JPS61281683A - 像検出装置 - Google Patents

像検出装置

Info

Publication number
JPS61281683A
JPS61281683A JP61041621A JP4162186A JPS61281683A JP S61281683 A JPS61281683 A JP S61281683A JP 61041621 A JP61041621 A JP 61041621A JP 4162186 A JP4162186 A JP 4162186A JP S61281683 A JPS61281683 A JP S61281683A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
conductors
reset
shift register
line
conductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61041621A
Other languages
English (en)
Inventor
Girubaato Teise Jiee
ジエー・ギルバート・テイセ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
Publication of JPS61281683A publication Critical patent/JPS61281683A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N3/00Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages
    • H04N3/10Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical
    • H04N3/14Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical by means of electrically scanned solid-state devices
    • H04N3/15Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical by means of electrically scanned solid-state devices for picture signal generation
    • H04N3/1506Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical by means of electrically scanned solid-state devices for picture signal generation with addressing of the image-sensor elements
    • H04N3/1512Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical by means of electrically scanned solid-state devices for picture signal generation with addressing of the image-sensor elements for MOS image-sensors, e.g. MOS-CCD
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • H04N25/779Circuitry for scanning or addressing the pixel array

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、一般に半導体結像アレーに関し、特に、アレ
ー内のすべてのビクセルを迅速にリセットする回路に関
する。
[従来技術] 電子技術における最近の発展の一つは、大形の二次元結
像アレーを利用し得るようになったことである。このよ
うなアレーはその上に像が投映される多数の光検出器か
ら構成されている。個々の光検出器は入射する光の強度
を積分し、一定期間の終りに、積分した強度を読取回路
で読取る。読取回路は、各検出器からの値を読取り、像
全体の電子的相当値を得る。
最も一般的な電子結像器の一つは、個々の光電池として
減損容量性接合を利用するMOS結像器である。MOS
光電池の等価回路を第1図に示す。
光電池10は、こ)では正として示す一つの極性でのみ
充電可能なMOSコンデンサ12を備えている。
ダイオード14は逆充電が不可能であることを示すため
に入れである。各光電池10は、ゲート電極18により
制御される光電池ゲート16により制御され、ゲート1
