JPS61216143A - 光学ヘツド - Google Patents
光学ヘツドInfo
- Publication number
- JPS61216143A JPS61216143A JP60056779A JP5677985A JPS61216143A JP S61216143 A JPS61216143 A JP S61216143A JP 60056779 A JP60056779 A JP 60056779A JP 5677985 A JP5677985 A JP 5677985A JP S61216143 A JPS61216143 A JP S61216143A
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- JP
- Japan
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- signal
- light
- circuit
- tracking error
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- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、光デイスクファイル装置などの光学ヘッド
に関するものである。
に関するものである。
従来の技術
従来この種の光学ヘッドの光学系は、例えば第３図のよ
うな構成になっている。
うな構成になっている。
すなわち、半導体レーザ１から出た光束２はコリメータ
レンズ３によって平行光となり、偏光ビームスプリッタ
４、およびに波長板５．絞りレンズ６を通って、光ディ
スク７Ａのトラック８Ａ上に光スポラ）９Ａとして集束
される。ｙＢ 、８Ｂ 、９Ｂは各々光ディスク？Ａ。
レンズ３によって平行光となり、偏光ビームスプリッタ
４、およびに波長板５．絞りレンズ６を通って、光ディ
スク７Ａのトラック８Ａ上に光スポラ）９Ａとして集束
される。ｙＢ 、８Ｂ 、９Ｂは各々光ディスク？Ａ。
トラック８Ａ、光スポツ）９Ａの側面図である。光スポ
ラ）９Ａはトラック８Ａ上に照射された後、反射され、
再び絞りレンズ６を通って平行光となり、阿波長板６を
経て、偏向ビームスプリッタ４によって反射分離され、
′光束１０Ａとして紙面の右方向に進む。光束１０Ａは
ミラー１１Ａによって半分が射射され、光束１２Ａとな
ってトラッキングエラー検出器１３Ａに照射される。光
束１０Ａの残りの光束は集光レンズ１４Ａによって絞シ
込まれ、フォーカレンズエラー検出器１６に照射される
。フォーカシングエラー検出器１６は紙面に」二下に２
分割されたフォトダイオードであり、ミラー１１Ａをナ
イフェツジと呼ばれる遮光板とする、いわゆるナイフェ
ツジ方式のフォーカシングエラー検出方法の例を示して
いる。１０Ｂは光束１０Ａの断面を示し、点線１４Ｂが
絞りレンズ１４Ａの位置を、点線１１Ｂがミラー１１Ａ
の位置を各々碧ます。
ラ）９Ａはトラック８Ａ上に照射された後、反射され、
再び絞りレンズ６を通って平行光となり、阿波長板６を
経て、偏向ビームスプリッタ４によって反射分離され、
′光束１０Ａとして紙面の右方向に進む。光束１０Ａは
ミラー１１Ａによって半分が射射され、光束１２Ａとな
ってトラッキングエラー検出器１３Ａに照射される。光
束１０Ａの残りの光束は集光レンズ１４Ａによって絞シ
込まれ、フォーカレンズエラー検出器１６に照射される
。フォーカシングエラー検出器１６は紙面に」二下に２
分割されたフォトダイオードであり、ミラー１１Ａをナ
イフェツジと呼ばれる遮光板とする、いわゆるナイフェ
ツジ方式のフォーカシングエラー検出方法の例を示して
いる。１０Ｂは光束１０Ａの断面を示し、点線１４Ｂが
絞りレンズ１４Ａの位置を、点線１１Ｂがミラー１１Ａ
の位置を各々碧ます。
光束１０Ｂ内の斜線部１６．１７は、光ディスク７Ｂに
