JPS61259642A - 他覚眼屈折力測定装置 - Google Patents

他覚眼屈折力測定装置

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JPS61259642A
JPS61259642A JP60103499A JP10349985A JPS61259642A JP S61259642 A JPS61259642 A JP S61259642A JP 60103499 A JP60103499 A JP 60103499A JP 10349985 A JP10349985 A JP 10349985A JP S61259642 A JPS61259642 A JP S61259642A
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light
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JP60103499A
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小穴 好徳
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Tokyo Optical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業−にの利用分野) 本発明は、測定ターケラト像を眼底に投影するとともに
、この測定ターゲット像の合焦状態を光電的に検出して
被検眼の眼屈折力を測定するための他覚眼屈折力測定装
置に関するものである。
(従来技術) 従来、他覚眼屈折力測定装置としては、m++定ターゲ
ッ1へからの光束を2光束に分割して被検眼眼底に投影
し、その投影された測定ターゲット像が合焦状態にない
場合には所定方向にスプリットした測定ターゲット像を
形成するように構成し、このスプリット量を光電的に検
出して眼屈折力を測定するようにした装置が知られてい
る。
また、他の従来装置としては、被検眼眼底上の測定ター
ゲット像の非合焦量を適宜手段により検出して眼屈折力
を測定するように構成した装置も知られている。
(従来技術の問題点)     ゛ この種の装置においては、光電的な検出精度の向上を図
るためには、基本的には光電変換部上の測定ターゲット
像を投影するための受光系の倍率しかしながら、単に倍
゛率を高めることは、□光査変換4部」−の測定ターゲ
ット像の単位面積当りの明るさが低下し、検出信号のS
ハ比を悪化させるという欠点がある。
かかる欠点を是正するためには、測定ターゲラ1−像の
光源として高輝度な光源を用いるようにし、眼底上での
測定ターゲット像の明るさを増加させる必要が生じる。
しかしながら、高輝度光源に代えることは単に構成上の
変更によるニス1−的代償に止まらず、被検眼に入射す
る光量が増大して、被検眼に悪影響を及ぼすおそれがあ
るという問題点があった。
(問題点を解決するための手段) 本件発明は、上記問題点を解決することを目的としてな
されたものであり、被検眼眼底に測定ターゲット像を投
影する投影系と、この測定ターゲット像を光電変換部上
に形成する受光系とを有し、これら系の少なくとも一方
の光路内にアナモフィック光学系を配置する構成とした
ものである。
被検眼に投影する光量を変えることなく、かつ、−5゛ Sハ比を改善して測定精度の向−ヒを図れるようにした
ものである。
(作用) 被検眼眼底上に投影された一対の平行なスリット状ター
ゲット像は、アナモフィック光学系の介在により、スリ
ットの長手方向にのみ圧縮されて光電変換部である撮像
管上に形成されるようになり、光源輝度をそのまま維持
しつつ測定ターゲット俄の明るさを増してS/N比の改
善を図ることができる。  ・ (実施例) 以下、本発明に係る他覚眼屈折力測定装置の実施例を図
面に基づいて説明する。
第1図において、1はターケラ1〜像投影系であり、こ
のターゲット像投影系1は不可視光を測定する指標板に
照射することにより形成された測定ターゲット像を被検
眼2の眼底に投影する機能を有し、3は受光光学系であ
り、この受光光学系3はターゲット像投影系lによって
投影された測定ターゲラ1へ像の被検眼2の眼底におけ
る反射像を撮像装置4の撮像面4aに結像する機能を有
し、51±注視目標投影系であり・3の注視目標投影系
5は、他覚測定を行なう場合に注視目標を被検眼2に投
影する機能を有している。
ターゲット像投影系1は、光源1、例えばLED (L
ijht、emjLtin、g di、ode) 6を
有し、この光源6は、被検眼2の縮瞳を防止するために
、不可視光であるところの赤外光を発する。、この光源
6からの赤外光はコンデンサ七ンズ7匂介して測定指標
板8に照射され、測定指〒板8は光軸各方向に移動可能
である。この測定指標板8I杢、第2図に示すよ’> 
LF 4 v、。8リツト(間隔4hFじて平行な上下
2組のスリブ1−)を有する薄板8aとこの薄板8aに
接し、スリットを通過した光がスリットや長手方向と直
