JPS61226633A - 材料の引張試験方法 - Google Patents
材料の引張試験方法Info
- Publication number
- JPS61226633A JPS61226633A JP6735585A JP6735585A JPS61226633A JP S61226633 A JPS61226633 A JP S61226633A JP 6735585 A JP6735585 A JP 6735585A JP 6735585 A JP6735585 A JP 6735585A JP S61226633 A JPS61226633 A JP S61226633A
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- JP
- Japan
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- elongation
- point
- load
- peak
- value
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- Granted
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/08—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying steady tensile or compressive forces
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
主１上夏且旦分■
この発明は、材料の持つ一特性である上降伏点を検出す
る材料の引張試験方法に係り、特に高分子材料などのよ
うに引張試験において二つのピーク荷重点を持つ材料の
上降伏点を検出するに適した材料の引張試験方法に関す
る。
る材料の引張試験方法に係り、特に高分子材料などのよ
うに引張試験において二つのピーク荷重点を持つ材料の
上降伏点を検出するに適した材料の引張試験方法に関す
る。
丈夫＠伎販
軟鋼などの一般の構造用材料における応力−歪曲線は第
３図（ａ）のようになることは知られている。
３図（ａ）のようになることは知られている。
かかる応力−歪曲線において、Ｙｐは上降伏点でありＭ
ｘは最大荷重点を示している。
ｘは最大荷重点を示している。
一方、材料の引張試験において、前記上降伏点ｙｐ及び
最大荷重点Ｍｘをリアルタイムで計測する場合、第３図
（ｂ）に示すように荷重が、ピーク値Ｙｐよりも予め定
められた荷重変化幅６以上減少し、再び前記ピーク値Ｙ
ｐ以上に上昇したときに、該ピー゛り値を上降伏点とし
ている。また最大荷重点Ｍｘは、試験中に荷重が最大と
なった点をもって最大荷重点としている。
最大荷重点Ｍｘをリアルタイムで計測する場合、第３図
（ｂ）に示すように荷重が、ピーク値Ｙｐよりも予め定
められた荷重変化幅６以上減少し、再び前記ピーク値Ｙ
ｐ以上に上昇したときに、該ピー゛り値を上降伏点とし
ている。また最大荷重点Ｍｘは、試験中に荷重が最大と
なった点をもって最大荷重点としている。
（゛シ′ 。占
しかしながら、従来の引張試験方法によれば、第４図に
示すように上降伏点が最大荷重点でもある場合には、上
降伏点のデータを与えないという問題がある。
示すように上降伏点が最大荷重点でもある場合には、上
降伏点のデータを与えないという問題がある。
一方、一般に、第５図に示す高分子材料などのように荷
重ピーク点が二つ現れる材料においては、最初のピーク
点を上降伏点とし、２番目のピーク点を最大荷重点と定
義されている。しかして、同図においてＳ、で示すよう
に、最初の荷重点（Ｐｌ）が２番目の荷重点（Ｐ２ ）
よりも小さい材料を試験する場合には従来方法によって
も問題を生じないが、同図におけるＳ２のように最初の
荷重ピーク点Ｐ１が２番目の荷重ピーク点Ｐ２よりも大
きい材料を試験する場合に、荷重ピーク点Ｐ１を最大荷
重点と判断するために、前述した上降伏点及び最大荷重
点の定義に則したデータを出力しないという問題を生ず
る。
重ピーク点が二つ現れる材料においては、最初のピーク
点を上降伏点とし、２番目のピーク点を最大荷重点と定
義されている。しかして、同図においてＳ、で示すよう
に、最初の荷重点（Ｐｌ）が２番目の荷重点（Ｐ２ ）
よりも小さい材料を試験する場合には従来方法によって
も問題を生じないが、同図におけるＳ２のように最初の
荷重ピーク点Ｐ１が２番目の荷重ピーク点Ｐ２よりも大
きい材料を試験する場合に、荷重ピーク点Ｐ１を最大荷
重点と判断するために、前述した上降伏点及び最大荷重
点の定義に則したデータを出力しないという問題を生ず
る。
この発明は上記の事情に鑑みてなされたもので、高分子
材料などのように二つのピーク点を持つ材料について、
上降伏点及び最大荷重点を定義に則した形でリアルタイ
ムに検出できる材料の引張試験方法を提供することを目
的とする。
材料などのように二つのピーク点を持つ材料について、
上降伏点及び最大荷重点を定義に則した形でリアルタイ
ムに検出できる材料の引張試験方法を提供することを目
的とする。
。 占 ゛ の
上記目的を達成するために、この発明は次のような特徴
を有している。
を有している。
