JPS61251027A - 投影露光装置 - Google Patents

投影露光装置

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Publication number
JPS61251027A
JPS61251027A JP60090894A JP9089485A JPS61251027A JP S61251027 A JPS61251027 A JP S61251027A JP 60090894 A JP60090894 A JP 60090894A JP 9089485 A JP9089485 A JP 9089485A JP S61251027 A JPS61251027 A JP S61251027A
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JP
Japan
Prior art keywords
stage
pad
substrate
shifting
mask
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60090894A
Other languages
English (en)
Inventor
Koichi Matsushita
松下 光一
Junji Isohata
磯端 純二
Sekinori Yamamoto
山本 碩徳
Makoto Miyazaki
真 宮崎
Kunitaka Ozawa
小沢 邦貴
Hideki Yoshinari
吉成 秀樹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP60090894A priority Critical patent/JPS61251027A/ja
Priority to US06/856,221 priority patent/US4749867A/en
Publication of JPS61251027A publication Critical patent/JPS61251027A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70358Scanning exposure, i.e. relative movement of patterned beam and workpiece during imaging

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の分野] 本発明は、被露光体に原板上のパターン像、例えば半導
体回路を焼付ける露光装置に関し、特に大画面を分割焼
きする分割走査(ステップアンドスキャン)形として好
適な露光装置に関する。
[従来の技術の説明] ミラープロジェクション方式の半導体焼付装置において
は、マスクと基板(またはぎウェハ)をキャリッジ上に
乗せこれを露光面上にスキャン移動させることにより画
面全体を露光している。
しかし、最近の傾向として、チップコストの低減を目的
としたウェハの大口径化や液晶TV用等の大型の液晶表
示板の製造のため、画面が大型化してくると、露光範囲
を大きくし、かつスキャン長を伸ばさなければならない
ことにより装置が大型化してくるという問題があった。
この対策として、画面を分割してスキャン焼きを複数回
に分けて行なうステップアンドスキャン焼方式が考えら
れている。そして、このステップアンドスキャン焼きを
より高速かつ高精度に行なうために、該キャリッジにマ
スクステージや基板ステージ等の移動ステージ(X、Y
、θステージ)を搭載することが考えられている。
ところが、キャリッジに移動ステージを搭載してみると
、案に相違して転写パターンの位置ずれが生じ、却って
焼付は精度が低下するという不都合があった。
これは下記の理由による。すなわち、移動ステージは、
マスクまたは基板の絶対位置合せ、マスクと基板との相
対位置合せ、さらには基板のステップ送り等を行なうた
めのものであり、比較的移動自在に構成されている。ま
た、この移動ステージは例えば基板ステージの場合で4
0Kg程度と重い。従って、露光の際、キャリッジを走
査させるとこのキャリッジに搭載されている移動ステー
ジはその慣性のためキャリッジの加速に追随できずにキ
ャリッジとの相対位置がシフトしてしまう。
これによりマスクと基板との走査方向の相対位置ずれが
生じ、焼付は精度が低下する。
[発明の目的] 本発明の目的は、前述の問題点に鑑み、ステップアンド
スキャン形の投影露光装置におけるスループッ1〜と焼
付は精度の向上を図ることにある。
[実施例の説明] 以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第1図は、本発明の一実施例に係るステップアンドスキ
ャン方式のミラープロジェクション露光装置の構成を示
す。同図において、1は焼付パターンが形成されている
フォトマスク、2はマスク1を搭載してX、Y、θ方向
に移動可能なマスクステージである。3は液晶表示板を
製造するためにその表面に多数の画素とこれらの画素の
オン・オフを制御するためのスイッチングトランジスタ
が通常のフォトリソグラフィの手順で形成されるガラス
基板で、対角線の長さが14インチ程度の方形である。
4は基板3を保持してX、Y、θ方向に移動可能な基板
ステージで、4つの位置へステップ移動することにより
基板3の4分割露光を可能にしている。5は台形ミラー
56、凹面鏡57および凸面鏡58の組み合せからなる
周知のミラー投影系で、マスクステージ2によって所定
位置にアライメントされたマスク1のパターン像を基板
3上へ等倍投影する。マスク1のパターン像は、基板3
上の感光層がマスク上方に配置されている不図示の照明
光学系からの特定波長の光によりマスク上のパターンを
介して露光されることにより、基板3上に転写される。
なお、投影系5の光軸は上記照明系の光軸と一致させで
ある。
6はマスクステージ2と基板ステージ4を一定の関係で
保持するホルダ(キャリッジ)で、不図示のLAB (
リニアエアベアリング)に支持されることによりマスク
ステージ2上のマスク1と基板ステージ4上の基板3と
をY方向(紙面の左右方向)に一体的に移送可能として
いる。このホルダ6の1回の移動で基板3は1/4ずつ
露光される。
7.8は本発明の特徴とするシフトロック機構である。
シフトロック機構7は、第2図に示すように、バキュー
ムバッド71と該パッド71を基板ステージ4に接続す
るための板はね72等で構成されている。13は板ば勾
12をバキュームパッド71および基板ステージ4に固
定するためのボルトである。
バキュームパッド71には、第3図に示すように、下面
に凹部74および該凹部74に真空または加圧空気を供
給するための通路75が設けてあり、該通路75には配
管76を介して給排気切換バルブ77が接続されている
。また、バルブ77には、図示しない真空源および加圧
空気源が接続されている。
上記構成において、基板3のアライメント時は、バルブ
77により配管16を加圧空気側に接続する。
これにより、バキュームバッド71の凹部74に配管7
