JPS6126995A - Sensor circuit - Google Patents

Sensor circuit

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JPS6126995A
JPS6126995A JP14918084A JP14918084A JPS6126995A JP S6126995 A JPS6126995 A JP S6126995A JP 14918084 A JP14918084 A JP 14918084A JP 14918084 A JP14918084 A JP 14918084A JP S6126995 A JPS6126995 A JP S6126995A
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JP
Japan
Prior art keywords
mosfet
connection point
output
sense circuit
power supply
Prior art date
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Pending
Application number
JP14918084A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuhiro Sawada
沢田 和宏
Takayasu Sakurai
貴康 桜井
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Publication of JPS6126995A publication Critical patent/JPS6126995A/en
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Abstract

PURPOSE:To accomplish a stable action under a low voltage power source without adversely affecting a high speed of a current mirror-type circuit by providing a reverse conductive FET connected to the power source of a common node at one side of an FET controlled by means of a differential input, and controlling the output at the other side. CONSTITUTION:When a differential input Vin and its anti-Vin drops and rises, respectively, FETs Q13 and Q14 start turning on and off, respectively. An output Vout and its anti-Vout are connected to power sources VDD, and changed to be ''L'' and ''H'' through Q16 and Q17 for comprising a current mirror circuit, respectively. Then, after a common node at one side of the Q13 and Q14 is controlled by the output Vout, it is connected to the power source VDD, and the Q13, Q14 and a reverse conductive Q18 are turned on. Thus the common node at one end of the Q13 and Q14 goes to a voltage near to the power source VDD to turn off completely the Q13, and the output anti-Vout goes to a completely high level. Accordingly a stable action is made possible under a low power source voltage without adversely affecting a high speed of a current mirror-type sensor circuit.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は、例えば半導体メモリにおけるセンス回路に
関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a sense circuit in, for example, a semiconductor memory.

〔発明の技術的背景とその問題点〕[Technical background of the invention and its problems]

′ 一般にこの種のセンス回路として、特に高速動作が
要・求されるものは、第6図に示すように構成されてい
る。すなわち、差動入力信号Vin。
' In general, this type of sense circuit that requires particularly high-speed operation is constructed as shown in FIG. That is, the differential input signal Vin.

■1が供給される一対の差動入力MO8FET  Q 
1 。
■A pair of differential input MO8FETs supplied with 1 Q
1.

Q2の一端が共通接続され、この共通接続点には・電源
電圧vDDで導通設定されるMOSFET Q3を介し
て接地点■ssが接続される。また、上記MO8FET
 Q 1 、 Q 2の他端には、カレントミラー回路
11を構成するMOSFET  Ql、Q5の一端が接
続される。上記MO8FET  Ql、Q5の他端には
それぞれ、電源電圧vDDが印加される電源端子12、
.12.が接続され、ケ゛−トが共通接続される。1記
MO8FET  Ql、Q5のケ°−ト共通接続点には
、MOSFET  Q 1とQlとの接続点が接続され
る。そして、上記MO8FET  Q 2とQ5との接
続点および上Ne MOSFET  Q 1とQl と
の接続点からそれぞれ差動増幅出力Vout 、 Vo
ut を得る。
One end of Q2 is commonly connected, and a ground point ■ss is connected to this common connection point via a MOSFET Q3 which is set to be conductive by the power supply voltage vDD. In addition, the above MO8FET
One ends of MOSFETs Ql and Q5 forming the current mirror circuit 11 are connected to the other ends of Q 1 and Q 2 . A power supply terminal 12 to which a power supply voltage vDD is applied to the other ends of the MO8FETs Ql and Q5, respectively;
.. 12. are connected, and the gates are commonly connected. The connection point between MOSFETs Q1 and Ql is connected to the gate common connection point of MO8FETs Ql and Q5. Then, differential amplified outputs Vout and Vo are obtained from the connection point between the MO8FET Q 2 and Q5 and the connection point between the upper Ne MOSFET Q 1 and Ql, respectively.
Get ut.

