JPS61219812A - 真円度計測プロ−ブを有する計測装置 - Google Patents
真円度計測プロ−ブを有する計測装置Info
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- JPS61219812A JPS61219812A JP6085085A JP6085085A JPS61219812A JP S61219812 A JPS61219812 A JP S61219812A JP 6085085 A JP6085085 A JP 6085085A JP 6085085 A JP6085085 A JP 6085085A JP S61219812 A JPS61219812 A JP S61219812A
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- probe
- measurement
- measuring
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/20—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B5/201—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring contours or curvatures for measuring roundness
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- Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、真円度計測プローブを有する計測装置に係り
、軸や穴等の異なる径の真円度計測を経済的かつ効率的
に行なうのに利用できる。
、軸や穴等の異なる径の真円度計測を経済的かつ効率的
に行なうのに利用できる。
［背景技術とその問題点］
機械加工されたワークの軸や穴等の真円度を計測するに
は、三次元測定機等の計測装置が用いられている。
は、三次元測定機等の計測装置が用いられている。
従来の計測装置では、計測主軸中心からプローブ先端ま
での距＃（回転半径）が異なる複数の真円度計Ｊｌｌｌ
プローブを予め用意しておき、ワークの軸や穴等の径に
応じてそれに適した真円度肝Ｊｌ１１プローブを使用し
て真円度計測を行うようにしている。
での距＃（回転半径）が異なる複数の真円度計Ｊｌｌｌ
プローブを予め用意しておき、ワークの軸や穴等の径に
応じてそれに適した真円度肝Ｊｌ１１プローブを使用し
て真円度計測を行うようにしている。
しかし、予め複数の真円度肝４１１プローブを用意して
おくことは経済的負担が大きく、かつそれらをストック
するためのスペースを確保しなければ−ならないので、
装置の大型化を招く問題があった。更に、ワークの径が
異なる都度、プローブ交換を行わなければならないので
、作業能率が極めて悪かった。
おくことは経済的負担が大きく、かつそれらをストック
するためのスペースを確保しなければ−ならないので、
装置の大型化を招く問題があった。更に、ワークの径が
異なる都度、プローブ交換を行わなければならないので
、作業能率が極めて悪かった。
［発明の目的］
ローブを有する計測装置を提供することにある。
［問題点を解決するための手段および作用］そのため、
本発明では、回転可能な計測主軸が予め設定された手順
に従って多次元力向へ自動的に移動される計測機本体と
、この計測機本体の計測主軸に着脱自在に装着されるプ
ローブ本体、このプローブ本体に前記計測主軸の軸線に
対して直交する方向へ移動可能に設けられかつ送りねじ
軸の回動により移動されるアナログ変位検出器および送
りねじ軸に回転を伝達する回転伝達手段を含む真円度計
測プローブと、この真円度計ａｌ＋ｌグローブのアナロ
グ変位検出器の検出端から前記計測主軸の中心軸までの
半径を記憶する記憶手段と、前記計測機本体の一部に設
けられ前記真円度計測プローブの回転伝達手段と係合す
る他方の回転伝達手段を有する回転駆動装置と、被測定
物の計測径に応じて与えられる指令半径と前記記憶手段
に記憶された真円度計測プローブの現在の半径との差を
求め、真円度肝ｆｌ１１プローブの回転伝達手段が前７
ｉ＞回転駆動装置の回転伝達手段に係合した状態にお１
いて、前記差に相当する場だけ前記回転駆動装置、を駆
動させる制御装置と、を具備したことを特徴としている
。
本発明では、回転可能な計測主軸が予め設定された手順
に従って多次元力向へ自動的に移動される計測機本体と
、この計測機本体の計測主軸に着脱自在に装着されるプ
ローブ本体、このプローブ本体に前記計測主軸の軸線に
対して直交する方向へ移動可能に設けられかつ送りねじ
軸の回動により移動されるアナログ変位検出器および送
りねじ軸に回転を伝達する回転伝達手段を含む真円度計
測プローブと、この真円度計ａｌ＋ｌグローブのアナロ
グ変位検出器の検出端から前記計測主軸の中心軸までの
半径を記憶する記憶手段と、前記計測機本体の一部に設
けられ前記真円度計測プローブの回転伝達手段と係合す