6はコンデンサ12の信号の読取電極20への開開を司
る。
初期設定あるいはリセットの段階で、外部回路が読取電
極20を基準電圧に設定し、ゲート1Gが基準電圧をコ
ンデンサ12に印加させる。次いでゲート電極18はゲ
ート16を開かせ、コンデンサ12を読取電極20から
分離する。
続く結像段階で、入射光の光子が光電子10に衝突しM
OSコンデンサ12を部分的に放電させる。
概略、的に述べれば、衝突するそれぞれの光子が充電し
たコンデンサ12から一定量の電荷を放出させ、これに
対応してコンデンサ12の両端間の電圧が下がる。放電
の量はこのように結像光の強喰に比例するが、勿論、コ
ンデンサは完全には放電してしまっていないと仮定する
次の結像段階、すなわち通常はすべての光電池について
放電と光強度との関係が同じになるような一定の期間で
は、光電池が読取段階で読取られる。ゲート電8i18
がゲート16を開かせるので読取回路は放電の母を測定
することができる。通常、読取回路は、入射光により生
ずる電荷の減少を測定し、同時に、次の結像期間のため
光電池10を再初期設定すなわちリセットするように設
計される。
従来のMOS結像器の一例を、その読取回路の大部分と
共に第2図に示す。ビクセルのアレー22は光電池10
の行と列とから構成されており、そのそれぞれの形態を
第1図に示す。行は語線24で定義され、列はビット線
26で定義される。用語はディジタルMOS記憶装置の
技術から借用した。語線24はその語線と開運する行で
各光電池のゲート電極18に接続されている。ビット線
26はそのビット線と関連する列で各光電池の読取電極
20に接続されている。
垂直シフト・レジスタ28は垂直シフト・レジスタ線3
0を順次有効化することにより行の選択を制御する。垂
直シフト・レジスタ線30は語線24の一つを随時有効
化するインタレース・ゲート回路32を制御する。イン
クレース・ゲート回路の目的と動作とについては後に述
べることにする。水平シフト・レジスタ34は水平シフ
ト・レジスタ線3Bの一つを有効化することにより、す
なわち各々がビット線ゲート38のゲートを制御するこ
とにより、列を制御する。各ゲート38の一方の側はビ
ット線26の一つに接続されており、すべてのゲートの
他の側は演算増幅器40の反転入力に接続されている。
演算増幅器40の非反転入力は基準電圧VREFに保持
されており、フィードバック抵抗41は、増幅信号出力
42を発生する増幅器40の電流対電圧ゲインを決定す
る。
水平シフト・レジスタ34は垂直シフト・レジスタ28
よりはるかに速(動作するから、一つの行が有効になっ
ている間にすべての列が順次読取られる。有効になって
いる語線24はその線に取付けられているすべての光電
池10を有効にする。コンデンサ12にある信号は次に
、その光電池10に取付けられているビット線26に転
送される。水平シフト・レジスタはビット線26を増幅
器40に順次接続して光電池の信号を信号出力42に移
す。演算増幅器への二つの入力は結局は増幅器40によ
って等しくなるから、光電池10の読取りによりそのコ
ンデンサ12も基準電圧vR[Fにリセットされること
になる。その結果、信号出力42に一連のアナログ・パ
ルスが発生し、各パルスの面積は別個のコンデンサ12
の、結像光により生じた放電の量に対応している。読出
し機構には二つのゲート16と38とを同時に導通゛さ
せないものもある。そのかわり、一つの語線24につい
て、その語線24に取付けられている光電池のゲート1
6を先づ導通させてコンデンサ12の電荷を付属するビ
ット線26のキ17バシタンスに実質的に移すようにす
ることにより、同じ動作が得られる。光電池のゲート1
6が遮所されてから、続いて、ビット線のゲート38が
順次閉じれば、先に述べたとおり、電荷が増幅器40に
移されることになる。
一つの行を読取ってから、他の行が同様の読取りのため
垂直シフト・レジスタ28により有効化され、垂直シフ
ト・レジスタ28のサイクルでビクセル・アレー22の
全体が信号出力42に出力されるようになる。
第2図に示す形式のMOS結像アレーは、テレビジョン
・カメラのような、像の周期的フレームを発生するビデ
オ・カメラに使用されてきた。シフト・レジスタをフレ
ーム・レートに関して時間を調節する際には注意を払わ
なければならないが、一旦カメラが動作を始めると、記
録のブOセスが連続であるため、フレームの開始とシフ
ト・レジスタの初期設定との同期は問題にならない。し
かしながら、最近、MOS結像アレーは、たとえば、3
5ミリ・カメラのハロゲン化銀記録媒体のかわりとし、
て単一フレームの、すなわち−発躍りのカメラに応用さ
れるようになってきた。単一フレームのMOS結像法は
多数フレームの記録には存在しない幾つかの問題を引起
している。第一に、−発撮りは時間的に大きく離れてい
る場合がありしがも避は難い暗電流により光電池が1秒
あるいはそれ以下の程度の時間にわたり自然に放電を起
