JPS61272640A - 物体の表面状態測定装置 - Google Patents
物体の表面状態測定装置Info
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- JPS61272640A JPS61272640A JP61117723A JP11772386A JPS61272640A JP S61272640 A JPS61272640 A JP S61272640A JP 61117723 A JP61117723 A JP 61117723A JP 11772386 A JP11772386 A JP 11772386A JP S61272640 A JPS61272640 A JP S61272640A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は表面の状態を測定する光走査装置に関する。こ
の種類の公知の装置は、物体の表面−ル − の走査線を形成する装置と、該走査線に平行に延びろ半
面内にあって、常態の反射に対応する特定の方向または
表面欠陥の結果とじてこγしから幾分逸rシお一方向の
いづ7tかで表面状態に依存して表面を去る総ての光線
を点状集中領域に集中する光学系とを備えている。この
点状集中領域をま、光線が常態の方向を有するか、また
は角度的に該方向から幾分逸rしるかに依存して、透明
な光集中装置の光入口面上の常態位置または走査線の方
向で該位置に対して幾分変位¥ろかのいづnかで配置さ
れる。
の種類の公知の装置は、物体の表面−ル − の走査線を形成する装置と、該走査線に平行に延びろ半
面内にあって、常態の反射に対応する特定の方向または
表面欠陥の結果とじてこγしから幾分逸rシお一方向の
いづ7tかで表面状態に依存して表面を去る総ての光線
を点状集中領域に集中する光学系とを備えている。この
点状集中領域をま、光線が常態の方向を有するか、また
は角度的に該方向から幾分逸rしるかに依存して、透明
な光集中装置の光入口面上の常態位置または走査線の方
向で該位置に対して幾分変位¥ろかのいづnかで配置さ
れる。
光集中装置は外側鏡付き側面を有し、集中領域から所望
の光出口面まで勾配を設けらγし、該出−ロ面では面積
光変換器、特に、光電子増倍管が配置される。暗視野ス
トップは光集中装置に対して垂直に配置さγし、好まし
くはこの垂直位置のまわりの小さい角度範囲内に配置さ
1しろ。該ストップは垂直方向に対する所定の偏向角度
以上で表面を去る光線のみが光集中装置に進入するのを
許容する。
の光出口面まで勾配を設けらγし、該出−ロ面では面積
光変換器、特に、光電子増倍管が配置される。暗視野ス
トップは光集中装置に対して垂直に配置さγし、好まし
くはこの垂直位置のまわりの小さい角度範囲内に配置さ
1しろ。該ストップは垂直方向に対する所定の偏向角度
以上で表面を去る光線のみが光集中装置に進入するのを
許容する。
この光走査装置は1例えばシート金属の様な鏡面反射材
料の表面検査に使用さ1しろ。この装置では、走査光線
はしっかりと束ねら几る走査光線ビードを発生する様に
金属のウェブへ斜めにレーザ光線で照射される鏡ホイー
ルによって方向づけらiLろ。走査光線ビードは好まし
くはウェブの移動方向に対して横方向に周期的にウェブ
土を拭掃する。この様にして、ウェブは線状に走査さI
しろ。ウェブから反射さrしろ光は走査光線ビードによ
って発生さrL、ろ光の線に平行な表面に接近して配置
される円筒形レンズによって捕捉さ”e 総での受取っ
た反射走査光線を単一の点状集中領域に集中する球形、
放物面または円筒形、特に、ス) IJツブ状状面面鏡
方向づけらTLる。
料の表面検査に使用さ1しろ。この装置では、走査光線
はしっかりと束ねら几る走査光線ビードを発生する様に
金属のウェブへ斜めにレーザ光線で照射される鏡ホイー
ルによって方向づけらiLろ。走査光線ビードは好まし
くはウェブの移動方向に対して横方向に周期的にウェブ
土を拭掃する。この様にして、ウェブは線状に走査さI
しろ。ウェブから反射さrしろ光は走査光線ビードによ
って発生さrL、ろ光の線に平行な表面に接近して配置
される円筒形レンズによって捕捉さ”e 総での受取っ
た反射走査光線を単一の点状集中領域に集中する球形、
放物面または円筒形、特に、ス) IJツブ状状面面鏡
方向づけらTLる。
この集中領域に1鏡ホイールの表面の像を示す。
しかしながら、像形成用凹面鏡の代りに、ストリップ状
の形状の対応するレンズを使用してもよい。
の形状の対応するレンズを使用してもよい。
