JPS61286298A - 単結晶の育成方法 - Google Patents
単結晶の育成方法Info
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- JPS61286298A JPS61286298A JP12368485A JP12368485A JPS61286298A JP S61286298 A JPS61286298 A JP S61286298A JP 12368485 A JP12368485 A JP 12368485A JP 12368485 A JP12368485 A JP 12368485A JP S61286298 A JPS61286298 A JP S61286298A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
液体封止(DEC)引上法によりsaαAs結晶へアル
ミニウムを添加する単結晶の育成方法であって、該封止
剤にB20.とAIL20Bに、さらに■族元素酸化物
のM(10,CaO、StO、EaOのうちの111も
しくは2′!fi以上を含有する多元系酸化物を用いる
。
ミニウムを添加する単結晶の育成方法であって、該封止
剤にB20.とAIL20Bに、さらに■族元素酸化物
のM(10,CaO、StO、EaOのうちの111も
しくは2′!fi以上を含有する多元系酸化物を用いる
。
それによりB添加・低転位・半絶縁性結晶が容易に得ら
れる。
れる。
本発明は、液体封止引上(LEC)法によるGSAa単
結晶育成において、結晶への実効的偏析係数が1でオシ
、かつ、 GaAa結晶の転位密度低減に有効す、アル
ミニウム(AJL)の添加方法に関するものである。
結晶育成において、結晶への実効的偏析係数が1でオシ
、かつ、 GaAa結晶の転位密度低減に有効す、アル
ミニウム(AJL)の添加方法に関するものである。
GaAa結晶中のμは、転位密度低減に顕著な効果を発
揮する不純物である。従来、LHC法結晶育成における
B添加法としては、原料充填時に金属μのみを添加する
方法が一般的であった。この屈は、LEC法育成時に、
液体封止剤として用いられて−るB20.の構成元素で
めるBよシ酸化力が強いため、次式の化学反応によって
B、O,を還元し単体のBf:生じさせる。
揮する不純物である。従来、LHC法結晶育成における
B添加法としては、原料充填時に金属μのみを添加する
方法が一般的であった。この屈は、LEC法育成時に、
液体封止剤として用いられて−るB20.の構成元素で
めるBよシ酸化力が強いため、次式の化学反応によって
B、O,を還元し単体のBf:生じさせる。
B、0. + 2AJ : AJL20. + 2B
(1)この反応によって生じ九μ205は、
B20M中に吸収され、一方、生成し九Bの一部が、G
aAa融液中に混入する。この結果、育成結晶中OAi
濃度は、報告されてiる偏析係数から予想される濃度の
’/200以下しか添加されなりため、転位密度の低減
効果が顕著に見られなり。この問題を解決するために、
本発明者は、先に熱力学的考察に基づいて、原料充填時
にAj!20 Bを添加したB20.を用いる育成方法
を発明した。その結果、2インチ結晶で、極低転位結晶
が得られた。しかし、 GaAa融点(1238°C)
におけるB、 O,中へのm2o、溶解度は、約1.5
モル−しがなく、無転位結晶を得るために必要なμ量を
結晶中に添加するためには、さらに原料充填時に大量の
金属Aiを添加しなければならな−ことがわかった。
(1)この反応によって生じ九μ205は、
B20M中に吸収され、一方、生成し九Bの一部が、G
aAa融液中に混入する。この結果、育成結晶中OAi
濃度は、報告されてiる偏析係数から予想される濃度の
’/200以下しか添加されなりため、転位密度の低減
効果が顕著に見られなり。この問題を解決するために、
本発明者は、先に熱力学的考察に基づいて、原料充填時
にAj!20 Bを添加したB20.を用いる育成方法
を発明した。その結果、2インチ結晶で、極低転位結晶
が得られた。しかし、 GaAa融点(1238°C)
におけるB、 O,中へのm2o、溶解度は、約1.5
モル−しがなく、無転位結晶を得るために必要なμ量を
結晶中に添加するためには、さらに原料充填時に大量の
金属Aiを添加しなければならな−ことがわかった。
しかしながら、上記にお−ては、充填時の金属μ量の増
大に伴な−、金金属Jが、 B20δと反応し、GaA
a融液と接するB2O5層内で高いAj!20.濃度の
領域を形成する傾向にあることから、局所的にAn20
.0飽和溶解度以上になるため高融点(1950’C)
の白色固体(μ2Qり?・(、IhOs )zが生成し
