JPS61253694A - Sense amplifier circuit - Google Patents

Sense amplifier circuit

Info

Publication number
JPS61253694A
JPS61253694A JP60094308A JP9430885A JPS61253694A JP S61253694 A JPS61253694 A JP S61253694A JP 60094308 A JP60094308 A JP 60094308A JP 9430885 A JP9430885 A JP 9430885A JP S61253694 A JPS61253694 A JP S61253694A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mos transistor
input terminal
transistor
mos
electric potential
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60094308A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yuichi Miyazawa
宮沢 祐一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP60094308A priority Critical patent/JPS61253694A/en
Publication of JPS61253694A publication Critical patent/JPS61253694A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Abstract

PURPOSE:To make the action speed highly speedy by amplifying the electric potential difference between an input terminal and an inverting input terminal based upon the control signal to supply to the fifth MOS transistor. CONSTITUTION:At the place where the electric potential difference to occur between an input terminal 11 and an inverting input terminal 12 is opened to some extent by starting the reading action from the memory cell, a control signal CS is set to the high level and a MOS transistor 18 for control is made conductive, and then, the electric potential of connecting points N1 and N2 rises. Here, when the electric potential of the input terminal 11 is decreased, the channel resistance of a MOS transistor 13 comes to be high, the electric potential of the connecting point N1 rises, a MOS transistor 19 and a bipolar transistor 21 is made conductive and the electric potential of the input terminal 11 is decreased larger. At such a time, the electric potential of the inverting input terminal 12 is kept to the high level. On the other hand, when the electric potential of the inverting input terminal 12 is decreased by reading the information, in the same way, an MOS transistor 20 and a bipolar transistor 22 are made conductive and the fall of the electric potential is accelerated.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] この発明は、バイポーラCMOS(相補型金属酸化膜半
導体)混載型集積回路上に設けられる半導体記憶装置の
センスアンプ回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a sense amplifier circuit of a semiconductor memory device provided on a bipolar CMOS (complementary metal oxide semiconductor) integrated circuit.

[発明の技術的背景] 従来、この種のセンスアンプ回路としては、例えば第3
図に示すようなラッチ型センスアンプ回路が用いられて
いる。第3図において、Pチャネル型のMoSトランジ
スタ1とNチャネル型のMOSトランジスタ2とは第1
のCMOSインバータ3を、Pチャネル型のMOSトラ
ンジスタ4とNチャネル型のMOS トランジスタ5と
は第2のCMOSインバータ6をそれぞれ構成しており
、これら第1.第2のCMOSインバータ3,6の人、
出力端がそれぞれ交互に接続されてラッチ回路が構成さ
れる。上記MOSトランジスタ1.2の接続点、および
MoSトランジスタ4.5のゲートには入力端子7が、
上記MOSトランジスタ4.5の接続点、およびMOS
トランジスタ1゜2のゲートには反転入力端子8がそれ
ぞれ接続される。なお、9は電源電圧Vが印加される電
源端子、10は制御信号C8で導通制御されこのセンス
アンプ回路の動作を制御する制御用のNチャネル型MO
Sトラン°ジスタである。
[Technical Background of the Invention] Conventionally, as this type of sense amplifier circuit, for example, a third
A latch type sense amplifier circuit as shown in the figure is used. In FIG. 3, a P-channel type MoS transistor 1 and an N-channel type MOS transistor 2 are
A P-channel type MOS transistor 4 and an N-channel type MOS transistor 5 constitute a second CMOS inverter 6, respectively. 2nd CMOS inverter 3, 6 people,
The output terminals are connected alternately to form a latch circuit. An input terminal 7 is connected to the connection point of the MOS transistor 1.2 and the gate of the MoS transistor 4.5.
The connection point of the above MOS transistor 4.5, and the MOS
Inverting input terminals 8 are connected to the gates of the transistors 1 and 2, respectively. Note that 9 is a power supply terminal to which a power supply voltage V is applied, and 10 is a control N-channel type MO whose conduction is controlled by a control signal C8 to control the operation of this sense amplifier circuit.
It is an S transistor.