すことになるため、光電池のリセットに際して前のすイ
クルを頼りにすることはできない。多数フレームのカメ
ラでは、最初の数フレームは、残りのフレームが先行フ
レームの読取り動作によりリセットされるので、無価値
の暗電流の像に対して犠牲にすることができる。第二に
、−発張りは不規則に時間調節され、シャッタはシフト
・レジスタと協働しなければならない。多数フレーム・
カメラでは、同期がほとんど問題にならないようにフレ
ーム間のタイミングが保たれているかぎり、フレームの
位相を正確にすることは比較的重要ではない。
単一フレーム・カメラの時間調節を行う一つの方法を第
3図に示す。フレームは、垂直シフト・レジスタ28を
初期設定しリセット読取サイクルがこれに続く開始信号
で始まる。リセット読取サイクルは、出力信号が記録さ
れないということを除【ブば、実際の読取サイクルと同
等である。リセット読取サイクルの後、シャッタが露光
条件で決まる時間の長さだけ開く。露光の後、MOS結
像チップが実際の読取サイクルに読込まれ、信号出力が
電子的に記録される。実際問題として、特別な特性の検
出器を用いてわずか1読取サイクルの間に光電池10を
正確にリセットできるということはありそうにない。た
ずし、1サイクルは記述したこのようなリレッ1〜法に
必要な最小限を表わしている。
この時間調節の手順は簡単化したインタレース・ゲート
回路44を示す第4図に例示した回路により電気的に実
施することができる。この回路には2本の垂直シフト・
レジスタ線30と2本の語線24とを示しであるが、一
般的なインタレース・ゲート回路は同様に構成された線
路をもつと多く含んでいる。各垂直シフト・レジスタ線
30は線路ゲート46を介して電圧を語線24に印加す
る。たずし、語線24はすべて語線24と大地との間の
リセット・ゲート48に加えられる高いRESET信号
により接地することができる。技術的には、第4図の回
路は、インタレース回路はシフト・レジスタ線30と語
線24との間に一対一の対応を有することはないから、
「インタレース」回路ではない。第4図のもつと適切な
説明は垂直シフト・レジスタ30と語線24との間のイ
ンタレースしないインタフェースであろう。しかし、[
インタフェース回路]という用語をその配置を考慮して
使用することにし、その眞のインタレース回路との関係
については後程説明することにする。
代表的な用途において、RESET信号は、垂直シフト
・レジスタ28が光電池10の読取りとリセットとを有
効にしている間の他は、高レベルに保たれている。It
ESETは、垂直レジスタ28と同期して低いパルスと
して発生し、光電池10の行にある電荷が対応するビッ
ト線26に移されてしまってから語線24にか1つてい
る電圧を大地に戻す。
[発明が解決しようとする問題点1 しかしながら、この手順では、リセット読取が少くとも
実際の読取サイクルの長さだけなければならない。この
ようにリセット期間が長いと平均暗電流蓄積期間がかな
り長くなり、電子的に記録される像の質が低下する。更
に、リセット期間が長いと実際の露光期間、したがって
リセット読取りが、動作のトリガ作用から遅れ、シャッ
タとの同期が一層困難になる。
したがって、本発明の目的は、MOS結像器アレー用リ
セすト回路を提供することである。
本発明の他の目的は、MOSO8結像−アレー全体速に
リセットするリセット回路を提供することである。
[問題点を解決するための手段] 本発明は、チップ・リセット信号をMOS結像器アレー
内のすべての語線に同時に加えてすべての語線上の光電
池を同時にリセットするリセット回路であると要約する
ことができる。チップ・リセッ、トは従来の線リセット
回路と組合わせることができる。正常な動作ではリセッ
ト・ゲートの源に加えられたチップ・リセットは接地さ
れ、線路ゲートは垂直シフト・レジスタの出力を語線に
伝える。チップ・リセット・モードでは、チップ・リセ
ットは高レベルに保持され、リセット・ゲートは高いデ
ツプ・リセット信号をすべての語線に伝°える。
[実 施 例] 本発明によれば、MOS結像器アレー内のすべての語線
を同時にリセットすることができる。第5図の概要図に
示す本発明の簡単な一実施例においては、インタレース
・ゲート回路50は第4図のインタレース・ゲート回路
44と同様に動作する。
もう一度、回路50は、インタレース機能を欠いている
がインタレース回路と呼ばれる。垂直シフト・レジスタ
からの逐次有効化される信号が垂直シフト・レジスタ線
30に到達して線路ゲート46を語線24に対して逐次
有効化する。複数のリセット・ゲート48の各々は関連
する語線24に取付けられたドレインを有している。各
リセット・ゲート48のゲートはLINE RESET
信号により制御、されるが、各リセット・ゲート48の
源はCHIP I?ESET信号に取付けられている。
LINE RESETは第4図のRESETに対応して
おり典型的には垂直シフト・レジスタ28と同期して刻