る他方の回転伝達手段を有する回転駆動装置と、被測定
物の計測径に応じて与えられる指令半径と前記記憶手段
に記憶された真円度計測プローブの現在の半径との差を
求め、真円度肝ｆｌ１１プローブの回転伝達手段が前７
ｉ＞回転駆動装置の回転伝達手段に係合した状態にお１
いて、前記差に相当する場だけ前記回転駆動装置、を駆
動させる制御装置と、を具備したことを特徴としている
。
［実施例］
第１図は本発明の計測装置の一実施例を示している。同
図において、ベッドｌの上面後部には。
図において、ベッドｌの上面後部には。
案内溝２に沿ってサドル３が駆動装置４の駆動によりベ
ッドｌの左右方向（Ｘ４ｄｌ方向）へ移動自在に設けら
れている。前記駆動装置４は、前記ベッドｌのＥ面にＸ
軸方向に沿って回転可能に支持されかつ前記サドル３と
螺合する送りねじ軸５と、この送りねじ軸５を回転させ
るモータ６とから構成されている。
ッドｌの左右方向（Ｘ４ｄｌ方向）へ移動自在に設けら
れている。前記駆動装置４は、前記ベッドｌのＥ面にＸ
軸方向に沿って回転可能に支持されかつ前記サドル３と
螺合する送りねじ軸５と、この送りねじ軸５を回転させ
るモータ６とから構成されている。
また、前記サドル３の上面には、案内溝１２に沿ってコ
ラム１３が駆動装置１４の駆動によりベッド１の前後方
向（Ｘ軸方向）へ移動自在に設けられている。前記駆動
装置１４は、前記サドル３の−Ｆ面にＸ軸方向に沿って
回転＝ｒ能に支持されかつ前記コラム１３と螺合する送
りねじ軸１５と、この送りねじ軸１５を回転させるモー
タ１６とから構成されている。
ラム１３が駆動装置１４の駆動によりベッド１の前後方
向（Ｘ軸方向）へ移動自在に設けられている。前記駆動
装置１４は、前記サドル３の−Ｆ面にＸ軸方向に沿って
回転＝ｒ能に支持されかつ前記コラム１３と螺合する送
りねじ軸１５と、この送りねじ軸１５を回転させるモー
タ１６とから構成されている。
また、前記コラム１３には、図示しない案内をム１３に
Ｙ軸方向に沿って回転可能に支持されかつ前記主軸頭２
１と螺合する送りねじ軸２５と、この送りねじ軸２５を
回転させるモータ２６とから構成されている。
Ｙ軸方向に沿って回転可能に支持されかつ前記主軸頭２
１と螺合する送りねじ軸２５と、この送りねじ軸２５を
回転させるモータ２６とから構成されている。
更に、前記主軸頭２１には、先端に複数種の計測プロー
ブ２２１〜２２、＋、２２ｎを選択的に装着する計測主
軸２３が回転可能に支持されている。ここにおいて、以
上説明したベッドｌ、サドル３、コラム１３、主軸頭２
１、計測主軸２３およびこれらの駆動装置４，１４．２
４により、計測機本体３０が構成されている。
ブ２２１〜２２、＋、２２ｎを選択的に装着する計測主
軸２３が回転可能に支持されている。ここにおいて、以
上説明したベッドｌ、サドル３、コラム１３、主軸頭２
１、計測主軸２３およびこれらの駆動装置４，１４．２
４により、計測機本体３０が構成されている。
一方、前記ベッド１の上面前部には、予め複数種の計測
ズａ−ブ２２．〜２２４，２２ｎをストックしそれを選
択的に前記計測主軸２３へ取付ける計測プローブ自動交
換装置３１と、較正スタンド３２とがそれぞれ設けられ
ている。計測プローブ自動交換装置３１は、複数種の計
測プローブ２２１〜２２４．２２ｎを予め保持する複数
のプローブストッカ３３１〜３３５を有し、これらと、
その計測プローブ２２１のプローブストッカ３３１と空
のプローブストッカ３３５とがト昇される。この状態に
おいて、計測主軸２３に装着されている計測プローブ２
２ｎが空のプローブストッカ３３５に保持された後、計
Δ１４主軸２３の三次元方向への移動によりプローブス
ト−ｙ力３３＋の計測プローブ２２１が計測主軸２３へ
装着される。この後、上昇したプローブストッカ３３１
。
ズａ−ブ２２．〜２２４，２２ｎをストックしそれを選
択的に前記計測主軸２３へ取付ける計測プローブ自動交
換装置３１と、較正スタンド３２とがそれぞれ設けられ
ている。計測プローブ自動交換装置３１は、複数種の計
測プローブ２２１〜２２４．２２ｎを予め保持する複数
のプローブストッカ３３１〜３３５を有し、これらと、
その計測プローブ２２１のプローブストッカ３３１と空
のプローブストッカ３３５とがト昇される。この状態に
おいて、計測主軸２３に装着されている計測プローブ２
２ｎが空のプローブストッカ３３５に保持された後、計
Δ１４主軸２３の三次元方向への移動によりプローブス
ト−ｙ力３３＋の計測プローブ２２１が計測主軸２３へ
装着される。この後、上昇したプローブストッカ３３１
。
３３５が元の位置まで下降され、一連のプローブ交換が
終了する。
終了する。
前記複数の計測プローブ２２１〜２２４，２２ｎのうち
、真円度計測プローブ２２２は、第２図に示す如く、プ
ローブ本体４１と、このプローブ本体４１に移動機構４
２を介してプローブ本体４１の軸線を通りかつその軸線
に対して直交する方向へ移動自在に取付けられた電気マ
イクロ等のアナログ変位検出器４３とを含む。
、真円度計測プローブ２２２は、第２図に示す如く、プ
ローブ本体４１と、このプローブ本体４１に移動機構４
