JPS61213752A - 鏡面反射特性を有する回転面物体のキズ検出装置 - Google Patents
鏡面反射特性を有する回転面物体のキズ検出装置Info
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- JPS61213752A JPS61213752A JP5707685A JP5707685A JPS61213752A JP S61213752 A JPS61213752 A JP S61213752A JP 5707685 A JP5707685 A JP 5707685A JP 5707685 A JP5707685 A JP 5707685A JP S61213752 A JPS61213752 A JP S61213752A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は鏡面反射特性を有する面のキズの有無を検出す
るキズ検出装置に係り、特に鏡面反射特性を有する回転
面物体のキズ検出装置に関する。
るキズ検出装置に係り、特に鏡面反射特性を有する回転
面物体のキズ検出装置に関する。
例えば第６図に示す如きドアのノブやその他の機械部品
の如き鏡面反射特性を有する回転面物体（ある物体を回
転させることにより得られるもの）の表面にキズの有無
を検出し製品の良、不良を判別することが必要である。
の如き鏡面反射特性を有する回転面物体（ある物体を回
転させることにより得られるもの）の表面にキズの有無
を検出し製品の良、不良を判別することが必要である。
このような鏡面反射特性を有する回転面物体の表面のキ
ズの有無を検出するとき、従来は目視によるものがほと
んどである。ところでこの目視による場合には検出もれ
が存在するのでコンピュータにおける画像処理技術を用
いて、このようなキズ検出を自動的に行うことが試みら
れている。
ズの有無を検出するとき、従来は目視によるものがほと
んどである。ところでこの目視による場合には検出もれ
が存在するのでコンピュータにおける画像処理技術を用
いて、このようなキズ検出を自動的に行うことが試みら
れている。
ととろでコンピュータにおける画像処理技術を用いてキ
ズの検出を行う場合、その物体の表面の濃淡画像をメモ
リに一度記憶させ、一旦２値化処理を行ない、その「１
」または「Ｏ」の境界の幾何学的形状からキズの有無の
検出を行う方式と、前記濃淡値を微分してエツジ検出を
行い、そのエツジ強度からキズの検出を行う方式がある
。
ズの検出を行う場合、その物体の表面の濃淡画像をメモ
リに一度記憶させ、一旦２値化処理を行ない、その「１
」または「Ｏ」の境界の幾何学的形状からキズの有無の
検出を行う方式と、前記濃淡値を微分してエツジ検出を
行い、そのエツジ強度からキズの検出を行う方式がある
。
しかしこれらの方式はいずれも闇値の設定が難かしく、
したがってキズ検出を正確に行うことが非常に困難であ
るという問題点が存在する。
したがってキズ検出を正確に行うことが非常に困難であ
るという問題点が存在する。
前記の如き問題点を解決するため、本発明の鏡面反射特
性面のキズ検出装置では、対象物体を観測する濃淡画像
入力手段と、該濃淡画像入力手段より入力された濃淡画
像データを保持する画像メモリを具備するキズ検出装置
において、対象物体の周辺を円周状に照射する円周状照
射光源と、該円周状照射光源と対象物体との相対距離を
順次変更する光源位置制御手段と、保持された画像デー
タを円周形状に検索する制御手段と、前記円周状に読出
された画像データの端部分を検出してキズの有無を判定
する手段を設けたことを特徴とする。
性面のキズ検出装置では、対象物体を観測する濃淡画像
入力手段と、該濃淡画像入力手段より入力された濃淡画
像データを保持する画像メモリを具備するキズ検出装置
において、対象物体の周辺を円周状に照射する円周状照