時される。正常動作においては、CHIPRESET信
号は低レベルか接地されており、インタレース・ゲート
回路50は第4図のインタレース・ゲート回路44と正
確に同様に動作する。すなわち、LfNE ItESE
Tが低レベルのとき、垂直シフト・レジスタは電圧+■
を語線24に逐次伝える。LINERESETが高レベ
ルのときは、リセット・ゲート48のドレインはすべて
CIIIP ItESETの低い値に接地され、任意の
語線24を、もしそれが高の状態にあれば、低い状態に
戻す。
CIIIP 1tEsET!: LINE RESET
トカ両方トも高イトキは、語線24はすべて同時に高レ
ベルであってピクセル・アレ−22全体のすべての光電
池10が水平シフト・レジスタ34の出力により順次リ
セットされる。語線24はこの場合垂直シフト・レジス
タ線30にある信号の値に関係なく高レベルである。こ
のように語線24は、垂直シフト・レジスタ@30が高
く、LINE RESET信号が低いことになり、ある
いはCHIP RESET信号が高く、LINE RE
SET信号が高いことにより、有効になっているため、
いずれの場合でも高レベルになることができる。光電池
10をすべてリセットするためには、水平シフト・レジ
スタ34の全サイクルにわたりCHIP RESET信
号とLINE11ESET信号とを高レベルにしておか
なければならない。た望し、この時間は、完全なリセッ
トが行われる従来のリセット・プロセスにおいて垂直シ
フト・レジスタ28の全サイクルにわたり必要となる時
間と比較すればはるかに少い。水平シフト・レジスタ3
4は垂直シフト・レジスタ28の1クロック期間内にも
う一度サイクルを完了することに留意すべきである。C
HIP ItESET線は、第2図について延べた読出
し機構の代案の場合と同様の方法で水平走査のはじめに
パルス発生することができ、光電池ゲート16はビット
線ゲート38と同時に導通することはないようになって
いることにも注意すべきである。
第5図のインタレース回路では第6図のタイミング図表
にしたがってMOS結像結像器−をリセットすることが
できる。始動に続いて、CIIIPRESETが高いこ
とによりMOS結像器は水平シフト・レジスタ34の完
全な1サイクル内でリセットが可能になる。次いで、結
像器は露光に対する準備が完了し、シャッタを開くこと
ができる。次にMOS結像器はCIIIP IIESE
T信号を低レベルにしたま)通常の方法で読取りを行う
。この構成では、平均蓄積期間が減少するため平均暗電
流がかなり減少する。その上、シーケンスの開始後、更
に一層迅速にシャッタを開き露光を始めることができる
。この利点を得るために追加しなければならない回路は
、発明の背景において述べた回路と比較して極くわずか
である。
今まで述べてきたインタレース・ゲート回路は、眞のイ
ンタレース機能を行うように従来の電子式カラー・カメ
ラと組合せて使用するには修正を加えなければならない
。従来のカラー・カメラでは、緑・、黄、シアン、およ
び白の四重を隣接する二つの行の四つのセルに配置しで
ある。行は、第2図の増幅器40に対応する少くとも二
つの増幅器を使用して、一度に二つ読取られ、その四重
セルの色を正しくインタレースすることができる。しか
しながら、行は、垂直シフト・レジスタ28の、Aサイ
クルおよびBサイクルと呼ばれる、その次のサイクルで
は組合せの相手が異なる。二つのサイクルに対してフィ
ールド1およびフィールド2という用語を使用すること
もある。たとえば、Aサイクルでは、行は(0,1>、
(2,3>、(4゜5)のような順に読取られる。しか
しBサイクルではこの順序は(1,2)、(3,4>、
(5゜6)などとなる。普通同業に携わる者には認識さ
れるように、隣同志のサイクルで行の組合せ相手が異な
ればインタレース走査が発生する。これは半導体結像ア
レーばかりでなく電子ビーム・カメラおよび陰極線管に
も一般に使用されている技法である。この概念をインク
レース・チップに利用することを説明するのは、大部分
のチップがカラー・インタレースされているかあるいは
少くとも成る理由でインタレースされている。から、主
として完璧を期するためであることに注意すべきである
。タスし、単一フレーム・リセットおよび読取りの機構
は、通常はAサイクルともBサイクルとも関係しないこ
とになっている。というのはAサイクルはすべての光電
池を読取り、他の同期化露光はAサイクルかまたはBサ
イクルに対して何者かを読取らせるのに必要となるから
である。しかしながら、この説明により、標準の、市場
から入手できるインタレース回路は本発明に容易に適合
させ得ることが実証される。
第7図に上記の特性を有するインクレース・ゲートの二
つの部分を示す。図示した二つの部分の、それらを区別
する必要のないときは一括して線30と呼ぶ、2本の垂
直シフト・レジスタ線301と302とは4本の語線6
2.64.66、および68を制御しているところを示
