JPS61270839A - ウエフア−目視検査装置 - Google Patents

ウエフア−目視検査装置

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JPS61270839A
JPS61270839A JP11135385A JP11135385A JPS61270839A JP S61270839 A JPS61270839 A JP S61270839A JP 11135385 A JP11135385 A JP 11135385A JP 11135385 A JP11135385 A JP 11135385A JP S61270839 A JPS61270839 A JP S61270839A
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JP
Japan
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shaft
wafer
arm
stand
point
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Eiji Takahashi
栄治 高橋
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor

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  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の利用分野) 本発明は、クエ77−目視検査装置に関し、特に詳述す
れば、自転、公転及び横移動可能なウェファ−目視検査
装置に関する。
(従来技術とその問題点) 半導体製造工程では、ウエフアーの拡散処理工程に加え
て、目視検査工程は欠かせないものとなっている。この
目視検査工程は、ウニ7ア一搬送機構によって送られて
きたウエフアーを、作業員がピンセットでつかみ、ビン
セットでつかんだウエフアーを回転や裏返しさせながら
、ウェファ−表面の欠陥を見出す作業より成り立ってい
る。しかしながら、3〜8インチのウェファ−の表面、
裏面及び端面等を目視するため、ピンセットでウエフア
ーを掴んだまNでいることは、作業員の手首に和尚な負
担となっている。
特に、連続するこの作業を長時間行うことは、手首に炎
症を起し、職業病の一因となる。
(本発明の課題) 本発明は、ウェファ−搬送装置からのウエフアーを自動
的に掴み、このウェファ−を回転及び傾きを変えること
で、作業員によるピンセットでのウェファ−の掴み作業
を無(すことで、前述した従業技術の不具合を解消させ
ることを、解決すべき技術的課題とする。
(本発明の技術的手段とその作用) 本発明は、前述した技術的課題を解決−するために、回
転自在な第1のシャフトまわりに昇降自在なスタンドを
配し、さらに、ケースに軸支された回転自在な第2のシ
ャフトとスタンドとをアームで連結し、アームと第2の
シャフトとの枢支点がケースと第2のシャフトとの軸支
点を中心とする円弧上を移動可能とする技術的手段を用
いる。
該手段の採用は、第2のシャフトに支持されたウエフア
ーチヤツクの自転、第2のシャフトの公転及びスタンド
を昇降させることでウェファ−チャックのケースに対す
る傾きを変えることを可能とする。このため、作業員は
座しながら、目の前で傾き且つ回転するウェファ−を目
視検査すれば良いので、従前の如きピンセットでウエフ
アーを掴む作業が不必要となる。
(実施例) 第1図を参照する。ペース板23のはソ中央にウェファ
−搬送装置24を配し、該装置24の中心を曲率中心と
する円弧上に、検査待ちウエフアー用カセツト25、合
格ウェファ−用カセット26並びに不合格ウェファ−用
カセット27を配し、さらに、同円弧上には、ウニ7ア
一目視検査機$128が配設される。
第1図および第2図を参照ビウエファー搬送装置24を
説明する。方形成いは円形に構成された側板1の頂部に
、中央開口2を有する頂板3をボルト止めさせ木。頂板
3には下向きの複数の吊ボルト4を設け、該吊ボルト4
の下部にペース板5を固定させる。
ペース板5の適所に第1の電動モータ6を有する第1の
枠部材7を固定する。第1の枠部材7から側方に延出す
る対の板はね8の先端に第2の枠部材9を固定し、第1
の枠部材7に対し第2の枠部材9を板はね8を介して支
持する。
第1の電動モータ6の出力軸は、カム機構10を介して
第2の枠部材9に連結され、該出力軸へ制御された回転
は、カム機構10によって、第2の枠部材9を上下動さ
せる。
