JPS61236463A - パタ−ントラツクに沿つて走査ヘツドを追跡する光電装置 - Google Patents

パタ−ントラツクに沿つて走査ヘツドを追跡する光電装置

Info

Publication number
JPS61236463A
JPS61236463A JP61031015A JP3101586A JPS61236463A JP S61236463 A JPS61236463 A JP S61236463A JP 61031015 A JP61031015 A JP 61031015A JP 3101586 A JP3101586 A JP 3101586A JP S61236463 A JPS61236463 A JP S61236463A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scanning
pattern
track
scanning head
scanning pattern
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP61031015A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH07122832B2 (ja
Inventor
クラウス デツカー
イヴアン ポラセク
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ESAB Welding and Cutting GmbH
Original Assignee
ESAB Hancock GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ESAB Hancock GmbH filed Critical ESAB Hancock GmbH
Publication of JPS61236463A publication Critical patent/JPS61236463A/ja
Publication of JPH07122832B2 publication Critical patent/JPH07122832B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23QDETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
    • B23Q35/00Control systems or devices for copying directly from a pattern or a master model; Devices for use in copying manually
    • B23Q35/04Control systems or devices for copying directly from a pattern or a master model; Devices for use in copying manually using a feeler or the like travelling along the outline of the pattern, model or drawing; Feelers, patterns, or models therefor
    • B23Q35/08Means for transforming movement of the feeler or the like into feed movement of tool or work
    • B23Q35/12Means for transforming movement of the feeler or the like into feed movement of tool or work involving electrical means
    • B23Q35/127Means for transforming movement of the feeler or the like into feed movement of tool or work involving electrical means using non-mechanical sensing
    • B23Q35/128Sensing by using optical means

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Control Of Position Or Direction (AREA)
  • Machine Tool Copy Controls (AREA)
  • Manufacture Or Reproduction Of Printing Formes (AREA)
  • Preliminary Treatment Of Fibers (AREA)
  • Threshing Machine Elements (AREA)
  • Feeding Of Articles To Conveyors (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はアドレス指定装置によってサンプル抽出される
走査パターンを形成する一定配列の緊密に隔設される光
検出部材を含み、パターン面の1セクシヨンが構成部上
に影像化されて走査パターンのほぼ横方向成分で走査さ
れ、相互に対して特に直角に向いた2個の移動方向にて
該走査ヘッドの追跡運動を制御するサンプル抽出された
該光検出部材の露光状態の信号から制御信号を生成する
評価装置を有するパターントラックに沿って走査ヘッド
を追跡する光電装置に関する。
〔従来の技術〕
かかる光電装置は例えば光電走査の線引きパタ−ンによ
り工作物を処理する処理機械を制御するために設ける。
特に、アセチレンバーナのバーナ担持台は互いに直角に