主として光電子増倍管から成る光電変換器装置は集中領
域に配置してもよい。しかしながら。
域に配置してもよい。しかしながら。
この配置により表面に欠陥の発生の際、集中領域が光の
線の方向におけるその常態位置から一方向または他の方
向へそrL、火焦面の態様でこの移動の際に広がること
は問題になる。集中領域のこの偏向は好ましくはsan
になり、または角度で表わして約へj0になり、従って
、就中。
線の方向におけるその常態位置から一方向または他の方
向へそrL、火焦面の態様でこの移動の際に広がること
は問題になる。集中領域のこの偏向は好ましくはsan
になり、または角度で表わして約へj0になり、従って
、就中。
光の線の方向でこの様な大きい面積の広さを有する受光
面が設けらrしねばならず、こrL、は0通常、光電子
増倍管によって得らrしる様になし得ない。
面が設けらrしねばならず、こrL、は0通常、光電子
増倍管によって得らrしる様になし得ない。
この理由により、集中領域と光電子増倍管の受光面との
間に透明な光集中装置が既に設置され、該光集中装置は
、外側鏡付き側面を有し円錐状に勾配のあるプリズムの
態様に構成さrL。
間に透明な光集中装置が既に設置され、該光集中装置は
、外側鏡付き側面を有し円錐状に勾配のあるプリズムの
態様に構成さrL。
比較的大きい九人【−1面と、約半分の大きさの光出口
面とを備えている。この構成により、光入口面は集中領
域に対して十7.7°から1−θ、6°までの角度内に
属する総ての光線を検出する光の線の方向で充分に太き
(て、光電子増倍管の配置−ヂー さ几る低減した光出口面へ出来るだけ完全に。
面とを備えている。この構成により、光入口面は集中領
域に対して十7.7°から1−θ、6°までの角度内に
属する総ての光線を検出する光の線の方向で充分に太き
(て、光電子増倍管の配置−ヂー さ几る低減した光出口面へ出来るだけ完全に。
光集中装置の側面における反射によって光線を送るのを
可能にする様に1寸法を定めらnる。
可能にする様に1寸法を定めらnる。
本発明の底流をなす主な目的は、自然な基本的制限を考
慮し、総ての入射光線を所望の光出口面へ送る有用な角
度範囲が絶対的な最大値に達する様な態様で光集中装置
の光の集中が最適化さ7′L、る最初に述べた種類の光
走査装置を提供することである。
慮し、総ての入射光線を所望の光出口面へ送る有用な角
度範囲が絶対的な最大値に達する様な態様で光集中装置
の光の集中が最適化さ7′L、る最初に述べた種類の光
走査装置を提供することである。
この目的を満足させろため1本発明は勾配付き光集中装
置の外側の鏡付ぎ側面が入口面から遠い方向で益々凸形
に彎曲し、従って、暗視野ストップの範囲内に属する少
(とも幾つかの光線か、暗視野ストップを欠くと仮定す
rしば、所望の光出口面に達することなく光集中装置内
で後方へ反射される稚魚な角度で凸形に彎曲する側面に
当り、暗視野ストップの横で光集中装置の光入口面に進
入する総ての光線か、所望の光出口面に総て到達する様
な浅い角度で鏡付き側面に当たることを提供する。
置の外側の鏡付ぎ側面が入口面から遠い方向で益々凸形
に彎曲し、従って、暗視野ストップの範囲内に属する少
(とも幾つかの光線か、暗視野ストップを欠くと仮定す
rしば、所望の光出口面に達することなく光集中装置内
で後方へ反射される稚魚な角度で凸形に彎曲する側面に
当り、暗視野ストップの横で光集中装置の光入口面に進
入する総ての光線か、所望の光出口面に総て到達する様
な浅い角度で鏡付き側面に当たることを提供する。
従って0本発明の底流をなす基本的な観念は。
暗い面によって被わγしろ領域に入射する光線が。
暗視野ストップの存在しない際、二回目に正に非常に急
な角度で反対側の側面に当たり、従って、所望の光出口
面から遠く後方へそこから反射さTL、従って、光電子
増倍管fの利用に対して喪失さTLる様な態様で少(と
も部分的に反射される如(、光集中装置の側面を成形す
る着想にある。
な角度で反対側の側面に当たり、従って、所望の光出口
面から遠く後方へそこから反射さTL、従って、光電子
増倍管fの利用に対して喪失さTLる様な態様で少(と
も部分的に反射される如(、光集中装置の側面を成形す
る着想にある。
しかしながら、光入口面の中心領域における暗視野スト
ップの実際の配置のため、こrLは。
ップの実際の配置のため、こrLは。
常態で反射さrLる光線ではな(測定に影響を与える様
に意図される欠陥から発生さtしる光線であるため、こ
it等の光線がいづ1しにしても暗視野ストップによっ