射光源と、該円周状照射光源と対象物体との相対距離を
順次変更する光源位置制御手段と、保持された画像デー
タを円周形状に検索する制御手段と、前記円周状に読出
された画像データの端部分を検出してキズの有無を判定
する手段を設けたことを特徴とする。
本発明ではキズの有無の検査対象物体がある物体を回転
した形状を有する回転面表面からなること、またその表
面が鏡面反射特性を有することを利用して、例えばサー
キュラー・ランプのような円周状照射光源（円形状の線
光源）を用い、光源と対象物体間の位置、距離を徐々に
変化させながら観測される画像データを取込み、そのデ
ータを円周形状に探索することにより、もしキズが存在
するときその円周状照射光源で照射されたことによる反
射光に濃淡が存在することよりこの濃淡値により容易に
、高速にキズの有無を検出するものである。
した形状を有する回転面表面からなること、またその表
面が鏡面反射特性を有することを利用して、例えばサー
キュラー・ランプのような円周状照射光源（円形状の線
光源）を用い、光源と対象物体間の位置、距離を徐々に
変化させながら観測される画像データを取込み、そのデ
ータを円周形状に探索することにより、もしキズが存在
するときその円周状照射光源で照射されたことによる反
射光に濃淡が存在することよりこの濃淡値により容易に
、高速にキズの有無を検出するものである。
すなわち、第１図ｔ８＞に示す如く、例えば円錐台形の
検査対象物体１の鏡面反射特性を有する物体表面１−１
におけるキズの有無を検出するとき、その周囲を均一に
照射するサーキュラー・ランプ２を配置する。そしてこ
の検査対象物体１の上方にＴＶカメラ３の如き濃淡画像
入力部を配置する。
検査対象物体１の鏡面反射特性を有する物体表面１−１
におけるキズの有無を検出するとき、その周囲を均一に
照射するサーキュラー・ランプ２を配置する。そしてこ
の検査対象物体１の上方にＴＶカメラ３の如き濃淡画像
入力部を配置する。
したがってサーキュラー・ランプ２より検査対象物体１
を照射した光はその鏡面反射特性を有する物体の表面１
−１より反射され、法線ベクトルＬに対する入射角θ０
と同一の反射角θ０で反射されることになる。サーキュ
ラー・ランプ２が第１図（ａｌに示す、第１位置にある
ときその表面１−１の最上位部分より反射される光が入
射する検査対象物体１０回転中心の上方にＴＶカメラ３
を配置しておけば第１図山）の如きこの表面１−１の画
像データ１′を入力することができる（サーキュラー・
ランプ２からの光は直接ＴＶカメラ３に入射しないもの
とする）。この画像データ１′はリング状の明部分１−
ｉ−ｏと端部分１−１ ’と、同じく上面部分１−２に
相当する円形の端部分１−２′よりなる（第１図では説
明の都合上白く示しである）。
を照射した光はその鏡面反射特性を有する物体の表面１
−１より反射され、法線ベクトルＬに対する入射角θ０
と同一の反射角θ０で反射されることになる。サーキュ
ラー・ランプ２が第１図（ａｌに示す、第１位置にある
ときその表面１−１の最上位部分より反射される光が入
射する検査対象物体１０回転中心の上方にＴＶカメラ３
を配置しておけば第１図山）の如きこの表面１−１の画
像データ１′を入力することができる（サーキュラー・
ランプ２からの光は直接ＴＶカメラ３に入射しないもの
とする）。この画像データ１′はリング状の明部分１−
ｉ−ｏと端部分１−１ ’と、同じく上面部分１−２に
相当する円形の端部分１−２′よりなる（第１図では説
明の都合上白く示しである）。
この状態で第１図（Ｃ）に示す如き位置まで、サーキュ
ラー・ランプ２を下方に移動して、サーキュラー・ラン
プ２と検査対象物体１との距離を徐々に変化させること
により、第１図（ｂ）に示す如き、リング状の明部分１
−１−０が傾斜面の最上位にある画像データから第１図
（ｄ）に示す如き、リング状の明部分１−１−ｎが最下