角な方向に光束を偏角させる4つの偏角プリズム8b〜
8eとから構成されて、いる。測定指標板8番ミ照射さ
れた不可視光からなる2組の平行な測4一 定ターゲット光は、コリメータレンズ38を介して反射
プリズム9を通過する。
そして、この反射プリズム9を通過した測定ターゲット
光は、アナモフィック光学系39及びリレーレンズ11
により一度測定ターゲット像を形成する。、このアナモ
フィック光学系39は、第3図に示すように、焦点距離
f1なる正の円柱レンズ391と焦点距離f2なる正4
の円柱レンズ392とを(f1十12)の間隔を夫って
配置され、夫々の円柱レンズ3?、、1,392の円柱
軸は測定指標板8のスリットの長手方向と平行に股、定
されている。この構成により、スリットの長手方向と直
角な平面内では、点P1に配置された測定指標板8から
の測定ターゲット光はコリメータレンズ38により平行
光束にされ、そのままリレーレンズ11により点P2に
集光される。    1 それに対し、スリットの長手方向と平行な平面内では、
コリメータレンズ38により平行光束にされた測定ター
ゲット光は円柱レンズ3.91によりいったん集光され
た後、円柱レンズ392により再度平行光束にされ、リ
レーレンズ11により点P2に集光される。そのため、
点P2に形成される測定ターゲット像のスリy1・の長
手方向の倍率は、スリットの長手方向と直角な方向の倍
率に対してf+ /f2(<1)倍になり、点P2には
スリットの長手方向だけ圧縮された測定ターゲット像が
形成されることになる。
第4図は、他のアナモフィック光学系39′の構成例を
示すものであり、焦点距離−fi′(fi−>O)なる
負の円柱レンズ391′と焦点距離fz′なる正の円柱
レンズ392′を(f 2’  f 1’ )の間隔を
七って配置している。この場合も前述と同様に点P2に
はスリン1−の長手方向のみ圧縮された測定ターゲット
像が形成される。
さらに、アナモフィック光学系39を通過した測定ター
ゲラ1−光は反射プリズム10、リレーレンズ11、反
射プリズム12、二つの半月状開口部を有する半月絞り
13、スリット状の孔L4aを有するスリットプリズム
14、イメーシローデータ15、対物レンズ16、ビー
ムスプリッタ17をそれぞれ通過して被検眼2の瞳孔を
通ってその眼底に投影される。
なお、半月絞り13は被検眼2の瞳と共役な位置に配置
さ肛ている。イメージローデータ]5は被検眼2の眼底
に投影される」り定ターゲット像を被検眼2の所定経線
方向に回転させるために、光軸yのまわりに回転可能に
配置されており、イメージローデータ15の回転角度0
/2に対して被検眼眼底に投影される測定ターゲット像
は角度にしてθ度回転するようになっている。ビームス
プリッタ17は赤外光を透過し、可視光を反射する特性
を有している。
受光光学系3において、被検眼2の眼底において反射さ
れた測定ターゲラ1〜像は、ビームスプリッタ17、対
物レンズ16、イメーシローデータ15、スリットプリ
ズム14のスリン1−状の孔14a、円形の開口部18
aを有する開口絞り18、リレーレンズ19、反射プリ
ズム20.21、黒点板22、移動レンズ23、反射ミ
ラー24、結像レンズ25を介して撮像面4aに結像さ
れる。なお、開口絞り18は、被検眼2の瞳と共役な位
置に配置され、開口部IBaは被検眼2の瞳孔を通過す
る光だけを通す。黒点Fi22は対物レンズ16により
反射された測定に有害な光を除去する。移動レンズ23
は黒点板22と共に測定指標板8と一体で光軸Zに沿っ
て移動可能となっている。この測定指標板8と撮像面4
aとは常に共役な位置関係に保持されている。
撮像面4aに結像する測定ターゲット像は、イメージロ
ーデータ15を再び通過して来るために、被検眼2の眼
底に投影した測定ターゲット像と逆方向に同角度回転す
る。従ってこの撮影面4aに結像した測定ターゲラ1へ
像は、イメージローデータ15の回転角度にかかわらず
、測定指標板8によって形成された測定ターゲット像の
スリットの向きが同じで常に一定方向に保持される。一
方、光電変換部としての撮像装置4は、撮像面4aに結
像した測定ターゲット像に応じて映像信号を出力する。
この映像信号により表示装置26は、撮像面4aに結像
したスリン1−測定ターゲット像(被検wA2の眼底で
反射された像)を表示する。
これらターゲラ1−像投影系1と受光光学系3に一8= おいて、測定指標板8が移動し、測定ターゲラ1へ像が
被検眼2の眼底上に合焦すると、移動レンズ23の移動
てその合焦状態が撮像面4aに結俄される。
注視目標投影系5において、可視光を発する光源27か
らの光は、色補正フィルタ28、コンデンサレンズ29
により注視目標板30に照射される。この注視目標Fi
30上には、注視目標が形成さ肛ている。
光源27からの光の照射で注視目標板30によって形成
さ、lXだ注視目標像は、コリメータレンズ31、移動
レンズ32、反射ミラー33.34、リレーレンズ35
、反射ミラー36、対物レンズ37、反射ミラー38、
ビームスプリッタ17を介して被検眼2の眼底に投影さ
れる。なお、移動レンズ32は、光軸に沿って移動可能