指向する座標方向に移動可能である。しかしながらさら
に多くの応用上の可能性を有する構成においては線又は
区域を測定するために線又は輪郭を含む線引きパターン
を走査追跡する走査ヘッドを使用することも考えられる
円回転する光学部材、即ちレンズ又は凹面鏡を包含して
いわゆるサイン−コサインコイル(sine−cosi
ne coil )によって電磁式に駆動する光電装置
の極めて複雑で面倒な構造の欠点を克服するために、走
査ヘッドに連続循環する光学部材を使用しないで作動す
る前記種類の光電装置が既知である。更に詳述すれば、
かかる先行技術の光電装置は、光検出部材に対して固定
した光学装置によってパターン面の1セクシヨンが投影
される円形配列の光検出部材を包含する(米国特許明細
書第4゜160、199号)。円形配列にて正確に間隔
を置いた光検出部材に接続する評価回路によって、走査
パターンが走査線、又は輪郭からそれぞれ取り出される
のは前記角度におけることがわかる。該角度の正弦函数
及び余弦函数から、モータを制御するための信号が形成
され、該信号は走査パターントラックに沿って互いに直
角な二方向において走査ヘッドを追跡する。この結果、
円形又は環状列を成す全ての光検出部材は連続的にサン
プル抽出される。光検出部材の円形配列の固定基準点の
サンプル抽出とパターントラックによってそれぞれ暗く
した光検出部材との間の時間差は、光検出部材の円形配
列がパターントラックから切断される角度の大きさとし
て走査角レジスタに記憶される。
正弦波発生器と走査角レジスタの出力電圧は2種類の電
圧を発生するように処理され、この場合線電圧の1つは
、走査角の正弦に比例し、X軸に駆動モータを駆動させ
、他方の電圧は走査角の余弦に比例してY軸に駆動モー
タを送給する。自動的に追従されるべきパターントラッ
クに対する走査ヘッドの初期調節に関しては、主として
走査角レジスタを複数個の手動操作式スイッチの1つに
よって内容が所望の運動方向例えばX軸の右側方向に相
応するようにリセットする構成を有するインターセプト
回路が既知である。光検出部材列が次に追従すべきパタ
ーントラックをカバーするや否やスイッチは活動停止す
る。配列した光検出部材の形状の切替は考慮されていな
い。更に先行技術の装置には、パターントラックの幅及
び又は該装置によって制御される工具の幅を考慮するた
めに補償回路又は平衡用回路を設けることが出来る。
これによって、サンプル抽出の結果を走査角レジスタに
送給するために、円形に配列した光検出部材を連続して
サンプル抽出する走査レジスタを予&N調節する。該予
備調節は、例えば2個の光検出部材をカバーするパター
ントラックの幅を想定することに基づいて実施される。
しかしながら定置領域型(stationary ar
ea−type)円形配列の全ての光検出部材の連続サ
ンプル抽出は無変化のままである。同様にこのことは、
環状に配列した光検出部材の出力信号を評価する回路配
置によってパターントラックの幅の自動補償にも適用さ
れる。
しかしながら、この方法では、パターントラックに対し
て直角の方向において走査の函数として制御される工具
の処理又は走査を限定的にしか改良し得ない。
更にアドレス指定装置を備えなりが基本的には前記種類
に相応するパターントラックに沿って走査ヘッドを追跡
するための光電装置も存在し、この場合各種実施例にお
いて光検出部材は種々の方法で次々に隣接して固定配置
される。特に、はぼ等しい有効面積を有する複数個の光
電セルは、パターントラックがほぼ横方向の構成分で走
査されるように隣接並置位置に配置される。連続直線配
置に代って、円弧状のセクションの近くにて光検出部材
はオフセットされる(米国特許明細書第3゜852.5
90号)。各々の場合、1種類の配置の各光電セルから
の信号は所定の方法で差動増幅器へ送られ、該増幅器の
出力は再度加算回路に組み入れられる。
かくて光電セルが発する信号は、走査ヘッドを2つの座
標方向へ駆動させるように制御信号を形成するために光
電セルによって形成される走査パターンからパターント
ラックの偏移の方向及び大きさを決定する誘導信号が生
じるように評価される。光検出部材の相互間にて決定さ
れる配置は、走査ヘンドモータによって軸線を中心とし
て、パターン面のセクションへの各照明装置と共に回転
可能である。このように、光電セルの配置は走査ヘッド
の追跡運動の前方へ、すなわち前方オフセット又は速度
前進に間して移動可能である0通常、パターントラック
に沿って走査ヘッドを追跡するための光電装置において
、パターントラックがわずかに彎曲したセクションから
特殊曲率のセクション又は縁へ移動する時一般に、走査
ヘッドによってカバーされるパターントラックの行程の
ために追跡運動を適時減速すべく前記速度前進移動が行
われる。このことによって、走査ヘッド及びそれと連結
する工具が、装置の限定された動特性の故に特に大きな
曲率の範囲又はパターントラックの縁を超えることがあ
ったとしても、すなわち該セクションにおいてパターン
トラックに正確に追従しなくなることがあったとしても
、これは回避できる。曲率がより大きなセクション又は
縁を適時に認識する場合、走査ヘッドは減速した追跡速
度であればパターントラックにこれを超えることなく追
従可能である。従ってこの先行技術の光電装置の場合、
光電セルを走査ヘッド内に定置した構造の走査ヘッドを
回転させることによって機械的に速度前進される。走査
ヘッドのかじ取りモータが必要で、走査ヘッドの照明装
置に給電するための摺動リング又は降様な電流源を介し
て光電セルの信号を移送しなければならない故に、走査
ヘッドの該回転は比較的複雑になっている。更に摺動リ
ングの周知の欠点も考慮しなければならない。
速度前進及び工具の横方向移動、すなわち工具の作動幅
(切断スリット)の修正に関して、偏心軸線を中心に回
転可能な走査ヘッドに変更不可能な配列の光検出部材を
包含し、パターントラックに沿って追跡するための光電