、結晶育成が困難になるという問題がめった。
大に伴な−、金金属Jが、 B20δと反応し、GaA
a融液と接するB2O5層内で高いAj!20.濃度の
領域を形成する傾向にあることから、局所的にAn20
.0飽和溶解度以上になるため高融点(1950’C)
の白色固体(μ2Qり?・(、IhOs )zが生成し
、結晶育成が困難になるという問題がめった。
以下に、その理由につ≠て詳述する。
LEC法では、原料の金属As 、金属Ga 、及び封
止剤を充填して、高温に加熱し、原料t′溶かしてから
、上の方から種結晶を降下させてきて、封止剤を通過さ
せて、その下にあるGa Am融液に接触させて単結晶
を引上げながら成長させて−〈。その際、種結晶とGa
Am融液との接触を観察することが必要でラシ、これ
ができなしと単結晶の育成が実際上出来ない。
止剤を充填して、高温に加熱し、原料t′溶かしてから
、上の方から種結晶を降下させてきて、封止剤を通過さ
せて、その下にあるGa Am融液に接触させて単結晶
を引上げながら成長させて−〈。その際、種結晶とGa
Am融液との接触を観察することが必要でラシ、これ
ができなしと単結晶の育成が実際上出来ない。
ところが、上記の白色固体(μ20B )? *、 C
Ih0s)2が生成すると、封止剤が乳白色になシ、上
記種結晶とGaAa融液との接触が観察できず、単結晶
育成が出来なくなるのである。
Ih0s)2が生成すると、封止剤が乳白色になシ、上
記種結晶とGaAa融液との接触が観察できず、単結晶
育成が出来なくなるのである。
また、上記白色固体が生成すると、単結晶が徐々に育成
していく際、固液界面に白色固体が付着し、そこから粒
界が発生して多結晶化することが考えられる。
していく際、固液界面に白色固体が付着し、そこから粒
界が発生して多結晶化することが考えられる。
このようなことから、LHjC法において、液体封止剤
は結晶育成中透明であることが重要な要件である。しか
るに、上述のごと〈従来に>VSては、結晶中の層温入
量を増大させるために届の添加量を増すと封止剤の透明
度が保持できないという欠点がらりた。
は結晶育成中透明であることが重要な要件である。しか
るに、上述のごと〈従来に>VSては、結晶中の層温入
量を増大させるために届の添加量を増すと封止剤の透明
度が保持できないという欠点がらりた。
本発明は、原料充填時にAA 2 OSの溶解度が大き
くかつガラス化を保持するA120. 、 B、O,お
よび■族酸化物(Kg Q y CaO* EJrO+
BaO)の1種もしくは2種以上の多元系酸化物から
なる封止剤、または、この多元系酸化物からなる封止剤
と、金属層を用いることを特徴としたμ添加Ga Am
単結晶の育成方法を提供する。
くかつガラス化を保持するA120. 、 B、O,お
よび■族酸化物(Kg Q y CaO* EJrO+
BaO)の1種もしくは2種以上の多元系酸化物から
なる封止剤、または、この多元系酸化物からなる封止剤
と、金属層を用いることを特徴としたμ添加Ga Am
単結晶の育成方法を提供する。
本発明によれば、GaAa結晶の育成にお−て、液体封
止剤中のAJ 2Q 、溶解度が大きいことから、成長
結晶の極低転位化が可能となる。すなわち、結層中のμ
混入量を増大させ、かつ育成時における封止剤の透明度
の保持が可能になシ、屈添加・低転位・半絶縁性結晶が
容易に得られる。
止剤中のAJ 2Q 、溶解度が大きいことから、成長
結晶の極低転位化が可能となる。すなわち、結層中のμ
混入量を増大させ、かつ育成時における封止剤の透明度
の保持が可能になシ、屈添加・低転位・半絶縁性結晶が
容易に得られる。
(実施例1〕
第1図に、<AJ!20s Boo B20B )
三元系酸化物の液体封止剤を用いたときの、るつぼへの
原料充填の様子を模式的に示す。
三元系酸化物の液体封止剤を用いたときの、るつぼへの
原料充填の様子を模式的に示す。
系封止剤4を充填した後、通常の直接合成DEC法によ
シ単結晶を育成する。この時用M′fi−液体封止剤4
の組成は、第2図の三元系状態図中の黒丸印で6J、ま
た、図中斜線領域は、特許請求範囲(2)記載の組成範
囲を示している。このようにして育成した結晶中のμ濃
度を、封止剤4中のAl2 o s濃度に対して求めた
結果を第3図に示す。図から結晶中層濃度が封止剤中の
A12o、濃度の増加に伴なって増加していくことがわ
かる。また上記一連の例において黒丸印(IV) (3
5モk * AAzOs 5DモにチBaO−55モ
ル% B2O5)組成の液体封止剤を用%Aた場合のみ
、液体封止剤が融液状態で乳白色を呈シ、GaAa融液
へのシーディングができず、単結晶育成が不可能であっ
た。それ以外の黒丸印(1)〜(1)の例では、結晶育
