JPS61240143A - 微小粒子計数装置 - Google Patents
微小粒子計数装置Info
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- JPS61240143A JPS61240143A JP8019785A JP8019785A JPS61240143A JP S61240143 A JPS61240143 A JP S61240143A JP 8019785 A JP8019785 A JP 8019785A JP 8019785 A JP8019785 A JP 8019785A JP S61240143 A JPS61240143 A JP S61240143A
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- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 32
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 22
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims abstract description 12
- 239000011859 microparticle Substances 0.000 claims description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 239000000725 suspension Substances 0.000 abstract description 7
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 210000000601 blood cell Anatomy 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 2
- 210000004369 blood Anatomy 0.000 description 1
- 239000008280 blood Substances 0.000 description 1
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1429—Signal processing
-
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- G01N2015/1486—Counting the particles
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は微小粒子計数装置に係り、特に懸濁試料液中に
含まれる粒子を計数する装置に関する。
含まれる粒子を計数する装置に関する。
血液中の血球を計数するような微小粒子計数装置は１例
えば特開昭５５−８７９５２号に示されている。
えば特開昭５５−８７９５２号に示されている。
従来の懸濁液中の粒子を計数する装置について第３１！
Ｉおよび第４図を参照して説明する。血球などの粒子検
出では１通常第３図に示すように１粒子が検出部を通過
するときにその粒子の体積に比例したパルス信号１を発
生させ、この信号１がバックグラウンドノイズ２との判
別のための閾値レベル３以上になった信号のみの個数を
計数する。
Ｉおよび第４図を参照して説明する。血球などの粒子検
出では１通常第３図に示すように１粒子が検出部を通過
するときにその粒子の体積に比例したパルス信号１を発
生させ、この信号１がバックグラウンドノイズ２との判
別のための閾値レベル３以上になった信号のみの個数を
計数する。
しかし、計数しようとする粒子が微小で、その粒子によ
るパルス信号も小さい場合に、温度等による外部からの
影響や、検出部の変動等により、ベースラインが長期的
に変動することがある０例えば第４図のように、ベース
ラインがドリフトした場合、バックグラウンドノイズ２
が、判別のための閾値レベル３以上に押し上げられ、粒
子によねパルス信号とみなされて計数してしまうため、
正確な計数個数を得ることができず１日差再現性劣化等
の原因となっていた。
るパルス信号も小さい場合に、温度等による外部からの
影響や、検出部の変動等により、ベースラインが長期的
に変動することがある０例えば第４図のように、ベース
ラインがドリフトした場合、バックグラウンドノイズ２
が、判別のための閾値レベル３以上に押し上げられ、粒
子によねパルス信号とみなされて計数してしまうため、
正確な計数個数を得ることができず１日差再現性劣化等
の原因となっていた。
［発明の目的〕
本発明の目的は、ベースラインレベルを自動的に補正し
得、粒子計数誤差を低減し得る微小粒子計数装置を提供
することにある。
得、粒子計数誤差を低減し得る微小粒子計数装置を提供
することにある。
本発明は、微小粒子を含む懸濁試料液が検出部を通過す
る際にその通過に伴って生ずる電気的変化または光学的
変化に基づいて粒子を計数する装置に適用される６本発
明は、懸濁試料液を含まないキャリヤ液が検出部を通過
するときのバックグラウンドノイズの計数値と、あらか
じめ設定しておいたノイズ許容値とを比較装置で比較し
、ノイズ許容値よりバックグラウンド計数値の方が太き
いときに増幅装置におけるベースラインを低減せしめる
ように構成したことを特徴とする。
る際にその通過に伴って生ずる電気的変化または光学的
変化に基づいて粒子を計数する装置に適用される６本発
明は、懸濁試料液を含まないキャリヤ液が検出部を通過
するときのバックグラウンドノイズの計数値と、あらか