て光電子増倍管から遠く保たrしろために不都合ではな
い。この代りに1本発明は、光集中装置に従来可能であ
ったよりもかなり太き(なる様に有用な角度範囲を選択
することを基本的な物理的制限の考慮および該制限内の
保持によって可能にする。例えば、暗視野ストップが約
70の角度範囲にわたって被えば。
に意図される欠陥から発生さtしる光線であるため、こ
it等の光線がいづ1しにしても暗視野ストップによっ
て光電子増倍管から遠く保たrしろために不都合ではな
い。この代りに1本発明は、光集中装置に従来可能であ
ったよりもかなり太き(なる様に有用な角度範囲を選択
することを基本的な物理的制限の考慮および該制限内の
保持によって可能にする。例えば、暗視野ストップが約
70の角度範囲にわたって被えば。
10から1.7°までの有用な角度範囲は、その各々の
側に設けらrしてもよ(、光集中装置の光入口面へのこ
の角度範囲に属する総ての光線は、過度に急な角度の入
射によって後方へ反射さrt、ることなく、光電子増倍
管の配置さTしる所望の光出口面へ鏡付き面で反射さ几
ろことによって到達可能である。しかしながら、物理的
な要件は。
側に設けらrしてもよ(、光集中装置の光入口面へのこ
の角度範囲に属する総ての光線は、過度に急な角度の入
射によって後方へ反射さrt、ることなく、光電子増倍
管の配置さTしる所望の光出口面へ鏡付き面で反射さ几
ろことによって到達可能である。しかしながら、物理的
な要件は。
暗視野ストップに当る光線の条件が本発明によって達成
さIしるため維持可能であり、こ几等の光線は、暗視野
ストップによって被わnなけrしは、側面におけろその
部分的な後方への反射に導かiする。
さIしるため維持可能であり、こ几等の光線は、暗視野
ストップによって被わnなけrしは、側面におけろその
部分的な後方への反射に導かiする。
この配置は、好ましくは、光入口面が特定の方向へ核間
から出る光線に対して中心光線に垂直に延びる様になさ
rL、ろ。
から出る光線に対して中心光線に垂直に延びる様になさ
rL、ろ。
更に、所望の光出口面は光入口面に平行に延びねばなら
ない。
ない。
更に、暗視野ストップ/lIが光集中装置の光入口面の
中心に対称的に配置さ1L′!−ば1便利である。
中心に対称的に配置さ1L′!−ば1便利である。
中心光線の両側での欠陥検出に対して対称的な角度範囲
を与えるため、彎曲した側面(ま中心光線に対して対称
的に延びねばならない。
を与えるため、彎曲した側面(ま中心光線に対して対称
的に延びねばならない。
彎曲した側面が所望の光出口面のはV背後に横たわる頂
点を有しその面に平行に並進″fろ放物線の形状を備え
lしば、特に有利である。
点を有しその面に平行に並進″fろ放物線の形状を備え
lしば、特に有利である。
本発明の意図の結果として、所望の光出口面に対する先
入1」面の比が約2:1になる光集中装置を実現するこ
とは、簡単に可能である。
入1」面の比が約2:1になる光集中装置を実現するこ
とは、簡単に可能である。
従って1本発明の光集中装置は、複数の光線の平面に平
行なその部分の総てが等しい回転体に同等の構造である
。従って、凸形に彎曲する側面は、一平面においてのみ
彎曲する面であり。
行なその部分の総てが等しい回転体に同等の構造である
。従って、凸形に彎曲する側面は、一平面においてのみ
彎曲する面であり。
こ1しは1球状に彎曲する面よりも製作するのにかなり
蘭学である。
蘭学である。
一層大ぎい利用可能な角度範囲の理想的な検出は、側面
が次の関数に従う際に達成さ1しる。
が次の関数に従う際に達成さ1しる。
α鴫x2
一13−
こ〜に、a、bは定数であり、aは好ましくは+ 0.
θ12 から十〇、/Fまでの範囲内にあり、bは好
ま【7(は−0,3から一へ〇までの範囲内にある。値
αは特に釣上〇、OSであり、値すは約−o、qである
。
θ12 から十〇、/Fまでの範囲内にあり、bは好
ま【7(は−0,3から一へ〇までの範囲内にある。値
αは特に釣上〇、OSであり、値すは約−o、qである
。
以下1本発明の実施例を添付図面を参照して説明する。
総ての図面において、同様な符号は、同様な部分を示す
。
。
第1図に示す様に、鋼ウェブまたは連続的な鋼シート2
3が1本発明による光走査装置の下を矢印Fの方向へ連
続的に移動する。レーザ光線25は、ウェブ23の移動
方向Fに対して横方向にウェブ、23上にアーチ状に延
びるストリップ状凹面鏡ムヘレーザによって照明さTし
ろ鏡ホイール、2りで方向づけらTLる。鏡ホイールの
回転によりレーザ光線23 kl、ス) IJツブ状凹