成開始から終了するまで常に封止剤は透明状態を保持し
ているため単結晶育成が容易であることがわかった。こ
のような本発明の効果は、特許請求範囲(2)記載範囲
のみにおiて得られることがわかった。さらに、封止剤
酸化物成分でおるBaOの構成元素でらるBaは。
シ単結晶を育成する。この時用M′fi−液体封止剤4
の組成は、第2図の三元系状態図中の黒丸印で6J、ま
た、図中斜線領域は、特許請求範囲(2)記載の組成範
囲を示している。このようにして育成した結晶中のμ濃
度を、封止剤4中のAl2 o s濃度に対して求めた
結果を第3図に示す。図から結晶中層濃度が封止剤中の
A12o、濃度の増加に伴なって増加していくことがわ
かる。また上記一連の例において黒丸印(IV) (3
5モk * AAzOs 5DモにチBaO−55モ
ル% B2O5)組成の液体封止剤を用%Aた場合のみ
、液体封止剤が融液状態で乳白色を呈シ、GaAa融液
へのシーディングができず、単結晶育成が不可能であっ
た。それ以外の黒丸印(1)〜(1)の例では、結晶育
成開始から終了するまで常に封止剤は透明状態を保持し
ているため単結晶育成が容易であることがわかった。こ
のような本発明の効果は、特許請求範囲(2)記載範囲
のみにおiて得られることがわかった。さらに、封止剤
酸化物成分でおるBaOの構成元素でらるBaは。
μおよびBよシも酸化力が強く、酸化物の状態で安定に
存在するため、育成結晶のスパーク・ソース質量分析の
結果では、Ea元素は検出限界以下であることがわかっ
た。また、第3図中に示した直径2インチの結晶GO転
位密度を調べた結果、外周部のスリップ転位を除いて無
転位でラシ、同図中の結晶すでは完全無転位の結晶が得
られた。
存在するため、育成結晶のスパーク・ソース質量分析の
結果では、Ea元素は検出限界以下であることがわかっ
た。また、第3図中に示した直径2インチの結晶GO転
位密度を調べた結果、外周部のスリップ転位を除いて無
転位でラシ、同図中の結晶すでは完全無転位の結晶が得
られた。
(実施例2)
第4図は、PBNるつぼ1に、金属A12.金属Afi
5 、金属Ga5および(屈20.−Eα0−B20
m)系封止剤4を充填した模式図でらる。
5 、金属Ga5および(屈20.−Eα0−B20
m)系封止剤4を充填した模式図でらる。
このとき用いた金属A1.5の量は(金属ヒ素2+金属
Ga3)約500gに対して、0.5g、原子濃度にし
て約I X 10”αto惧a/c−であシ、封止剤の
組成は、2.0 モk % Al−20520モk %
Ba0 78 % k % B20Bである。第4図
において、充填後、加圧・昇温してGaAs融液状態に
すると、添加した金属AJ5と封止剤4中のB2O5と
反応し、GαA#融液と接する封止剤層中には、高−A
l2O,濃度を有する領域が形成されるが、上記三元系
酸化物中へのμ20’lの溶解度が大きいため、前記C
IhOs Aふ20s)2元系封止剤O,1j11合
と異なシ、高融点の化合物(、tg20sh・(B2O
5)2は生成されず、育成開始から終了ま゛で封止剤は
透明でラシ、容易な単結晶育成が可能でめった。この育
成結晶の転位密度は、実施例1の結晶すと同様に、完全
無転位であシ、また、電気的性質は5lll半絶縁性を
示した。
Ga3)約500gに対して、0.5g、原子濃度にし
て約I X 10”αto惧a/c−であシ、封止剤の
組成は、2.0 モk % Al−20520モk %
Ba0 78 % k % B20Bである。第4図
において、充填後、加圧・昇温してGaAs融液状態に
すると、添加した金属AJ5と封止剤4中のB2O5と
反応し、GαA#融液と接する封止剤層中には、高−A
l2O,濃度を有する領域が形成されるが、上記三元系
酸化物中へのμ20’lの溶解度が大きいため、前記C
IhOs Aふ20s)2元系封止剤O,1j11合
と異なシ、高融点の化合物(、tg20sh・(B2O
5)2は生成されず、育成開始から終了ま゛で封止剤は
透明でラシ、容易な単結晶育成が可能でめった。この育
成結晶の転位密度は、実施例1の結晶すと同様に、完全
無転位であシ、また、電気的性質は5lll半絶縁性を
示した。
(実施例3)
るつぼ内に、出発原料として金属ヒ素、金属ガリウム、
および、液体封止剤として第5図に示すようにその組成
範囲が0.5〜35モル−〇” 20 B +10〜5
5モルチのMQOおよびB20.からなる三元系酸化物
を充填し、加熱して液体封止引上(LEC)法により、
GaAs結晶へアルミニウムを添加し、単結晶の育成を
行なう。
および、液体封止剤として第5図に示すようにその組成
範囲が0.5〜35モル−〇” 20 B +10〜5
5モルチのMQOおよびB20.からなる三元系酸化物