上記のような構成において、入力端子7および反転入力
端子8は、半導体記憶装置のビット線および反転ビット
線にそれぞれ接続される。そして、メモリセルからの情
報の読み出し時には、上記ビット線と反転ビット線とは
ハイレベルでかつ同電位に設定され、メモリセルから情
報が読み出されることにより、メモリセルの記憶情報に
応じていずれか一方の電位が低下するのを増幅するよう
にしている。
In the above configuration, the input terminal 7 and the inverted input terminal 8 are connected to the bit line and the inverted bit line of the semiconductor memory device, respectively. When reading information from the memory cell, the bit line and the inverted bit line are set at a high level and the same potential, and when information is read from the memory cell, either The drop in one potential is amplified.

以下、上記センスアンプ回路の動作を詳細に説明する。The operation of the sense amplifier circuit will be described in detail below.

制御信号C8がハイレベルとなってMoSトランジスタ
10がオン状態となるとこのセンスアンプ回路が動作状
態に入る。MoSトランジスタ2,5は、ゲートがハイ
レベルであるので共にオン状態となり、入力端子79反
転入力端子8の電位を低下させるように働く。この時、
メモリセルから読み出された情報により、端子1.8間
に電位差があるとMOSトランジスタ2,5および1.
4の導通状態に差が生ずる。今、入力端子1の電位が反
転入力端子8の電位より低いとすると、MOSトランジ
スタ2の方がMOS l−ランジスタ5よりチャネル抵
抗が低く、かつMOSトランジスタ1のチャネル抵抗は
MOSトランジスタ4より高くなる。従って、入力端子
7は反転入力端子8より電位降下が速くなる。この傾向
は端子7.8間の電位差が開くほど加速され、入力端子
7の電位がMoSトランジスタ4.5で構成されるイン
バータ6の論理しきいlll[′11圧以下となると、
MOSトランジスタ4のチャネル抵抗がMOSトランジ
スタ5のチャネル抵抗より低くなるため、反転入力端子
8が充電されて電位が上昇し始める。そして、最終的に
は、入力端子7は完全なローレベル、反転入力端子8は
完全なハイレベルとなる。一方入力端子7の電位が反転
入力端子8の電位より高い場合には、同様にして入力端
子7がハイレベル、反転入力端子8はローレベルとなる
When the control signal C8 becomes high level and the MoS transistor 10 is turned on, this sense amplifier circuit enters the operating state. Since the gates of the MoS transistors 2 and 5 are at a high level, both are turned on and work to lower the potential of the input terminal 79 and the inverting input terminal 8. At this time,
According to the information read from the memory cell, if there is a potential difference between terminals 1.8, MOS transistors 2, 5 and 1.
There is a difference in the conduction state of 4. Now, assuming that the potential of input terminal 1 is lower than the potential of inverting input terminal 8, MOS transistor 2 has a lower channel resistance than MOS l-transistor 5, and MOS transistor 1 has a channel resistance higher than MOS transistor 4. . Therefore, the potential drop at the input terminal 7 is faster than at the inverting input terminal 8. This tendency is accelerated as the potential difference between the terminals 7 and 8 increases, and when the potential of the input terminal 7 becomes less than the logic threshold of the inverter 6 composed of MoS transistors 4.5,
Since the channel resistance of MOS transistor 4 becomes lower than the channel resistance of MOS transistor 5, inverting input terminal 8 is charged and the potential begins to rise. Finally, the input terminal 7 becomes a completely low level, and the inverting input terminal 8 becomes a completely high level. On the other hand, when the potential of the input terminal 7 is higher than the potential of the inverting input terminal 8, the input terminal 7 similarly becomes a high level and the inverting input terminal 8 becomes a low level.

[背景技術の問題点コ ところで、上記第3図に示したラッチ型のセンスアンプ
回路においては、動作速度の高速化を図ろうとする場合
(ビット線あるいは反転ビット線を速く放電する場合)
、各MOSトランジスタ1゜2.4および5のディメン
ジョンを大きくする必要がある。しかし、これらMoS
トランジスタ1゜2.4および5のディメンジョンを大
きくするとビット線および反転ビット線の負荷を大きく
することになり、高速化には限界があった。
[Problems with the Background Art] By the way, in the latch type sense amplifier circuit shown in FIG. 3 above, when trying to increase the operating speed (when discharging a bit line or an inverted bit line quickly)
, it is necessary to increase the dimensions of each MOS transistor 1°2.4 and 5. However, these MoS
If the dimensions of transistors 1.2.4 and 5 were increased, the load on the bit line and inverted bit line would be increased, and there was a limit to speeding up.