第2の枠部材9に保持された第2の電動モータ11の出
力軸は、第2の枠部材9の上方の第3の枠部材12に固
定する。即ち、第2の電動モータ11の回転は、第3の
枠部材12を第2の枠部材9に対し回動させる。
第3の枠部材12には第3の電動モータ13が保持され
、該第3の電動モータ13の出力軸は、減速機構14を
介してリンク15に連結される。
側板1の下部に底板16をボルト止めさせる。
側板1内の移送機構用の電気配線をハーメチックコネク
ター17′を介して外部に取出し、制御部分18に連結
し、制御部分18からの信号に応じ各電動モータが所定
の動きをする。
第1の電動モータ6に送られた信号は、該モータ6を回
転させカム機構10によって、第2の枠部材9を所定量
上下動させ、第3の枠部材12およびリンク15を上下
動させ、その高さを変える。第2の電動モータ11に送
られた信号は、該モータ11の出力軸に固定された第3
の枠部材12を回動させ、リンク15それ自身を回動さ
せ、リンク15の位置を決める。第3のモータ13に送
られた信号ヲ主、所定位置にあるリンク15を伸縮させ
る。
リンク15を第3のモータによって伸縮させる機構を第
4〜6図を参照して説明する。リンク15.は左右対称
に配され゛た第1のアーム17と、該第1のアーム1T
より長く且つ第1のアームに枢着された左右対称の第2
のアーム18より、第1のアーム17の端部は互いに噛
合うセグメント19に固定される。セグメント19の一
方は、第3のモータ13の出力軸側に連結される。対の
第2のアーム18の自由端側に、同様に、セグメント2
0を配し、対の第2のアーム18の自由端側を連結し且
つウェーハ支持台21を設ける。
第4図に示す状態のリンク伸縮状態時に、第3のモータ
13を回転させ、一方のセグメント19に回転動を伝え
ると、互いに噛合うセグメント19によって、第1のア
ーム1Tは、該セグメント19を中心に側方に拡がるよ
うに拡大する(第5図参照)。さらに、セグメント19
が回転すると、両アーム17.18が互いに平行となる
ように動いて、第6図に示すように、リンク15は伸び
た状態となる。22はリンク収縮時のストッパである。
ウェーハを収めるカセットからウェーハを取り出し、ウ
ニ7ア一目視検査機構28へのウェーハが移送、又はそ
の逆のウエーノA移送について述べる。第2の電動モー
タ11を駆動させて処理するウェーハと同一線上にリン
ク15を回動させ且つ第1の電動モータ6によりリンク
の高さをウェーハの位置に合わせる。次いで、第3の電
動モータ13を駆動し、セグメント19を回転させ、リ
ンク15を第4図の状態から第6図の状態にし、ウェー
ハ支持台21をウェーハの下部に配置する。第1のモー
タ6を再度駆動して、リンク15を若干持上げ、ウエー
ノ1をウェーハ支持台21上にのせる。ウエーノ蔦を支
持台21にのせた状態で、再び、第3のモータ13を逆
方向に駆動し、リンク15を第6図の状態から第4図の
状態に戻す。次いで、第2の電動モータ13を駆動して
、ウニ7ア一目視検査機構28のウェファ−チャックと
同一線上にリンク15が位置するように、第3の枠部材
12を回動させる。次いで、前述した如く、第3の電動
モータ13を駆動して、第4図の状態から第6図の状態
へとなし、ウエーノ1が置かれるべき位置の若干上方に
ウェーハ支持台21を位置させる。次いで、第1のモー
タ6を駆動して、リンク15を下げ、所定位置にウェー
ハを置き、第6図の状態から第4図の状態へとリンク1
5を収縮させ、次の作業に備える。
ウニ7ア一支持台21に装着される吸引装置29につい
て、第7図と第8図を参照して説明する。支持台21は
、その本体30と、本体30から延出する受板31とか
らなり、本体30は第2のアーム18を枢支させ且つ真
空源(図示なし)に通じる入口ボート32を有する。入
口ボート32は、絞り33を介して、受板31に通じる
通路34に遅過し、該通路34は絞り33′を介して受
板31の先端の出口ボート34に通じろ。受板31の先
端部にウェファ−が送られると、真空源(図示なし)か
らの負圧が出口ボート34を介してウェファ−を受板3
1に吸着し保持する。両ボート32.34間の通路34
は、負圧値の変動を防止するのに有効であり、又約50
0mHgの真空値が実用に供し得る。
受板31のウェファ−支持部側は石英板とさせる。
次に、ウニ7ア一目視検査機構28を第9〜10図を参
照して説明する。底板35に、上方に延出する第1のシ
ャフト36を軸受37を介して回転自在に支承させる。
第1のシャフト36には、支持プレート38とクッショ
ン39を固定させ、又、その先端には方形のブロック4
0を固定させる。第1のシャフト36は、第1の電動モ
ータ41によりベルト42を介して回転させられる。第