２を介してプローブ本体４１の軸線を通りかつその軸線
に対して直交する方向へ移動自在に取付けられた電気マ
イクロ等のアナログ変位検出器４３とを含む。
前記移動機構４２は、前記プローブ本体４１の先端面に
箱体８１が固定され、この箱体８１内にウオームホイー
ル８４が固定されているとともに、中間部分に前記箱体
８１に図示しないガイドを介して送りねじ軸８３と同方
向へ移動可能に設けられた可動ブロック８５が螺合され
ている。可動ブロック８５には、略コ字型のブラケット
８６を介して前記アナログ変位検出器４３が取付けられ
ている。これにより、送りねじ軸８３が回動されると、
可動ブロック８５がその送りねじ軸８３の軸方向へ移動
するので、プローブ本体４１（７）中心からアナログ変
位検出器４３のスタイラス４３Ａ先端、つまり検出端ま
での距離が変化される。
箱体８１が固定され、この箱体８１内にウオームホイー
ル８４が固定されているとともに、中間部分に前記箱体
８１に図示しないガイドを介して送りねじ軸８３と同方
向へ移動可能に設けられた可動ブロック８５が螺合され
ている。可動ブロック８５には、略コ字型のブラケット
８６を介して前記アナログ変位検出器４３が取付けられ
ている。これにより、送りねじ軸８３が回動されると、
可動ブロック８５がその送りねじ軸８３の軸方向へ移動
するので、プローブ本体４１（７）中心からアナログ変
位検出器４３のスタイラス４３Ａ先端、つまり検出端ま
での距離が変化される。
また、前記ウオームホイール８４には、そのボス部分に
前記箱体８１内に一定の回動抵抗をもって回動可能に設
けられた摩擦車８７が摺接されているとともに、ｔＭ車
部分にウオームギヤ８８が噛合されている。ウオームギ
ヤ８８の軸８９は、第３図に示す如く、両端がベアリン
グ９０を介して前記箱体４１内に回転自在に支持され、
かつ一端また。前記プローブ本体４１は、）バＪ記計７
１１１主軸２３の先端にその中心軸と同軸上に嵌合され
るテーパシャンク５１を有する第１の筒部５２と、この
第１の筒部５２に連結された第２の筒部５３と、この７
５２の筒部５３の開口端に装着された端板５４とを含む
。前記第１の筒部５２には、その基端に前記テーパシャ
ンク５１が前記計測主軸２３に装着された際その計測主
軸２３内のチャックに係１ヒされる係止ピン５６が設け
られているとともに、外周面に回転トランスの二次側５
７が設けられている。
前記箱体８１内に一定の回動抵抗をもって回動可能に設
けられた摩擦車８７が摺接されているとともに、ｔＭ車
部分にウオームギヤ８８が噛合されている。ウオームギ
ヤ８８の軸８９は、第３図に示す如く、両端がベアリン
グ９０を介して前記箱体４１内に回転自在に支持され、
かつ一端また。前記プローブ本体４１は、）バＪ記計７
１１１主軸２３の先端にその中心軸と同軸上に嵌合され
るテーパシャンク５１を有する第１の筒部５２と、この
第１の筒部５２に連結された第２の筒部５３と、この７
５２の筒部５３の開口端に装着された端板５４とを含む
。前記第１の筒部５２には、その基端に前記テーパシャ
ンク５１が前記計測主軸２３に装着された際その計測主
軸２３内のチャックに係１ヒされる係止ピン５６が設け
られているとともに、外周面に回転トランスの二次側５
７が設けられている。
ここで、他の計測プローブ２２＋ 、２２３．２２４
．２２１１についても、真円度計測プローブ２２２と同
様に回転トランスの二次側が設けられている。そして、
これらが計測主軸２３に装着された状態において、回転
トランスの二次側５７と対応する計測主軸２３の内周面
には回転トランスの一次側が設けられ、この回転トラン
スの一次側および二次側を通じて、後述するＮＣ装置６
２と各軸用の真円度マスク１０１と大川の真円度マスク
１０２とがそれぞれ設けられているとともに、下部に真
円度計測プローブ２２２の半径確認用の較正ゲージ１０
３と真円度計測プローブ２２２の半径調整装置１０４と
がそれぞれ設けられている。
．２２１１についても、真円度計測プローブ２２２と同
様に回転トランスの二次側が設けられている。そして、
これらが計測主軸２３に装着された状態において、回転
トランスの二次側５７と対応する計測主軸２３の内周面
には回転トランスの一次側が設けられ、この回転トラン
スの一次側および二次側を通じて、後述するＮＣ装置６
２と各軸用の真円度マスク１０１と大川の真円度マスク
１０２とがそれぞれ設けられているとともに、下部に真
円度計測プローブ２２２の半径確認用の較正ゲージ１０
３と真円度計測プローブ２２２の半径調整装置１０４と
がそれぞれ設けられている。
前記軸用の真円度マスタ１０１は、径の異なる円盤が径
の大きいものから順に積み重ねられた形状に形成されて
いる。また、前記大川の真円度マスタ１０２は、中心軸
方向へ向って径が段階的に小さくなる穴が順次形成され
ている。更に、前記較正ゲージ１０３は、上下面間の幅
寸法Ｂが一定寸法に正確に仕上げられたブロックゲージ
によって構成されている。
の大きいものから順に積み重ねられた形状に形成されて
いる。また、前記大川の真円度マスタ１０２は、中心軸
方向へ向って径が段階的に小さくなる穴が順次形成され
ている。更に、前記較正ゲージ１０３は、上下面間の幅
