JPS61223551A - 超音波顕微鏡 - Google Patents

超音波顕微鏡

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Publication number
JPS61223551A
JPS61223551A JP60063555A JP6355585A JPS61223551A JP S61223551 A JPS61223551 A JP S61223551A JP 60063555 A JP60063555 A JP 60063555A JP 6355585 A JP6355585 A JP 6355585A JP S61223551 A JPS61223551 A JP S61223551A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
point
video signal
dimension
piezo
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60063555A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsuji Ikenaga
池永 勝次
Koshi Umemoto
梅本 講司
Masao Takai
高井 正生
Nobuyuki Nakajima
中島 暢之
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP60063555A priority Critical patent/JPS61223551A/ja
Publication of JPS61223551A publication Critical patent/JPS61223551A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/04Analysing solids
    • G01N29/06Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、超音波顕微鏡に係り、特に走査型において高
い精度の観察を行なうのに好適な超音波顕微鏡に関する
ものである。
〔発明の背景〕
超音波顕微鏡の概略を第7図によって説明する。
近年、I GHzに及ぶ超高周波の音波の発生及び検出
が可能となり、水中で約1μmの音波長が実現でき、紗
超音波を用いて高い分解能を有する4flI像装置が可
能となってきた。IE7図において超音波の集束及び送
受は音波レンズ1により行なっている。該音波レンズ1
の構造は、円柱状の溶融石英等を用いた物質の一面を光
学研磨し、該面の上に上下の電f!3によってはさみサ
ンドウィッチ構造とした該圧電薄膜(例えばZ n O
)2を設けた構成となっている。この圧電n膜2にパル
ス発振器4によって発信したパルス5を印加して超音波
6を発生させている。また、ft波レンズ1の他端部に
は口径0.1111fflψ〜10ffllllψ程度
の凹面の半球穴が形収されている。該半球穴と試料7と
の間には、超音波6を該試料7に伝播させるための媒質
(例えば水) 8が満たされている。
このような構成において、圧?tM1!2によって発生
した超音波6は音波レンズ1内を平面波となって伝播す
る。該平面波が半球穴に達すると、該音波レンズ1を成
す石英と媒質8である水との伝播する音速の差により屈
折作用が生じ、試料7の上面に築束した超音波6を照射
することができる。
逆に試料7から反射されて(る超音波は、音波レンズ1
により集音整相され、平面波となって圧電薄膜2に達シ
7.ここで高周波信号(以下RF倍信号いう)9に変換
される。二のRP信号9を受信MlOで9信しダイオー
ド検波してビデオ信号11に変換して表示装置校の入力
信号として用いている。
二のようにして試料7からの反射超音波を得ているが、
試料7を前記作用と同時に試料台駆動部13によってX
−Y平面内で2次元的に走査させ、該試料7の所定範囲
における状態を表示装置12に表示する構成とな、てい
る。
ところで前述のような超音波顕微鏡に用いられる音波は
、高分解能を得るために100MH8〜IGHzという
超高周波とする。したがって該音波の波長が極めて短く
なるため試料7の上面がわずかに傾斜していでも、該傾
斜による変位のλ/2毎番こ音波が干渉し、麦示装置鴛
の画面に前記干渉による干渉縞が発注する。このため、
該干渉縞によって有効な観察が行なえないという問題が
あった。
この問題は、例えば、試料7の形状を変更したり。
あるいは第8図に示すように他の部材であるブロック1
5に接着する等の対策により解決可能であるが、しかし
、この場合、作業能率が非常に悪いという不具合いが生
じる。
そこで、試料台上に圧電素子等を複数設置し。
該複数の圧電素子を操作して前記干渉縞をな(す方向に
試料を傾斜させる構成が特開昭58−15152号公報
に開示されている。しかし、該構成においては試行錯誤
により画像を形成してその画像な操作者が確認しながら
複数の圧電素子を操作しなければならず、その操作が煩
雑であるという問題がある。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、試料の傾斜制御を自動的に行ない!&
適な試着の保持状態で観察を行なう二とができるととも
に焦点合わせも行う二とができる超音波顕微鏡を提供す
ることにある。
〔発明の概要〕
本発明は音波レンズから受信器を介して得られたビデオ
信号の便化量が試料の傾斜度合によって増減することに
