JPS61223681A - 方位測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の技術分野］ この発明は到来電波の方位を算出する方位測定装置に係
り、特にその信号品質を算出し得るように改良したもの
に関する。

［発明の技術的背景とその問題点］ 従来より到来電波の方位を測定するには、°ゴニオメー
タの出力信号を受信機で復調し、この復調出力を表示器
に表示して操作者が方位を検出するようにしている。す
なわち、受信機から出力される方位波形は、例えば第３
図中一点鎖線で示すような信号となされており、この信
号はアナログ・デジタル変換（Ａ／Ｄ変換）されて所定
方位毎に量子化される。この量子化された信号は、第３
図に示す如く方位角に対応した方位角データＤＩ　。

Ｄ２　、・・・として表示器上に表示される。この方位
角データＤＩ　、　Ｄ２　、・・・による波形は操作者
により表示器上で目視され、方位波形に対応する方位角
りが読み取られて電波の到来方向が測定される。

したがって、従来の方位測定手段では、最終的な方位測
定を操作者の目測に頼っているため、混信等で信号の品
質が悪い場合には測定誤差が大きく、また迅速な測定を
行なうことが困難であった。

そこで、従来より自動的に方位角を算出し、その信号品
質をも計算によって算出する手段が考えられているが、
信号品質の計算については方位波形データの１周期分を
メモリバッファに記憶させてから信号品質を測定するた
め、メモリ＠量が多く必要であり、また混信等に対処し
ようとすると非常に？！！雄な構成にならざるを得ず、
ざらには演算に多くの時間を必要とする。

［発明の目的］ この発明は上記のような問題を改善するためになされた
もので、量子化された方位波形データの信号品質を算出
する際に演算用のメモリ容量が小さくて済み、かつ短時
間で方位角及び品質を求めることができる方位測定装置
を提供することを目的とする。

［発明の概要］ すなわち、この発明に係る方位測定装置は、方位角対レ
ベルの信号として受信された信号を所定の方位毎に量子
化して方位波形データとして取出し、この方位波形デー
タから方位角データを算出するものにおいて、前記方位
波形データを基準値と比較し、その比較結果を量子化毎
にカウントし、このカウント結果から方位波形データの
良否を判定することにより信号の品質を判定するように
したことを特徴とするものである。

［発明の実施例］ 以下、第１図及び第２図を参照してこの発明の一実施例
を詳細に説明する。

第１図はその構成を示すもので、図中符号１１は受信機
である。この受信機１１には図示しないゴニオメータか
ら出力される受信信号ｆＷを入力すると共に受信周波数
等の受信データｆｏを入力して受信信号ｆｗを復調する
もので、この復調信号はＡ／Ｄ変換回路１２に供給され
る。このＡンＤ変換回路１２は図示しない空中線に設け
られた回転検出器から出力される回転方位角信号を入力
し、この回転方位角信号に基づいて上記復調信号を所定
方位毎に量子化するもので、この量子化された方位波形
データは方位角演算回路１３に供給される。この方位角
演算回路１３は上記回転方位角信号を入力し、この回転
方位角信号に基づいて上記方位波形データから方位角り
を算出するものである。

また、上記Ａ／Ｄ変換回路１２から出力される方位波形
データは比較器１４にも供給される。この比較器１４は
基準値＠３ｒｅｆを入力され、上記方位波′形データの
サンプリング出力レベルＳＤと基準レベル３　ｒｅｔと
を比較して、３ｐ＜３ｒｅｆのとき第１のカウンタ１５
に信号を出力し、ＳＤ≧５ｒｅｆのとき第２のカウンタ
１６に信号を出力するものである。第１のカウンタ１５
はサンプリング出力レベルＳＤが基準レベル３　ｒｅｆ
より小さいときのサンプリング出力個数をカウントし、
第２のカウンタ１６はサンプリング出力レベルＳＤが基
準レベル５ｒｅｆ以上のときのサンプリング出力個数を
カウントするもので、第１及び第２のカウンタ１５．１
６で取出されるカウント結果は判定回路１７に供給され
る。

この判定回路１７は基準レベル３ｒｅｒより小さいサン
プリング信号数と基準レベル５ｒｅｆ以上のサンプリン
グ信号数とをそれぞれある基準個数と比較し、基準個数
以上あるか否かで信号品質く信号波形の良否、雑音の有
無等）を判定するもので、例えばカウンタ１５．１６の
出力が時間的に変動しない場合には信号波形は規則的で
信号品質が良いと判定し、また変動する場合には信号波
形が不良でおると判定するようになされている。尚、両
カウンタ１５．１６の出力の相関関係からも信号品質を
判定することも可能である。その信号品質の判定結果は
、例えば測定方位の信頼度の目安として利用されるもの
である。

すなわち、上記Ａ／Ｄ変換回路１２から方位波形データ
列が第２図に示すように得られたとすると、ＳＤ≧３　
ｒｅｆである期間Ｔ２　、Ｔ４　、Ｔ６で第２のカウン
タ１６が方位波形データ列のサンプリング信号数をカウ
ントし、３Ｄ＜３ｒｅｆである期間ＴＩ　、Ｔ３　、Ｔ
５　、Ｔ７で第１のカウンタ１５が方位波形データ列の
サンプリング信号数をカウントする。このとき判定回路
１１は、これらのカウント値の相関関係により、信号Ｓ
Ｄは不良であると判定する。つまり、信号が良好である
と判定されているときに波形観測を行なえば、信頼性の
ある方位角を容易に求めることができる。

このとき判定回路１７は、信号Ｓ　は不良であると判定
する。つまり、信号が良好であると判定されているとき
に波形観測を行なえば、信頼性のある方位角を容易に求
めることができる。

したがって、上記のように構成した方位測定装置は、電
波の到来方位を算出する際に信号品質も算出することが
できるので、時系列的な観測処理が可能であり、これに
よって測定時間の短縮がなされるものでおる。また、記
憶すべきデータはサンプリング信号数と比較する判定回
路１７の基準個数のみでよいので、メモリ容量は極小ざ
いものでよい。

尚、上記比較器１４に入力する方位波形データとして、
雑音及びレベル変動を抑圧した平均化演算処理等の演算
結果を入力するようにしても同様に実施可能である。

［発明の効果］ 以上のようにこの発明によれば、量子化された方位波形
データの信号品質を算出する際に演算用のメモリ容量が
小ざくて済み、かつ短時間で方位角及び品質を求めるこ
とにできる方位測定装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明に係る方位測定装置の一実施例を示す
ブロック回路構成図、第２図は同実施例の作用を説明す
るための波形図、第３図は方位測定装置の測定手段を説
明するための波形図である。 １１・・・受信機、１２・・・Ａ／Ｄ変換回路、１３・
・・方位角演算回路、１４・・・比較器、１５．１６・
・・カウンタ、１７・・・判定回路。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 方位角対レベルの信号として受信された信号を所定の方
   位毎に量子化して方位波形データとして取出し、この方
   位波形データから方位角データを算出する方位測定装置
   において、前記方位波形データを基準値と比較する比較
   器と、この比較器の比較結果を量子化毎にカウントする
   カウント回路と、このカウント回路のカウント結果から
   方位波形データの良否を判定することにより信号の品質
   を判定する判定回路とを具備したことを特徴とする方位
   測定装置。