[発明の目的] この発明は上記のような事情に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、ビット線の負荷を増加させる
ことなくビット線を放電する時間を短縮でき、動作速度
の高速化を図れるセンスアンプ回路を提供することであ
る。
[Object of the invention] This invention was made in view of the above circumstances,
The purpose is to provide a sense amplifier circuit that can shorten the time for discharging a bit line without increasing the load on the bit line, and can increase the operating speed.

[発明の概要] すなわち、この発明においては、上記の目的を達成する
ために、バイポーラCMOS混載型集積回路で利用可能
なバイポーラトランジスタを使用してビット線の放電時
間を短縮するもので、入力端子および反転入力端子にそ
れぞれのゲートが接続され、一端が電源の一方に接続さ
れる第1導電型の第1.第2MOSトランジスタと、こ
れら第1、第2MOSトランジスタの他端にそれぞれの
一端が接続され、他端が共通接続される第2導電型の第
3.第4MOSトランジスタと、これら第3、第4MO
Sトランジスタの他端側共通接続点と電源の他方との間
に接続され、制御信号で導通制御される第2導電型の第
5MOSトランジスタと、一端が上記入力端子に接続さ
れ、ゲートが上記第1.第3MOSトランジスタの接続
点および上記第4MOSトランジスタのゲートに接続さ
れる第1導電型の第6MOSトランジスタと、一端が上
記反転入力端子に接続され、ゲートが上記第2、第4M
OSトランジスタの接続点および上記第3MOSトラン
ジスタのゲートに接続される第1導電型の第7MOSト
ランジスタと、上記入力端子と電源の一方間に接続され
、ベースが上記第6MOSトランジスタの他端に接続さ
れる第1バイポーラトランジスタと、上記反転入力端子
と電源の一方間に接続され、ベースが上記第7MOSト
ランジスタの他端に接続される第2バイポーラトランジ
スタとによってセンスアンプ回路を構成し、上記第5M
OSトランジスタへ供給される制御信号に基づいて上記
入力端子と上記反転入力端子間の電位差を増幅するよう
にしている。
[Summary of the Invention] In other words, in order to achieve the above object, the present invention uses bipolar transistors that can be used in bipolar CMOS embedded integrated circuits to shorten the discharge time of bit lines. and a first conductivity type first . a second MOS transistor, and a third MOS transistor of a second conductivity type, one end of which is connected to the other ends of the first and second MOS transistors, and the other end of which is commonly connected. a fourth MOS transistor, and these third and fourth MOS transistors;
a fifth MOS transistor of a second conductivity type connected between the common connection point on the other end side of the S transistor and the other side of the power supply and whose conduction is controlled by a control signal; 1. a sixth MOS transistor of the first conductivity type connected to the connection point of the third MOS transistor and the gate of the fourth MOS transistor;
A seventh MOS transistor of the first conductivity type connected to the connection point of the OS transistor and the gate of the third MOS transistor, and a seventh MOS transistor connected between the input terminal and one of the power supplies, and whose base is connected to the other end of the sixth MOS transistor. A sense amplifier circuit is constituted by a first bipolar transistor connected between the inverting input terminal and one of the power supplies, and a second bipolar transistor whose base is connected to the other end of the seventh MOS transistor.
The potential difference between the input terminal and the inverting input terminal is amplified based on a control signal supplied to the OS transistor.