位にある画像データを順次得ることができる。
ラー・ランプ２を下方に移動して、サーキュラー・ラン
プ２と検査対象物体１との距離を徐々に変化させること
により、第１図（ｂ）に示す如き、リング状の明部分１
−１−０が傾斜面の最上位にある画像データから第１図
（ｄ）に示す如き、リング状の明部分１−１−ｎが最下
位にある画像データを順次得ることができる。
もし、第１図（ｅ）に示す如く、検査対象物体１の表面
にキズＡがあれば、この部分の反射光はＴＶカメラ３に
入射しないので、この場合の画像データは、第１図（ｆ
）に示す如く、リング状の明部分１−１−ｍの一部に端
部分Ａ′の存在するものとなる。すなわち、検査対象物
体１の回転中心を中心とする同一円周上の表面にキズが
存在すれば、その部分の微小面素からの反射光は観測部
であるＴＶカメラ３には入射せず、他の方向に反射する
ので、その部分は暗くなる。したがって、キズの検出は
、リング状の明るい帯状の領域内の暗い部分を検出する
ことに帰着する。
にキズＡがあれば、この部分の反射光はＴＶカメラ３に
入射しないので、この場合の画像データは、第１図（ｆ
）に示す如く、リング状の明部分１−１−ｍの一部に端
部分Ａ′の存在するものとなる。すなわち、検査対象物
体１の回転中心を中心とする同一円周上の表面にキズが
存在すれば、その部分の微小面素からの反射光は観測部
であるＴＶカメラ３には入射せず、他の方向に反射する
ので、その部分は暗くなる。したがって、キズの検出は
、リング状の明るい帯状の領域内の暗い部分を検出する
ことに帰着する。
このキズ検出（リング状の明領域内からの暗部分検出）
は次の３段階の処理より成る。
は次の３段階の処理より成る。
（１） 円状走査によるリングの内径の検出（２）円
状走査によるヒストグラム作成（３）キズの検出 以上これらの各処理について、第２図及び第３図により
説明する。
状走査によるヒストグラム作成（３）キズの検出 以上これらの各処理について、第２図及び第３図により
説明する。
（１１円状走査によるリングの内径の検出まず画像デー
タの明るい部分と暗い部分の濃淡レベルの間に闇値Ｔｈ
ｏを設定する。この場合、ＴＶカメラの出力データは、
暗い部分の濃淡レベルが非常に低く、明るい部分の濃淡
レベルは鏡面反射光が入射されるため高いので、この閾
値設定は非常に容易である。そして画像データの回転中
心を中心とした同心円周上を走査する。このとき第１図
（ａ）、（Ｃ）、（ｅ）等に示す円錐台形の場合には、
その上面の直径の円周Ｄｏから前記走査を行えば効率的
である。このようにして直径Ｄｏから順次大きな円周Ｄ
Ｉ、Ｄ２−・−を走査し、各円周毎に画像データを前記
闇値Ｔｈｏと比較し、これより小さいときは「０」、等
しいか大きいときは「１」とし、同一円周における「１
」の個数をカウントする。そしてこの個数が閾値Ｔｈ１
以上であれば、その円周を明るいリング状の帯状部分（
以下リングという）の内径とする。このようにして、例
えば第２図（ｂｌに示す如く、円周Ｄ１の場合には、０
°〜３６０“までオール「０」が得られ、Ｄ２の場合に
も０°〜３６０°までオールｒＯＪが得られるが、Ｄ３
の場合には９０°の近傍を除き「１」が得られ、この「
１」の個数は前記Ｔｌｚより大きいのでこのＤ３がリン
グ内径であることがわかる。この場合円の直径が大きく
なり走査すべき円周が大になるにつれて前記Ｔ ｈ １
の値もこれに応じて変化するように定めるか、あるいは
円周のデータを中心からのある角度単位で出力してその
濃淡データの平均値をとり、これを前記Ｔ ｈ １と比
較することが必要となる。単にリング内径のみを決定す
るものであればどの手法でもよいが、後述する如く、キ
ズの検出の際に必要な角度単位でヒストグラムを作成す
るために後者の手法が望ましい。
タの明るい部分と暗い部分の濃淡レベルの間に闇値Ｔｈ
ｏを設定する。この場合、ＴＶカメラの出力データは、
暗い部分の濃淡レベルが非常に低く、明るい部分の濃淡