次に、上記のような構成において動作を説明する。MO
SFET  Ql 、 Q2のゲートに差動入力信号V
in 、 Vinが供給されると、MOSFET Q 
1 、 Q2のうち一方がオン状態、他方がオフ状態と
なる。
Next, the operation in the above configuration will be explained. M.O.
A differential input signal V is applied to the gates of SFET Ql and Q2.
When in and Vin are supplied, MOSFET Q
1 and Q2, one is in the on state and the other is in the off state.

これによって、オン状態となったMOSFETのドレイ
ン側ノードがローレベル、オフ状態となったMOSFE
Tのドレイン側ノードがノ1イレペルとなシ、これが差
動増幅出力Vout 、 Voπとして出力される。
As a result, the drain side node of the MOSFET that is in the on state is at a low level, and the MOSFET that is in the off state is at a low level.
When the drain side node of T is equal to 1, this is output as differential amplification outputs Vout and Voπ.

第7図は、上記第6図における動作波形を示している。FIG. 7 shows the operating waveforms in FIG. 6 above.

なお、ここでは電源電圧vDDを3vに設定している。Note that here, the power supply voltage vDD is set to 3V.

図示するように、差動増幅出力Vout 、 Vout
は対称にはならず、■πの出力振幅が小さい。これはセ
ンス回路の出力Vout端(MOSFET Q 1とQ
lとの接続点)がドレインとゲートとを共通接続したM
OSFET Q 4によってゾルアップされるため、そ
の電位が電源電圧vDDよ、jl)Pチャネル形MO8
FET Q 4のしきい値電圧vTHPだけ低下し、電
源電圧vDD付近まで上昇しないことに起因する。
As shown, the differential amplified outputs Vout, Vout
is not symmetrical, and the output amplitude of ■π is small. This is the output Vout terminal of the sense circuit (MOSFET Q 1 and Q
(connection point with l) connects the drain and gate in common
Since it is resolved by OSFET Q 4, its potential is equal to the power supply voltage vDD, jl) P channel type MO8
This is due to the fact that the threshold voltage vTHP of FET Q4 is lowered and does not rise to around the power supply voltage vDD.

このように、前記第6図に示したカレントミラー形のセ
ンス回路は、高速な動作が得られる反面、出力信号電圧
Wπの振幅が小さいだめ、l Vout−■T口(差動
増幅出力電圧のレベル差)が必らずしも充分大きく取れ
ない欠点がある。
As described above, although the current mirror type sense circuit shown in FIG. 6 can achieve high-speed operation, since the amplitude of the output signal voltage Wπ is small, The disadvantage is that the level difference) cannot necessarily be made sufficiently large.

これは特に電源電圧vDDが低い時に大きな問題となる
This becomes a big problem especially when the power supply voltage vDD is low.

第8図は、従来のカレントミラー形センス回路の他の構
成例を示すもので、上述したセンス回路を2段カスケー
ド接続している。図において、13は1段目のセンス回
路、14は2段目のセンス回路で、センス回路13は、
差動入力信号Vin 、 Vinが供給される一対の差
動入力MO3FET Q6 、 Q 7、カレントミラ
ー回路QB、Q9、チップイネーブル信号CEで導通制
御されるノ?ワーダウン用のMOSFET Ql O、
Ql 1 、および電源電圧vDDで導通設定されて定
電流源として働き、感度を上げるだめのMO8FE’l
” Ql2から構成される。
FIG. 8 shows another configuration example of a conventional current mirror type sense circuit, in which the above-mentioned sense circuits are connected in two stages in cascade. In the figure, 13 is a first-stage sense circuit, 14 is a second-stage sense circuit, and the sense circuit 13 is
A pair of differential input MO3FETs Q6 and Q7 to which differential input signals Vin and Vin are supplied, current mirror circuits QB and Q9, and conduction controlled by a chip enable signal CE. MOSFET Ql O for wardown,
Ql 1 and MO8FE'l which is set to conduction with the power supply voltage vDD and works as a constant current source to increase sensitivity.
” Consists of Ql2.