着目しなされたもので、試料の2次元走査方向すなわち
XあるいはY方向においてまず基準となる位置のビデオ
信号変化量を演算するとともに最大輝度点を求めるか、
若しくは任意の位置を最大輝度点となるように焦点合わ
せなした後、その位Sを中心に試料をある方向へ傾斜さ
せた後、前記と同様なビデオ信号変化量を演算するとと
もに前記ビデオ信号変化量とを比較して、その結果が最
少となる方向に試料を傾斜させる構成としたものである
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を1lr1図〜第6図により説
明する。尚、第1図〜IIS図で、第7図と同一符号は
同一部材を示すものである。14 aは試料台14上に
圧電素子17 a 、 17 b 、 18 a 、 
18 bを介して支持される試料傾斜台である。なお、
圧電素子17 a 、 17 b 、 18 a 、 
18 bは印加する電圧によってその軸方向への伸縮量
が変化するものであり、第ビデオ信号と試料台駆動部1
3からの走査位Uデータを入口とし最大輝度点を求めそ
の点を基準にして圧電素子17 a 、  17 b 
、 18 g 、 18 bのZ軸方向の伸縮量−制御
を行なう試料傾斜制御器である。該試料傾斜制御器16
の詳細は第5図にふすように、前記ビデオ信号と走査位
置データの突き合わせを行なうとともに記憶する画像メ
モリ16 mと該画像メモ116 mにおける最大輝度
点を求める演算器16 bとその点を圧電素子17 a
 、 17 b 、 18 a 、 18 bの伸縮量
制御の基準位置に設定する16 cとX方向及びY方向
におけるビデオ信号の変化量絶対値の総和を演算するビ
デオ信号変化量演算器16 dと、#ビデオ信号質化量
値算器16 dからの演算結果を入力として各演算結果
間の差を判定する比較判定器16eと、該比較判定器1
6 eからの判定結果によって圧゛屯素子17 a 、
 17 b 、 18 a 、 18 b ヘの印加電
、圧を制御する指令v制御器16 fとから成っている
このような構成において、先ず試料7を試料傾斜台14
 a上にセットし、試料傾斜制御器16を作動させる音
妨レンズ1の焦点距吋lを音波レンズlをZ方向に移動
させながら撮像して求めてい(と。
走査範囲Sで合焦すなわち最大輝度点がA点に表われる
。しかし、最大輝度かどうかの判定は、J!に2下方に
音波レンズ1を移動させて行なわれ。
例えば下方に△lだけ移動したとすると、最大輝度点A
はA′に移行する。この人を合焦位置として試料傾斜の
基準とし圧電素子17 aとA′点とのX軸方向の寸法
(x1寸法)とA点と圧電素子17 bとのX軸方向の
寸法(x1寸法) との比で圧電素子17a。
17 bのZ軸方向の伸縮量を制御する。試料傾斜台1
4 aとA点の位置関係はX軸方向での試料傾斜台14
 aの中心位iC点、A点との差△Xを求めて決定する
等容易に行なえる。二の時点で受信器10からのビデオ
記号と試料台駆動Staからの走査位置データとが突き
合わされ画像メモリ16 aにl!e!されているので
腋1ilii像メモリ16 a内のビテ゛オ信号の各点
間における変化量絶対値の総和X1をステップS8でビ
デオ信号変化量演算器16 dにより求める。
その結果を比較器IG eに送り、そこで肢位を記憶す
るとともに指令制御器16 fによってステ、プS。
の試料傾斜台14 aを傾ける動作を行なう。そしてこ
の状態で前記と同一部分の撮像を行ない、そのビデオ信
号及び走査位置データを画像メモリ16 gに記憶する
。この状態でステップS3の画像メモリ16 a内のビ
デオ信号の各点間における変化量絶対値の総和X2を求
め、比較器16 eに出力する。腋比較器16 eでは
ステップS4に示すように前記値X返Xgの比較判定を
行なって、その結果を指令制御器164に出力する。訪
指令制御器16 fでは\≧X2の場合、ステップSs
に示すように前回傾けた方向と同じ方向すなわち前記ス
テップS、で試料傾斜台14麿を傾けた方向にさらに傾
けるように圧電素子17a、17bOZ軸方向の伸縮量
を制御する。この状態で前記と同一部分の撮像を行ない
、ビデオ信号及び定査位ぼデータなUM像メモ!716
mに記憶する。
そしてステップS6のビデオ信号変化量演算器16 b
によるビデオ信号の各点における変化量絶対値の総和X
3を求め、比較器16 eに出力する。該比較器16 
eではステップX3の前記値XとXの比較判定を行ない
、その結果を指令制御器16 fに出力する。
該指令制御器16 fにおいてはX2〉X3の場合にス
テップSsの前に戻して該ステップS、以下の動作を実
行させる。またX2≦父3の場合にはステップS、に示
すように前回の試例傾斜台14 aの傾斜量すなわちス
テップSで傾けた傾斜量分だけ元の状態に戻して動作を
完了する。次に前記ステップS4における判定結果が\
〈X2の場合、指令制御器16 fはステップS、に示
すようにステップちで試料傾斜台14 aを傾けるよう
に圧電素子17a、17bOZ軸方向の伸縮量を制御す
る。そして前記同一部分の撮像を行ないビデオ信号と走
査位置データを画像メモリ16 aに記憶させる。この
状態で前記ステップS・と同様にビデオ信号変化量演算
fi16dによる各点間におけるビデオ43号変化量絶
対値の総和Xsを求めて比較器16 eへ出力する。該
比較器16 eでは前記ステップSと同様に前記4IL
XとXの比較判定を行ない、指令1!III御fi16
fに出力する。これ以後の作動については前記ステツブ
シ以後の動作と同じであるが、ステップ5J))らの動