面鏡上の領域内を移動し0例えば−5′ で示す位置に
も達する。
3が1本発明による光走査装置の下を矢印Fの方向へ連
続的に移動する。レーザ光線25は、ウェブ23の移動
方向Fに対して横方向にウェブ、23上にアーチ状に延
びるストリップ状凹面鏡ムヘレーザによって照明さTし
ろ鏡ホイール、2りで方向づけらTLる。鏡ホイールの
回転によりレーザ光線23 kl、ス) IJツブ状凹
面鏡上の領域内を移動し0例えば−5′ で示す位置に
も達する。
鏡ホイール2弘の回転の際、走査光線りA、4’A’は
凹面*、z6vrよって発生さrL、そ1し等自体に平
行に一/4’ − 変位さγし、ウェブ23の表面、22に夫々走査光線ビ
ード2t、;17’を発生する。
凹面*、z6vrよって発生さrL、そ1し等自体に平
行に一/4’ − 変位さγし、ウェブ23の表面、22に夫々走査光線ビ
ード2t、;17’を発生する。
この様にして走査光線ビードは、矢印fの方向ヘラニブ
を定期的に横行走査し、従って、全体として、光の筋な
いし光の線バが生じろ。この様にして、矢印Fの方向へ
のウェブの連続的な移動の結果として、光線ビード、2
7による表面、22の直線方向の走査が保証さIしろ。
を定期的に横行走査し、従って、全体として、光の筋な
いし光の線バが生じろ。この様にして、矢印Fの方向へ
のウェブの連続的な移動の結果として、光線ビード、2
7による表面、22の直線方向の走査が保証さIしろ。
鏡ホイール評および凹面鏡26を備える光伝達装置は、
走査光線4t6.グ6′が表面ムの垂臓29に対1、て
角度αでウェブに入射する態様でウェブ230表面−一
に対して斜めに配置′fろ。
走査光線4t6.グ6′が表面ムの垂臓29に対1、て
角度αでウェブに入射する態様でウェブ230表面−一
に対して斜めに配置′fろ。
円筒形レンズ(図示せず)乞、好ましくは。
表面ココに近い走査光線ら、グ乙′の通路に配置する。
反射角度αでウェブ表面2.2から反射さlしろ光線1
9は、第1.第2図によると、好ましくは。
9は、第1.第2図によると、好ましくは。
第2図に示さ7しろ円筒形レンズ30を通過した後。
別のストリップ状凹面iv!3/に達する。光集中装置
11は透明なブロックであり、その平面状入口面7.2
011反射光線19の全体によって形成さlしろ−15
− 光3コの扇形の中心光線18に対して垂直である。
11は透明なブロックであり、その平面状入口面7.2
011反射光線19の全体によって形成さlしろ−15
− 光3コの扇形の中心光線18に対して垂直である。
その下端ないし後端では、光集中装置11は、所望の光
出口面13に接着さ7′Lろか、または液体を介して核
間13に結合さ几ろ光電子増倍管33を有し、光入口面
12に平行に延びる光出口面13を備えている。光電子
増倍管は、所望の光出口面13に当たる総ての光を受け
て1図示さγしない態様で、光の入射量(光束)に比例
す71電気信号を電子式処理回路へ伝達する。従って、
光電子増倍管が光学的に問題のない態様で一つまたはそ
rL以上の境界面なしに光集中装置11に結合さγしろ
ことは0重要である。この結合は、接着剤により、また
は油を介して達成してもよい。
出口面13に接着さ7′Lろか、または液体を介して核
間13に結合さ几ろ光電子増倍管33を有し、光入口面
12に平行に延びる光出口面13を備えている。光電子
増倍管は、所望の光出口面13に当たる総ての光を受け
て1図示さγしない態様で、光の入射量(光束)に比例
す71電気信号を電子式処理回路へ伝達する。従って、
光電子増倍管が光学的に問題のない態様で一つまたはそ
rL以上の境界面なしに光集中装置11に結合さγしろ
ことは0重要である。この結合は、接着剤により、また
は油を介して達成してもよい。
第1.第6図に示す様に、光入口面12は第6図に破線
で示した暗視野隔禮ないしストップフグによって中心領
域にわたって被わrL、従って。
で示した暗視野隔禮ないしストップフグによって中心領
域にわたって被わrL、従って。
通常0反射面22によって反射される光線19は。
暗視野ストップ/弘に入射して、光集中装置11に進入
するのをストップ/4tによって阻止さ71.ろ。
するのをストップ/4tによって阻止さ71.ろ。
光線/?ハ暗視野ストップ/41の中心の点状集中領域
l乙において第6図によって集中さ1しる。
l乙において第6図によって集中さ1しる。
本発明の光集中装置1/は、第6図の側面図でははy放
物線の形状を有し、該形状はその中心軸線Jに垂直に両
端を切断さ扛、こILにより、光入口面/jおよび光出