また、上記2段目のセンス回路・14も1段目のセンス
回路13と同一構成であるので、この回路14にはセン
ス回路13と同一符号にダッシュを付して示す。MOS
FET Q 9とQll  との接続点およびMOSF
ET Q BとQIOとの接続点から得られる1段目の
センス回路13の出力Vout aVoutは、2段目
の°センス回路14の差動入力MO8FET Q 7’
 、 Q 6’のゲートに供給され、MO8FETQ9
’とQllo との接続点から出力DOを得るようにな
っている。
Furthermore, since the second stage sense circuit 14 has the same configuration as the first stage sense circuit 13, this circuit 14 is shown with the same reference numeral as the sense circuit 13 with a dash added thereto. M.O.S.
Connection point between FET Q9 and Qll and MOSF
The output Vout aVout of the first stage sense circuit 13 obtained from the connection point between ET QB and QIO is the differential input MO8FET Q7' of the second stage sense circuit 14.
, Q 6' is supplied to the gate of MO8FETQ9
The output DO is obtained from the connection point between ' and Qllo.

第9図は、上記第8図の回路の動作を回路シュミレータ
5PICEによって解析した動作波形を示している。図
示するように、2段目のセンス回路14の出力Doは、
電源電圧VDDが3V付近で得られている。これは、前
述したように、1段目のセンス回路13の出力ππ端(
MO8FETQ8とQIOとの接続点)がドレインとゲ
ートとを共通接続したMOSFET Q Bによってプ
ルアップされるため、その電位が電源電圧■DDよりP
ヂャネル形MO8FET Q 8のしきい値電圧vTI
Pだけ低下し、電源電圧vDD付近まで上昇しないこと
に起因している。このため、1段目のセンス・回路13
の出力π−は、電源電圧■DDと接地電位vssの中間
電位となる。この中間電位をノ・イレペルとし、出力V
outがローレベルとなる場合には、次段のセンス回路
14における差動入力MO8FET Q 6” 、 Q
 7”のセンス感度が悪い領域に入シ、センスしなくな
る場合が生ずる。これは、特に電源電圧vDDが低い時
に問題となる。
FIG. 9 shows operational waveforms obtained by analyzing the operation of the circuit shown in FIG. 8 using the circuit simulator 5PICE. As shown in the figure, the output Do of the second stage sense circuit 14 is
The power supply voltage VDD is obtained around 3V. As mentioned above, this is due to the output ππ end of the first-stage sense circuit 13 (
The connection point between MO8FETQ8 and QIO) is pulled up by MOSFET QB whose drain and gate are commonly connected, so its potential is lower than the power supply voltage ■DD.
Channel type MO8FET Q8 threshold voltage vTI
This is due to the fact that the voltage decreases by P and does not rise to around the power supply voltage vDD. Therefore, the first stage sense circuit 13
The output π- is an intermediate potential between the power supply voltage DD and the ground potential vss. This intermediate potential is set as Noirepel, and the output V
When out becomes a low level, the differential input MO8FET Q 6'', Q in the next stage sense circuit 14
7'' may enter a region with poor sensing sensitivity and no longer sense. This becomes a problem especially when the power supply voltage vDD is low.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

この発明は上記のような事情に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、カレントミラー形センス回路
の高速性を損なうことなく低電源電圧でも安定な動作が
可能なセンス回路を提供することである。
This invention was made in view of the above circumstances,
The purpose is to provide a sense circuit that can operate stably even at a low power supply voltage without impairing the high speed of the current mirror type sense circuit.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