作においてはステップ8.&こ似はスせ虹紅偲勘14コ
ルmlけス嘴内hi If 7テブブS、と同じ方向す
なわちステップS2における傾斜方向の逆に傾けること
となる。
なお、前記記述においては2次元の1方向(X軸方向)
にのみについで説明したが、H記動作を2次元平面内の
直交する2方向cX軸方向、X軸方向)について行なう
ものである。
このような構成によれば試料7からの一走査方向におけ
る反射エコーすなわち受信器10を介して得られるビデ
オ信号の各点間における変化量を最少にすることができ
、試料7を音波レンズ1との相対約定・音締に対して平
行に位置させることができる。したがって精ツの高い観
察が行なえると同時に最大輝度点である合焦位置を基準
としたので焦点合わせも完了している。
また試料7を試料傾斜台14 a上にセヴトし、前記演
算制御を実行させる指令を与えるだ1ヤで該試料フな自
動的に最適観察状態に位置させることができ、その操作
は非常に筒車である。
なお、上記一実施例においては先ず最大輝度点を求めた
が、この他に試料の任意の位〃を設定して2次元走査せ
ずに音波レンズと試料間の距離なZ方向に斐化させ一度
テンタを比幀して最大輝度を求めて焦点合わした徒に、
更6図のフローチャートを)r−実施例での場合と一様
に実行させることで、同様な制御を行なうこともできる
。従って第3図に示すように試料傾斜台14 aの中心
位jCAを傾斜の中心とした場合、任意の位11は。
傾斜完了俊△Aずれた位「となり1葉潰壓離も△I!o
ずれ、実際の観察では任意の点に戻すことはかなりめ人
どうな作tであり贅率が悪くなることを肪止できる。
なお、以上の実施例においては、試料の傾斜状部な使え
る手段とした圧電素子な片いたが、本発明はこれに限定
されず、超音波の周波数が低い場合あるいは試料の傾斜
角度が大きい場合などにはねじ機構等を用いてもよ曵、
それらを併用しても同様な効果が得られる。
〔発明の効果〕
本発明は、以上説明したように、試料の傾斜制御な自動
的に行ない最適な試料の保持状襲で観察を行なうことが
できるとともに焦点合わせも行ならことができるという
効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による超音波顕微鏡の一実施例を示す
試料傾斜台近傍の正面図、第2図は、第1図のアーア視
平面図、第3図は試料の傾斜制御解析図、′@4図は、
試料の傾斜制、御に係る部分の構成図、!J5図は、第
4図の試料傾斜制御器の構成図、!J6図は、試料の傾
斜制御の状況を示すフローチャート、137図は、従来
の超音波顕微鏡の構成図、IJ8図は、従来の試料支持
例を示す断面図である。 1・・・・・・音波レンズ、4・・・・・・パルス発信
器、10・・・・・・受信器、12・・・・・・表示V
pw、13・・・・・・試料台駆動部。 14 a・・・・・・試料傾斜台、16・・・・・・試
料傾斜制御器、17オl凶 第4図 オ6図 オフ図 才δ 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、音波レンズの焦点近傍に置かれた試料からのじょう
    乱音波により該試料を撮像する超音波顕微鏡において、
    前記試料を任意な方向に傾斜させ得る試料傾斜手段と、
    撮像情報を演算して最大輝度点を求め該最大輝度点の位
    置を中心に前記試料の傾きを最少にする方向へ前記試料
    傾斜手段を制御する試料制御器とを具備したことを特徴
    とする超音波顕微鏡。
JP60063555A 1985-03-29 1985-03-29 超音波顕微鏡 Pending JPS61223551A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60063555A JPS61223551A (ja) 1985-03-29 1985-03-29 超音波顕微鏡

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60063555A JPS61223551A (ja) 1985-03-29 1985-03-29 超音波顕微鏡

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61223551A true JPS61223551A (ja) 1986-10-04

Family

ID=13232582

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60063555A Pending JPS61223551A (ja) 1985-03-29 1985-03-29 超音波顕微鏡

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JP (1) JPS61223551A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61259170A (ja) * 1985-05-14 1986-11-17 Olympus Optical Co Ltd 超音波顕微鏡における試料の傾き調整装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61259170A (ja) * 1985-05-14 1986-11-17 Olympus Optical Co Ltd 超音波顕微鏡における試料の傾き調整装置

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