しである。
垂直シフト・サイクルのAサイクルにおいて、FA倍信
号高レベルになっていて、語線62と64とに関連する
二つのゲート69と70とを有効にしている。垂直シフ
ト・レジスタの次のサイクルで、信号F、が高くなって
語線64と66とに関連する二つのゲート72と74と
が有効になる。この二番目のサイクルの間に、信号FA
は低くなっている。Aサイクルの間は信号F、は低レベ
ルである。その結果、語線62と64から成るA組はA
サイクルで有効となり、8組の64と66とはBサイク
ルで有効となる。
第5図の一つのリセット・ゲート48はブートストラッ
プ・ゲート76とリセット・ゲート18とで置換えられ
る。垂直シフト・レジスタ線30の信号は、ゲート69
〜74で有効となるが、ブートストラップ・ゲート76
のゲート電極と、ブートストラップ・ゲート76の源に
接続されているコンデンサ80とを制御する。ブートス
トラップ・ゲート76の源はリセット・ゲート78のド
レインに接続されている。
従来の動作では、リセット・ゲート78の源は接地され
ている。ゲート76と78とはそれぞれリセット・ゲー
ト18のゲート電極とブートストラップ・ゲート16の
ドレインとに接続されているタイミング信号φv2とφ
、3とで制御される。
第7図のインタレース回路の典型的な動作を第8図のタ
イミング図表を参照して説明する。垂直シフト・レジス
タ28は垂直シフト・レジスタ線30に、水平シフト・
レジスタ34の完全サイクルごとに各線30に一つのパ
ルスのように、一連のパルスを発生する。Aサイクルに
おいては、図示のように、信号FAは高く信号F8は低
い。図示のBサイクルでは、F 信号とF、信号との極
性は反対式 になる。タイミング信号φv2とφV3とのパルスは垂
直シフト・レジスタからのパルスと同期しており、負の
φ、2パルスは正のφV3パルスより幾分おくれで始ま
る。
正常動作においては、CHIP RESETは接地され
ており、φv2信号が高くなっているパルス間期間にリ
セット・ゲート78によりこの接地線が語線62〜68
と接続する。CHIP RESETが接地している状態
では、この回路は通常のインタレース回路と同じである
。しかしながら、φV2が低いパルスになっている間は
、語線62〜68はリセット・ゲート78により接jl
!IcHIP RESETから切離されている。次に、
選択された垂直シフト・レジスタ線301に高いパルス
が来るとブートストラップ・ゲート16のゲートが充電
され、高いφV3パルスを語1!1162に通すことが
できるようになる。φ、3信号が立上ると、ブートスト
ラップ・ゲート76はブートストラップ・ゲート76と
コンデンサ80とのブートストラップ動作により導通状
態に保たれる。ゲートd9は、そのゲートとドレイン(
線301に接続されている)とが、前章でのゲートのよ
うに、同レベルになっているので、断になる。φ、3パ
ルスの時間中、語線62にあるずべての光電池10は有
効になっている。
同時に、垂直シフト・レジスタ線301により語線64
を立上げるという同様の動作が起る。φv3パルスの後
、水平シフト・レジスタ34は完全サイクルを行い、語
線62と64との有効になっている光電池10をすべて
読取り、リセットする。
Aサイクルの間に、シフト・レジスタ線301に乗って
いる高レベルのパルスにより語線62と64との光電池
が有効になり、シフト・レジスタ@30□に乗っている
高レベルのパルスによ・り語線66と68との光電池が
有効になる。他方、Bサイクルの間には、シフト・レジ
スタ線301の高レベルのパルスによりHD e4と6
6とが有効になり、シフト・レジスタ線302の高レベ
ルのパルスにより語線68とインタレース回路の図示し
てない以降の部分にある一つの語線とが有効になる。こ
のように垂直シフト・レジスタ28の1サイクルだけで
すべての光電池が読取られることになる。FA倍信号F
8信号とは垂直シフト・レジスタ28のAサイクルと8
サイクルとが交替すると語線62〜68の対になる組合
せを変える。
光電池がすべてリセットする場合、CIIIP nEs
ET信号とφ、2信号とはシフト・レジスタ34の1水
平サイクル以上の期間高くなっている。次にφv2信号
が高くなっているパルス間期間に高レベルのC旧P R
ESETどすべての語線62〜68との間のリセット・
ゲート78を開く。すべての光電池をリセットするとい
う所望の効果を得るには、φv2とCIIIPRESE
Tとは水平シフト・レジスタ34の少くとも1サイクル
の間高くなっていなければならない。水平シフト・レジ
スタ34はφv2パルスが高レベルになっている期間内
に一度サイクルを完了するので、φv2パルスが高レベ
ルになっているときにすべての光電池がリセットする。
全体がリセットする間に光電池10から読取られる信号
はすべて、多数の行からの信号の総和であり、結像アレ
ーの利用には重要ではない。また、垂直シフト・レジス