を充填し、加熱して液体封止引上(LEC)法により、
GaAs結晶へアルミニウムを添加し、単結晶の育成を
行なう。
(実施例4)
るつぼ内に、出発原料として金属ヒ素、金属ガリウム、
および液体封止剤として第6図に示すようにその組成範
囲が0.5〜35%ルチのn2o、、s〜65モルチの
SrOおよびB20.からなる三元系酸化物を充填し、
加熱して液体封止引上(DEC)法により、GaAa結
晶へアルミニウムを添加し、単結晶の育成を行なう。
および液体封止剤として第6図に示すようにその組成範
囲が0.5〜35%ルチのn2o、、s〜65モルチの
SrOおよびB20.からなる三元系酸化物を充填し、
加熱して液体封止引上(DEC)法により、GaAa結
晶へアルミニウムを添加し、単結晶の育成を行なう。
(実施例5)
るつぼ内に、出発原料として金属ヒ素、金属ガリウム、
および、液体封止剤として第7図に示すようにその組成
範囲が0.5〜35モルチの71Lg2oj。
および、液体封止剤として第7図に示すようにその組成
範囲が0.5〜35モルチの71Lg2oj。
10〜75モルチのCaOおよび残部B20.からなる
三元系酸化物を充填し、加熱して液体封止引上(DEC
)法によ1)G5&Aa結晶へアルミニウムを添加し、
単結晶の育成を行なう。
三元系酸化物を充填し、加熱して液体封止引上(DEC
)法によ1)G5&Aa結晶へアルミニウムを添加し、
単結晶の育成を行なう。
以上の実施例3〜5においても、実施例1および2で述
べた( AJhOa EaO−B20s )系封止剤
と同様な結果が得られている。
べた( AJhOa EaO−B20s )系封止剤
と同様な結果が得られている。
また実施例5〜5の各三元系液体封止剤において、それ
ぞれ第5図、第6図、および第7図中の斜線で示す如く
、液体封止剤の組成範囲を限定しているが、これら組成
範囲以外の組成では、いづれも白濁もしくは高融点化合
物の生成などにより、単結晶育成は困難でおった。した
がって、本発明の効果は実施例(1)で述べたように、
特許請求範囲(3)、(4)および(5)記載の各限定
組成範囲内の液体封止剤のみにおいて得られた。
ぞれ第5図、第6図、および第7図中の斜線で示す如く
、液体封止剤の組成範囲を限定しているが、これら組成
範囲以外の組成では、いづれも白濁もしくは高融点化合
物の生成などにより、単結晶育成は困難でおった。した
がって、本発明の効果は実施例(1)で述べたように、
特許請求範囲(3)、(4)および(5)記載の各限定
組成範囲内の液体封止剤のみにおいて得られた。
以上説明したように、本発明は、GaAa結晶の育成に
おいて、液体封止剤中のAj! z Os溶解度が大き
いことから、低転位化に顕著な効果を発揮する。
おいて、液体封止剤中のAj! z Os溶解度が大き
いことから、低転位化に顕著な効果を発揮する。
結晶中An濃度でおる約2 X 10” ate惧8/
6−以上を液体封止剤中に添加しても、結晶育成時に高
融点の化合物(A−g2Qs)t・(B2o5)2o生
成がなく白濁せず、したがってシーディング効果が損な
われることなく、このため結晶育成が容易であシ、再現
性良く無転位単結晶が得られるという利点がある。
6−以上を液体封止剤中に添加しても、結晶育成時に高
融点の化合物(A−g2Qs)t・(B2o5)2o生
成がなく白濁せず、したがってシーディング効果が損な
われることなく、このため結晶育成が容易であシ、再現
性良く無転位単結晶が得られるという利点がある。
第1図は本発明の実施例1の模式図、
第2@は本発明の実施例1の液体封止剤の組成図、
第3図は結晶中OAi濃度と封止剤中のJ 2 Q、濃
度の関係図、 第4図は実施例20模式図、 第5図乃至第7図はそれぞれ実施例3乃至5の液体封止
剤の組成図である。 1°°°熱分解窒化ホウ素(PEN )るつぼ2・・・
金属ヒ素 3・・・金属ガリウム 4・・・液体封止剤 5・・・金属アルミニウム 特許出願人 日本電信電話株式会社 代理人弁理士玉蟲 久五部 (外2名)Al2O2にル
z) 結晶中のAt濃度と封止剤中の412031度の関係図
第3図 41203モル% 実施例4の液体封止剤の組成図 41203モル%
度の関係図、 第4図は実施例20模式図、 第5図乃至第7図はそれぞれ実施例3乃至5の液体封止
剤の組成図である。 1°°°熱分解窒化ホウ素(PEN )るつぼ2・・・
金属ヒ素 3・・・金属ガリウム 4・・・液体封止剤 5・・・金属アルミニウム 特許出願人 日本電信電話株式会社 代理人弁理士玉蟲 久五部 (外2名)Al2O2にル
z) 結晶中のAt濃度と封止剤中の412031度の関係図
第3図 41203モル% 実施例4の液体封止剤の組成図 41203モル%