装置の走査ヘッドを設けることも既知である(米国特許
明細書第4.072.301号)、走査ヘッドかじ取り
モータを包含する2個のパラメータに相応する走査ヘッ
ドの特別な該回転可能性を得る精密機械装置は比較的複
雑である。複雑な配置にもかかわらず、走査パターンの
形状が一定状態にとどまる間変位可能なのは光電セル配
列によって形成される走査パターンの位置のみである。
同様にこの先行技術の装置は、処理機械用の電気コピー
制御装置を包含し、この装置は、はぼ横方向の構成分を
有するパターントラックを含む案内セクションを光電走
査する走査ヘッドを備え、パターントラックに対して接
線方向にて走査ヘッドとそれに連結する工具との運動の
ために走査ヘッド制御信号の出力信号から構成される装
置が該走査ヘッドに接続される(西独国特許明細書第2
,505. 296号)。案内セクションの側部には、
マークを含む特別なコードエリアを該パターン上に設け
るが、これは案内セクションから離れて走査ヘッドによ
って走査可能である.コードエリアを走査することによ
って、走査ヘッド及び又は工具に影響する付加的な制御
指令が発せられる.レーザ又はバーナの制御、三方通路
における左一右情報又はパターントラックの交差、工具
交換又は速度変換は前述のことによって付加的に制御可
能である.パターントラックのセクションの走査は、1
個づつ交互に案内セクションとコードエリアを通過し、
そうして得られた走査ヘッドの出方信号が制御装置の異
なるスイッチ段階で評価されるように実施される.案内
セクションとコードエリア(単数又は複数)を別々に走
査するために、走査されるべき案内及びコードエリアに
相応して走査ヘッドの光検出エリアをカバーするダイア
フラムを設けてもよい。走査エリアに機械的ダイアフラ
ムを設ける代りに、光検出エリアのマスキング即ち光検
出エリアをそれぞれ非活性状態にすることは制御装置内
にて電子方式によって得ることが望ましい。パターント
ラックを走査する走査パターンの位置及び形状はいかな
る場合も不変であり、コピー制御装置において特別な作
業パラメータを考慮するために、マークを含む付加的な
コードエリアをバターシに設けなければならず、これに
よってシステムは実質的に一層複雑化する。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従って本発明の目的は、光電走査されるべきパターンに
付加的なコーディングエリア及びマークを設ける必要も
なく、走査ヘッドを追跡する時に従うべき操作パラメー
タ、例えば工具の横方向移動、加速、作業モードの変化
(「インターセプト」及び「追従」)に簡単に適用可能
な前記種類のパターントラックに沿って走査ヘッドを追
跡するための光電装置を提供することである。かくて、
必要であれば、走査ヘッドの正確な追跡とそれに相応し
て工具の確実な案内とが可能となる。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、上記目的を達成するため、アドレス指定装置
によってサンプル抽出される走査パターンを形成する一
定配列の緊密に隔設される光検出部材を含み、パターン
面の1セクシヨンが構成部上に影像化されて走査パター
ンのほぼ横方向成分で走査され、相互に対して特に直角
に向いた2個の移動方向にて該走査ヘッドの追跡運動を
制御するサンプル抽出された該光検出部材の露光状態の
信号から制御信号を生成する評価装置を有するパターン
トラックに沿って走査ヘッドを追跡する光電装置におい
て、上記走査ヘッドの該パターントラックを走査する走
査パターンの形状あるいは位置が、定置領域型(con
stant area−type)配置体にある多数の
光検出部材の中から特定の光検出部材を選択可能にサン
プル抽出することによって変化可能であることを特徴と
する前記光電装置を提供せんとするものである。
〔実施例〕
本発明によれば、走査ヘッドの活性光検出部材によって
表わされてパターントラックをカバーする走査パターン
は、光検出部材を固着した走査ヘッドを相応して機械的
に調節する必要なしに、より多数の光検出部材のエリア
配置の全エリア内にて形状及び又は位置を自由に変化可
能である。極めて精密な光検出部材を平面に配置した半
導体のチップを使用する時、走査パターンの変位は、本
発明によれば、特に走査パターンの速度前進のための追
跡速度差あるいは工具の横方向運動のための工具直径差
を考慮するためにほぼ一定して精巧に段をつけた相応す
る光検出部材をアドレス指定することによって実施され
る。特に閉鎖型又は開口型の円形リング等、所望の走査
パターンの形状は、比較的僅かな経費でほぼ正確に作ら
れる。特殊な光検出部材を製造する必要はなく、むしろ
光検出RAM (ランダムアクセスメモリ)チップやそ
の他電子式画像記録装置に使用されているようなCCD
 (電荷結合)素子の原理に基づいた光検出チップを用
いることができる。本発明で使用する光検出部材は平面
に列及び行を成すように格子型に配置することが望まし
い。光検出全エリアは長方形であることが望ましい。
更に光検出部材を載置するのにRAMチップを使用する
ことが望ましい。各光検出部材又はRAMチップの各記
憶セルは該行程を異なる種々の走査パターンに対し全く
篇単に使用可能となるように個別的に直接アドレス指定
されサンプル抽出される。
CCD素子を包含するチップを使用する場合、固有の系
列にある光検出部材の列を特定して選択することによっ
て(例えば列の全て又は3個のコラムを選択)サンプル
抽出を実施しな(てはならない。かかるチップの場合の
各々の確実な走査パターンを実現するためには、特許請
求の範囲第4項に記載されているように、光検出部材を
平面上に幾何学配置するように等角に構成した付加的な
記憶装置を設け、該記憶装置の記憶セルから、割当てら
れた光検出部材がパターントラックによって露光される
か暗化されるかにかかわらず、直接的アクセスにて情報