寸法Ｂが一定寸法に正確に仕上げられたブロックゲージ
によって構成されている。
前記半径調整装置１０４は、第５図に示す如く、較正ス
タンド３２の計測主軸２３と対向する面側に筒１１１の
基端が固定されている。筒１１１には、その内部中心方
向に沿って２つのベアリング１１２を介して回転軸１１
３が回転自在に支持されているとともに、先端にＬ字型
のプラケッ突出された先端側に前記真円度計測プローブ
２２２のカップリング９１と係合する回転伝達手段とし
てのカップリング１１７が軸方向へ変位可能に設けられ
ている。カップリング１１７は、スプリング１１８によ
り第５図中左方へ付勢され、常時は回転軸１１３の先端
のストッパ１１９に当接されている。また、前記ブラケ
ット１１４には、その垂直部分に半径調整量の上下限を
検出する２つの近接スイッチ１２０，１２１を有する検
出器１２２が取（１けられているとともに、水平部分に
両カップリング９１．１１７の保合状態を検出する状態
検出器としての第１および第２の近接スイッチ１２３．
１２４が設けられている。
タンド３２の計測主軸２３と対向する面側に筒１１１の
基端が固定されている。筒１１１には、その内部中心方
向に沿って２つのベアリング１１２を介して回転軸１１
３が回転自在に支持されているとともに、先端にＬ字型
のプラケッ突出された先端側に前記真円度計測プローブ
２２２のカップリング９１と係合する回転伝達手段とし
てのカップリング１１７が軸方向へ変位可能に設けられ
ている。カップリング１１７は、スプリング１１８によ
り第５図中左方へ付勢され、常時は回転軸１１３の先端
のストッパ１１９に当接されている。また、前記ブラケ
ット１１４には、その垂直部分に半径調整量の上下限を
検出する２つの近接スイッチ１２０，１２１を有する検
出器１２２が取（１けられているとともに、水平部分に
両カップリング９１．１１７の保合状態を検出する状態
検出器としての第１および第２の近接スイッチ１２３．
１２４が設けられている。
第１．第２の近接スイッチ１２３，１２４は、７第６図
に示す如く、カップリング９１，１１７の異なる状態を
それぞれ検知することができる。即ち、第６図（Ａ）に
示す如く、カップリング９１．１１７が正しく係合した
状％Ｊでは、第１の近接スイッチ１２３がオン、第２の
近接スイッチｌに抗して変位するので、第１．第２の近
接スイッチ１２３．１２４が共にオンとなる。更に、第
６図（Ｃ）に示す如く、カップリング１１７に対してカ
ップリング９１が接していない状態では、第１、第２の
近接スイッチ１２３，１．２４は共にオフとなる。従っ
て、第１の近接スイッチ１２３がオンで、かつ第２の近
接スイッチ１２４がオフであれば、カップリング９１，
１１７が正しく係合−した状態と判定することができる
。この判定は。
に示す如く、カップリング９１，１１７の異なる状態を
それぞれ検知することができる。即ち、第６図（Ａ）に
示す如く、カップリング９１．１１７が正しく係合した
状％Ｊでは、第１の近接スイッチ１２３がオン、第２の
近接スイッチｌに抗して変位するので、第１．第２の近
接スイッチ１２３．１２４が共にオンとなる。更に、第
６図（Ｃ）に示す如く、カップリング１１７に対してカ
ップリング９１が接していない状態では、第１、第２の
近接スイッチ１２３，１．２４は共にオフとなる。従っ
て、第１の近接スイッチ１２３がオンで、かつ第２の近
接スイッチ１２４がオフであれば、カップリング９１，
１１７が正しく係合−した状態と判定することができる
。この判定は。
第１．第２の近接スイッチ１２３，１２４からの信号を
入力とするＮＣ装置６２において行なわれる。
入力とするＮＣ装置６２において行なわれる。
ＮＣ装置６２は、第７図に示す如く、前記第１、第２の
近接スイッチ１２３，１２４が共にオンしたときゲート
回路６４を通じて前記半径調整９ｉ１０４のパルスモー
タ１１６を駆動するパルスモータドライブ回路６５へ微
速回転指令を与える一方、前記第１の近接スイッチ１２
３がオンで、かつ第２の近接スイッチ１２４がオフのと
きゲート回路６３を通じて前記パルスモータドライつ第
２の近接スイッチ１２４がオフのとき開放されるように
なっている。ゲート回路６４は、第１、第２の近接スイ
ッチ１２３，１２４が共にオンのとき開放されるように
なっている。
近接スイッチ１２３，１２４が共にオンしたときゲート
回路６４を通じて前記半径調整９ｉ１０４のパルスモー
タ１１６を駆動するパルスモータドライブ回路６５へ微
速回転指令を与える一方、前記第１の近接スイッチ１２
３がオンで、かつ第２の近接スイッチ１２４がオフのと
きゲート回路６３を通じて前記パルスモータドライつ第
２の近接スイッチ１２４がオフのとき開放されるように
なっている。ゲート回路６４は、第１、第２の近接スイ
ッチ１２３，１２４が共にオンのとき開放されるように
なっている。
また、ＮＣ装置６２には、前記真円度計測プローブ２２
２からのタッチ信号によって開放されるゲート回路６６
を通じて、サドル３のＸ軸方向の位置、コラム１３のＸ
軸方向の位置および主軸頭２１のＹ軸方向の位置を検出
するフィードバックスケール６７からの座標データが与