口面13が形成さiLる。外側において益々凸形に彎曲
して鏡付きの側面13は、デθ0よりも幾分小さい角度
で光入口面12の両端3グから延びる。彎曲した側面1
5は、頂点21から距離ν。において終り、光入口面1
2に平行に延びろ光出口面13にそこで融合する。第6
図に示さrしない光電子増倍管33は、所望の光出口面
13に隣接する。凸形に彎曲する端縁面15のm点、2
1からの光入口面12の距離は、第6図にvlで示さn
ろ。
物線の形状を有し、該形状はその中心軸線Jに垂直に両
端を切断さ扛、こILにより、光入口面/jおよび光出
口面13が形成さiLる。外側において益々凸形に彎曲
して鏡付きの側面13は、デθ0よりも幾分小さい角度
で光入口面12の両端3グから延びる。彎曲した側面1
5は、頂点21から距離ν。において終り、光入口面1
2に平行に延びろ光出口面13にそこで融合する。第6
図に示さrしない光電子増倍管33は、所望の光出口面
13に隣接する。凸形に彎曲する端縁面15のm点、2
1からの光入口面12の距離は、第6図にvlで示さn
ろ。
デカルトx−yF!F!!伸系は、頂点、21の個所の
原点Oにより、第3図に鎖線で心出しさγしる。
原点Oにより、第3図に鎖線で心出しさγしる。
本発明によると、この座標系の端縁面15は、次の関数
によって形成さγしる。
によって形成さγしる。
α a Z”
1+1−6+l aa2..2
7フー
パラメータのαは、杓子〇、Sであり、bは約−0,9
である。従って、こγしは楕円体関数である。
である。従って、こγしは楕円体関数である。
値V。、ν、は、図示の実施例では、夫々約1.2と、
l12になる。10 とV、との比は、本発明に°よ
ると、好都合に約ド10 である。所望の光出口面1
3は、通常の光電子増倍管33の有効光捕捉面に適合す
る。従って、X方向での所望の光出口面13の長さは、
約y−scmであり、こγしに垂直に約ダ、56nであ
る。
l12になる。10 とV、との比は、本発明に°よ
ると、好都合に約ド10 である。所望の光出口面1
3は、通常の光電子増倍管33の有効光捕捉面に適合す
る。従って、X方向での所望の光出口面13の長さは、
約y−scmであり、こγしに垂直に約ダ、56nであ
る。
次に、第6図に破線で示さTしる暗視野ストップ/ダが
省略さrし、従って、集中領域/6に一緒ニ来る光線1
8、/?が図示の態様で光集中装置l/に進入可能であ
ると仮定する。本発明による凸形に彎曲する鏡付き側面
/jの構造の結果として、光線17が非常に急な角度で
鏡付き側面15に当たるため、こiL等の光線17のい
づγしのものも所望の光出口面13に達しない。反対に
、こrし等の光線17は、正に、光入口面12の方向へ
所望の光出口面13から遠く側面/jから反射さlして
戻される一18一 様な角度で反対側□の側面/!fに二回目に当たる如(
反射さハる。従って、対応する光線は、所望の光出口面
13の背後に光の漏らない態様で結合される光電子増倍
管による検出に対して喪失される。しかしながら、暗視
野ストップ/ダが実際には設けらILるため、関連する
光線は、いづrしにしても測定に対して評価さ1しず、
従って、本発明の光集中装置の上述の特性は、如何なる
不利な作用をも持たず、正に、損失なしに所望の光出口
面13へ更に外方へ入射する光線を搬送するのを可能に
する。
省略さrし、従って、集中領域/6に一緒ニ来る光線1
8、/?が図示の態様で光集中装置l/に進入可能であ
ると仮定する。本発明による凸形に彎曲する鏡付き側面
/jの構造の結果として、光線17が非常に急な角度で
鏡付き側面15に当たるため、こiL等の光線17のい
づγしのものも所望の光出口面13に達しない。反対に
、こrし等の光線17は、正に、光入口面12の方向へ
所望の光出口面13から遠く側面/jから反射さlして
戻される一18一 様な角度で反対側□の側面/!fに二回目に当たる如(
反射さハる。従って、対応する光線は、所望の光出口面
13の背後に光の漏らない態様で結合される光電子増倍
管による検出に対して喪失される。しかしながら、暗視
野ストップ/ダが実際には設けらILるため、関連する
光線は、いづrしにしても測定に対して評価さ1しず、
従って、本発明の光集中装置の上述の特性は、如何なる
不利な作用をも持たず、正に、損失なしに所望の光出口
面13へ更に外方へ入射する光線を搬送するのを可能に
する。
第4、第5図の例示では、ウェブ23の表面、22から
反射さγしる光線/?は、表面欠陥または光の線2g
(第1図)の方向で角度βにわたるウェブの傾動の結果