じめ設定しておいたノイズ許容値とを比較装置で比較し
、ノイズ許容値よりバックグラウンド計数値の方が太き
いときに増幅装置におけるベースラインを低減せしめる
ように構成したことを特徴とする。
検出部としては、孔隙を介して電極を配置し孔隙を粒子
が通過するときの電気抵抗の変化を測定するものを用い
ることができる。あるいは、フローセルにレーザ光を照
射し粒子がレーザ光を横切す るときの散乱光を測定するものを用いることができる。
が通過するときの電気抵抗の変化を測定するものを用い
ることができる。あるいは、フローセルにレーザ光を照
射し粒子がレーザ光を横切す るときの散乱光を測定するものを用いることができる。
本発明の望ましい実施例では、粒子を含む懸濁溶液が検
出部を通過する際に、電気的変化、または、光学的変化
に基づいて上記懸濁液中の粒子を検出する検出部と、上
記懸濁液中の粒子の体積に比例したパルス状の電気信号
を発生させる検出回路と、上記電気信号に基づいて粒子
の計数を行う計数回路とを有しており、バックグラウン
ドノイズの計数値を許容値内に抑えるように、信号のベ
ースラインレベルを自動的に補正して、微小粒子の計数
を正確に行う補正回路を有する。
出部を通過する際に、電気的変化、または、光学的変化
に基づいて上記懸濁液中の粒子を検出する検出部と、上
記懸濁液中の粒子の体積に比例したパルス状の電気信号
を発生させる検出回路と、上記電気信号に基づいて粒子
の計数を行う計数回路とを有しており、バックグラウン
ドノイズの計数値を許容値内に抑えるように、信号のベ
ースラインレベルを自動的に補正して、微小粒子の計数
を正確に行う補正回路を有する。
第１図および第２図を参照して本発明の一実施例を説明
する。
する。
この例では、検出部４として散乱光検知方式のものを採
用している。第１図において検出回路５の出力信号は、
検出部４を粒子が通過するごとに発生する粒子の体積に
比例したパルス信号であり。
用している。第１図において検出回路５の出力信号は、
検出部４を粒子が通過するごとに発生する粒子の体積に
比例したパルス信号であり。
バックグラウンドノイズによる信号も含まれている。
この信号を増幅回路６によって、適当な増幅率で増幅す
る。そして、比較回路７にて、ノイズ閾値レベル以上の
信号が、粒子によるパルス信号としてノイズと分離され
て出力され、計数回路８で所定容量当りの試料中の粒子
個数を計数し、プリンタ又はＣＲＴ等からなる表示装置
１３に結果を出力する。このような粒子計数を行う際に
は、以下に述べる補正手順によってベースラインの補正
を行う。
る。そして、比較回路７にて、ノイズ閾値レベル以上の
信号が、粒子によるパルス信号としてノイズと分離され
て出力され、計数回路８で所定容量当りの試料中の粒子
個数を計数し、プリンタ又はＣＲＴ等からなる表示装置
１３に結果を出力する。このような粒子計数を行う際に
は、以下に述べる補正手順によってベースラインの補正
を行う。
まず１粒子の計数を行う前に１粒子を含む懸濁溶液を検
出部４に通過させずにバックグラウンドノイズのみを計
数する。このとき、あらかじめバックグラウンドノイズ
の設定回路９に設定しておいたノイズの許容値と、バッ
クグラウンドノイズの計数値との比較を行い、バックグ
ラウンドノイズの計数値の方が多い場合は、ベースライ
ンが変動しているとみなして、許容値内になるように。
出部４に通過させずにバックグラウンドノイズのみを計
数する。このとき、あらかじめバックグラウンドノイズ
の設定回路９に設定しておいたノイズの許容値と、バッ
クグラウンドノイズの計数値との比較を行い、バックグ
ラウンドノイズの計数値の方が多い場合は、ベースライ
ンが変動しているとみなして、許容値内になるように。
補正回路１０を通して増幅回路６にフィードバックをか
け、自動的にベースラインを補正し、バックグラウンド
ノイズを小さくしてから、実際の粒子の計数を行う。
け、自動的にベースラインを補正し、バックグラウンド
ノイズを小さくしてから、実際の粒子の計数を行う。
次に第２図を参照して、補正回路について詳細に述べる
。補正方法は、バックグラウンドノイズの計数値と、あ
らかじめ設定回路９に設定しておいた許容値との差を演
算回路１１にて求め、バックグラウンドノイズの計数値
の方が多い場合、この値をＤ／Ａ変換（Ｄｉｇｉｔａｌ
ｔｏ Ａｎａｒｏｇ変換）回路１２において、その差
に応じた電圧に変換する。
。補正方法は、バックグラウンドノイズの計数値と、あ
らかじめ設定回路９に設定しておいた許容値との差を演
算回路１１にて求め、バックグラウンドノイズの計数値
の方が多い場合、この値をＤ／Ａ変換（Ｄｉｇｉｔａｌ
ｔｏ Ａｎａｒｏｇ変換）回路１２において、その差
に応じた電圧に変換する。
この電圧を増幅回路６にフィードバックし、増幅回路６
で、パルス信号のベースラインから、この電圧を差し引
くことによって、ベースラインを下げ、再度同様に計数
を行い、バックグラウンドノイズの計数値と許容値の差
を求め補正する。以上。
で、パルス信号のベースラインから、この電圧を差し引
くことによって、ベースラインを下げ、再度同様に計数
を行い、バックグラウンドノイズの計数値と許容値の差
を求め補正する。以上。
述べたように、バックグラウンドノイズの計数値が、許
容値以下になるまでベースラインの補正を自動的に繰り
返し行い、ベースラインが一定になったことを確認して
から実際に計数したい粒子を含む懸濁溶液を検出部４に
通過させ、計数を開始する。このような動作はコンピュ
ータで制御し得る。
容値以下になるまでベースラインの補正を自動的に繰り
返し行い、ベースラインが一定になったことを確認して
から実際に計数したい粒子を含む懸濁溶液を検出部４に