すなわち、この発明においては、上記の目的を達成する
ために、前記第6図における差動入力MO8FET Q
 1とQ2との一端側共通接続点と電源vDD間に、こ
れらMOSFET Q 1 、 Q 2とは逆導電形の
MOSFETを設け、前記MO8FET Q 2とQ5
との接続点の電位Voutで導通制御するようにしたも
のである。
That is, in this invention, in order to achieve the above object, the differential input MO8FET Q in FIG.
A MOSFET of the opposite conductivity type to these MOSFETs Q 1 and Q 2 is provided between the common connection point on one end side of MOSFETs Q 1 and Q 2 and the power supply vDD, and the MOSFETs Q 2 and Q 5 are connected to each other.
The conduction is controlled by the potential Vout at the connection point.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、この発明の一実施例について図面を参照して説明
する。第1図において、Q13.Q14は差動入力信号
Vin 、 Vinが供給される一対の差動入力MO8
FETで、これらMOSFET Q 13 、 Q 1
4の一端−は共通接続され、この共通接続点には電源電
圧vDDで導通設定されるMOSFET Q 15を介
して接地点■6Bが接続される。上記MO8FET Q
13Q〜14 の他端には、カレントミラー回路ノ5を
構成するMOSFET Q 16 、 Q 17の一端
がそれぞれ接続される。このMOSFET Q 1’6
 、 Q 17の他端には電源電圧V。Dが印加される
電源端子16.。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In FIG. 1, Q13. Q14 is a differential input signal Vin, a pair of differential inputs MO8 to which Vin is supplied.
FET, these MOSFET Q 13 , Q 1
4 are connected in common, and a ground point 6B is connected to this common connection point via a MOSFET Q 15 which is set to be conductive by the power supply voltage vDD. Above MO8FET Q
One ends of MOSFETs Q 16 and Q 17 configuring current mirror circuit No. 5 are connected to the other ends of 13Q to 14, respectively. This MOSFET Q 1'6
, Q17 has the power supply voltage V at the other end. A power supply terminal 16 to which D is applied. .

16□がそれぞれ接続され、ゲートが共通接続されると
ともに、このゲート共通接続点にはMOSFET Q 
I JとQ16  との接続点が接続される。
16□ are connected to each other, their gates are commonly connected, and MOSFET Q
The connection point between I J and Q16 is connected.

また、上記MO8FET Q 13とQ14の一端側共
通接続点と電源電圧■DDが印加される端子163との
間にはMOSFET Q 2 Bが接続され、そのゲー
トにはMOSFET Q 14とQ、17との接続点が
接続される。そして、上記MO8FET Q 14とQ
17との接続点から出力信号Voutを、MOSFET
 Q 13とQ16との接続点から出力信号■πをそれ
ぞれ得るようにして成る。
Furthermore, MOSFET Q 2 B is connected between the common connection point on one end side of the MO8FETs Q 13 and Q 14 and the terminal 163 to which the power supply voltage connection points are connected. And the above MO8FET Q14 and Q
17, output signal Vout from the connection point with MOSFET
The output signal ■π is obtained from the connection point between Q13 and Q16.

次に、上記のような構成において、第2図の波形図を参
照しつつ動作を己明する。入力信蓚Vinが一定(3■
)でVinがこれよシ低下し始めると、MOSFET 
Q l 、?がオンし始め、Q14がオフし始める。従
って、出力信号Voutはノ・イレベル、■−はローレ
ベルに変化する。この時、MOSFET Q 1 Bは
、出力信号Voutがハイレベルであるのでオフ状態と
なり、前記第6図の回路と同一動作となる。 、 一方、入力信号■1が上昇して3v一定となり、vin
がこれより低下し始めると、MO8FETQ14  が
オンし始め、Q13がオフし始める。これによって、出
力信号Voutはローレベル、Voutはハイレベルに
変化する。この時、MOSFET Q18は、出力信号
Voutがローレベルであるのでオン状態となシ、MO
SFET Q 13とQ14との一端側共通接続点の電
位が■DDレベル近くオで上昇する。
Next, the operation of the above configuration will be explained with reference to the waveform diagram of FIG. 2. Input signal Vin is constant (3■
), when Vin starts to drop this much, the MOSFET
Q l,? begins to turn on and Q14 begins to turn off. Therefore, the output signal Vout changes to a no-y level, and - changes to a low level. At this time, MOSFET Q 1 B is turned off because the output signal Vout is at a high level, and operates in the same manner as the circuit shown in FIG. 6 above. , On the other hand, the input signal ■1 rises and becomes constant at 3V, and vin
When begins to drop below this, MO8FET Q14 begins to turn on and Q13 begins to turn off. As a result, the output signal Vout changes to low level and Vout changes to high level. At this time, MOSFET Q18 is not in the on state because the output signal Vout is at a low level.
The potential at the common connection point on one end side of SFET Q13 and Q14 rises near the DD level.