えられているとともに、計測プローブからの検出信号が
与えられている。これによってＮＣ装置６２内へ取込ま
れた各種計測データは、記憶装置６８内へ記憶される。
２からのタッチ信号によって開放されるゲート回路６６
を通じて、サドル３のＸ軸方向の位置、コラム１３のＸ
軸方向の位置および主軸頭２１のＹ軸方向の位置を検出
するフィードバックスケール６７からの座標データが与
えられているとともに、計測プローブからの検出信号が
与えられている。これによってＮＣ装置６２内へ取込ま
れた各種計測データは、記憶装置６８内へ記憶される。
記憶装置６８には、計測機本体を制御する各種データを
記憶するエリア等のほか、２つの座標データ記憶エリア
７１１．７１２．真円度計測プローブ２２２の現在の半
径ｒを記憶している半径記憶エリア７２、較正ゲージ１
０３の上下面間の幅−ｊ法Ｂを記憶しているノ＾憎値記
憶エリア７の計１１＋１１プローブ２２＋〜２２４．２
２ｎが選択的に計測主軸２３に取付けられ、ワークの寸
法や形状等が自動的に計測されていく過程において、ワ
ークの真円度計測の工程に進むと、ＮＣ装置６２により
、第８図のフローチャートに示す処理が行なわれる。
記憶するエリア等のほか、２つの座標データ記憶エリア
７１１．７１２．真円度計測プローブ２２２の現在の半
径ｒを記憶している半径記憶エリア７２、較正ゲージ１
０３の上下面間の幅−ｊ法Ｂを記憶しているノ＾憎値記
憶エリア７の計１１＋１１プローブ２２＋〜２２４．２
２ｎが選択的に計測主軸２３に取付けられ、ワークの寸
法や形状等が自動的に計測されていく過程において、ワ
ークの真円度計測の工程に進むと、ＮＣ装置６２により
、第８図のフローチャートに示す処理が行なわれる。
即ち、まず、半径調整量の算出が行なわれる。
これには、記憶装置６８の半径記憶エリア７２に記憶さ
れた真円度計測プローブ２２２の現在の≠径ｒと被測定
物の軸径や穴径等によって指令された指令半径Ｒとの差
（Ｒ−ｒ）が求められる。続いて、計測主軸２３に指定
された真円度針ａｌｌｌプローブ２２２が取付けられた
後、半径調整装置１０４の半径調整位置、つまり真円度
計測プローブ２２２のカップリング９１が半径調整装置
１０４のカップリングｌ １．７°と係合する位置へ移
動され、ここでカップリング９１，１１７との係合が正
常であるか否かが判断される。
れた真円度計測プローブ２２２の現在の≠径ｒと被測定
物の軸径や穴径等によって指令された指令半径Ｒとの差
（Ｒ−ｒ）が求められる。続いて、計測主軸２３に指定
された真円度針ａｌｌｌプローブ２２２が取付けられた
後、半径調整装置１０４の半径調整位置、つまり真円度
計測プローブ２２２のカップリング９１が半径調整装置
１０４のカップリングｌ １．７°と係合する位置へ移
動され、ここでカップリング９１，１１７との係合が正
常であるか否かが判断される。
この判断に当っては、第１の近接スイッチ１２ルスモー
ク１１６が微速回転される。パルスモータ１１６が微速
回転すると、真円度計測プローブ２２２の送りねじ８３
のウオームホイール８４が摩擦車８７によって回動抵抗
が与えられているので、カップリング９１に対してカッ
プリング１１７が回転し、両カップリング９１，１１７
が正しく係合される。
ク１１６が微速回転される。パルスモータ１１６が微速
回転すると、真円度計測プローブ２２２の送りねじ８３
のウオームホイール８４が摩擦車８７によって回動抵抗
が与えられているので、カップリング９１に対してカッ
プリング１１７が回転し、両カップリング９１，１１７
が正しく係合される。
カップリング９１，１１７の係合が正常であると、パル
スモータ１１６は微速回転が停止された後、所定量つま
り前記半径調整量の算出で求められた差に相当する歇だ
け回転される。これにより、パルスモータ１１６の回転
はカンプリング９１．１１７を介して！ｂ８９へ伝達さ
れる。すると、軸８９のウォームキャ８８およびウオー
ムホイール８４を介して送りねじ軸８３が回転するので
、可動ブロック８５の移動に伴ってアナログ変位検出器
４３が計測主軸２３の中心軸線に対して直交する方向へ
移動される。つまり、計測主軸２３の中心軸線からアナ
ログ変位検出器４３の検出端までの距＃（＋径）が調整
される。
スモータ１１６は微速回転が停止された後、所定量つま
り前記半径調整量の算出で求められた差に相当する歇だ
け回転される。これにより、パルスモータ１１６の回転
はカンプリング９１．１１７を介して！ｂ８９へ伝達さ
れる。すると、軸８９のウォームキャ８８およびウオー
ムホイール８４を介して送りねじ軸８３が回転するので
、可動ブロック８５の移動に伴ってアナログ変位検出器
４３が計測主軸２３の中心軸線に対して直交する方向へ
移動される。つまり、計測主軸２３の中心軸線からアナ
ログ変位検出器４３の検出端までの距＃（＋径）が調整
される。
同席計測プローブ２２２が較正ゲージ１０３の」二面に
当接すると、そこからタッチ信号がゲート回路６６へ与
えられるので、ゲート回路６６を通じてフィードバック
スケール６７の座標データＡ１がＮＣ装置６２へ取込ま
れ、更に記憶装置６８の座標データ記憶エリア７１＋へ