6および通路75を介して加圧空気が供給(給気)され
、この加圧空気が、凹部74からバッド71下面に噴出
してここにエアベアリングが形成され、パッド11は移
動自在となって基板ステージ4の移動の支障とはならな
い。一方、走査露光時は、バルブ17により配管7Gを
真空側に接続する。これにより、バキュームパッド71
の凹部74が配管76および通路75を介して減圧され
、パッド71は基台すなわちホルダ6のベース部61の
上面に密着する。これにより、パッド71はホルダ6に
固定され、このパッド71に接続されている基板ステー
ジ4の移動(シフト)が防止される。
この実施例においては、バキュームバッド71と基板ス
テージ4とを接続するために板ばね12を用いている。
これにより、バキュームパッド71と基板ステージ4と
の高さの違いを吸収することができ、また、上下方向の
移動に関しては相互に自由となる。なお、板ばね72の
長手方向をホルダ6の走査方向と一致させているため、
板ばね72は走査方向が引張り方向くまたは圧縮方向)
となり、バキュームパッド71と基板ステージ4との走
査方向についての固定材料として充分に機能する。
第4図は本発明のシフトロック機構を内臓した基板ステ
ージの断面図である。同図において、41は基板3を保
持するためのチャック、42は基板3をXY平面内でチ
ャック41ごと回転させるθテーブル、43は本発明の
特徴とするスコヤである。44はXYテーブルで、θテ
ーブル42はこのXYテーブル45に対しボールベアリ
ングを介して回転自在に取り付けられている。45は基
板3を7方向に移動してフォーカス調整やチルト調整を
行なうためのアクチュエータで、圧電素子等からなる。
46はYスライダで、図示しないモータで駆動されるボ
ールネジ47の回転に応じてXスライダ48上に形成さ
れたYガイド49に沿ってY方向に移動する。XYテー
ブル44は、アクチュエータ45を介してこのYスライ
ダ46に固定されている。50はYスライダ46をYガ
イド49に沿わせるための摺動駒である。
また、Xスライダ48は、ホルダ6のベース部61上面
にX方向に形成されているXガイド51に沿って、図示
しないモータで駆動されるボールネジ52の回転に応じ
てX方向に移動する。なお、同図ではXスライダ48の
下半分からベース部61へかけての部分は一部X方向か
ら見た断面を現わしである。
また、71〜73は本発明の特徴とするロックシフト機
構を構成しており、バキュームパッド71は、Yガイド
49に対して固定しまたは移動自在となるように制御さ
れる。板ばね72はパッド71とYスライダ46とを接
続するためのものであり、ボルト13は板ばね72をパ
ッド71およびYスライダ46に固定するためのもので
ある。そして、走査時はパッド71が固定されることに
より、前述と同様にYスライダ46のYガイド49に対
する移動が禁止され、XYテーブル44、従って基板ス
テージ4のY方向へのシフトが防止される。なお、第4
図においては、Xスライダ48とXガイド51との間に
も同様のロックシフト機構が設けられているが、これは
、走査時のホルダ6のヨーイングによるX方向の加速度
により、基板ステージ4がX方向にシフトするのを防止
するためである。
[実施例の変形] なお、上述の実施例においてバキュームパッドは底面に
凹部を有するものを用いているが、ウェハチャックとし
て用いられるもののように溝または多数の小径孔を有す
るもの、または、ある種の流体噴出パッドのように流体
噴出面が多孔質材で構成されたものを用いるようにして
もよい。
[発明の効果] 以上のように本発明によると、マスク等の原板と基板等
の被露光体とを一体的に保持して移送するためのキャリ
ッジに原板および/または被露光体を搭載してXY平面
内で移動可能な移動ステージを載置したため、原板およ
び/または被露光体の位置合せおよび原板の交換や被露
光体のステップ送り等に要する時間を短縮することがで
き、スループットを向上させることができるとともに、
走査露光時は移動ステージをキャリッジに固定するよう
にしているため、走査時の加速度による移動ステージの
シフトすなわち原版と被露光体との位冒ずれを防止する
ことができ、パターン転写精度を向上させることができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る半導体焼付装置の要部
断面図、 第2および3図はそれぞれ第1図におけるシフトロック
機構部分の上面図および縦断面図、第4図は本発明の他
の実施例に係る基板ステージの断面図である。 1:フォトマスク、2:マスクステージ、3:基板、4
:基板ステージ、5:ミラー投影系、6:ホルダ(キャ
リッジ)、7:シフトロック機構、71:バキュームパ
ッド、72:板ばね、14:凹部、77:給排気切換バ
ルブ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、原板と被露光体とを位置的に整合した後、これらの
    原板と被露光体とを投影光学系に対して一体的に走査す
    ることにより原板の像を被露光体上に転写する投影露光
    装置において、上記原板と被露光体とを一体的に移送す
    る部材に上記原板または被露光体を搭載してXY平面内
    で移動可能なステージを載置するとともに、上記走査時
    に該ステージの上記移送部材に対する少なくとも走査方
    向の移動を禁止するロック部材を設けたことを特徴とす
    る投影露光装置。
JP60090894A 1985-04-30 1985-04-30 投影露光装置 Pending JPS61251027A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60090894A JPS61251027A (ja) 1985-04-30 1985-04-30 投影露光装置
US06/856,221 US4749867A (en) 1985-04-30 1986-04-28 Exposure apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60090894A JPS61251027A (ja) 1985-04-30 1985-04-30 投影露光装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61251027A true JPS61251027A (ja) 1986-11-08

Family

ID=14011109

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60090894A Pending JPS61251027A (ja) 1985-04-30 1985-04-30 投影露光装置

Country Status (1)

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JP (1) JPS61251027A (ja)

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