これによって、MOSFET Q 13を完全にオフ状
態とすることができ、出力信号口を/・イレペルに上昇
させる。
This allows MOSFET Q 13 to be completely turned off, causing the output signal port to rise to /.

このような構成によれば、低電源電圧でもMOSFET
 Q 1.9を完全にオフ状態にすることができ、安定
な動作が得られる。なお、カレントミラー形センス回路
の長所である高速性を損なうことはない。
According to such a configuration, the MOSFET can be operated even at a low power supply voltage.
Q1.9 can be completely turned off, resulting in stable operation. Note that the high speed, which is an advantage of the current mirror type sense circuit, is not impaired.

第3図は、この発明の他の実施例を示すもので、上述し
・たセンス回路を2段カスケード接続したものである。
FIG. 3 shows another embodiment of the invention, in which the sense circuits described above are connected in two stages in cascade.

なお、ここでは、チップイネーブル信号CEで導通制御
される・ぐワーダウン用のMOSFETを設けている。
Note that here, a power-down MOSFET whose conduction is controlled by the chip enable signal CE is provided.

すなわち、差動入力信号Vin 、 Vinは、1段目
のセンス回路17を構成する一対の差動入力MO8FE
T Q 19 、 Q20のゲートにそれぞれ供給され
る。これらMO8FETQ19.Q20の一端は共通接
続され、この共通接続点には電源電圧vDDで導通設定
されるMOSFET Q 21を介して接地点”ssが
接続されるOまた、上記MO8FET Q 19 、 
Q 20の他端にはそれぞれ、チップイネーブル信号C
Eで導通制御されるMOSFET Q22 、 Q23
 、およびカレントミラー回路を構成するMOSFET
 Q24 、Q25をそれぞれ介して、電源電圧■DD
が印加される電源端子19□ 、19□が接続される。
That is, the differential input signals Vin and Vin are input to the pair of differential inputs MO8FE constituting the first stage sense circuit 17.
It is supplied to the gates of T Q 19 and Q20, respectively. These MO8FETQ19. One end of Q20 is commonly connected, and a ground point "ss" is connected to this common connection point via a MOSFET Q21 which is set to be conductive at the power supply voltage vDD.
The other ends of Q20 each have a chip enable signal C.
MOSFET Q22, Q23 whose conduction is controlled by E
, and MOSFETs forming the current mirror circuit
The power supply voltage ■DD is applied via Q24 and Q25, respectively.
Power supply terminals 19□ and 19□ to which is applied are connected.