として極端な態様で偏向さILることが仮定さTし、こ
rしは、単に中心光線18に対して第4図に示さiL、
該実施例ではれ7°に達する。
反射さγしる光線/?は、表面欠陥または光の線2g
(第1図)の方向で角度βにわたるウェブの傾動の結果
として極端な態様で偏向さILることが仮定さTし、こ
rしは、単に中心光線18に対して第4図に示さiL、
該実施例ではれ7°に達する。
この環境の結果として、集中領域/6は、特に第5図に
示す様に光入口面12の上側の最も外の端縁まで偏位さ
rし、こiLにより、光の扇形3コの全 □−7
9一 体の光線は、光集中装置17の内部に進入用能である。
示す様に光入口面12の上側の最も外の端縁まで偏位さ
rし、こiLにより、光の扇形3コの全 □−7
9一 体の光線は、光集中装置17の内部に進入用能である。
入射光線が所望の光出口面13に直接に到達しない限り
、入射光線は、上側鏡付き側面/jにおいて所定の角度
で完全に反則さrし、該角度が非常に小さいため、入射
光線は反射後に所望の先出[1面13に到達し、従って
、光電子増倍管33(第1図)によって完全に検出さγ
しる。/、7゜の様な大きな偏向角度の検出は、本発明
による側面15の構造の結果としてのみ可能であり、゛
こrLにより、暗視野隔膜14によって捕捉さγしる所
望の光出口面13への光線の入射のための条件は意識的
に満足さrしない。
、入射光線は、上側鏡付き側面/jにおいて所定の角度
で完全に反則さrし、該角度が非常に小さいため、入射
光線は反射後に所望の先出[1面13に到達し、従って
、光電子増倍管33(第1図)によって完全に検出さγ
しる。/、7゜の様な大きな偏向角度の検出は、本発明
による側面15の構造の結果としてのみ可能であり、゛
こrLにより、暗視野隔膜14によって捕捉さγしる所
望の光出口面13への光線の入射のための条件は意識的
に満足さrしない。
第6図は、総ての入射光線/Vの偏向角度βが0.6°
の場合の状態を示す。この角度では、集中領域/6’は
、暗視野ストップ/lの横を丁度通り、従って、総ての
光線は所望の光出口面に丁度到達する。比較のため、第
7図は、偏向角度βがθ、2°の場合を示し、従って、
集中領域76′は破線で示した暗視野ストップl弘の内
側に配置される。
の場合の状態を示す。この角度では、集中領域/6’は
、暗視野ストップ/lの横を丁度通り、従って、総ての
光線は所望の光出口面に丁度到達する。比較のため、第
7図は、偏向角度βがθ、2°の場合を示し、従って、
集中領域76′は破線で示した暗視野ストップl弘の内
側に配置される。
この場合には、暗視野ストップ/ダが省略すγL、7(
。
。
ば、光集中装置l/に進入1゛る幾つかの光線17は、
所望の先出1」面13に達せずに端縁面15で反射さl
し光出口面13から離7Lる方向−\戻る。約θ、6°
、正確には0.57°の第6図に示す偏向角度βよりも
大きいことのみか、光集中装置に進入1−る総ての光線
の所望の先出[1面13に達′f−ることを満足させる
条件である。
所望の先出1」面13に達せずに端縁面15で反射さl
し光出口面13から離7Lる方向−\戻る。約θ、6°
、正確には0.57°の第6図に示す偏向角度βよりも
大きいことのみか、光集中装置に進入1−る総ての光線
の所望の先出[1面13に達′f−ることを満足させる
条件である。
最後に、第8図は集中領域76′から光集中装置11に
進入1−る総ての光線が所望の先出[」而13に達する
ことを示すために偏向角度βが70の場合である。
進入1−る総ての光線が所望の先出[」而13に達する
ことを示すために偏向角度βが70の場合である。
従って、o、boから7.7°までの有用な角度範囲△
βけ、暗視野ストップ19の両側に設けらγし、ストッ
プ/ダ自体は、約へλ0の角度範囲を占める。
βけ、暗視野ストップ19の両側に設けらγし、ストッ
プ/ダ自体は、約へλ0の角度範囲を占める。
暗視野ストップ/弘の両側の二つの使用可能な角度範囲
を組合わせrLば、全体の有用な約λ、2°の角度範囲
が結果として生じるか、と7’Lは、−八7゜から+/
、7°までを考慮しない暗視野ストップの領域の中心部
分の混合の結果として効果的に延長さγし、即ち、3.
り0の全体の角度範囲の外側部分における光線は、狭く
なった所望の光出口面13へ完全に方向づけらlしる。
を組合わせrLば、全体の有用な約λ、2°の角度範囲
が結果として生じるか、と7’Lは、−八7゜から+/
、7°までを考慮しない暗視野ストップの領域の中心部
分の混合の結果として効果的に延長さγし、即ち、3.