[発明の実施例] 以下、この発明の一実施例について図面を参照して説明
する。第1図における入力端子11および反転入力端子
12にはそれぞれ、Nチャネル型(第1導電型)の第1
.第6MOSトランジスタ13゜14のゲートが接続さ
れる。これらMOSトランジスタ13.14の一端は共
通接続されて接地点(電源の一方)に接続される。上記
MOSトランジスタ13、14の他端にはそれぞれ、P
チャネル型(第2導電型)の第3.第4MOSトランジ
スタ15.16の一端が接続される。これらMOSトラ
ンジスタ15、16の他端は共通接続され、この共通接
続点と電源■(N源の他方)が供給される電源端子17
との間には、制御信号O8で導通側(社)されるPチャ
ネル型で制御用の第5MOSトランジスタ18が接続さ
れる。上記MOSトランジスタ15のゲートにはMOS
 トランジスタ14と16との接続点N2が接続され、
上記MoSトランジスタ1GのゲートにはMOSトラン
ジスタ13と15との接続点N1が接続される。また、
上記入力端子111反転入力端子12にはそれぞれ、N
チャネル型の第6.第7MOSトランジスタ19.20
の一端が接続される。
[Embodiment of the Invention] Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. The input terminal 11 and the inverting input terminal 12 in FIG. 1 each have an N-channel type (first conductivity type) first
.. The gates of sixth MOS transistors 13 and 14 are connected. One ends of these MOS transistors 13 and 14 are commonly connected to a ground point (one side of the power supply). The other ends of the MOS transistors 13 and 14 each have a P
The third channel type (second conductivity type). One ends of fourth MOS transistors 15 and 16 are connected. The other ends of these MOS transistors 15 and 16 are commonly connected, and this common connection point and a power supply terminal 17 to which a power supply (the other N source) is supplied.
A fifth control MOS transistor 18, which is a P-channel type and is made conductive by the control signal O8, is connected between the control signal O8 and the control signal O8. The gate of the MOS transistor 15 has a MOS
A connection point N2 between transistors 14 and 16 is connected,
A connection point N1 between MOS transistors 13 and 15 is connected to the gate of the MoS transistor 1G. Also,
The input terminal 111 and the inverting input terminal 12 each have N
Channel type 6th. 7th MOS transistor 19.20
One end of is connected.

上記MOSトランジスタ19のゲートには、上記MOS
トランジスタ13と15との接続点N1が接続され、上
記MOSトランジスタ20のゲーi・には、上記MOS
トランジスタ14と16との接続点N2が接続される。
The gate of the MOS transistor 19 is connected to the MOS transistor 19.
The connection point N1 between the transistors 13 and 15 is connected, and the gate i of the MOS transistor 20 is connected to the MOS transistor 20.
A node N2 between transistors 14 and 16 is connected.

更に、上記入力端子111反転入力端子12にはそれぞ
れ、NPN型の第1.第2バイポーラトランジスタ21
.22のコレクタが接続され、これらバイポーラトラン
ジスタ2i、 22のエミッタは接地点に接続される。
Further, the input terminal 111 and the inverting input terminal 12 each have an NPN type first . Second bipolar transistor 21
.. The collectors of bipolar transistors 2i and 22 are connected to each other, and the emitters of these bipolar transistors 2i and 22 are connected to a ground point.

そして、上記バイポーラトランジスタ21のベースには
、上記MOSトランジスタ19の他端が接続され、上記
バイポーラトランジスタ22のベースには、上記MOS
トランジスタ20の他端が接続されて成る。
The other end of the MOS transistor 19 is connected to the base of the bipolar transistor 21, and the base of the bipolar transistor 22 is connected to the MOS transistor 19.
The other end of the transistor 20 is connected.

上記のような構成において、入力端子111反転入力端
子12にはそれぞれビット線および反転ビット線が接続
され、これらビット線対には、複数のメモリセルが接続
されている。
In the above configuration, a bit line and an inverted bit line are connected to the input terminal 111 and the inverted input terminal 12, respectively, and a plurality of memory cells are connected to these bit line pairs.