設けられたトランク８Ｂの繰り返しがあたかも回折格子
として作用することによって生じる。
設けられたトランク８Ｂの繰り返しがあたかも回折格子
として作用することによって生じる。
０次回折光を±１次回折光との重なり合う部分であり、
トラッキングエラーに応じて干渉効果により光強度が変
化する部分である。１３Ｂはトラッキングエラー検出器
１３Ａの上面図であり、２分割されたフォトダイオード
で、ここに光束１２Ａが１２Ｂで示されるように照射さ
れる、いわゆるファーフィールド方式と呼ばれるトラッ
キングエ□ ラー検出方法となっている（特願
昭６９−．１ ’ １２７９６７号の従来例）。
トラッキングエラーに応じて干渉効果により光強度が変
化する部分である。１３Ｂはトラッキングエラー検出器
１３Ａの上面図であり、２分割されたフォトダイオード
で、ここに光束１２Ａが１２Ｂで示されるように照射さ
れる、いわゆるファーフィールド方式と呼ばれるトラッ
キングエ□ ラー検出方法となっている（特願
昭６９−．１ ’ １２７９６７号の従来例）。
第４図は第３図の従来の光学ヘッドにおけるＲＦ倍信号
フォーカシングエラー信号、トラッキングエラー信号の
検出回路の構成を示す図である。図において１３０，１
３Ｄはトラッキングエラー検出器であｐ、１５Ａ、１５
Ｂはフォーカシングエラー検出器である。図におけるＲ
Ｆ信号回路１８で検出器１３Ｃ，１３Ｄ、１５Ａ、１５
Ｂの和信号を作成しＦＥ信号回路（フォーカスエラー信
号回路）１９でフォーカシングエラー検出器１５Ａ。
フォーカシングエラー信号、トラッキングエラー信号の
検出回路の構成を示す図である。図において１３０，１
３Ｄはトラッキングエラー検出器であｐ、１５Ａ、１５
Ｂはフォーカシングエラー検出器である。図におけるＲ
Ｆ信号回路１８で検出器１３Ｃ，１３Ｄ、１５Ａ、１５
Ｂの和信号を作成しＦＥ信号回路（フォーカスエラー信
号回路）１９でフォーカシングエラー検出器１５Ａ。
１５Ｂの差信号を作成し、ＴＥ信号回路（トラッキング
エラー信号回路）２０でトラッキングエラー検出器１３
Ｃ，１３Ｄの差信号を作成する。
エラー信号回路）２０でトラッキングエラー検出器１３
Ｃ，１３Ｄの差信号を作成する。
発明が解決しようとする問題点
このような従来の光学ヘッドでは、検出器１３Ｃ１１３
Ｄ、１５Ａ、１５Ｂの出力である微弱源流変化を図中の
抵抗により電圧変化として取り出し、ＲＦ信号回路１８
とＦＥ信号回路１９．ＴＥ信号回路２０に分岐している
。ここでのＦＥ信号回路１９とＴＥ信号回路２ｏは電圧
増幅する差動アンプである。出力に乗るオフセット電圧
に厳しい精度が要求されるため、特に温度ドリフトに対
して高品位の高価な回路が必要となる。
Ｄ、１５Ａ、１５Ｂの出力である微弱源流変化を図中の
抵抗により電圧変化として取り出し、ＲＦ信号回路１８
とＦＥ信号回路１９．ＴＥ信号回路２０に分岐している
。ここでのＦＥ信号回路１９とＴＥ信号回路２ｏは電圧
増幅する差動アンプである。出力に乗るオフセット電圧
に厳しい精度が要求されるため、特に温度ドリフトに対
して高品位の高価な回路が必要となる。
そこで、本発明はＲＦ倍信号分岐せずに独立して取り出
すことによって、ＦＥ信号回路１９とＴＥ信号回路２ｏ
の温度ドリフト精度を緩和して、よシ簡素で安価な回路
構成を実現させられるようにするものであり、併せてＲ
Ｆ倍信号品質を劣化させないようにするものである。
すことによって、ＦＥ信号回路１９とＴＥ信号回路２ｏ
の温度ドリフト精度を緩和して、よシ簡素で安価な回路
構成を実現させられるようにするものであり、併せてＲ
Ｆ倍信号品質を劣化させないようにするものである。
問題点を解決するだめの手段
そして上記問題点を解決するための本発明の技術的な手
段は、不均等な光量比率に振幅分割する１個のビームス
プリッタと、ＴＥ倍信号ＲＦ倍信号を独立して検出可能
な多分割光検出素子とを用いて、ＲＦ倍信号所定の光量