タ線30またはF、線およびF8線に現われる信号はす
べてCHIP RESETから語線62〜68へ転送さ
れる高レベルの信号には影響しない。リセット・ゲート
78のプートストラップ動作はゲート76のブートスト
ラップ動作に対して同様に行うことができる。
第4図および第5図の説明と同様に、第7図のCHIP
 RESETは導通りに使用することができる。一つの
方法では、語線62〜68は水平シフト・レジスタ34
の全読取期間中高くなっている。他の方法では、語線6
2〜68は水平シフト・レジスタ34の各々が完全に読
取りを終る前に短期間高レベルのパルスを発生する。
[発明の効果] このようにして、結像アレー全体が、垂直シフト・レジ
スタのサイクルを完了するに必要な時間ではなく、垂直
シフト・レジスタの1り0ツク周期または、多くとも、
数クロック周期内5にリセットし得ることがわかる。そ
の結果、平均暗電流が減少して明瞭な像が得られる。更
に、リセット動作の開始とシャッタ開放との間の時間が
減少して一層応答の速い電子写真が得られるとともに、
シャッタ自身の機械設計を簡単にすることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来のMOS光電池の概要図である。 第2図は、MOS結像器アレーとその支持回路との概要
図である。 第3図は、単一フレームMOSカメラ用の本発明のもの
とは異なるタイミング図表である。 第4図は、第3図のタイミングを実現するための、イン
タレース・ゲート回路に関する、インタフェース回路の
概要図である。 第5図は、第4図のインタフェース回路に応用した、本
発明の一実施例の概要図である。 第6図は、本発明による単一フレームMoSカメラのタ
イミング図表である。 第7図は、本発明の他の実施例のm要因である。 第8図は、第7図の実施例に対する好ましいタイミング
図表である。 (図中符号) 10・・・光電池       16・・・光電池ゲー
ト22・・・ピクセル・アレー  24・・・語 線2
8・・・垂直シフト・レジスタ 30・・・垂直シフト・レジスタ線 34・・・水平シフト・レジスタ 38・・・ビット線ゲート   40・・・演算増幅器
44・・・インタレース・ゲート回路 46・・・線路ゲート 48・・・リセット・ゲート 50・・・インタレース・ゲート回路 62、64.66、68・・・語線 69、70.72.74・・・ゲート 76・・・ブートストラップ・ゲート 78・・・リセット・ゲート  80・・・コンデンサ
手続ネ市−IE丁ξ 昭和61年 7月 1日 #Fs ’;:(庁艮官 宇゛賀〕亡■13  殿1、
 事件の表示 昭和61年特許願第41621号 2、 発明の名称 像検出装置 6、 補正により増加する発明の教導 〇7、 補正の
対象: 図 而 第2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)交差する行と列とに配列された複数の光検出要素か
    ら成る光検出アレーと、 光検出要素の前記列を逐次リセットする手段であって各
    列内の光検出要素をすべて同時にリセットする手段と、 を備えていることを特徴とする像検出装置。 2)前記アレーは更に、前記行を規定する第1の組の導
    体と、前記列を規定する第2の組の導体とを備え、前記
    各組の導体は、各組の中では平行で、組と組との間では
    垂直になつており、前記光検出要素の各々は前記第1の
    組の一つの導体により制御されるとともに、その信号を
    前記第2の組の一つの導体に転送せしめるようになつて
    おり、更に、前記リセット手段は、予め定めた第1の電
    位を前記第1の導体の組のすべての導体に同時に印加す
    る手段を備えていることを特徴とする特許請求の範囲第
    1項に記載の像検出装置。 3)前記リセット手段は更に、予め定めた第2の電位を
    前記第2の組の導体に逐次印加する手段を備えているこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第2項に記載の像検出装
    置。 4)前記予め定めた第1の電位を前記第1の導体の組の
    すべての導体に同時に印加する前記手段は、前記第1の
    組の導体ごとに一つづゝの、複数の電界効果トランジス
    タから成るインタレース開閉手段を備えており、前記ト
    ランジスタは、チップ・リセット信号端子と前記第1の
    組のそれぞれの導体との間に結合するチャンネルを備え
    ているとともに、線リセット信号端子に結合するゲート
    を備えていることを特徴とする特許請求の範囲第3項に
    記載の像検出装置。 5)前記線リセット信号端子は、前記第2の電位を前記
    第2の組の前記導体のすべてに逐次印加するに必要な時
    間より長い周期を有する周期信号の端子であることを特