記憶される。続いて、計測主軸２３が１８０度回転した
後、主軸頭２１がＹ軸方向へ上昇される。すると、真円
度計測プローブ２２２が較正ゲージ１０３の下面に当接
され、そこからタッチ信号がゲート回路６６へ与えられ
るので、ゲート回路６６を通じてフィードバックスケー
ル６７の座標データＡ２がＮＣ装置６２へ取込まれ、更
に記憶装置６８の座標データ記憶エリア７１２へ記憶さ
れる。
当接すると、そこからタッチ信号がゲート回路６６へ与
えられるので、ゲート回路６６を通じてフィードバック
スケール６７の座標データＡ１がＮＣ装置６２へ取込ま
れ、更に記憶装置６８の座標データ記憶エリア７１＋へ
記憶される。続いて、計測主軸２３が１８０度回転した
後、主軸頭２１がＹ軸方向へ上昇される。すると、真円
度計測プローブ２２２が較正ゲージ１０３の下面に当接
され、そこからタッチ信号がゲート回路６６へ与えられ
るので、ゲート回路６６を通じてフィードバックスケー
ル６７の座標データＡ２がＮＣ装置６２へ取込まれ、更
に記憶装置６８の座標データ記憶エリア７１２へ記憶さ
れる。
ここで、座標データ記憶エリア７１＋ 、７１２の座
標データＡＩ、Ａ２と基準値記憶エリア７４の較正ゲー
ジ幅Ｂとから半径が計算される。つまり、（ＩＡＩ −
Ａ２１＋Ｂ）／２により半径ｒｉが求められる。求めら
れた半径ｒｉは、記憶装置−シて、真円度計測ルーチン
の処理が行なわれや・ 真円度計測ルーチンでは、真円度計測プローブ２２２が
ワークの軸または穴中心へ位置された後、計測主軸２３
の回転により行なわれる。この計測による真円度測定デ
ータはＮＣ装置６２内へ取込まれた後、通常と同様に処
理される。。
標データＡＩ、Ａ２と基準値記憶エリア７４の較正ゲー
ジ幅Ｂとから半径が計算される。つまり、（ＩＡＩ −
Ａ２１＋Ｂ）／２により半径ｒｉが求められる。求めら
れた半径ｒｉは、記憶装置−シて、真円度計測ルーチン
の処理が行なわれや・ 真円度計測ルーチンでは、真円度計測プローブ２２２が
ワークの軸または穴中心へ位置された後、計測主軸２３
の回転により行なわれる。この計測による真円度測定デ
ータはＮＣ装置６２内へ取込まれた後、通常と同様に処
理される。。
従って、本実施例によれば、被測定物の軸や穴の径が異
なるものであっても、予め複数の真円度計測プローブを
用意しておかなくてもよいので。
なるものであっても、予め複数の真円度計測プローブを
用意しておかなくてもよいので。
経済的であり、またその都度プローブの交換を行なわな
くてもよいので、真円度計測を効率的にか行うことがで
きる。
くてもよいので、真円度計測を効率的にか行うことがで
きる。
また、真円度計測プローブ２２２には、カップリング９
１を有する移動機構４２を設け、計測機本体３０の一部
にパルスモータ１１６を有する半径調整装置１０４を設
けたので、有効計測半径が異なる複数の真円度計・測プ
ローブを用意した場合でも、半径調整装置１０４を共用
できる利点がある。つまり、このことは、各真円度計測
ブローブグ９１と半径調整装置１０４のカップリング１
１７との係合状態を検出する近接スイッチ１２３゜１２
４を設け、この近接スイッチ１２３，１２４によってカ
ップリング９１，１１７の係合状態が正常であることが
検出されたことを条件として。
１を有する移動機構４２を設け、計測機本体３０の一部
にパルスモータ１１６を有する半径調整装置１０４を設
けたので、有効計測半径が異なる複数の真円度計・測プ
ローブを用意した場合でも、半径調整装置１０４を共用
できる利点がある。つまり、このことは、各真円度計測
ブローブグ９１と半径調整装置１０４のカップリング１
１７との係合状態を検出する近接スイッチ１２３゜１２
４を設け、この近接スイッチ１２３，１２４によってカ
ップリング９１，１１７の係合状態が正常であることが
検出されたことを条件として。
半径調整装置１０４のパルスモータ１１６を所定機駆動
させるようにしたので、カップリング９１．１１７の係
合状態が異常なまま駆動されることがないので４半径調
整を正確かつ確実に行なうことができる。
させるようにしたので、カップリング９１．１１７の係
合状態が異常なまま駆動されることがないので４半径調
整を正確かつ確実に行なうことができる。
しかも、カップリング９１．１１７の係合状態が正常で
ない場合では、カップリング１１７を微速回転させるよ
うにしたので、カップリングの係合状態を容易に正常な
状態へ修正できる。
ない場合では、カップリング１１７を微速回転させるよ
うにしたので、カップリングの係合状態を容易に正常な
状態へ修正できる。
更に、較正ゲージ１０３を設け、この較正ゲージ１０３
によって確認された真円度計測プローブの半径が許容値
内であることを条件として、真円度計測を行なうように
したので、真円度計４１ｇを高粘度に行なうことができ
る。
によって確認された真円度計測プローブの半径が許容値
内であることを条件として、真円度計測を行なうように
したので、真円度計４１ｇを高粘度に行なうことができ
る。
なお、実施に当って、計Ｊｉｌｔ主軸２３の移動軸につ
いては、上記実施例で述べた三次元に限られるものでな