り0の全体の角度範囲の外側部分における光線は、狭く
なった所望の光出口面13へ完全に方向づけらlしる。
第1図は本発明による表面状態を測定する光走査装置の
一実施例の図式的な胴視図、第2図は受は入γし光線路
が単一の平面に展開さγした第1図の光走査装置の受は
入n光線路の図式的な平面図、第6図は第2図の部分■
の拡大図、第4図は反射光線が表面状態によって角度へ
70偏向さγした状態の第2図と同様な平面図、第5図
は第4図の部分■の拡大図、第6図は光集中装置に進入
する総ての光線が所望の光出口面に達する角度0.6°
偏向さiした状態の第6、第5図と同様な図、第7図は
偏向角度O1λ0の場合の第6図と同様な図、第8図は
偏向角度10の場合の第7図と同様な図で、図中、11
は光集中装置、/コは光入口面、13は光出口面、/シ
は暗視野隔膜(ストップ)、15は鏡付き側面(端縁面
)、14は光線、7gは中心光線、19は反射光線、2
1は頂点、22はウェブの表面な示す。 FIG、1
一実施例の図式的な胴視図、第2図は受は入γし光線路
が単一の平面に展開さγした第1図の光走査装置の受は
入n光線路の図式的な平面図、第6図は第2図の部分■
の拡大図、第4図は反射光線が表面状態によって角度へ
70偏向さγした状態の第2図と同様な平面図、第5図
は第4図の部分■の拡大図、第6図は光集中装置に進入
する総ての光線が所望の光出口面に達する角度0.6°
偏向さiした状態の第6、第5図と同様な図、第7図は
偏向角度O1λ0の場合の第6図と同様な図、第8図は
偏向角度10の場合の第7図と同様な図で、図中、11
は光集中装置、/コは光入口面、13は光出口面、/シ
は暗視野隔膜(ストップ)、15は鏡付き側面(端縁面
)、14は光線、7gは中心光線、19は反射光線、2
1は頂点、22はウェブの表面な示す。 FIG、1
Claims (14)
- (1)物体の表面上に走査線を形成する装置と、該走査
線に平行に延びる半面内にあつて、表面状態に応じて常
態の反射に対応する特定の方向や表面欠陥の結果として
該方向から幾分それる方向で該表面を去る総ての光線を
点状集中領域に集中する光学系とを備え、該点状集中領
域か、常態の方向または該方向から幾分角度においてそ
れる方向を該光線の有するか否かに依存して透明な光集
中装置の光入口面の常態位置または光の筋の方向で該位
置に対して幾分変位するかのいづれかに配置され、該光
集中装置が、外側鏡付き側面を有し、面積光変換器、特
に、光電子増倍管の配置される所望の光出口面へ該集中
領域から勾配を設けられ、暗視野ストップが、該光集中
装置に対して垂直位置に、好ましくは該垂直位置のまわ
りに小さい角度範囲内に配置され、該ストップが、該光
集中装置に進入するのを常態方向に対する所定の偏向角
度以上で前記先入口面を去る光線のみに許容し、表面の
状態を測定する光走査装置において、 勾配のある前記光集中装置(11)の外側の鏡付き側面
(15)が、前記先入口面から離れる方向で益々凸形に
彎曲し、従つて、前記暗視野ストップの範囲内に属する
少くとも幾つかの光線(17)が、該暗視野ストップを
無いと仮定すれば、凸形に彎曲する該側面(15)に非
常に急な角度で当たり、従つて、前記所望の光用口面(
13)に達することなく該光集中装置内を後方へ反射さ
れ、該光集中装置(11)の先入口面(12)に該暗視
野ストップ(14)の横で進入する総ての光線が、該所
望の光用口面(13)に総て到達する様な浅い角度で該
鏡付き画面(15)に当たることを特徴とする光走査装
置。 - (2)特許請求の範囲(1)の光走査装置において、前
記走査線が周期的に移動する光線ビードによつて発生さ
れる光走査装置。 - (3)特許請求の範囲(1)または(2)の光走査装置
において、前記先入口面(12)が特定の方向で表面か
ら出る光線(19)を伴う中心光線(18)に対して垂
直に延びる光走査装置。 - (4)特許請求の範囲(1)から(3)のどれか一つの
光走査装置において、前記所望の光出口面(13)が前
記先入口面(12)に対して平行に延びる光走査装置。 - (5)特許請求の範囲(1)から(4)のどれか一つの
光走査装置において、前記暗視野ストップ(14)が前
記光集中装置(11)の先入口面(12)の中心に対称
的に配置されている光走査装置。 - (6)特許請求の範囲(1)から(5)のどれか一つの
光走査装置において、前記彎曲した側面(15)が前記
中心光線(18)に対して対称的に延びる光走査装置。 - (7)特許請求の範囲(1)から(6)のどれか一つの
光走査装置において、前記彎曲した側面(13)が前記
所望の光出口面(13)のほゞ背後に横たわす頂点(2
1)を有し、その平面に平行に並進する放物線の形状を
有する光走査装置。 - (8)特許請求の範囲(1)から(7)のどれか一つの
光走査装置において、前記光出口面(13)に対する前
記先入口面(12)の比が約2:1である光走査装置。 - (9)特許請求の範囲(1)から(8)のどれか一つの
光走査装置において、前記光集中装置(11)が彎曲し
た構造であり、複数の光線の平面に平行な該光集中装置
(11)の断面が総て同一である光走査装置。 - (10)特許請求の範囲(1)から(9)のどれか一つ
の光走査装置において、 前記側面(15)が、次の関数に従い、 V=(a・x^2)/{1+√[1−(b+1)・a^
2・x^2]}こゝにα、bが定数である光走査装置。 - (11)特許請求の範囲(10)に記載の光走査装置に
おいて、 aが、±0.012から±0.14までの範囲内にあり
、特に約±0.5である光走査装置。 - (12)特許請求の範囲(10)または(11)の光走
査装置において、 bが−0.3から−1.0までの範囲内にあり、特に約
−0.9であることを特徴とする光走査装置。 - (13)特許請求の範囲(1)から(2)のどれか一つ
の光走査装置において、前記暗視野ストップ(14)が
1°の前記面(22)を残す前記光線(18、19)の
角度範囲を被う光走査装置。 - (14)特許請求の範囲(1)から(13)のどれか一
つの光走査装置において、各側における前記暗視野スト
ップの外側の有用な角度範囲が、垂直方向に対して1°
から1.7°までの範囲内にある光走査装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19853518832 DE3518832A1 (de) | 1985-05-24 | 1985-05-24 | Oberflaechenbeschaffenheitsfeststellungs-lichtabtastvorrichtung mit einem lichtkonzentrator |
DE3518832.4 | 1985-05-24 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61272640A true JPS61272640A (ja) | 1986-12-02 |
JPH0471458B2 JPH0471458B2 (ja) | 1992-11-13 |
Family
ID=6271629
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61117723A Granted JPS61272640A (ja) | 1985-05-24 | 1986-05-23 | 物体の表面状態測定装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4693601A (ja) |
EP (1) | EP0203388A3 (ja) |