比率で、回路的に独立して検出を行なわせるものである
。
段は、不均等な光量比率に振幅分割する１個のビームス
プリッタと、ＴＥ倍信号ＲＦ倍信号を独立して検出可能
な多分割光検出素子とを用いて、ＲＦ倍信号所定の光量
比率で、回路的に独立して検出を行なわせるものである
。
作 用
この手段による作用は次のようになる。すなわち前記ビ
ームスプリッタによってフォカシングエラー検出器側へ
向かう光束とトラッキングエラー検出器側へ向かう光束
とを分離でき、フォーカシ６へ一／ ングエラー検出器側への光量を必要最少限に押さえられ
る。そして、トラッキングエラー検出器側に向かう光束
に対して、前記多分割光検出素子を用いてＲＦ信号検出
用の受光頓域とトラッキングエラー検出用の受光領域を
配分することにより、トラッキングエラー検出のだめの
光量を必要最少限に押さえられる。これらによってＲＦ
信号検出用の必要光量を十分に確保して設定でき、各々
の回路も独立させられるため、ＴＥ信号回路、ＦＥ信号
回路は電圧変換して分岐する必要がなくなる。
ームスプリッタによってフォカシングエラー検出器側へ
向かう光束とトラッキングエラー検出器側へ向かう光束
とを分離でき、フォーカシ６へ一／ ングエラー検出器側への光量を必要最少限に押さえられ
る。そして、トラッキングエラー検出器側に向かう光束
に対して、前記多分割光検出素子を用いてＲＦ信号検出
用の受光頓域とトラッキングエラー検出用の受光領域を
配分することにより、トラッキングエラー検出のだめの
光量を必要最少限に押さえられる。これらによってＲＦ
信号検出用の必要光量を十分に確保して設定でき、各々
の回路も独立させられるため、ＴＥ信号回路、ＦＥ信号
回路は電圧変換して分岐する必要がなくなる。
その結果、ＴＥ信号回路とＦＥ信号回路の温度ドリフト
精度を緩和することが可能となり、より安価な回路構成
が実現できる上、ＲＦ倍信号品質を十分確保させること
ができる。
精度を緩和することが可能となり、より安価な回路構成
が実現できる上、ＲＦ倍信号品質を十分確保させること
ができる。
実施例
以下、本発明の実施例を添付図面にもとづいて説明する
。第１図は本発明の実施例における光学ヘッドの光学系
の斜視図である。同図において、光源である半導体レー
ザ３０から出た光束３１は、コリメータレンズ３２によ
って平行光３３となり偏光ビームスリッタ３４．全反射
ミラー３５、および２波長板３６．絞りレンズ３７を通
って、光デイスク上のトラック３８上に光束３９のよう
に集束される。トラック３８からの反射光束は再び絃り
レンズ３７．阿波長板３６．全反射ミラー３５を経て、
偏光ビームスプリンタ３４を反射してビームスプリンタ
３９に入射し、光束４０と光束４１に分割される。ビー
ムスプリッタ３９は光束４゜と光束４１の光量比率を例
えば２：８に分割する。
。第１図は本発明の実施例における光学ヘッドの光学系
の斜視図である。同図において、光源である半導体レー
ザ３０から出た光束３１は、コリメータレンズ３２によ
って平行光３３となり偏光ビームスリッタ３４．全反射
ミラー３５、および２波長板３６．絞りレンズ３７を通
って、光デイスク上のトラック３８上に光束３９のよう
に集束される。トラック３８からの反射光束は再び絃り
レンズ３７．阿波長板３６．全反射ミラー３５を経て、
偏光ビームスプリンタ３４を反射してビームスプリンタ
３９に入射し、光束４０と光束４１に分割される。ビー
ムスプリッタ３９は光束４゜と光束４１の光量比率を例
えば２：８に分割する。
４２．４３は各々凸球面を有する集光レンズである。集
光レンズ４２は光束４ｏの半分を光スポット４４に絞り
込み、集光レンズ４３は光束４ｏの残りの半分を光スポ
ット４５に絞シ込む。つまり、集光レンズ４２．４３は
所定の位置に光スポット４４．４５を絞り込めるように
、レンズ中心をずらして切り出すか、あるいは平凸球面
レンズの平面を傾斜させて作成して偏光作用を持たせる