次に、上記のような構成において動作を説明する。ここ
で、入力端子111反転入力端子12は、メモリセルか
らの情報の読み出し動作の前(はハイレベルでかつ同電
位にあり、制御信号C8がローレベルでMOSトランジ
スタ18は非導通状態にあるものとする。この状態では
、MOSトランジスタ13.14は導通しているため、
接続点N1.N2は接地電位に固定される。この結果、
MOSトランジスタ19.20が非導通状態となり、バ
イポーラトランジスタ21.22も非導通状態となって
いる。
Next, the operation in the above configuration will be explained. Here, the input terminal 111 and the inverting input terminal 12 are at a high level and at the same potential before the operation of reading information from the memory cell, and the MOS transistor 18 is in a non-conducting state when the control signal C8 is at a low level. In this state, the MOS transistors 13 and 14 are conductive, so
Connection point N1. N2 is fixed at ground potential. As a result,
MOS transistors 19 and 20 are non-conductive, and bipolar transistors 21 and 22 are also non-conductive.

メモリセルからの読み出し動作が開始されると、入力端
子111反転反転入力端子間に電位差が生ずる。
When a read operation from the memory cell is started, a potential difference is generated between the input terminals 111 and the inverting and inverting input terminals.

この電位差が0.5V程度開いた所で、制御信号C8を
ハイレベルに設定して制御用のMOSトランジスタ18
を導通させると、接続点N1.N2の電位が上昇しろる
状態となる。今、入力端子11の電位が低下したとする
と、MOSトランジスタ13のチャネル抵抗が高くなり
、接続点N1の電位が上昇する。これによってMOSト
ランジスタ16のチャネル抵抗が高くなるので、接続点
N2の電位はローレベルに固定された状態となる。この
結果、接続点N2にゲートが接続されたMOSトランジ
スタ20は非導通のままである一方、接続点N1にゲー
トが接続されたMOSトランジスタ19が導通し、バイ
ポーラトランジスタ21にベース電流が供給されて、こ
のバイポーラトランジスタ21が導通する。このように
、メモリセルからの情報の読み出しにより僅かに電位が
低下した入力端子11の電位は、バイポーラトランジス
タ21の導通により更に大きく電位が低下されることに
なる。この時、反転入力端子12は、MoSトランジス
タ20およびバイポーラトランジスタ22が非導通状態
のままであるので、その電位はハイレベルが保たれる。
When this potential difference opens by about 0.5V, the control signal C8 is set to high level and the control MOS transistor 18
When conductive, the connection point N1. A state is reached in which the potential of N2 is about to rise. Now, if the potential of the input terminal 11 drops, the channel resistance of the MOS transistor 13 increases, and the potential of the connection point N1 rises. This increases the channel resistance of the MOS transistor 16, so that the potential at the connection point N2 is fixed at a low level. As a result, the MOS transistor 20 whose gate is connected to the connection point N2 remains non-conductive, while the MOS transistor 19 whose gate is connected to the connection point N1 becomes conductive, and base current is supplied to the bipolar transistor 21. , this bipolar transistor 21 becomes conductive. In this way, the potential of the input terminal 11, which has slightly decreased in potential due to reading of information from the memory cell, is further decreased by the conduction of the bipolar transistor 21. At this time, since the MoS transistor 20 and the bipolar transistor 22 remain non-conductive, the potential of the inverting input terminal 12 is maintained at a high level.

一方、入力端子11の電位がハイレベルのままで、反転
入力端子12の電位がメモリセルからの情報の読み出し
により低下する場合には、同様にしてMOSトランジス
タ20およびバイポーラトランジスタ22が導通するこ
とにより、電位の降下が加速させる。
On the other hand, when the potential of the input terminal 11 remains at a high level and the potential of the inverting input terminal 12 decreases due to reading of information from the memory cell, the MOS transistor 20 and the bipolar transistor 22 similarly become conductive. , the drop in potential accelerates.

このような構成によれば、ビット線をドライブするのに
MOSトランジスタに代えてバイポーラトランジスタを
用いたので、ビット線の負荷を増加させることなくセン
スアンプ回路のドライブ能力を向上させることができ、
動作速度の高速化を図ることができる。
According to this configuration, since a bipolar transistor is used instead of a MOS transistor to drive the bit line, the drive ability of the sense amplifier circuit can be improved without increasing the load on the bit line.
It is possible to increase the operating speed.

第2図は、この発明の他の実施例を示している。FIG. 2 shows another embodiment of the invention.