上記MO8FETQ;!4.Q25  のゲートは共通
接続され、このゲート共通接続点には、MOSFET 
Q 22とQ24との接続点が接続される。また、上記
MO8FET Q 19とQ20の一端側共通接続点と
電源電圧vDDが印加される電源端子19.との間には
、MOSFET Q 2 t;が接続され、このMOS
FET Q 26のケ゛−トには、MOSFET Q 
20とQ23との接続点が接続される。」二記1段目の
センス回路17の出力ノード(MOSFET Q 、?
 、?とQ24との接読点およびMOSFET Q 2
3とQ25との接続点)には、2段目のセンス回路18
を構成する1対の差動入力MO8FET Q 27 、
 Q 2 Bのゲートがそれぞれ接続される。上記Mo
5Fzr Q27 、 Q z /?の一端は共通接続
され、−4この共通接続点には、電源電圧vDDで導通
設定されるMOSFET Q 29を介して接地点vs
8が接続される。一方、上記MO8FET Q 27 
Above MO8FETQ;! 4. The gates of Q25 are commonly connected, and the MOSFET is connected to the common gate connection point.
The connection point between Q22 and Q24 is connected. Further, a common connection point on one end side of the MO8FETs Q19 and Q20 and a power supply terminal 19 to which the power supply voltage vDD is applied. A MOSFET Q 2 t; is connected between this MOS
The gate of FET Q26 is MOSFET Q
The connection point between 20 and Q23 is connected. ”2, the output node of the first stage sense circuit 17 (MOSFET Q, ?
,? Contact point between and Q24 and MOSFET Q2
3 and Q25), there is a second-stage sense circuit 18.
A pair of differential input MO8FETs Q 27 ,
The gates of Q 2 B are connected respectively. The above Mo
5Fzr Q27, Qz/? One end is connected in common, -4 This common connection point is connected to the ground point vs through MOSFET Q 29 which is set to be conductive at the power supply voltage vDD.
8 is connected. On the other hand, the above MO8FET Q 27
.

Q2Bの他端にはそれぞれ、チッゾイネーブル信号CE
で導通制御されるMOSFET Q30 、Q31、お
よび−カレントミラー回路を構成するMOSFET Q
 32 。
The other ends of Q2B each have a chizo enable signal CE.
MOSFET Q30, Q31 whose conduction is controlled by -MOSFET Q which constitutes a current mirror circuit
32.

Q 、? 3を介して、電源電圧vDDが印加される電
源端子201.20.が接続される。上記MOSFET
 Q 32. Q 、93のゲートは共通接続され、こ
の共通接続点にはMOSFET Q 30とQ32との
接続点が接続される。そして、上記MO8FET Q 
31とQ33との接続点から出力信号Doを得る。
Q.? 3 to which the power supply voltage vDD is applied, power supply terminals 201.20. is connected. The above MOSFET
Q32. The gates of MOSFETs Q 30 and 93 are commonly connected, and the connection point of MOSFETs Q 30 and Q32 is connected to this common connection point. And the above MO8FET Q
An output signal Do is obtained from the connection point between Q31 and Q33.

第4図は、上記第3図の回路の動作波形を示すもので、
回路シュミレータ5PICEによるものである。図示す
るように、電源電圧vDDが約25V付近からセンス動
作を開始しており、前記第9図に比べて低電源電圧時の
特性が改善されていることがわかる。
Figure 4 shows the operating waveforms of the circuit shown in Figure 3 above.
This is based on the circuit simulator 5PICE. As shown in the figure, the sensing operation starts when the power supply voltage vDD is around 25 V, and it can be seen that the characteristics at low power supply voltages are improved compared to FIG. 9 described above.

第5図は、この発明のさらに他の実施例を示すもので、
前記第“1図の回路における差動増幅出力V□ut 、
 Vc)πの出力端と電源間にそれぞれ負荷を設けたも
のである。図において、前記第1図と同一構成部には同
じ符号を付してその詳細な説明は省略する。すなわち、
MOSFET Q z sとQ16 との接続点および
MOSFET Q 24とQ17との接続点と電源電圧
■DDが印加される電源端子21..212との間には
それぞれ、MO8FETQ34.Q35が接続される。
FIG. 5 shows still another embodiment of the invention,
The differential amplification output V□ut in the circuit shown in FIG.
A load is provided between the output terminal of Vc)π and the power supply. In the figure, the same components as those in FIG. 1 are given the same reference numerals, and detailed explanation thereof will be omitted. That is,
The connection point between MOSFET Qzs and Q16, the connection point between MOSFET Q24 and Q17, and the power supply terminal 21 to which the power supply voltage DD is applied. .. MO8FETQ34.212 and MO8FETQ34. Q35 is connected.