1のシャフト36周りにスタンド43を配す。スタンド
43の下端に円形プレート44を固定させ、この円形プ
レート44をラック45側のローラ46により支持させ
る。
ラック45は、電動モータ47・により回転するピニオ
ンギヤ48と噛合い、ピニオンギヤ48の回転によりラ
ック45がガイド49に沿い昇降し、その結果、スタン
ド43は第1のシャフト36に沿って昇降することにな
る。スタンド43にピン50を用いて二叉アーム51を
枢支させる。かくして、スタンド43及びアーム51は
、第1のシャフト36に沿って昇降口°在であると共に
、第1のシャフト36によって回転自在となる。即ち、
アーム51と第1のシャフト36とは、ブロック40に
よって回転自在関係に連結される。
アーム51の先端に、第2のシャフト52の自転を可能
にするが、同時に第2のシャフト52をアーム51と共
に回転自在となるよう軸受53を介して、第2のシャフ
ト52をアーム51軸支させる。第2のシャフト52内
には、真空源(図示なし)に通じる通路54が形成され
る。
第2のシャフト52は、ギヤ55を介してi2のモータ
56に連結され、第2のモータ56により第2のシャフ
ト52の自転を可能とさせる。
第2のシャフト52にはシャフトハウジング51を軸受
を介して回倒させ、このハウジング5Tをケース58に
軸受59を介して揺動自在に支持させる。この結果、ア
ーム51と第2のシャフト52との枢支点60は、ケー
ス5Bとハウジング5Tとの枢支点61を中心とする円
弧上を移動可能となる。第2のシャフト52とアーム5
1とは、第9図に示すように、アーム51が上方に移動
した時、L型となる。
第2のシャフト52の先端には、真空路を有するウエフ
アーチヤツク62が設けられ、第7図及び第8図に示し
た受板の如く、ウエフアーを該チャック62が真空吸着
させる。
次に、前述した機構の動きを説明する。第9図に示すチ
ャック62にウェファ−な支持させた状態で、ウェファ
−を回転させた(・時は、第2の電動毒−夕56を駆動
し、第2のシャフト52を回転させる。この結果、ウェ
ファ−は第9図の傾きを保ちつつ自転し、作業員がこれ
を検査することになる。ウェファ−の傾き角度を変えた
い時は、ピニオンギヤ48を回転させラック45を第9
図に示す位置から下降させる。
ラック45の下降は、プレート44、スタンド43及び
アーム51を第1のシャフト36に沿って下げる。この
際、第2のシャフト52及びハウジング5Tは、アーム
51と第2のシャット52との枢支点60を、ハウジン
グ57とケース58との枢支点61を中心とする円弧上
を移動させ、ケース58の中央部に移り、ウエフアーは
、第9図の傾きより小さな傾きとなる。
゛  勿論、ウェファ−の傾きは、ピニオンギヤ48の
回転ftをコンピュータ制御させることで自在となる。
又、第2の電動モータ56をコンピュータ制御すること
により、ウェファ−の回転速度を自在とさせ得る。
ケース58に対するウエフアーの相対的位置を変える場
合は、第1のtSモータ41を駆動し、スタンド43、
アーム51及び第2のシャフト52を回転させる。その
結果、ケース5Bとハウジング57との枢支点61を通
る垂直線と直父し且つアーム51と第2のシャフト52
との枢支点を通る面内を、枢支点6θがケース58とハ
ウジング511Fとの枢支点61を中心として動くよう
に、第2のシャフト52が公転する。かくして、ウェフ
ァ−のケースに対する位置を自在に父えることが0T能
となる。
以上から明らかなように、ウェファ−チャック62を有
する第2のシャフト52は、シャフトの自転、公転並び
にその傾きを変え、作業員の目視検査に最とも適した位
置にウェファ−を配することが可能である。
第1図に戻るが、第1図の状態で、ウェファ−目視検査
機構を底板23に対し横方向に移動させることもできる
。この場合、底板23に設けたレール63上に目視検査
機構を配し、電動モータにより該目視検査機構を所定量
横方向に移動させれば良い。又、全体的動きとしては、
ウエフアー搬送装置24が検査待ちウェファ−用カセッ
ト25よりウェファ−を取出し、ウェファ−目視検査機
構28に送り一1該機構28のチャックにてウェファ−
を掴み、ウェファ−を自転、公転並びにその傾きを変え
、ウエフアー検査をなす。検査済みクエ77−は、再度
、ウエフアー搬送装置24が受け、ウエフアーを合゛格
又は不合格ウェファ−用カセット26.27に収納させ
る。これらの作業は、作業員の指示に応じたコンピュー
タ制御とさせる。
(効果) 本発明によれば、ウェファ−に三次元の動きを与えるこ
とができるので、作業員がビンセットで掴んだウェファ