をサンプル抽出できる。
該付加的な記憶装置は、該装置の光検出部材の幾何学的
に配置した等角像を生成する時に介在する読取り論理と
共に中間論理を形成し、これによって更に評価するため
の出力信号を発生する。
走査パターン発生器として光検出部材に連結して設ける
アドレス指定装置は、走査パターンに応qて、定1.8
1域型に配置した光検出部材の一連のアドレスを生成し
、これによって光検出部材又は等角記憶装置の記憶セル
を直接サンプル抽出できる。
光検出部材又は等角記憶装置をサンプル抽出することに
よって生成される一連の出力信号を評価するために、形
成装置には平均値が形成され、この結果からそれ自体既
知の方法で走査エリアの縁又はパターントラック(線強
調点)の位置を控除可能である。かくて平均値形成装置
は評価装置に属し、この場合該評価装置はその他に、方
向を認識し、走査ヘッドを追跡するトラックベクトルを
形成する回路構成を包含する。このために、トラックベ
クトルの構成成分から、2種類の移動方向にて互いに直
角に指向して走査ヘッド及び必要に応じて該ヘッドと連
結する工具の追跡運動をなす2個の駆動システムの速度
に対して公称値(noa+1nal value )信
号が形成される。追跡速度はトラックベクトルの大きさ
によって左右される。
本発明の重要な特徴によれば、本発明の装置において、
速度前進に対する追跡運動の方向、及び又は工具を横方
向の変位に対する追跡運動に対して横方向における走査
パターンの変位が、処理機械の制御装置を使用する時、
標準型走査パターンを形成する光検出部材に対する変位
に相応する距離に隔設される多くの定置領域状構成部か
ら光検出部材のサンプル抽出を選択することによって実
施される。標準型パターンを走査することによって、速
度前進と工具の横方向変位のいずれをも生じさせない走
査パターンが光検出部材によって形成されることが理解
される。標準型走査パターンの場合、走査パターン又は
走査パターンを形成する時に生じる曲線の所定点は作業
点に一致する。
この関係において作業点は、走査ヘッドと連結可能な処
理工具の中心が存在する点を構成する。この装置の特に
優れた利点は、速度前進でも工具の横方向変位でもなく
て、特に走査ヘッドを正確に機械調節する装置等の複雑
な機構を必要とせずにむしろ両方の変位が同時に可変調
節可能なことである。
特許請求の範囲第8項に示す光電装置の更に別の実施例
によれば、走査ヘッドの活性光検出部材は、非直線パタ
ーントラックの場合に変化するいずれの搬送方向におい
ても、所定の速度前進にてパターントラックを予め走査
し、常時同一な側方向変位の所定距離にて側部からパタ
ーントラックを走査する。走査ヘッドとそれによって制
御される工具がパターントラックに追従するように、走
査ヘッドが移動しなければならない方向においてトラッ
クベクトルに対して同一の角度で走査ヘッドを常に回転
させるためにパターントラックに対して垂直な軸線のま
わりに走査ヘッドを回転させる走査ヘッドかじ取りモー
タはもはや不必要となる。言い換えれば、本発明によれ
ば、走査パターンシフト論理は、トラックベクトルに対
応してパラメータ化される。前述の如く走査パターンシ
フト論理がもし可能ならば、走査パターンはトラックベ
クトルの位置とは無関係にパターントラックを横方向に
取り出すように構成されているので、比較的少数の活性
光検出部材は信頼性ある追跡のための走査パターンを形
成するようになる。これによって走査速度は増加する。
光電装置によって制御される処理機械の調節可能な工具
の横方向変位に対し、走査パターンシフト論理に工具の
半径に関するデータが送られる。
特許請求の範囲第10項によれば、本発明の光電装置は
、特別な利点を有して走査パターンとして形成されかつ
動作セレクタのモードにて切替可能なアドレス指定装置
によって適合する走査パターンに調節可能である。かく
て、いかなる作業モードにおいても、簡単な装置で走査
が最適化できる。
特に、特許請求の範囲第11項によれば、走査ヘッドの
進行方向において少くとも工具の半径方向へ前進するよ
うな中心を有する正円を生成する走査パターン発生器と
して形成したアドレス指定装置は、作業モード実施行程
中に「インターセプト」を調節できる。この作業モード
において、走査ヘッドは、特にパターントラック又は輪
郭方向にそれぞれ手動により調節可能な制御を更に実施
することによって先ず直線上を前進する。走査パターン
としての正円によって、パターントラックは確実に安全
にカバーされる。このことが実施されるとすぐに、「追
従」モードに切替え可能である。この作業モードにおい
て、走査周波数又は走査速度を増すためには、走査パタ
ーンとして部分円を使用するだけでトラックパターンを
認識するのに充分である。この部分円の円弧は短いが、
パターントラックが彎曲している場合においてさえ両端
が十分パターントラックの幅を越えて突出する程度にし
である。
特許請求の範囲第12項に記載しであるように、本発明
による光電装置の更に他の実施例によれば、走査パター
ン発生器として形成したアドレス指定装置は、時間シフ
トの2種類の走査パターンをかわるがわる生成可能なよ
うに次元寸法決定(dimensioned )される
。第1走査パターンはトラックベクトルの方向に走査ヘ
ッドを追跡するように働き、横方向制御による第2走査
パターンは、該第1走査パターンがパターントラックの
曲率のために作業点の可変な横方向のずれを生じるにも
かかわらず、走査パターントラック上に確実に実際の作
業点を保持する。
本発明の他の特徴及び利点は本発明の実施例を示す添付
の図面を参照して以下に詳述する。
第1図はクレーム切断機械の一部を追跡するための光電
装置の実施例を示す概略平面図である。
機械担持往復台は、走行及び案内トラック2,3上を長
手方向(双方矢印4)に可動な長手方向担持往復台1を
包含する。横方向(双方矢印5)において、横方向担持