そして、上記MO8FET Q 34 、 Q 35は
、接地電位vssで導通設定され、負荷として働くよう
になっている。
The MO8FETs Q 34 and Q 35 are set to be conductive at the ground potential vss, and function as a load.

このような構成によれば、ノ蔦イレペルの出力時、負荷
とじてのMOSFET Q34 、 Q35によって出
力ノード(MOSFET Q 73とQ16との接続点
およびMOSFET Q 14とQ17との接続点)の
電位の一方が電源電圧vDD付近まで上昇されるので、
出力信号■貰の振幅を大きくできる。ここで、MOSF
ET Q、14 、Q35のチャネル幅/チャネル長を
MOSFET Q 16 、 Q 17のチャネル幅/
チャネル長よシ充分小さく設定しておけば、高電源電圧
時の回路動作には影響がない。
According to such a configuration, when the output is output, the potential of the output node (the connection point between MOSFETs Q73 and Q16 and the connection point between MOSFETs Q14 and Q17) is changed by MOSFETs Q34 and Q35 as loads. Since one side is raised to around the power supply voltage vDD,
The amplitude of the output signal can be increased. Here, MOSF
The channel width/channel length of ET Q, 14, Q35 is the channel width/channel length of MOSFET Q16, Q17.
If the channel length is set sufficiently small, circuit operation at high power supply voltages will not be affected.

なお、上記各実施例では、差動入力MO8FETをNチ
ャネル形、負荷MO8FETをPチャネル形としたが、
こればNチャネル形の方がキャリアの移動度が高く立下
がりの駆動が高速になるとともに、メモリに使用した場
合、入力信号V 1 n* V i nとしてのビット
線電位は電源電圧■DDに近いためであるが、信号の立
上が9を速くしたい場合や、Ov近くの入力信号Vin
 + Vtnを増幅したい場合には、差動入力MO8F
E’rをPチャネル形、負荷MO3FETをNチャネル
形としても良いのはもちろんである。
In each of the above embodiments, the differential input MO8FET is an N-channel type, and the load MO8FET is a P-channel type.
This means that the N-channel type has higher carrier mobility and faster fall drive, and when used in a memory, the bit line potential as the input signal V 1 n * V i n is equal to the power supply voltage ■DD. This is because the signal is close to 9, but if you want the signal to rise quickly, or if the input signal
+ If you want to amplify Vtn, use differential input MO8F
Of course, E'r may be of P-channel type and the load MO3FET may be of N-channel type.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したようにこの発明によれば1.カレントミラ
ー回路の高速性を損なうことなく低電源電圧でも安定な
動作が可能なセンス回路が得られる。
As explained above, according to the present invention, 1. A sense circuit that can operate stably even at a low power supply voltage without impairing the high speed performance of the current mirror circuit can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は−この発明の一実施例に係るセンス回路を示す
図、第2図は上記第1図の回路の動作波形図、第3図は
この発明の他の実施例を示す回路図、第4図は上記第3
図の回路における回路シュミレーション波形を示す図、
第5図はさらにこの発明の他の実施例を示す回路図、第
6図は従来のセンス回路を示す図、第7図は上記第6図
の回路の動作波形図、第8図は従来の他のセンス回路を
示す図、第9図は上記第8図の回路における回路シュミ
レーション波形を示す図である。 Vin 、 Vin−差動入力信号、Q l 3 、 
Q 14 ・・・第1、第2MOSFET、 Q 16
 、 Q 17・・・第3.第4M08FF:T 、 
Q 18−・・第5MOSFET、 Vout 、 V
oui・・差動増幅出力、vss・・・第1電位供給源
、vDD・・・第2電位供給源。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図 第2図 第5図 VSS 第6図 第7図 韓閣−′ 第8図 第9図 電苧防Too (Vl−
FIG. 1 is a diagram showing a sense circuit according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is an operational waveform diagram of the circuit shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a circuit diagram showing another embodiment of the present invention. Figure 4 is the 3rd figure above.
A diagram showing circuit simulation waveforms in the circuit shown in the figure,
FIG. 5 is a circuit diagram showing another embodiment of the present invention, FIG. 6 is a diagram showing a conventional sense circuit, FIG. 7 is an operating waveform diagram of the circuit shown in FIG. FIG. 9, a diagram showing another sense circuit, is a diagram showing circuit simulation waveforms in the circuit of FIG. 8. Vin, Vin-differential input signal, Ql3,
Q14...1st and 2nd MOSFET, Q16
, Q 17...3rd. 4th M08FF:T,
Q18-...5th MOSFET, Vout, V
oui: differential amplification output, vss: first potential supply source, vDD: second potential supply source. Applicant's agent Patent attorney Takehiko Suzue Figure 1 Figure 2 Figure 5 VSS Figure 6 Figure 7 Hankaku-' Figure 8 Figure 9 Denbo Too (Vl-