であり、他覚測定の場合には被検眼2の屈折度数に応じ
て被検者に雲霧視させる位置に設定され、被検眼2の調
節力を除去し、正確な他覚測定を可能にする。
このように構成されているので、撮像装置4からの映像
信号に基づき測定ターゲット像の上下2組のスリット間
隔q1.Ω2が等しくなるまで測定指標板8並びに黒点
板22及び移動レンズ23を、それぞれ光軸X、Yに沿
って移動させる。そして、この測定指標板8の移動量か
ら被検眼2の屈折力を測定するものとなっている。
この場合、測定ターゲット像はアナモフィック光学系3
9を通過する前の状態(第5図参照)と後の状態(第6
図参照)とを比べると、スプリット量(間隔(h、(L
2)は変化しないが、長手方向の長さが前者よりも後者
の方が短いものとなる(すなわちn1’:>r++)。
なお、上記実施側においてはアナモフィック光学系39
をターゲット投影系1中に配置する構成としたが、測定
ターゲット像は最終的には被検眼に投影されたものが撮
像装置4上に形成され、との撮像装置4の映像信号によ
り合焦状態を検出するものであり、アナモフィック光学
系39を受光光学系3中に、例えば反射ミラー24と結
像レンズ25との間に配置する構成としてもよい。この
場合には、被検眼眼底に投影される測定ターゲット像の
明るさは何ら変更せずに、撮像装置4上の測定ターゲッ
ト像の明るさを増大させることができる。
(発明の効果) 以上のようにこの発明によれば、測定ターゲットの投影
系または受光系の少なくとも一方にアナモフィyり光学
系を配置する構成としたので、測定ターゲ′−)1−を
例えば上下一対のスリットで形成された場合、被検眼眼
底上の測定ターゲット像はスリットの長手方向が圧縮さ
れるようになって、光源の輝度を考えることなく像の明
るさを増加させることができ、しかもスリットの長手方
向に直交する方向は像の変倍に何らの作用もしないので
、簡単な構成の付加によりSlN比を改善して測定精度
の向上を容易に実現することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る他覚眼屈折力測定装置の一実施例
を示す光学系配置図、第2図は第1図に示す指標板を拡
大して示す斜視図、第3図及び第4図は第1図に示すア
ナモフィック光学系の概略斜視図、第5図はアナモフィ
ック光学系通過前の測定ターゲット像を説明する平面図
、第6図はアナモフィック光学系通過後の測定ターゲッ
ト像を説明する平面図である。 1・・・ターゲット像投影系 2・・・被検眼 3・・・受光光学系(受光系) 4・・・撮像装置(光電変換部) 39 、39 ’ ・・・アナモフィック光学系。 ゴ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被検眼眼底に測定ターゲット像を投影するための
    投影系と、前記測定ターゲット像からの反射光を受け光
    電変換部上に該測定ターゲット像を形成するための受光
    系とを有する眼屈折力測定装置において、前記投影系ま
    たは受光系の少なくとも一方の系の光路内にアナモフィ
    ック光学系を配置したことを特徴とする他覚眼屈折力測
    定装置。
  2. (2)測定ターゲット像は、スリット状に縦長に形成さ
    れた像であり、アナモフィック光学系は、該測定ターゲ
    ット像の長手方向を圧縮して光電変換部上に形成するよ
    うに構成したことを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載の他覚眼屈折力測定装置。
  3. (3)アナモフィック光学系は、円柱レンズを含むこと
    を特徴とする特許請求の範囲第2項記載の他覚眼屈折力
    測定装置。
JP60103499A 1985-05-15 1985-05-15 他覚眼屈折力測定装置 Granted JPS61259642A (ja)

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JPH0554332B2 JPH0554332B2 (ja) 1993-08-12

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5666234A (en) * 1979-11-02 1981-06-04 Canon Kk Measuring apparatus
JPS56161031A (en) * 1980-05-15 1981-12-11 Canon Kk Eye refraction meter

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5666234A (en) * 1979-11-02 1981-06-04 Canon Kk Measuring apparatus
JPS56161031A (en) * 1980-05-15 1981-12-11 Canon Kk Eye refraction meter

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