部ち試験片材料の二つの荷重点に対応した伸びの中間値
である基準伸びを予め適宜に設定している。そして、試
験片の引張試験中の荷重及び伸び計測値をサンプリング
し、時々刻々の荷重サンプリングデータに基づいて荷重
ピーク点を検出している。これとともに検出された荷重
ピーク点における伸びが前記基準伸びよりも小さい時は
、その荷重ピーク点を上降伏点として与えるとともに、
検出された荷重ピーク点における伸びが前記基準伸びよ
りも大きい時はその荷重ピーク点を最大荷重点とし与え
ている。
である基準伸びを予め適宜に設定している。そして、試
験片の引張試験中の荷重及び伸び計測値をサンプリング
し、時々刻々の荷重サンプリングデータに基づいて荷重
ピーク点を検出している。これとともに検出された荷重
ピーク点における伸びが前記基準伸びよりも小さい時は
、その荷重ピーク点を上降伏点として与えるとともに、
検出された荷重ピーク点における伸びが前記基準伸びよ
りも大きい時はその荷重ピーク点を最大荷重点とし与え
ている。
■
上述したように試験片材料に応じて予め定められた基準
値伸びを基準とし、これよりも小さい伸びを示している
時の荷重ピーク点を無条件に上降伏点とし、前記基準伸
びよりも大きい伸びを示しているときの荷重ピーク点を
最大荷重点としているので、二つの荷重ピーク点の大小
にかかわりなく前述した定義に則したデータを出力する
ことができる。
値伸びを基準とし、これよりも小さい伸びを示している
時の荷重ピーク点を無条件に上降伏点とし、前記基準伸
びよりも大きい伸びを示しているときの荷重ピーク点を
最大荷重点としているので、二つの荷重ピーク点の大小
にかかわりなく前述した定義に則したデータを出力する
ことができる。
１呈■
第１図はこの発明の一実施例にががる引張試験方法のフ
ローを示した説明図である。これらの処理は通常マイク
ロコンピュータ等によって行われる。
ローを示した説明図である。これらの処理は通常マイク
ロコンピュータ等によって行われる。
まず、ステップＳ１において試験片の引張試験中の荷重
及び伸びの計測値がデータサンプリングされる。ここで
、荷重のサンプリングデータをＬｉ、伸びのサンプリン
グデータをＥｉとする。
及び伸びの計測値がデータサンプリングされる。ここで
、荷重のサンプリングデータをＬｉ、伸びのサンプリン
グデータをＥｉとする。
次に、ステップＳ２において、サンプリングされた伸び
値Ｅｉと予め定められた基準伸びＥＯとの大小が比較さ
れる。基準伸びＥＯは、第２図に示すように二つの荷重
ピーク点を有する材料において、各ピーク点の伸び値の
中間値にあたる伸びを適宜に設定して定められるもので
ある。
値Ｅｉと予め定められた基準伸びＥＯとの大小が比較さ
れる。基準伸びＥＯは、第２図に示すように二つの荷重
ピーク点を有する材料において、各ピーク点の伸び値の
中間値にあたる伸びを適宜に設定して定められるもので
ある。
伸び値Ｅｉが基準伸びＥＯよりも小さい場合には、ステ
ップＳ３に進む。
ップＳ３に進む。
ステップＳ３において、サンプリングされたデータのピ
ーク７Ｔ７ｆｆｆが検出される。そして、このピーク荷
重がこれまでに検出されたピーク値ｔ、ｐよりも大きい
か否かがステップｓ４において判断される。検出された
ピーク値がこれまでのピーク値ｔｐよりも大きい場合に
は該ピークを示した荷重値ＬｉをＬｐ、に置き換える。
ーク７Ｔ７ｆｆｆが検出される。そして、このピーク荷
重がこれまでに検出されたピーク値ｔ、ｐよりも大きい
か否かがステップｓ４において判断される。検出された
ピーク値がこれまでのピーク値ｔｐよりも大きい場合に
は該ピークを示した荷重値ＬｉをＬｐ、に置き換える。
一方、ステップＳ２において伸び値Ｅｉが基準伸びＥＯ
よりも大きいと判断された場合は、ステップＳ６ないし
Ｓ８に進む。ステップｓ６ないしＳ８は前述したステッ
プｓ３ないしｓ５と同様のデータ処理を行い、特にステ
ップｓ８は、検出されたピーク点の荷重値ＬｉをＬｌ）
２に置き換える。
よりも大きいと判断された場合は、ステップＳ６ないし
Ｓ８に進む。ステップｓ６ないしＳ８は前述したステッ
プｓ３ないしｓ５と同様のデータ処理を行い、特にステ
ップｓ８は、検出されたピーク点の荷重値ＬｉをＬｌ）
２に置き換える。
ステップＳ５およびステップｓ８が終了するとステップ
Ｓ９において試験が終了したが否がか判断され、試験が
終了していない場合には再びデータサンプリング（ステ
ップ３１）が行われる。しかして試験が終了されると、
ステップｓ５において更新されたＬｐ＋を上降伏点ｙｐ
として出力するとともに、ステップ８において更新され
たＬＰ２を最大荷重点Ｍｘとして出方する。
Ｓ９において試験が終了したが否がか判断され、試験が
終了していない場合には再びデータサンプリング（ステ
ップ３１）が行われる。しかして試験が終了されると、
ステップｓ５において更新されたＬｐ＋を上降伏点ｙｐ
として出力するとともに、ステップ８において更新され
たＬＰ２を最大荷重点Ｍｘとして出方する。
なお、実際の引張試験装置においては、試験片材料によ
って、データ処理方法を任意に選択するように構成する
ことが望ましい。例えば、一般用材料を引張試験する場
合には、前記した従来のデータ処理方法を用い、また高
分子材料等のように二つのピーク点を持つ材料を引張試