Claims (5)
- (1)るつぼ内に、出発原料として、金属ヒ素と金属ガ
リウム、もしくは金属ヒ素と金属ガリウムと金属アルミ
ニウム、および液体封止剤を充填して、加熱して液体封
止引上(LEC)法により、GaAs結晶へアルミニウ
ムを添加する単結晶の育成方法において、 該液体封止剤が、B_2O_3とAl_2O_3に、さ
らにII族元素酸化物のMgO、CaO、SrO、BaO
のうちの1種もしくは2種以上を含有する多元系酸化物
であることを特徴とする単結晶の育成方法。 - (2)前記液体封止剤の組成範囲が0.5〜30モル%
のAl_2O_3、5〜65モル%のBaOおよび残部
B_2O_3であることを特徴とする特許請求の範囲第
(1)項記載の単結晶の育成方法。 - (3)前記液体封止剤の組成範囲が0.5〜35モル%
のAl_2O_3、10〜55モル%のMgOおよび残
部B_2O_3であることを特徴とする特許請求の範囲
第(1)項記載の単結晶の育成方法。 - (4)前記液体封止剤の組成範囲が0.5〜35モル%
のAl_2O_3、5〜65モル%のSrOおよび残部
B_2O_3であることを特徴とする特許請求の範囲第
(1)項記載の単結晶の育成方法。 - (5)前記液体封止剤の組成範囲が0.5〜35モル%
のAl_2O_3、10〜75モル%のCaOおよび残
部B_2O_3であることを特徴とする特許請求の範囲
第(1)項記載の単結晶の育成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12368485A JPS61286298A (ja) | 1985-06-07 | 1985-06-07 | 単結晶の育成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12368485A JPS61286298A (ja) | 1985-06-07 | 1985-06-07 | 単結晶の育成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61286298A true JPS61286298A (ja) | 1986-12-16 |
Family
ID=14866756
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12368485A Pending JPS61286298A (ja) | 1985-06-07 | 1985-06-07 | 単結晶の育成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61286298A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02107599A (ja) * | 1988-10-18 | 1990-04-19 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 砒化ガリウム半導体単結晶の製造方法 |
JPH02120297A (ja) * | 1988-10-28 | 1990-05-08 | Nippon Mining Co Ltd | 3−5族化合物半導体単結晶の製造方法 |
US5186784A (en) * | 1989-06-20 | 1993-02-16 | Texas Instruments Incorporated | Process for improved doping of semiconductor crystals |
-
1985
- 1985-06-07 JP JP12368485A patent/JPS61286298A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02107599A (ja) * | 1988-10-18 | 1990-04-19 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 砒化ガリウム半導体単結晶の製造方法 |
JPH02120297A (ja) * | 1988-10-28 | 1990-05-08 | Nippon Mining Co Ltd | 3−5族化合物半導体単結晶の製造方法 |
US5186784A (en) * | 1989-06-20 | 1993-02-16 | Texas Instruments Incorporated | Process for improved doping of semiconductor crystals |
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