    徴とする特許請求の範囲第4項に記載の像検出装置。 6)各光検出要素は、MOS感光要素と、該MOS要素
    と前記第2の組の一つの導体との間に接続された電界効
    果トランジスタとを備え、そのゲートは前記第1の組の
    一つの導体に接続されており、前記第1の電位を前記第
    1の組の第1の導体に印加すると該第1の導体により制
    御されるすべての光検出要素内の電界効果トランジスタ
    が導通し、前記第2の電位を前記第2の組の第2の導体
    に同時に印加すると前記第1の導体により制御され且つ
    前記第2の導体に接続されているMOS要素を充電させ
    ることを特徴とする特許請求の範囲第5項に記載の像検
    出装置。 7)それぞれの組の導体は互いに平行になっており第1
    および第2の組の導体は互いに垂直になっている第1お
    よび第2の組の導体と、更に、個々の感光要素は前記第
    1の組の導体と前記第2の組の導体とに前記第1および
    第2の組の前記導体の任意の交点で動作的に結合してい
    る複数の感光要素と、から成るアレーと、 垂直シフト・レジスタと、 それぞれが前記第1の組の前記導体のそれぞれ一つとリ
    セット信号端子との間で結合するチャンネルを有する複
    数の電界効果トランジスタから成り、前記垂直シフト・
    レジスタの出力に応じて前記第1の組の前記導体をイン
    タレース的に走査するインタレース・バッファ手段と、
    水平シフト・レジスタと、 その入力に加えられる信号を増幅して出力端子に出し且
    つ前記入力を基準電位にセットする増幅器と、 前記水平シフト・レジスタの出力に応答して前記第2の
    導体を前記増幅器の入力端子に逐次結合する出力スイッ
    チ手段と、 を備えていることを特徴とする像検出装置。 8)前記電界効果トランジスタはクロック信号端子に共
    通に結合しているゲートを有していることを特徴とする
    特許請求の範囲第7項に記載の像検出装置。
JP61041621A 1985-03-15 1986-02-28 像検出装置 Pending JPS61281683A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/711,941 US4620232A (en) 1985-03-15 1985-03-15 Reset circuit for MOS imager array
US711941 1991-06-07

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61281683A true JPS61281683A (ja) 1986-12-12

Family

ID=24860131

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61041621A Pending JPS61281683A (ja) 1985-03-15 1986-02-28 像検出装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US4620232A (ja)
JP (1) JPS61281683A (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4912537A (en) * 1988-06-24 1990-03-27 Polaroid Corporation Image sensing array with charge isolation
US5262870A (en) * 1989-02-10 1993-11-16 Canon Kabushiki Kaisha Image sensor in which reading and resetting are simultaneously performed
KR100264931B1 (ko) * 1994-05-19 2000-09-01 쥴리 오. 페트리니 활성 픽셀을 가진 cmos 촬상 어레이

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5340215A (en) * 1976-09-27 1978-04-12 Hitachi Ltd Solid pickup element
JPS5583380A (en) * 1978-12-20 1980-06-23 Fujitsu Ltd Infrared-ray detecting cid
JPS56152382A (en) * 1980-04-25 1981-11-25 Hitachi Ltd Solid image pickup element