−とはソ同じ動きとなり、目視検査は容易である。さら
に、搬送装置や目視検査機構の動きを作業員の熟練度合
いに応じて制御できるので、ウニ7ア一目視検査作業を
個々の作業員に必要な時間とることができる。
又、搬送装置及び目視検査機構がウェファ−な真空吸着
させていることからウェファ−の傷みがなく、ウエフア
ーの不良品を減少させ得る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のウエフアー目視検査装置の平面図、第
2図はウエフアー搬送装置の断面図71″ンクの中間拡
大位置を示す平面図、第6図はリンクの伸びた状態を示
す平面図、第7図は真空吸着部を有するウェファ−支持
台の受板の平面図、第8図は受板の側面図、第9図はウ
ェファ−目視検査機構の側面図、第10図はその縦断面
図である。 図中:1・・・側板     3・・・頂板4・・・吊
りボルト  5・・・ベース板6.11.13・・・電
動モータ 719.12・・・枠部材 8・・・ばね板  15・・・リンク 28・・・ウェファ−目視検量装置、 36・・・第1のシャフト、 41.56・・・電動モータ、 43・・・スタンド、45・・・ラック、48・・・ピ
ニオンギヤ、51・・・アーム、52・・・第2のシャ
フト、62・・・チャック。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 底板上のほゞ中央に位置するウエフアー搬送装置と、該
    ウエフアー搬送装置の回転中心を中心とする円周上に配
    されたカセットと、該円周上に位置するウエフアー目視
    検査機構とよりなり、前記ウエフアー目視検査機構が、
    底板に対し回転自在に支承された第1のシャフトと、該
    シャフトに沿つて昇降自在なスタンドと、該スタンドに
    枢支された二叉のアームと、該アームの一端に枢支され
    た第2のシャフトと、該第2のシャフトまわりに配され
    且つ該第2のシャフトに軸支されたハウジングと、該ハ
    ウジングをケースに軸支させる軸受装置と、前記第2の
    シャフトの先端に配されたウエフアーチヤツクと、前記
    第1のシャフトを回転させる第1の電動モータと、前記
    スタンドを昇降させるラック・ピニオンギヤ装置と、前
    記第2のシャフトを回転させる第2の電動モータとより
    なり、前記スタンドの昇降が前記アームと前記第2のシ
    ャフトとの枢支点を、前記軸受装置の中心を中心とする
    円弧上に移動させることを特徴とするウエフアー目視検
    査装置。
JP11135385A 1985-05-25 1985-05-25 ウエフア−目視検査装置 Granted JPS61270839A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
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JP11135385A JPS61270839A (ja) 1985-05-25 1985-05-25 ウエフア−目視検査装置

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JPS61270839A true JPS61270839A (ja) 1986-12-01
JPH0262950B2 JPH0262950B2 (ja) 1990-12-27

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ID=14559041

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JP11135385A Granted JPS61270839A (ja) 1985-05-25 1985-05-25 ウエフア−目視検査装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01192130A (ja) * 1988-01-27 1989-08-02 Tokyo Electron Ltd 検査装置
CN106970034A (zh) * 2017-03-27 2017-07-21 吴慧军 食品农药残留检测装置及其检测方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01192130A (ja) * 1988-01-27 1989-08-02 Tokyo Electron Ltd 検査装置
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