通過させ、計数を開始する。このような動作はコンピュ
ータで制御し得る。
また、他の実施例として、第１図の設定回路９の代わり
に、マイクロコンピュータを使って、ノイズの許容値を
設定して、計数個数との差を演算させてもよい。
に、マイクロコンピュータを使って、ノイズの許容値を
設定して、計数個数との差を演算させてもよい。
以上詳述したように、本実施例によれば、必要なときに
オペレータが指示してベースラインの変動等によるバッ
クグラウンドノイズの影響を自動的に補正することによ
って、外部からの影響を除くことができ微小粒子の計数
を精度良く行うことができ１日差再現性等の大幅な向上
が可能となる〔発明の効果〕 本発明によれば、ベースラインレベルが上昇してもベー
スラインを自動的に低減できるので１粒子の計数誤差を
減することができる。
オペレータが指示してベースラインの変動等によるバッ
クグラウンドノイズの影響を自動的に補正することによ
って、外部からの影響を除くことができ微小粒子の計数
を精度良く行うことができ１日差再現性等の大幅な向上
が可能となる〔発明の効果〕 本発明によれば、ベースラインレベルが上昇してもベー
スラインを自動的に低減できるので１粒子の計数誤差を
減することができる。
第１５！ｉｔは本発明の一実施例の構成を説明するため
のブロック線図、第２図は第１図の要部説明図第３図お
よび第４図はベースラインの変動状態を説明するための
図である。 １・・・粒子のパルス信号、２・・・バックグラウンド
ノイズの信号、３・・・閾値レベル、４・・・検出部、
６・・・増幅回路、８・・・計数回路、１０・・・補正
回路。
のブロック線図、第２図は第１図の要部説明図第３図お
よび第４図はベースラインの変動状態を説明するための
図である。 １・・・粒子のパルス信号、２・・・バックグラウンド
ノイズの信号、３・・・閾値レベル、４・・・検出部、
６・・・増幅回路、８・・・計数回路、１０・・・補正
回路。
Claims (1)
- １、微小粒子を含む懸濁試料液が検出部を通過する際に
、その通過に伴つて生ずる電気的変化または光学的変化
に基づいて粒子を計数する微小粒子計数装置において、
上記試料液を含まないキャリヤ液が上記検出部を通過す
るときのバックグラウンドノイズの計数値と、あらかじ
め設定しておいたノイズ許容値とを比較装置で比較し、
上記ノイズ許容値より上記バックグラウンドノイズ計数
値の方が大きいときに増幅装置におけるベースラインを
低減せしめるように構成したことを特徴とする微小粒子
計数装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8019785A JPS61240143A (ja) | 1985-04-17 | 1985-04-17 | 微小粒子計数装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8019785A JPS61240143A (ja) | 1985-04-17 | 1985-04-17 | 微小粒子計数装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61240143A true JPS61240143A (ja) | 1986-10-25 |
Family
ID=13711656
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8019785A Pending JPS61240143A (ja) | 1985-04-17 | 1985-04-17 | 微小粒子計数装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61240143A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006067977A1 (ja) * | 2004-12-21 | 2006-06-29 | Rion Co., Ltd. | 粒子計数器 |
| JP2018532101A (ja) * | 2015-08-12 | 2018-11-01 | アー・ファウ・エル・リスト・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング | 信号パルスを検出するための方法及び装置 |
-
1985
- 1985-04-17 JP JP8019785A patent/JPS61240143A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006067977A1 (ja) * | 2004-12-21 | 2006-06-29 | Rion Co., Ltd. | 粒子計数器 |
| JP2006177687A (ja) * | 2004-12-21 | 2006-07-06 | Rion Co Ltd | 粒子計数器 |
| US7755760B2 (en) | 2004-12-21 | 2010-07-13 | Rion Co., Ltd. | Particle counter for measuring floating particles which can effectively reduce false counts |
| JP2018532101A (ja) * | 2015-08-12 | 2018-11-01 | アー・ファウ・エル・リスト・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング | 信号パルスを検出するための方法及び装置 |
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