JP (1) | JPS61272640A (ja) |
DE (1) | DE3518832A1 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3742527A1 (de) * | 1987-07-21 | 1989-06-22 | Mannesmann Ag | Fotoelektronische fuehl- oder messeinrichtung |
US4815858A (en) * | 1987-10-09 | 1989-03-28 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Reflectometers |
US4930872A (en) * | 1988-12-06 | 1990-06-05 | Convery Joseph J | Imaging with combined alignment fixturing, illumination and imaging optics |
US5058982A (en) * | 1989-06-21 | 1991-10-22 | Orbot Systems Ltd. | Illumination system and inspection apparatus including same |
US5448364A (en) * | 1993-03-22 | 1995-09-05 | Estek Corporation | Particle detection system with reflective line-to-spot collector |
US5727108A (en) * | 1996-09-30 | 1998-03-10 | Troy Investments, Inc. | High efficiency compound parabolic concentrators and optical fiber powered spot luminaire |
CN1314997A (zh) * | 1998-06-16 | 2001-09-26 | 奥宝科技有限公司 | 检查基本平坦平面的发光器 |
IL131284A (en) | 1999-08-05 | 2003-05-29 | Orbotech Ltd | Illumination for inspecting surfaces of articles |
GB2429764A (en) * | 2005-08-30 | 2007-03-07 | Imp College Innovations Ltd | A scanning device using a first optical system with a first focal length and a second optical system with a second focal length |
WO2007144777A2 (en) * | 2006-03-30 | 2007-12-21 | Orbotech, Ltd. | Inspection system employing illumination that is selectable over a continuous range angles |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE707745C (de) * | 1936-10-22 | 1941-07-02 | Siemens & Halske Akt Ges | Photometrische Einrichtung zur lichtelektrischen Untersuchung von Loechern |
DE886531C (de) * | 1943-05-27 | 1953-08-13 | Emil Busch A G Optische Ind | Verfahren zur optischen Bestimmung von Oberflaechenrauhigkeiten und Vorrichtung zur Durchfuehrung des Verfahrens |
FR1569752A (ja) * | 1968-03-13 | 1969-06-06 | ||
JPS4879686A (ja) * | 1972-01-28 | 1973-10-25 | ||
DE2256736C3 (de) * | 1972-11-18 | 1979-01-25 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Meßanordnung zur automatischen Prüfung der Oberflächenbeschaffenheit und Ebenheit einer Werkstückoberfläche |
US4095905A (en) * | 1975-08-20 | 1978-06-20 | Hitachi, Ltd. | Surface-defect detecting device |
DE2727927C3 (de) * | 1977-06-21 | 1980-01-24 | Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch | Vorrichtung zur getrennten Erfassung von Lichtstrahlen |
US4378159A (en) * | 1981-03-30 | 1983-03-29 | Tencor Instruments | Scanning contaminant and defect detector |
DE3138878A1 (de) * | 1981-09-30 | 1983-04-14 | Boehringer Mannheim Gmbh, 6800 Mannheim | Messeinrichtung, insbesondere ulbricht'sche kugel |
EP0123929B1 (de) * | 1983-04-22 | 1988-06-22 | Erwin Sick GmbH Optik-Elektronik | Fehlerfeststellungsvorrichtung |
-
1985
- 1985-05-24 DE DE19853518832 patent/DE3518832A1/de active Granted
-
1986
- 1986-04-25 EP EP86105765A patent/EP0203388A3/de not_active Ceased
- 1986-05-08 US US06/861,017 patent/US4693601A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-05-23 JP JP61117723A patent/JPS61272640A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3518832A1 (de) | 1986-11-27 |
EP0203388A2 (de) | 1986-12-03 |
DE3518832C2 (ja) | 1989-09-28 |
US4693601A (en) | 1987-09-15 |
EP0203388A3 (de) | 1989-01-18 |
JPH0471458B2 (ja) | 1992-11-13 |
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