レベルは鏡面反射光が入射されるため高いので、この閾
値設定は非常に容易である。そして画像データの回転中
心を中心とした同心円周上を走査する。このとき第１図
（ａ）、（Ｃ）、（ｅ）等に示す円錐台形の場合には、
その上面の直径の円周Ｄｏから前記走査を行えば効率的
である。このようにして直径Ｄｏから順次大きな円周Ｄ
Ｉ、Ｄ２−・−を走査し、各円周毎に画像データを前記
闇値Ｔｈｏと比較し、これより小さいときは「０」、等
しいか大きいときは「１」とし、同一円周における「１
」の個数をカウントする。そしてこの個数が閾値Ｔｈ１
以上であれば、その円周を明るいリング状の帯状部分（
以下リングという）の内径とする。このようにして、例
えば第２図（ｂｌに示す如く、円周Ｄ１の場合には、０
°〜３６０“までオール「０」が得られ、Ｄ２の場合に
も０°〜３６０°までオールｒＯＪが得られるが、Ｄ３
の場合には９０°の近傍を除き「１」が得られ、この「
１」の個数は前記Ｔｌｚより大きいのでこのＤ３がリン
グ内径であることがわかる。この場合円の直径が大きく
なり走査すべき円周が大になるにつれて前記Ｔ ｈ １
の値もこれに応じて変化するように定めるか、あるいは
円周のデータを中心からのある角度単位で出力してその
濃淡データの平均値をとり、これを前記Ｔ ｈ １と比
較することが必要となる。単にリング内径のみを決定す
るものであればどの手法でもよいが、後述する如く、キ
ズの検出の際に必要な角度単位でヒストグラムを作成す
るために後者の手法が望ましい。
（２）円状走査によるヒストグラム作成前記（１）によ
りリング内径が検出されたとき、第３図（ａ）に示す如
く、このリングの内径ｄｉから外径ｄｎまで、前記（１
１と同様に、順次円周上に走査して単位角度毎の「１」
、「０」の出力を算出し、第３図（ｂ）に示す如く、「
１」出力のヒストグラムを作成する。このときリングの
外径の検出は、前記＋１１の内径検出と同様に「１」出
力の個数が閾値Ｔｈ＋以下の部分を外径ｄｎとする。
りリング内径が検出されたとき、第３図（ａ）に示す如
く、このリングの内径ｄｉから外径ｄｎまで、前記（１
１と同様に、順次円周上に走査して単位角度毎の「１」
、「０」の出力を算出し、第３図（ｂ）に示す如く、「
１」出力のヒストグラムを作成する。このときリングの
外径の検出は、前記＋１１の内径検出と同様に「１」出
力の個数が閾値Ｔｈ＋以下の部分を外径ｄｎとする。
（３） キズの検出
前記（２）により得られたヒストグラムに対し、第３図
（ｂｌに示す如く、閾値Ｔｈｚを設定し、閾値Ｔｈ２よ
り「１」の数が小さいところをキズとして検出する。
（ｂｌに示す如く、閾値Ｔｈｚを設定し、閾値Ｔｈ２よ
り「１」の数が小さいところをキズとして検出する。
このようにして、第３図（ａ）において黒く示したキズ
の部分を正確に検出することができる。
の部分を正確に検出することができる。
次に前記（１１〜（３）を遂行する、本発明の一実施例
構成を、第４図にもとづき地図を参照しつつ説明する。
構成を、第４図にもとづき地図を参照しつつ説明する。
第４図において、３はＴＶカメラであって検査対象物体
１からの光が入力され、画像データを出力するもの、４
は光源位置制御回路であって、検査対象物体１を照射す
る光源がサーキエラー・ランプ２の場合には第１図に示
す如く、これを上下動するものであるが、後述する第５
図に示す如く、点状光源の場合には、この点状光源を相
対的に検査対象物体の周囲を回動するとともに、この点
状光源を上下動するものである。５は画像メモリであっ
てＴＶカメラ３より出力された画像データを保持するも
の、６はアドレス・コントローラであって例えば画像メ
モリ５に記憶されている画像データを円周状に読み出す
ためのアドレスを出力するもの、７は閾値設定部であっ
て前記（１）〜（３）で説明した閾値Ｔｈｏ、Ｔｂ１、
Ｔｈ２を出力するもの、８は明点抽出回路であって画像