く、例えば被ＪＩＩＪ定物を三次元の一軸方向へ移動自
在にすれば、他の二軸方向へ移動できればよい。
いては、上記実施例で述べた三次元に限られるものでな
く、例えば被ＪＩＩＪ定物を三次元の一軸方向へ移動自
在にすれば、他の二軸方向へ移動できればよい。
また、上記実施例では、カップリング９１，１１７の係
合状態を２つの近接スイッチ１２３，１２４により検知
するようにしたが、例えば一方のカップリングの谷の部
分に圧力スイッチを設け、この圧力スイッチが他方のカ
ップリングの山によってオンされるようにすれば、より
簡単である。
合状態を２つの近接スイッチ１２３，１２４により検知
するようにしたが、例えば一方のカップリングの谷の部
分に圧力スイッチを設け、この圧力スイッチが他方のカ
ップリングの山によってオンされるようにすれば、より
簡単である。
［発明の効果］
以上の通り、本発明によれば、１つの真円度計測プロー
ブによって異なる径の真円度を経済的かつ効率的に計測
できる真円度計測プローブを有する計測装置を提供する
ことができる。
ブによって異なる径の真円度を経済的かつ効率的に計測
できる真円度計測プローブを有する計測装置を提供する
ことができる。
図は本発明の計測装置の一実施例を示すもので、第１図
は全体の外観を示す斜視図、第２図は真円度計測プロー
ブを示す断面図、第３図は第２第６図は近接スイッチの
作用を示す説明図、第７図は回路構成を示すブロック′
図、第８図はフローチャートである。 ２２、・・・真円度計測プローブ、２３・・・計測主軸
、３０・・・計測機本体、４１・・・プローブ本体、４
３・・・アナログ変位検出器、６２・・・制御装置とし
てのＮＣ装置、８３・・・送りねじ軸、９１・・・回転
伝達手段としてのカップリング、１０３・・・較正ゲー
ジ、１１６・・・回転駆動装置としてのパルスモータ、
１１７・・・回転伝達手段としてのカップリンク、１２
３，１２４・・・状態検出器としての第１゜第２の近接
スイッチ。 特許出願人 工業技術院長 等々力 達第１図 第４図 第５図 第６図 ＋Ａ） （Ｂ） １２３−［１日−″１２４ （Ｃ１ 第７図
は全体の外観を示す斜視図、第２図は真円度計測プロー
ブを示す断面図、第３図は第２第６図は近接スイッチの
作用を示す説明図、第７図は回路構成を示すブロック′
図、第８図はフローチャートである。 ２２、・・・真円度計測プローブ、２３・・・計測主軸
、３０・・・計測機本体、４１・・・プローブ本体、４
３・・・アナログ変位検出器、６２・・・制御装置とし
てのＮＣ装置、８３・・・送りねじ軸、９１・・・回転
伝達手段としてのカップリング、１０３・・・較正ゲー
ジ、１１６・・・回転駆動装置としてのパルスモータ、
１１７・・・回転伝達手段としてのカップリンク、１２
３，１２４・・・状態検出器としての第１゜第２の近接
スイッチ。 特許出願人 工業技術院長 等々力 達第１図 第４図 第５図 第６図 ＋Ａ） （Ｂ） １２３−［１日−″１２４ （Ｃ１ 第７図
Claims (4)
- （１）回転可能な計測主軸が予め設定された手順に従っ
て多次元力向へ自動的に移動される計測機本体と、 この計測機本体の計測主軸に着脱自在に装着されるプロ
ーブ本体、このプローブ本体に前記計測主軸の軸線に対
して直交する方向へ移動可能に設けられかつ送りねじ軸
の回動により移動されるアナログ変位検出器および送り
ねじ軸に回転を伝達する回転伝達手段を含む真円度計測
プローブと、 この真円度計測プローブのアナログ変位検出器の検出端
から前記計測主軸の中心軸までの半径を記憶する記憶手
段と、 前記計測機本体の一部に設けられ前記真円度計測プロー
ブの回転伝達手段と係合する他方の回転伝達手段を有す
る回転駆動装置と、 被測定物の計測径に応じて与えられる指令半径と前記記
憶手段に記憶された真円度計測プローブの現在の半径と
の差を求め、真円度計測プローブの回転伝達手段が前記
回転駆動装置の回転伝達手段に係合した状態において、
前記差に相当する量だけ前記回転駆動装置を駆動させる
制御装置と、 を具備したことを特徴とする真円度計測プローブを有す
る計測装置。 - （２）特許請求の範囲第１項において、前記真円度計測
プローブの回転伝達手段と前記回転駆動装置の回転伝達
手段との係合状態を検出する状態検出器を設け、この状
態検出器からの信号により係合状態の正常が検出された
ことを条件として、前記回転駆動装置を駆動させるよう
に前記制御装置を構成したことを特徴とする真円度計測
プローブを有する計測装置。 - （３）特許請求の範囲第２項において、前記状態検出器
からの信号により係合状態の異常が検出された際、前記
回転駆動装置を微速回転させるように前記制御装置を構
成したことを特徴とする真円度計測プローブを有する計
測装置。 - （４）特許請求の範囲第１項ないし第３項のいずれかに
おいて、前記真円度計測プローブの半径調整量を確認す
るための較正ゲージを設け、この較正ゲージによって確
認された真円度計測プローブの半径が予め設定された許
容値内であることを条件として、真円度計測を行なうよ
うに前記制御装置を構成したことを特徴とする真円度計