図において、前記第1図と同一構成部には同じ符号を付
してその詳細な説明は省略する。すなわち、前記バイポ
ーラトランジスタ21.22のベースと接地点間にそれ
ぞれ、Nチャネル型の第8.第9MOSトランジスタ2
3.24を接続したもので、上記MOSトランジスタ2
3のゲートには上記接続点N2を、上記MOSトランジ
スタ24のゲートには上記接続点N1をそれぞれ接続し
ている。
In the figure, the same components as those in FIG. 1 are given the same reference numerals, and detailed explanation thereof will be omitted. That is, the N-channel type eighth . 9th MOS transistor 2
3.24 is connected, and the above MOS transistor 2
The gate of the MOS transistor 24 is connected to the connection point N2, and the gate of the MOS transistor 24 is connected to the connection point N1.

このような構成によれば、MOSトランジスタ19ある
いは20の非導通状態時に、MOSトランジスタ23あ
るいは24が導通状態となり、バイポーラトランジスタ
21あるいは22のベースを接地点に接続するので、非
導通側のバイポーラトランジスタの遮断状態を確実にで
きる。
According to such a configuration, when the MOS transistor 19 or 20 is in a non-conducting state, the MOS transistor 23 or 24 is in a conducting state and the base of the bipolar transistor 21 or 22 is connected to the ground point, so that the bipolar transistor on the non-conducting side It is possible to ensure that the circuit is shut off.

[発明の効果] 以上説明したようにこの発明によれば、ビット線の負荷
を増加させることなくビット線を放電する時間を短縮で
き、動作速度の高速化を図れるセンスアンプ回路が得ら
れる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, it is possible to obtain a sense amplifier circuit that can shorten the time for discharging a bit line without increasing the load on the bit line, and can increase the operating speed.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はこの発明の一実施例に係わるセンスアンプ回路
の構成を示す図、第2図はこの発明の他の実施例につい
て説明するための回路図、第3図は従来のセンスアンプ
回路の構成を示す図である。 11・・・入力端子、12・・・反転入力−子、13.
14.15゜16、18.19.20.23.24・・
・Mo8 トランジスタ、21、22・・・バイポーラ
トランジスタ、17・・・’1lli端子、■・・・電
源(他方の電源)、C8・・・制御信号。
FIG. 1 is a diagram showing the configuration of a sense amplifier circuit according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram for explaining another embodiment of the invention, and FIG. 3 is a diagram of a conventional sense amplifier circuit. FIG. 3 is a diagram showing the configuration. 11... Input terminal, 12... Inverted input-child, 13.
14.15°16, 18.19.20.23.24...
-Mo8 transistor, 21, 22...Bipolar transistor, 17...'1lli terminal, ■...Power supply (other power supply), C8...Control signal.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)入力端子および反転入力端子にそれぞれのゲート
が接続され、一端が電源の一方に接続される第1導電型
の第1、第2MOSトランジスタと、これら第1、第2
MOSトランジスタの他端にそれぞれの一端が接続され
、他端が共通接続される第2導電型の第3、第4MOS
トランジスタと、これら第3、第4MOSトランジスタ
の他端側共通接続点と電源の他方との間に接続され、制
御信号で導通制御される第2導電型の第5MOSトラン
ジスタと、一端が上記入力端子に接続され、ゲートが上
記第1、第3MOSトランジスタの接続点および上記第
4MOSトランジスタのゲートに接続される第1導電型
の第6MOSトランジスタと、一端が上記反転入力端子
に接続され、ゲートが上記第2、第4MOSトランジス
タの接続点および上記第3MOSトランジスタのゲート
に接続される第1導電型の第7MOSトランジスタと、
上記入力端子と電源の一方間に接続され、ベースが上記
第6MOSトランジスタの他端に接続される第1バイポ
ーラトランジスタと、上記反転入力端子と電源の一方間
に接続され、ベースが上記第7MOSトランジスタの他
端に接続される第2バイポーラトランジスタとを具備し
、上記第5MOSトランジスタへ供給される制御信号に
基づいて上記入力端子と上記反転入力端子間の電位差を
増幅することを特徴とするセンスアンプ回路。
(1) First and second MOS transistors of a first conductivity type, each of which has its gate connected to an input terminal and an inverted input terminal, and whose one end is connected to one of the power supplies;
third and fourth MOSs of the second conductivity type, each of which has one end connected to the other end of the MOS transistor, and whose other ends are commonly connected;
a fifth MOS transistor of a second conductivity type that is connected between the common connection point on the other end side of the third and fourth MOS transistors and the other side of the power supply and whose conduction is controlled by a control signal, and one end of which is connected to the input terminal. a sixth MOS transistor of the first conductivity type, the gate of which is connected to the connection point of the first and third MOS transistors and the gate of the fourth MOS transistor; a seventh MOS transistor of the first conductivity type connected to the connection point of the second and fourth MOS transistors and the gate of the third MOS transistor;
a first bipolar transistor connected between the input terminal and one of the power sources, and whose base is connected to the other end of the sixth MOS transistor; and a seventh MOS transistor, which is connected between the inverting input terminal and one of the power sources, and whose base is connected to the other end of the sixth MOS transistor. a second bipolar transistor connected to the other end thereof, and amplifies the potential difference between the input terminal and the inverting input terminal based on a control signal supplied to the fifth MOS transistor. circuit.
(2)前記第1バイポーラトランジスタのベースと電源
の一方間に接続され、ゲートが前記第2、第4MOSト
ランジスタの接続点に接続される第1導電型の第8MO
Sトランジスタと、前記第2バイポーラトランジスタの
ベースと電源の一方間に接続され、ゲートが前記第1、
第3MOSトランジスタの接続点に接続される第1導電
型の第9MOSトランジスタとをさらに具備して成るこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のセンスアン
プ回路。
(2) an eighth MO of the first conductivity type connected between the base of the first bipolar transistor and one of the power supplies, and whose gate is connected to the connection point of the second and fourth MOS transistors;
an S transistor connected between the base of the second bipolar transistor and one of the power supplies, the gate of which is connected between the first and second bipolar transistors;
2. The sense amplifier circuit according to claim 1, further comprising a ninth MOS transistor of the first conductivity type connected to the connection point of the third MOS transistor.
JP60094308A 1985-05-01 1985-05-01 Sense amplifier circuit Pending JPS61253694A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60094308A JPS61253694A (en) 1985-05-01 1985-05-01 Sense amplifier circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60094308A JPS61253694A (en) 1985-05-01 1985-05-01 Sense amplifier circuit