メモリ５から順次出力された画像データの「１」、ｒＯ
Ｊを判定しこれを出力するもの、９は内径外径検出回路
であってリングの内径および外径を検出するもの、１０
はヒストグラム作成回路であって前記（２）に示す如く
ヒストグラムを作成するもの、１１はキズ検出回路であ
ってキズの有無を検出するものである。
１からの光が入力され、画像データを出力するもの、４
は光源位置制御回路であって、検査対象物体１を照射す
る光源がサーキエラー・ランプ２の場合には第１図に示
す如く、これを上下動するものであるが、後述する第５
図に示す如く、点状光源の場合には、この点状光源を相
対的に検査対象物体の周囲を回動するとともに、この点
状光源を上下動するものである。５は画像メモリであっ
てＴＶカメラ３より出力された画像データを保持するも
の、６はアドレス・コントローラであって例えば画像メ
モリ５に記憶されている画像データを円周状に読み出す
ためのアドレスを出力するもの、７は閾値設定部であっ
て前記（１）〜（３）で説明した閾値Ｔｈｏ、Ｔｂ１、
Ｔｈ２を出力するもの、８は明点抽出回路であって画像
メモリ５から順次出力された画像データの「１」、ｒＯ
Ｊを判定しこれを出力するもの、９は内径外径検出回路
であってリングの内径および外径を検出するもの、１０
はヒストグラム作成回路であって前記（２）に示す如く
ヒストグラムを作成するもの、１１はキズ検出回路であ
ってキズの有無を検出するものである。
次にこの第４図に示す本発明の動作を光源としてサーキ
ュラー・ランプを使用した場合について説明する。
ュラー・ランプを使用した場合について説明する。
（ａ） まず、第１図（ａ）に示す如く、サーキュラ
ー・ランプ２を光源位置制御回路４により、その検査対
象物体１の最上面からの反射光がＴＶカメラ３に入射す
るような位置におき、第１図（ｂ）に示す如き画像デー
タを画像メモリ５に記憶させる。
ー・ランプ２を光源位置制御回路４により、その検査対
象物体１の最上面からの反射光がＴＶカメラ３に入射す
るような位置におき、第１図（ｂ）に示す如き画像デー
タを画像メモリ５に記憶させる。
（ｂｌ 明点抽出回路８は画像メモリ５に画像データ
が入力されたとき、アドレス・コントローラ６を制御し
て、第２図（ａ）に示す如く、中心点０より一定半径の
画像データを円周状に出力させる。このときアドレス・
コントローラ６は、検査対象物体１のサイズ例えばその
上面部分１−２の大きさがあらかじめわかっているとき
には、中心点近傍からスタートするより、この既知のデ
ータにもとづき最初の円周状データを出力させる方が効
率的である。そしてこのようにして画像メモリ５から円
周状に読出した画像データを闇値設定部７から伝達され
た閾値Ｔ ｈ ｏと比較してこれよりも大きな場合に「
１」として、この「１」の数を内径外径検出回路９に伝
達する。この内径外径検出回路９には閾値設定部７から
閾値Ｔｈ＋が伝達されており、同一円周状の「１」の数
がこの閾値Ｔ ｈ １を越えたとき、その円周を明るい
帯状のリングの内径と判別する。そしてこの内径検出を
ヒストグラム作成回路１０に伝達する。
が入力されたとき、アドレス・コントローラ６を制御し
て、第２図（ａ）に示す如く、中心点０より一定半径の
画像データを円周状に出力させる。このときアドレス・
コントローラ６は、検査対象物体１のサイズ例えばその
上面部分１−２の大きさがあらかじめわかっているとき
には、中心点近傍からスタートするより、この既知のデ
ータにもとづき最初の円周状データを出力させる方が効
率的である。そしてこのようにして画像メモリ５から円
周状に読出した画像データを闇値設定部７から伝達され
た閾値Ｔ ｈ ｏと比較してこれよりも大きな場合に「
１」として、この「１」の数を内径外径検出回路９に伝
達する。この内径外径検出回路９には閾値設定部７から
閾値Ｔｈ＋が伝達されており、同一円周状の「１」の数