JPS5983476A (ja) * 1982-09-29 1984-05-14 シ−メンス・アクチエンゲゼルシヤフト 二次元半導体画像センサおよびその操作方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55145481A (en) * 1979-04-28 1980-11-13 Canon Inc Mos image sensor
DE3138294A1 (de) * 1981-09-25 1983-04-14 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Zweidimensionaler halbleiter-bildsensor mit steuerung oder regelung der integrationszeit
JPH0744661B2 (ja) * 1982-12-14 1995-05-15 オリンパス光学工業株式会社 固体撮像装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5340215A (en) * 1976-09-27 1978-04-12 Hitachi Ltd Solid pickup element
JPS5583380A (en) * 1978-12-20 1980-06-23 Fujitsu Ltd Infrared-ray detecting cid
JPS56152382A (en) * 1980-04-25 1981-11-25 Hitachi Ltd Solid image pickup element
JPS5983476A (ja) * 1982-09-29 1984-05-14 シ−メンス・アクチエンゲゼルシヤフト 二次元半導体画像センサおよびその操作方法

Also Published As

Publication number Publication date
US4620232A (en) 1986-10-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7489354B2 (en) CMOS active pixel with hard and soft reset
KR100750778B1 (ko) 능동 화소 센서 및 그 제조 방법
US5898168A (en) Image sensor pixel circuit
US6624850B1 (en) Photogate active pixel sensor with high fill factor and correlated double sampling
JP3512152B2 (ja) 増幅型固体撮像装置およびその駆動方法
US20080173909A1 (en) Image sensor with gain control
US6157016A (en) Fast CMOS active-pixel sensor array readout circuit with predischarge circuit
US9118851B2 (en) High dynamic range image sensor read out architecture
JP2003198948A (ja) 固体撮像装置および固体撮像装置の駆動方法
KR20000035551A (ko) 상관형 이중 샘플링을 갖는 3 트랜지스터 활성 픽셀감지기 및 그의 제조 방법
GB2130045A (en) Line transfer imager and television camera including such an imager
WO2000005874A1 (en) Multiple storage node active pixel sensors
US5168379A (en) Solid state imaging device having a defect relief system
JPH11266403A (ja) 固体撮像素子およびその駆動方法、並びにカメラシステム
US4734582A (en) Integration time control for a radiation sensitive charge injection device
JPH02101878A (ja) 固体撮像装置
JP2000209508A (ja) 固体撮像装置
US11716547B2 (en) Sample and hold switch driver circuitry with slope control
JPS61281683A (ja) 像検出装置
JPH11225289A (ja) エッジ検出用固体撮像装置、並びに固体撮像装置の駆動によるエッジ検出方法
JP3042643B2 (ja) 固体撮像装置及び固体撮像装置の駆動方法
JPH11266400A (ja) 固体撮像素子およびその駆動方法、並びにカメラシステム
JP2880011B2 (ja) 固体撮像装置
JP2678086B2 (ja) 光電変換装置
JPS6030281A (ja) 信号処理装置