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61253694A true JPS61253694A (en) 1986-11-11

Family

ID=14106649

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60094308A Pending JPS61253694A (en) 1985-05-01 1985-05-01 Sense amplifier circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61253694A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010200302A (en) * 2009-02-26 2010-09-09 Advantest Corp Comparator with latching function and testing device employing the same

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010200302A (en) * 2009-02-26 2010-09-09 Advantest Corp Comparator with latching function and testing device employing the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4176289A (en) Driving circuit for integrated circuit semiconductor memory
JPS626369B2 (en)
US5355028A (en) Lower power CMOS buffer amplifier for use in integrated circuit substrate bias generators
JPH0142167B2 (en)
US4232270A (en) High gain differential amplifier with positive feedback
JPS62132419A (en) Sensing amplifier
JPH0210517B2 (en)
JPH0567963A (en) Integrated logic circuit
US4079332A (en) High gain differential amplifier
JPH03158018A (en) Input circuit
US4435656A (en) Phase inverter circuit
JPS61253694A (en) Sense amplifier circuit
US4525640A (en) High performance and gate having an "natural" or zero threshold transistor for providing a faster rise time for the output
JPH0431443B2 (en)
JPH0349216B2 (en)
JPS6126996A (en) Sensor circuit
JP3008426B2 (en) BiCMOS gate circuit
JP2934265B2 (en) Complementary MOS output circuit
JPS5923653B2 (en) inverter circuit
JPS6273487A (en) Sense amplifier circuit
JPS60224329A (en) Input circuit of mos integrated circuit element
JPS598912B2 (en) logic signal amplification circuit
JPS6182530A (en) Complementary metal oxide semiconductor circuit
JPS631777B2 (en)
JPS6126995A (en) Sensor circuit