測プローブを有する計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6085085A JPS61219812A (ja) | 1985-03-27 | 1985-03-27 | 真円度計測プロ−ブを有する計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6085085A JPS61219812A (ja) | 1985-03-27 | 1985-03-27 | 真円度計測プロ−ブを有する計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61219812A true JPS61219812A (ja) | 1986-09-30 |
Family
ID=13154261
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6085085A Pending JPS61219812A (ja) | 1985-03-27 | 1985-03-27 | 真円度計測プロ−ブを有する計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61219812A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006305725A (ja) * | 2006-06-26 | 2006-11-09 | Nissin Kogyo Co Ltd | 成形型のワーク形成面の仕上げ加工方法 |
| JP2006349411A (ja) * | 2005-06-14 | 2006-12-28 | Toshiba Mach Co Ltd | キャリブレーションゲージ |
| CN102679939A (zh) * | 2012-05-11 | 2012-09-19 | 浙江师范大学 | 一种偏心轴零件的圆度检测方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS559132A (en) * | 1978-07-07 | 1980-01-23 | Nippon Seiko Kk | Method of detecting angular error at measuring needle point in measuring circle or arc, etc. |
| JPS57142510A (en) * | 1981-02-27 | 1982-09-03 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | Measuring device for inner and outer diameters |
| JPS6050408A (ja) * | 1983-08-30 | 1985-03-20 | Ando Electric Co Ltd | 振動による測定誤差を少なくした座標測定機 |
-
1985
- 1985-03-27 JP JP6085085A patent/JPS61219812A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS559132A (en) * | 1978-07-07 | 1980-01-23 | Nippon Seiko Kk | Method of detecting angular error at measuring needle point in measuring circle or arc, etc. |
| JPS57142510A (en) * | 1981-02-27 | 1982-09-03 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | Measuring device for inner and outer diameters |
| JPS6050408A (ja) * | 1983-08-30 | 1985-03-20 | Ando Electric Co Ltd | 振動による測定誤差を少なくした座標測定機 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006349411A (ja) * | 2005-06-14 | 2006-12-28 | Toshiba Mach Co Ltd | キャリブレーションゲージ |
| JP2006305725A (ja) * | 2006-06-26 | 2006-11-09 | Nissin Kogyo Co Ltd | 成形型のワーク形成面の仕上げ加工方法 |
| JP4486944B2 (ja) * | 2006-06-26 | 2010-06-23 | 日信工業株式会社 | 成形型のワーク形成面の仕上げ加工方法 |
| CN102679939A (zh) * | 2012-05-11 | 2012-09-19 | 浙江师范大学 | 一种偏心轴零件的圆度检测方法 |
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