などして設ける。４６Ａ、４７Ａ、４８Ａ、４９Ａは光
スボノ）４４．４５が照射されるフォーカシングエラー
検出器であり、４分割光検出素子から成る。なおこのフ
ォーカシングエラー検出方式は、２個のナイフェツジ方
式を一体化した刃出となっている。５０Ａ 、５１ Ａ
、、５２Ａは光束４１がファーフィールド像のま捷で照
射される分割光検出素子であり、５０Ａ、５１Ａがトラ
ッキングエラー検出器、５２ＡがＲＦ信号検出器である
。トラッキングエラーの検出方式はファーフィールド方
式となっており、ＲＦ信号検出器５２Ａとトラッキング
エラー検出器５０Ａ、５１Ａの受光面積比率は例えば３
：１の割合で設定する。
光レンズ４２は光束４ｏの半分を光スポット４４に絞り
込み、集光レンズ４３は光束４ｏの残りの半分を光スポ
ット４５に絞シ込む。つまり、集光レンズ４２．４３は
所定の位置に光スポット４４．４５を絞り込めるように
、レンズ中心をずらして切り出すか、あるいは平凸球面
レンズの平面を傾斜させて作成して偏光作用を持たせる
などして設ける。４６Ａ、４７Ａ、４８Ａ、４９Ａは光
スボノ）４４．４５が照射されるフォーカシングエラー
検出器であり、４分割光検出素子から成る。なおこのフ
ォーカシングエラー検出方式は、２個のナイフェツジ方
式を一体化した刃出となっている。５０Ａ 、５１ Ａ
、、５２Ａは光束４１がファーフィールド像のま捷で照
射される分割光検出素子であり、５０Ａ、５１Ａがトラ
ッキングエラー検出器、５２ＡがＲＦ信号検出器である
。トラッキングエラーの検出方式はファーフィールド方
式となっており、ＲＦ信号検出器５２Ａとトラッキング
エラー検出器５０Ａ、５１Ａの受光面積比率は例えば３
：１の割合で設定する。
以上のように構成された実施例について、以下にその動
作の説明を続ける。第２図は第１図の光学ヘッドにおけ
るＲＦ倍信号フォーカシングエラー信号、トラッキング
エラー信号の検出回路の構成を示す図である。図におい
てＦＥ信号回路６３がフォーカシングエラー検出器４６
Ｂ 、４７Ｂ 。
作の説明を続ける。第２図は第１図の光学ヘッドにおけ
るＲＦ倍信号フォーカシングエラー信号、トラッキング
エラー信号の検出回路の構成を示す図である。図におい
てＦＥ信号回路６３がフォーカシングエラー検出器４６
Ｂ 、４７Ｂ 。
４８８．４９Ｂより差信号を作成し、ＴＥ信号回路５４
がトラッキングエラー検出器５０Ｂ、５１Ｂより差信号
を作成する。フォーカシングエラー検出器４６８．４７
８．４８８．４９８に照射される光束の光量はビームス
プリッタ３９（第１図）によって所望の比率に振幅分割
されて必要最少限となっており、またトラッキングエラ
ー検出器５０８．５１８に照射される光束の光量も、受
光面積を所望の面積に設定することによって必要最少１
温となっている。すなわち、光束の残りの光量はＲＦ信
号検出器５２Ｂに照射され、ＲＦ信号回路５５によって
ＲＦ信号が作成されることになる。
がトラッキングエラー検出器５０Ｂ、５１Ｂより差信号
を作成する。フォーカシングエラー検出器４６８．４７
８．４８８．４９８に照射される光束の光量はビームス
プリッタ３９（第１図）によって所望の比率に振幅分割
されて必要最少限となっており、またトラッキングエラ
ー検出器５０８．５１８に照射される光束の光量も、受
光面積を所望の面積に設定することによって必要最少１
温となっている。すなわち、光束の残りの光量はＲＦ信
号検出器５２Ｂに照射され、ＲＦ信号回路５５によって
ＲＦ信号が作成されることになる。
従ってＲＦ信号回路５５をＦＥ信号回路５３やＴＥ信号
回路５４から分岐して取り出す必要がないため、ＦＥ信
号回路５３．ＴＥ信号回路５４は各々の検出器出力を電
流の寸まで取り出せ、従来のように抵抗を設けて電圧変
換する必要がなくなる。そのために出力に乗るオフセッ
ト電圧に対する差動アンプの温度ドリフトの影響が極め
て少なくなり、回路構成上有利となる。丑たＲＦ信号検