往復台7は長手方向往復台のアウトリガ−6上に移動可
能である。長手方向往復台及び横方向往復台を駆動させ
るためには図示しない駆動装置を使用する。
横方向往復台はパターン面又は走査エリア9にわたって
走査ヘッド8を担持する。本発明の場合のバーナにおい
て、工具10.11は横方向往復台上の走査ヘッドに確
実に係止され、例えば走査エリア9のパターントラック
に相応する薄板金を切断するために作業エリア12に案
内される。
第2図はパターントラック13を含むパターン面の1セ
クシヨンを示す。パターントラックは走査ヘッドにそれ
ぞれ生じる走査パターン又は曲線14によって光電走査
される。このために、パターン面のこのセクションは、
走査ヘッドの照明装置によって照明され、該セクション
のパターントラックの画像は、光学装置15を介して(
第3図参照)行と列とに配列されたラスタ型の多数の光
検出部材16を包含する画像面に像を作る。光検出部材
の長方形、エリア型配置体を全体を通して番号17で示
す。
第2図に番号14として示す曲線部は配置体17の能動
光検出部材に相応する。照明状態にある光検出部材によ
ってデータが形成される該連結装置の「活性」光検出部
材はサンプル抽出されて更に処理される。
更に第2図にはパターン面の各光検出部材の投影部を番
号18で示す。かくて走査パターン又は生成曲線14は
、活性の隣接の光検出部材によって概算される。
更に第2図から明らかなことは、走査ヘッド8又は工具
10,11がそれぞれ位置する作業点19は、搬送方向
又は追跡方向にて、それぞれ走査パターンの前進変位2
0を中心に、及び工具の半径又はバーナの半径にそれぞ
れ相応する横方向変位21を中心に走査パターン14で
のパターントラック13の走査が変位する時に、調節で
きる。
該前進変位は速度前進に、横方向変位は工具の横方向変
位に対応する。該前進及び横方向変位によって、作業点
19から発してパターントラック13と交わる走査パタ
ーン14のセクションに到る変位ベクトル22が生じる
。走査ヘッド及びそれと連結する工具をパターントラッ
クに追従可能にするために走査ヘッドが移動しなければ
ならないトラックベクトルは搬送方向への前進変位20
の方向と追跡速度に等しい量を有する。
前述の如く、行と列に配置された光検出部材16の領域
配置体17を有する走査パターン14は、それらが活性
である限り生じる。光検出部材の配置体はRAMチップ
の一部であってもよい。しか叫ながら第3図では、光検
出部材は、ビデオカメラ用に使用されるチップに一般的
に用いられ、又ある期間中に光が各部材に落ちるか否か
について電子的にサンプル抽出され得るいわゆるCOD
 (電荷結合)素子とする。一般にCOD素子は直接側
々にサンプル抽出不可能であるから、全ての光検出CO
D素子のデータは読取り論理23を介していわゆるラス
タ記憶装置24に転送される。ラスタ記憶装置は、該領
域型配置体17の光検出部材のラスタ型エリア配置体に
等角で構成されるが、ラスタ記憶装置の全ての記憶セル
は個別的にサンプル抽出可能である。
第2図に示す走査パターン14の形状及び駆動方向にお
ける前進変位20並びに横方向変位21はラスタ記憶装
置の所定の記憶セルの相応して選択したもののみが、後
で評価するために割当てられた光検出部材の記憶された
照明状態用としてデータ処理するためにサンプル抽出さ
れるように生成される。このために、記憶セルは走査パ
ターンアドレス指定装置25によってサンプル抽出され
る。このために、走査パターンアドレス指定装置25は
記憶セル用のアドレス系列を形成するが、この場合これ
の光検出部材は所望の走査曲線上にあり、これは第2図
の生成曲線14に相応するパターン面に投影するものと
して想定出来る。曲線生成装置は光学装置の補正を含み
、次々に配置される光検出部材は理想的な正方形よりも
むしろ長方形として考えられる。
走査パターンの形状は、走査パターンアドレス指定装置
25に影響するオペレーションセレクタ26のモードに
よって予備設定可能である。この装置によって、「イン
ターセプト」モードのオペレーションの走査パターンと
して正円を調節可能であり、この場合該円の中心は進行
方向において少なくとも1個の工具の半径だけ前進する
。「インターセプト」モードのオペレーションにおいて
、走査ヘッドはパターントラック13がカバーされるま
でパターントラック13の方へ直進する。必要ならば次
にオペレーションセレクタのモードによって、自動的に
「追従」モードのオペレーションに切替可能である。こ
のオペレーションモードにおいて、走査パターンアドレ
ス指定装置によって充分大きな部分円が生成され、これ
により走査ヘッドの追跡運動中、該追跡運動を更に制御
するためにパターントラックは安全にカバーされる。
部分円は比較的短い円弧であることから、走査周波数は
増加される。
前進部20や工具の半径に相応する横方向変位のような
搬送方向における走査パターンの変位は走査パターンシ
フト論理27によって開始され、走査パターンアドレス
指定装置を制御する。走査パターンの変位を得るために
は横方向においてパターントラックを取り出すことが望
ましく、パターントラックのあらゆる運動に対して、ラ
スタ記憶装置2鳴のサンプル抽出記憶セルから評価装置
 ・と共に形成されるトラックベクトルによって走査パ
ターンシフト論理を制御可能である。この制御のために
、データライン29を介してトラックベクトルを形成す
るための回路構成部28の出力の1つは、走査パターン
シフト論理27の入力の1つに接続する。工具の半径人
力3oがらのデータは走査パターンシフト論理の第2人
力に送給可能である。
評価装置は、ラスタ記憶装置の出力によって送給されて
、追跡運動のために方向を認識するための回路構成部3
2とトラックベクトル28を形成する回路構成部を制御
する平均値形成装置31を包含する。トラックベクトル
は、追跡運動の方向の他に追跡速度の量をも含む。更に