験する場合には、この発明にかかる試験方法を用いるよ
うに構成してもよい。
って、データ処理方法を任意に選択するように構成する
ことが望ましい。例えば、一般用材料を引張試験する場
合には、前記した従来のデータ処理方法を用い、また高
分子材料等のように二つのピーク点を持つ材料を引張試
験する場合には、この発明にかかる試験方法を用いるよ
うに構成してもよい。
血皿少立且
この発明にかかる材料引張試験方法は、試験片材料の二
つのピーク点に対応した伸びの中間値である基準伸びを
予め適宜に設定し、荷重および伸び値の時々刻々のサン
プリングデータを処理することにより、前記基準伸びよ
りも小さい伸び領域において検出されたピーク点を上降
伏点とし、前記基準伸びよりも大きい領域において検出
された荷重ピーク点を最大荷重点として与えているから
、第１番目の荷重点を上降伏点とし、第２番目のピーク
荷重点を最大荷重点とする定義に則したデータをリアル
タイムに与えることができる。
つのピーク点に対応した伸びの中間値である基準伸びを
予め適宜に設定し、荷重および伸び値の時々刻々のサン
プリングデータを処理することにより、前記基準伸びよ
りも小さい伸び領域において検出されたピーク点を上降
伏点とし、前記基準伸びよりも大きい領域において検出
された荷重ピーク点を最大荷重点として与えているから
、第１番目の荷重点を上降伏点とし、第２番目のピーク
荷重点を最大荷重点とする定義に則したデータをリアル
タイムに与えることができる。
第１図はこの発明の一実施例にがかる引張試験方法のフ
ローチャート、第２図は予め設定される基準伸びＥｏの
説明図、第３図は従来方法による上降伏点検出方法の説
明図、第４図は上降伏点と最大荷重点とが一致する場合
の応力−歪曲線、第５図は二つの荷重ピーク点を有する
材料の応力−歪曲線である。 ｙｐ ・・・上降伏点、Ｍｘ ・・・最大荷重点。 特許出願人 株式会社 島津製作所 代理人 弁理士 大 西 孝 治 第１図 第２図 第３図 （ａ） （ｂ） （甲ｒ
ローチャート、第２図は予め設定される基準伸びＥｏの
説明図、第３図は従来方法による上降伏点検出方法の説
明図、第４図は上降伏点と最大荷重点とが一致する場合
の応力−歪曲線、第５図は二つの荷重ピーク点を有する
材料の応力−歪曲線である。 ｙｐ ・・・上降伏点、Ｍｘ ・・・最大荷重点。 特許出願人 株式会社 島津製作所 代理人 弁理士 大 西 孝 治 第１図 第２図 第３図 （ａ） （ｂ） （甲ｒ
Claims (1)
- （１）試験片材料の二つの荷重ピーク点に対応した伸び
の中間値である基準伸びを予め適宜に設定し、試験片の
引張試験中の荷重及び伸び計測値をサンプリングし、時
々刻々の荷重サンプリングデータに基づいて荷重ピーク
点を検出するとともに、検出された荷重ピーク点におけ
る伸びが前記基準伸びよりも小さいときはその荷重ピー
ク点を上降伏点として与える一方、検出された荷重ピー
ク点における伸びが前記基準伸びよりも大きいときはそ
の荷重ピーク点を最大荷重点として与えることを特徴と
する材料の引張試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60067355A JPH0697202B2 (ja) | 1985-03-31 | 1985-03-31 | 材料の引張試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60067355A JPH0697202B2 (ja) | 1985-03-31 | 1985-03-31 | 材料の引張試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61226633A true JPS61226633A (ja) | 1986-10-08 |
| JPH0697202B2 JPH0697202B2 (ja) | 1994-11-30 |
Family
ID=13342622
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60067355A Expired - Lifetime JPH0697202B2 (ja) | 1985-03-31 | 1985-03-31 | 材料の引張試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0697202B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4919828A (ja) * | 1972-06-07 | 1974-02-21 |
-
1985
- 1985-03-31 JP JP60067355A patent/JPH0697202B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4919828A (ja) * | 1972-06-07 | 1974-02-21 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0697202B2 (ja) | 1994-11-30 |
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