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)一端が共通接続され差動入力信号が供給される一
対の第1導電形第1、第2MOSFETと、これら第1
、第2MOSFETの一端側共通接続点と第1電位供給
源間に接続される電流源と、上記第1MOSFETの他
端と第2電位供給源間に接続されゲートがドレインに接
続される第2導電形の第3MOSFETと、上記第2M
OSFETの他端と第2電位供給源間に接続されるとと
もに、ゲートが上記第3MOSFETのゲートに接続さ
れる第2導電形の第4MOSFETと、上記第1、第2
MOSFETの一端側共通接続点と第2電位供給源間に
接続され、上記第2、第4MOSFETの接続点の電位
で導通制御される第2導電形の第5MOSFETとを具
備し、上記第1、第3MOSFETおよび第2、第4M
OSFETの接続点からそれぞれ差動増幅出力を得るこ
とを特徴とするセンス回路。
(1) A pair of first conductivity type first and second MOSFETs whose one ends are commonly connected and to which a differential input signal is supplied;
, a current source connected between one end side common connection point of the second MOSFET and the first potential supply source; and a second conductive current source connected between the other end of the first MOSFET and the second potential supply source, the gate of which is connected to the drain. the third MOSFET of the shape and the second MOSFET of
a fourth MOSFET of a second conductivity type connected between the other end of the OSFET and a second potential supply source and having a gate connected to the gate of the third MOSFET;
a fifth MOSFET of a second conductivity type connected between a common connection point on one end side of the MOSFET and a second potential supply source and whose conduction is controlled by the potential of the connection point of the second and fourth MOSFETs; 3rd MOSFET and 2nd and 4th M
A sense circuit characterized by obtaining differential amplified outputs from respective connection points of OSFETs.
(2)前記第1、第3MOSFETおよび第2、第4M
OSFETの接続点と第2電位供給源間に負荷素子を具
備して成ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
のセンス回路。
(2) The first and third MOSFETs and the second and fourth MOSFETs
2. The sense circuit according to claim 1, further comprising a load element between the connection point of the OSFET and the second potential supply source.
(3)前記センス回路の出力を受ける次段の入力端が第
1導電形のMOSFETから成ることを特徴とする特許
請求の範囲第1項記載のセンス回路。
(3) The sense circuit according to claim 1, wherein the input terminal of the next stage receiving the output of the sense circuit is composed of a first conductivity type MOSFET.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57179989A (en) * 1981-04-28 1982-11-05 Fujitsu Ltd Sense circuit
JPS59119588A (en) * 1982-12-27 1984-07-10 Fujitsu Ltd Differential amplifying circuit

Patent Citations (2)

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