回路構成部28は速度の基準値形成装置を包含し、これ
によって駆動システム(ブロック33)は走査工具を走
査ヘッドに追従するように長手方向にまた横方向に搬送
し同時にパターントラックに追従するように搬送する。
【図面の簡単な説明】
第1図は処理機械特に互いに垂直な2種類の座標方向に
て走査ヘッドによって制御される工具として2個のバー
ナを備えるフレーム切断機の一部を示す平面図、第2図
は第1図の工具を制御するために走査されるパターント
ラックを含むパターン面の断面図、第3図はパターント
ラックに従って走査ヘッドと該走査ヘッドと連結する工
具を追跡するための光電装置の概略図である。 8・・・走査ヘッド、14・・・走査パターン、16・
・・光検出部材、17・・・定置領域型配置体、24・
・・ラスタ記憶装置、25・・・アドレス指定装置、2
7・・・走査パターンシフト論理、28,31,32・
・・評価装置。 FIG、 1 FIG、2 図面の浄書(内容に変更なし) 手続補正書(放 昭和61年 5月 9日 特許庁長官 宇 賀 道 部  殿 ]、   IJ(牛の耘 昭和61年愼罹第031015号 2、 発明の名称 パターントラックに沿って走査ヘッドを追跡する光電装
置3、 補正をする者 名称   エサプーハンコツク ゲー エム バー バ
ー4゜代理人

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)アドレス指定装置によってサンプル抽出される走
    査パターンを形成する一定配列の緊密に隔設される光検
    出部材を含み、パターン面の1セクションが構成部上に
    影像化されて走査パターンのほぼ横方向成分で走査され
    、相互に対して特に直角に向いた2個の移動方向にて該
    走査ヘッドの追跡運動を制御するサンプル抽出された該
    光検出部材の露光状態の信号から制御信号を生成する評
    価装置を有するパターントラックに沿って走査ヘッドを
    追跡する光電装置において、上記走査ヘッド(8)の該
    パターントラックを走査する走査パターン(14)の形
    状あるいは位置が、定置領域型(constant a
    rea−type)配置体(17)にある多数の光検出
    部材(16)の中から特定の光検出部材(16)を選択
    可能にサンプル抽出することによって変化可能であるこ
    とを特徴とする前記光電装置。
  2. (2)該光検出部材(16)が縦、横に格子状になった
    平面(配置体17)に構成されることを特徴とする特許
    請求の範囲第1項記載の光電装置。
  3. (3)該光検出部材(16)がRAM(ランダムアクセ
    スメモリ)チップのセルであることを特徴とする特許請
    求の範囲第1項又は第2項記載の光電装置。
  4. (4)該光検出部材(16)の配置体(17)に接続し
    、幾何学的構造を有するように等角に組織したラスタ記
    憶装置(24)を設け、選定した光検出部材(16)の
    露光状態データを該ラスタ記憶装置(24)から直接サ
    ンプル抽出する(ランダムアクセス)ことを特徴とする
    特許請求の範囲第1項又は第2項記載の光電装置。
  5. (5)該配置体(17)の該光検出部材(16)と該ラ
    スタ記憶装置(24)との間に、該光検出部材(16)
    の幾何学構成部(17)の等角像を該ラスタ記憶装置(
    24)に生じさせるように形成した読取り論理を挿入す
    ることを特徴とする特許請求の範囲第4項記載の光電装
    置。
  6. (6)該領域型配置体(17)の走査パターン(14)
    に相応する該光検出部材(16)の一連のアドレスを生
    成する走査パターン発生器として形成されるアドレス指
    定装置(25)を設け、該アドレスによって該光検出部
    材(16)又は等角(conformal)記憶装置の
    記憶セル(ラスタ記憶装置24)が直接サンプル抽出さ
    れることを特徴とする特許請求の範囲第1項乃至第5項
    のいずれかに記載の光電装置。
  7. (7)処理機械を制御するように速度前方移動あるいは
    工具の横方向移動に対する追跡運動の方向あるいは横方
    向に走査パターンをシフトする装置を包含し、標準型走
    査パターンを形成する該光検出部材に対する移動に相応
    する距離に隔設される該定数領域型配置体(17)にあ
    る多数の該光検出部材(16)の中から選択的にサンプ
    ル抽出することによって該移動が得られることを特徴と
    する特許請求の範囲第1項乃至第6項のいずれかに記載
    の光電装置。
  8. (8)該サンプル抽出した光検出部材の露光状態信号か
    ら各トラックベクトルからなる信号を形成する評価装置
    を包含し、追跡速度に相応する該トラックベクトル量だ
    け該装置上で走査ヘッドの追跡運動が生ずる光電装置に
    おいて、該トラックベクトルの信号を発する評価装置(
    28、31、32)の出力が走査パターンシフト論理(
    27)を介して走査パターン発生器として形成したアド
    レス指定装置(25)に接続されるとともに、該走査パ
    ターンシフト論理(27)を走査パターンが横方向にパ
    ターントラック(13)を横切るように構成することを
    特徴とする特許請求の範囲第6項又は第7項記載の光電
    装置。
  9. (9)該光電装置によって制御される処理機械の工具を
    横方向に移動させるために工具の半径データを該走査パ
    ターンシフト論理(27)に送給可能であることを特徴
    とする特許請求の範囲第8項記載の光電装置。
  10. (10)走査パターン発生器として形成される該アドレ
    ス指定装置(25)がオペレーションセレクタ(26)
    のモードによって各種の走査パターンに対し切替可能で