出器５２Ｂへは十分な光量（この場合、ビームスプリン
タ３９へ入射する全光量のおよそ６ｏ％以上）を導びく
ことかでき、光束を分割することによるＲＦ信号品質の
劣化、つまりＣＮ比の低下といった問題を生じなくさせ
られる。捷だ第１図に示すようにフォーカシングエラー
検出方式として２個のナイフェツジ方式を一体化した方
式とすることにより検出感度が向上安定するため、光束
４０の光量をより少なくできる。寸だ、第１図に示すよ
うにトラッキングエラー検出器５０Ａ、５１Ａの頭載を
、０次回折光と±１次回折光の車なり合う部分（第３図
の１６．１７）の中に設けることによって、トラッキン
グエラー検出の検出感度も向上安定するため、ＲＦ信号
検出器６２Ａとの面積配分はより容易となる。なお、フ
ォーカシングエラー検出器４６Ａ 、４７Ａ 、４８Ａ
、４９Ａと、トラッキングエラー検出器５ｏ八、６１
Ａとが個別に位置調整できるために、フォーカシングエ
ラー検出器内でトラッキングエラーも含めて検出するよ
うな構成よりも本実施例の方が基本的に調整容易で製造
性が良いことはいうまでもない。
回路５４から分岐して取り出す必要がないため、ＦＥ信
号回路５３．ＴＥ信号回路５４は各々の検出器出力を電
流の寸まで取り出せ、従来のように抵抗を設けて電圧変
換する必要がなくなる。そのために出力に乗るオフセッ
ト電圧に対する差動アンプの温度ドリフトの影響が極め
て少なくなり、回路構成上有利となる。丑たＲＦ信号検
出器５２Ｂへは十分な光量（この場合、ビームスプリン
タ３９へ入射する全光量のおよそ６ｏ％以上）を導びく
ことかでき、光束を分割することによるＲＦ信号品質の
劣化、つまりＣＮ比の低下といった問題を生じなくさせ
られる。捷だ第１図に示すようにフォーカシングエラー
検出方式として２個のナイフェツジ方式を一体化した方
式とすることにより検出感度が向上安定するため、光束
４０の光量をより少なくできる。寸だ、第１図に示すよ
うにトラッキングエラー検出器５０Ａ、５１Ａの頭載を
、０次回折光と±１次回折光の車なり合う部分（第３図
の１６．１７）の中に設けることによって、トラッキン
グエラー検出の検出感度も向上安定するため、ＲＦ信号
検出器６２Ａとの面積配分はより容易となる。なお、フ
ォーカシングエラー検出器４６Ａ 、４７Ａ 、４８Ａ
、４９Ａと、トラッキングエラー検出器５ｏ八、６１
Ａとが個別に位置調整できるために、フォーカシングエ
ラー検出器内でトラッキングエラーも含めて検出するよ
うな構成よりも本実施例の方が基本的に調整容易で製造
性が良いことはいうまでもない。
発明の効果
以上述べてきたように、本発明によればトラッキングエ
ラー信号とフォーカシングエラー信号とを、ＲＦ倍信号
独立して直接、電流変化のままで差動アンプに取り込む
ことができ、より簡素で安価な回路で製造可能となる。
ラー信号とフォーカシングエラー信号とを、ＲＦ倍信号
独立して直接、電流変化のままで差動アンプに取り込む
ことができ、より簡素で安価な回路で製造可能となる。
またＲＦ信号検出器への光量配分が容易であるため、Ｒ
Ｆ倍信号品質を十分確保させられる。しかも調整容易な
フォーカシングエラー検出とトラッキングエラー検出の
行なえる光学ヘッドを実現でき、その工業的価値は高い
。
Ｆ倍信号品質を十分確保させられる。しかも調整容易な
フォーカシングエラー検出とトラッキングエラー検出の
行なえる光学ヘッドを実現でき、その工業的価値は高い
。
第１図は本発明の実施例における光学ヘッドの光学系の
斜視図、第２図はそのフォーカシングエラー、トラッキ
ングエラー、ＲＦ倍信号検出回路の説明図、第３図は従
来の光学ヘッドの光学系の概略構成を示す原理図、第４
図はその検出回路のブロック図である。 ３９・・・・・・ビームスプリンタ、４２，４３・・・
・・・集光レンズ、４６Ａ、４７Ａ、４８Ａ、４９Ａ・
旧・・フォーカシングエラー検出器、５０Ａ、５１Ａ・
