JPS61248349A - 質量分析計 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は磁場分散型二重収束質量分析計に関するもので
ある。

〔発明の背景〕

ライフサイエンス分野の発展に伴い、生体に関連した物
質の分子量や分子構造を測定する手法として質量分析法
が用いられている。この分野では極微量の試料を扱う事
が多く、高感度で高い質量分解能を持った装置の開発が
望まれていた。この要求を満足する装置として、イオン
源、磁場、電場の順に配置しており、四重極レンズ等を
組み込んだイオン光学系が提案されている。（マス・ス
ヘクトロメーターレビュー：　Ｍａｓｓ　Ｓｐｅｃｔｒ
ｏｍ。

Ｒｅｖ、　２　、２９９　、１９８３）このイオン光学
系は磁場先行であり、磁場を用いてイオンを質量分散さ
せた後に４重接レンズおよび電場を用いてイオンを収束
させている。このため磁場分散で目的とするイオン以外
のものは中心軌道からずれるが、これが電極にあたり反
射されたり、ガスと衝突した後四重極レンズ、電場等で
集められコレクターに到達してしまう事がしばしばある
。これらはバックグランド信号を与えるので微量測定に
は都合の悪いものである。

通常の二重収束質量分析計では磁場と電場の中間の無電
場領域にイオンの収束点が存在し、ここにスリットを設
ける事により不用なイオンを除外している。しかし、こ
こで問題としているイオン光学系ではイオンの収束点は
電場セクターの中にあり、収束点に通常のスリットを設
ける事はできない。

〔発明の目的〕

本発明の目的は前記のような従来装置の難点を解消し、
バックグランドイオンを除去し、Ｓ／Ｎ良く微量試料の
イオンを検出し得る質量分析計を提供することにある。

〔発明の概要〕

上記目的を達成するために本発明では四重極レンズの前
もしくは後にスリットを設けて目的イオン以外のものを
除去する。

〔発明の実施例〕

以下、本発明の一実施例を第１図により説明する。第１
図（ａ）は新イオン光学に基づく装置の概要である。第
１図（ｂ）、（Ｃ）はイオンビームの垂直および水平方
向の軌跡をそれぞれ示したものである。イオン源から出
たビームは、四重極レンズ２および３によって垂直方向
に収束させられ、狭いギャップの磁場を高い透過率で通
る。一方、水平方向には発散させられてかなり広がった
ビームとなる。磁場を通過したイオンは四重極レンズ４
および電場７によって収束させら九でコレクターに到達
する。質量分散のおこる水平方向のイオンの中間収束点
は電場セクター内にある。目的とするイオンはイオン光
学軸のほぼ中心を通過するが、その以外のイオンは磁場
で偏向させられるために軸からはずれて四重極４に入る
が、ガスと衝突したり、電場電極に衝突し反射されたり
してコレクターに到達することがある。これらイオンを
除去するためにスリットを設は四重極４に入るイオンを
近軸ビームだけとし、出るイオンも中心軸近傍のものだ
けに限られるように出口側にもスリットを設けている。

これらスリットの位置はイオンビームの収束点ではない
が二つのスリットを通過できるのは制限された角度で四
重極レンズ４に入射するイオンであり、散乱、その他の
バックグランドの原因となるイオンを除去できる。

スリットの形状はイオンの軌跡から矩形が都合が良いが
、円形でも同様の効果は達成できる。

本実施例は、スリットを四重極の入口および出口の両方
に設けたが、いずれか一方のみに設けても効果が得られ
る。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によれば、目的とするイオン
以外のものが電場セクターに入射することを制限できる
。その結果、これらが浅い角度でセクター電極に衝突し
反射されたりしてコレクターまで到達し、バックグラン
ドを与えるような事を防止してＳ／Ｈの高い質量スペク
トルを与えるのに効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）は本発明のスリットを具備した装置のイオ
ン光学系の平断面図、（ｂ）は水平方向のイオンの軌道
図、（ｃ）は垂直方向のイオンの軌道図である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、少なくともイオン源、磁場、四重極レンズ、静電場
   、イオンコレクターを具備し、かつ磁場に続いて四重極
   場を持つ質量分析計において、この四重極場の入口ある
   いは出口にイオンの入射を制限するスリットを持つこと
   を特徴とする質量分析計。