    あることを特徴とする特許請求の範囲第6項乃至第8項
    のいずれかに記載の光電装置。
  11. (11)走査パターン発生器として形成される該アドレ
    ス指定装置(25)が、該走査ヘッドによってパターン
    トラックが検出されるオペレーションモードの進行中に
    、該走査ヘッドの進行方向へ少なくとも工具の半径だけ
    前進しているような中心を有する正円を生成するように
    調節が可能であり、その後で該走査ヘッドがパターント
    ラックに追従するようなオペレーションモードに切替可
    能で、アドレス指定装置(25)が、パターントラック
    を走査してパターントラック(13)を越えて両側へほ
    ぼ横方向に突出する部分円を生成することを特徴とする
    特許請求の範囲第10項記載の光電装置。
  12. (12)走査パターン発生器として形成した該アドレス
    指定装置(25)は、追跡方向にて前方へ第1走査パタ
    ーンに加えて、時間シフト関係にあって実際の作動点(
    19)にてパターントラックを横断する第2走査パター
    ンを生成することを特徴とする特許請求の範囲第6項乃
    至第11項のいずれかに記載の光電装置。
JP61031015A 1985-02-18 1986-02-17 パタ−ントラツクに沿つて走査ヘツドを追跡する光電装置 Expired - Lifetime JPH07122832B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3505525A DE3505525C1 (de) 1985-02-18 1985-02-18 Fotoelektrische Einrichtung zum Nachfuehren eines Abtastkopfes laengs einer Vorlagenbahn
DE3505525.1 1985-02-18

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61236463A true JPS61236463A (ja) 1986-10-21
JPH07122832B2 JPH07122832B2 (ja) 1995-12-25

Family

ID=6262816

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61031015A Expired - Lifetime JPH07122832B2 (ja) 1985-02-18 1986-02-17 パタ−ントラツクに沿つて走査ヘツドを追跡する光電装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4764669A (ja)
EP (1) EP0191950B1 (ja)
JP (1) JPH07122832B2 (ja)
AT (1) ATE75175T1 (ja)
CA (1) CA1299699C (ja)
DE (1) DE3505525C1 (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0616169B2 (ja) * 1987-01-23 1994-03-02 大日本スクリ−ン製造株式会社 画像輪郭線デ−タ作成装置
US4872105A (en) * 1987-03-09 1989-10-03 Vectorvision Corporation Curve following apparatus
US5170047A (en) * 1991-09-20 1992-12-08 Hewlett-Packard Company Optical sensor for plotter pen verification
JPH05277904A (ja) * 1992-03-31 1993-10-26 Koike Sanso Kogyo Co Ltd 倣い方法及び倣い装置
JPH05282030A (ja) * 1992-03-31 1993-10-29 Koike Sanso Kogyo Co Ltd 倣い方法及び倣い装置
US6947802B2 (en) * 2000-04-10 2005-09-20 Hypertherm, Inc. Centralized control architecture for a laser materials processing system
US7186947B2 (en) * 2003-03-31 2007-03-06 Hypertherm, Inc. Process monitor for laser and plasma materials processing of materials
GB2420189B (en) * 2004-10-30 2008-12-17 Ostomart Ltd Cutting apparatus for cutting apertures in stoma appliances
DE102016103113A1 (de) * 2016-02-23 2017-08-24 Vishay Semiconductor Gmbh Optoelektronische Vorrichtung

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3852590A (en) * 1973-06-06 1974-12-03 Stewart Warner Corp Coordinate contour tracer
US4072301A (en) * 1973-08-08 1978-02-07 Stewart-Warner Corporation Tracing head and drive
