用カセット 2 半導体ウエハ 4 熱処理用ボート 6 拡散炉(処理炉) 8 カセットステージ 9 ストッカー 10 第1の搬送ロボット(第1のカセット搬送手段) 11 移替ステージ 12 第2の搬送ロボット(第2のカセット搬送手段) 13 移替機(ウエハ移替手段) DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 cassette 1a, 1b production cassette 1c dummy cassette 1d inspection cassette 1e recovery cassette 2 semiconductor wafer 4 heat treatment boat 6 diffusion furnace (processing furnace) 8 cassette stage 9 stocker 10 first transfer robot (first cassette transfer means) ) 11 transfer stage 12 second transfer robot (second cassette transfer means) 13 transfer machine (wafer transfer means)
Claims (2)
くとも半導体ウエハ1回分の処理量が収納可能な個数だ
け載置でき且つ外部搬送機器と上記カセットの授受を行
うカセットステージと、上記カセットを複数個収納可能
なストッカーと、このストッカーと1回分の処理量だけ
上記半導体ウエハを収納し処理炉内に導く処理用ボート
との間に配設され少なくとも2個の上記カセットが載置
可能な移替ステージと、上記カセットステージ上の上記
カセットを上記ストッカーに搬送する第1のカセット搬
送手段と、上記ストッカー内の上記カセットを上記移替
ステージに搬送する第2のカセット搬送手段と、上記移
替ステージ上の上記カセット内から上記処理用ボート内
に上記半導体ウエハを移し替えるウエハ移替手段とを備
えたことを特徴とする移替装置。1. A cassette stage for storing semiconductor wafers, the cassette stage being capable of mounting at least a number of semiconductor wafers capable of storing a throughput of one semiconductor wafer, and a cassette stage for exchanging the cassettes with an external carrier, and a plurality of the cassettes. A possible stocker, and a transfer stage which is arranged between the stocker and a processing boat that accommodates the semiconductor wafer in a processing amount for one time and introduces the semiconductor wafer into the processing furnace and on which at least two cassettes can be mounted. A first cassette carrying means for carrying the cassette on the cassette stage to the stocker, a second cassette carrying means for carrying the cassette in the stocker to the transfer stage, and a second cassette carrying means on the transfer stage. Wafer transfer means for transferring the semiconductor wafer from the cassette to the processing boat is provided. Transfer device.
量の半導体ウエハを収納する本番カセットと、この本番
カセットの不足分補充のためのダミーウエハを収納する
ダミーカセットと、プロセス検証をするための検査用ウ
エハを収納する検査用カセットと、処理後に上記検査用
ウエハを回収するための回収用カセットとを収納してい
ることを特徴とする請求項1記載の移替装置。2. The stocker comprises a production cassette for storing semiconductor wafers having a throughput of at least two times, a dummy cassette for storing dummy wafers for replenishing a shortage of the production cassette, and an inspection for process verification. 2. The transfer device according to claim 1, further comprising: an inspection cassette that stores wafers; and a collection cassette that collects the inspection wafers after processing.
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---|---|---|---|
JP25057991A JP2725496B2 (en) | 1991-09-30 | 1991-09-30 | Transfer equipment |
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JPH0590388A true JPH0590388A (en) | 1993-04-09 |
JP2725496B2 JP2725496B2 (en) | 1998-03-11 |
Family
ID=17209993
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP (1) | JP2725496B2 (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08148540A (en) * | 1994-11-18 | 1996-06-07 | M C Electron Kk | Wafer processing system |
JP2012199584A (en) * | 2000-04-17 | 2012-10-18 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Substrate processing device, substrate processing method, semiconductor device manufacturing method, and substrate transportation method |
CN113548492A (en) * | 2021-06-30 | 2021-10-26 | 无锡奥特维科技股份有限公司 | Silicon wafer collecting method |
CN114420616A (en) * | 2022-03-28 | 2022-04-29 | 西安奕斯伟材料科技有限公司 | Groove type cleaning device |
-
1991
- 1991-09-30 JP JP25057991A patent/JP2725496B2/en not_active Expired - Fee Related
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S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
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