・・・・・トラッキングエラー検出器、５２Ａ・・・・
・・ＲＦ信号検出器。
斜視図、第２図はそのフォーカシングエラー、トラッキ
ングエラー、ＲＦ倍信号検出回路の説明図、第３図は従
来の光学ヘッドの光学系の概略構成を示す原理図、第４
図はその検出回路のブロック図である。 ３９・・・・・・ビームスプリンタ、４２，４３・・・
・・・集光レンズ、４６Ａ、４７Ａ、４８Ａ、４９Ａ・
旧・・フォーカシングエラー検出器、５０Ａ、５１Ａ・
・・・・・トラッキングエラー検出器、５２Ａ・・・・
・・ＲＦ信号検出器。
Claims (1)
- 光源と、この光源から出た光束を記録媒体上に集束する
光集束手段と、前記記録媒体からの反射光束を不均等な
光量比率で２光束に振幅分割する１個のビームスプリッ
タと、前記２光束における光量の多い方の光束を受光し
て、ＲＦ信号とトラッキングエラー信号とを発する第１
の光検出器と、前記２光束において光量の少ない方の光
束を受光してフォーカシングエラー信号を発する第２の
光検出器とを備え、前記第１の光検出器として３分割以
上の複数に分割された多分割光検出素子を設け、前記多
分割光検出素子における少なくとも１個の領域でＲＦ信
号のみの検出を行ない、残りの少なくとも２個以上の領
域でトラッキングエラー信号のみの検出を行なうことを
特徴とした光学ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60056779A JPS61216143A (ja) | 1985-03-20 | 1985-03-20 | 光学ヘツド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60056779A JPS61216143A (ja) | 1985-03-20 | 1985-03-20 | 光学ヘツド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61216143A true JPS61216143A (ja) | 1986-09-25 |
Family
ID=13036921
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60056779A Pending JPS61216143A (ja) | 1985-03-20 | 1985-03-20 | 光学ヘツド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61216143A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS49126305A (ja) * | 1973-04-03 | 1974-12-03 | ||
| JPS502569A (ja) * | 1973-03-02 | 1975-01-11 | ||
| JPS5769534A (en) * | 1980-10-15 | 1982-04-28 | Hitachi Ltd | Optical track tracing device |
-
1985
- 1985-03-20 JP JP60056779A patent/JPS61216143A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS502569A (ja) * | 1973-03-02 | 1975-01-11 | ||
| JPS49126305A (ja) * | 1973-04-03 | 1974-12-03 | ||
| JPS5769534A (en) * | 1980-10-15 | 1982-04-28 | Hitachi Ltd | Optical track tracing device |
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