DE2505296C3 (de) * 1975-02-07 1979-09-13 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Elektrische Kopiersteuerungsvorrichtung für Bearbeitungsmaschinen
US4160199A (en) * 1977-07-05 1979-07-03 Stewart-Warner Corporation Line or pattern following system
JPS592956B2 (ja) * 1979-03-30 1984-01-21 仙北谷 満昭 曲線トレ−ス装置
US4344091A (en) * 1979-05-17 1982-08-10 Ncr Corporation Random access memory imaging system
US4319331A (en) * 1980-01-28 1982-03-09 Nestor Associates Curve follower
JPS57165836A (en) * 1981-04-06 1982-10-13 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Method and apparatus for tracing and recording object to be traced
US4380700A (en) * 1981-06-29 1983-04-19 Union Carbide Corporation Image blanking circuit for line follower
CA1303180C (en) * 1983-06-01 1992-06-09 Enn Vali Pattern tracer using matrix sensor
US4493968A (en) * 1983-07-13 1985-01-15 Caterpillar Tractor Co. Adaptive welder with laser TV-scanner

Also Published As

Publication number Publication date
ATE75175T1 (de) 1992-05-15
JPH07122832B2 (ja) 1995-12-25
EP0191950A3 (en) 1988-05-18
CA1299699C (en) 1992-04-28
DE3505525C1 (de) 1986-04-10
EP0191950B1 (de) 1992-04-22
US4764669A (en) 1988-08-16
EP0191950A2 (de) 1986-08-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5073770A (en) Brightpen/pad II
US4660094A (en) Method for focus adjustment of a picture scanning and recording system
JPS61236463A (ja) パタ−ントラツクに沿つて走査ヘツドを追跡する光電装置
CA2115859A1 (en) Method and apparatus for optimizing sub-pixel resolution in a triangulation based distance measuring device
JPS6121192Y2 (ja)
EP0343004A3 (en) Scanning optical apparatus
US4498109A (en) Picture outline tracing and recording machine
US3840739A (en) Apparatus and method for tracking a raised edge without shadow interference
DE68923414T2 (de) Selbstlaufender Abtaster zum optischen Lesen von Bildern.
US5271345A (en) Device for optically scanning the material being sewn in a sewing machine
US4686359A (en) Picture scanning and recording using a photoelectric focusing system
EP0309069A2 (en) Computerized sewing apparatus
EP0400490A3 (en) Flat bed scanning type image reader
JPS598086A (ja) 直方体状部品の平面形状検出装置
GB1045078A (en) Optical scanning apparatus
US3904869A (en) Focus detecting apparatus
JPS63259511A (ja) 画像記憶装置
CA1177142A (en) Dual scan optical pattern tracer
CA2024893A1 (en) Apparatus and method for scanning by means of a rotatable detector array
Bamba et al. Welding sensor uses structured light and 2D photocell
JP3249629B2 (ja) 自動追尾装置付きヘッドライトテスタ
JPH0534602B2 (ja)
GB1111865A (en) Improvements relating to beamed energy control systems
JPS58157588A (ja) 溶接線位置変化検出方法
KR19990051522A (ko) 원통렌즈와 레이저 스캐너를 이용한 3차원 측정장치