がこの閾値Ｔ ｈ １を越えたとき、その円周を明るい
帯状のリングの内径と判別する。そしてこの内径検出を
ヒストグラム作成回路１０に伝達する。
（Ｃ） これによりヒストグラム作成回路１０はその
とき明点中心回路８から送出されている「１」のデータ
を０°〜３６０°の単位角度毎にカウントを開始する。
とき明点中心回路８から送出されている「１」のデータ
を０°〜３６０°の単位角度毎にカウントを開始する。
アドレス・コントローラ６は直径方向の単位幅毎に、円
周状に画像データを出力するようにアドレスを出力する
ので、第３図（ａ）に示す如く、リングの内径ｄ１を出
力したのち、ｄ２、ｄ３・−と順次円周状に画像データ
を出力する。そしてこのｄ２、ｄ３−毎にその「１」の
数が単位角度毎にカウントされ、これにより第３図伽）
に示す如く、ヒストグラムが作成される。このようにし
てリングの画像データを順次出力しているときに、ｄｎ
においてその円周状の「１」の数が前記閾値Ｔ ｈ ｓ
以下になったことが内径外径検出回路９により検出され
たとき、このｄｎがリングの外径として判別されるので
、これにより外径検出信号がアドレス・コントローラ６
に出力されて画像メモリ５の読出しが一時停止され、ま
た光源位置制御回路４、ヒストグラム作成回路１０およ
びキズ検出回路１１にも外径検出信号が伝達され、この
ときまでに作成されていた、例えば第３図山）の如きヒ
ストグラムがキズ検出回路１１に伝達され、前記闇値Ｔ
ｈ２と比較されてこの閾値Ｔｈ２より小さいものが存在
するとき、これをキズと判定し、その有無を出力する。
周状に画像データを出力するようにアドレスを出力する
ので、第３図（ａ）に示す如く、リングの内径ｄ１を出
力したのち、ｄ２、ｄ３・−と順次円周状に画像データ
を出力する。そしてこのｄ２、ｄ３−毎にその「１」の
数が単位角度毎にカウントされ、これにより第３図伽）
に示す如く、ヒストグラムが作成される。このようにし
てリングの画像データを順次出力しているときに、ｄｎ
においてその円周状の「１」の数が前記閾値Ｔ ｈ ｓ
以下になったことが内径外径検出回路９により検出され
たとき、このｄｎがリングの外径として判別されるので
、これにより外径検出信号がアドレス・コントローラ６
に出力されて画像メモリ５の読出しが一時停止され、ま
た光源位置制御回路４、ヒストグラム作成回路１０およ
びキズ検出回路１１にも外径検出信号が伝達され、この
ときまでに作成されていた、例えば第３図山）の如きヒ
ストグラムがキズ検出回路１１に伝達され、前記闇値Ｔ
ｈ２と比較されてこの閾値Ｔｈ２より小さいものが存在
するとき、これをキズと判定し、その有無を出力する。
したがってヒストグラムが第３図（ｂ）の如き場合には
、キズ有という判別結果が出力されることになる。
、キズ有という判別結果が出力されることになる。
（ｄ） ところで前記外径検出信号は光源位置制御回
路４にも伝達され、これによりサーキュラー・ランプ２
を一定位置だけ下方に移動させる。そして前記（ａ）〜
（Ｃ）と同様にして新しく得られた画像データに対して
キズの有無の検出処理を行うことになる。このとき、先
に外径検出信号により外径ｄｎまで画像データを読出し
たことがアドレス・コントローラ６において認識されて
いるので、このｄｎをもとにしてリングの内径を検出す
るようにアドレスを出力することになる。
路４にも伝達され、これによりサーキュラー・ランプ２
を一定位置だけ下方に移動させる。そして前記（ａ）〜
（Ｃ）と同様にして新しく得られた画像データに対して
キズの有無の検出処理を行うことになる。このとき、先
に外径検出信号により外径ｄｎまで画像データを読出し
たことがアドレス・コントローラ６において認識されて
いるので、このｄｎをもとにしてリングの内径を検出す
るようにアドレスを出力することになる。
（ｅｌ このようなことを第１図（Ｃ１に示す如く、
サーキュラー・ランプ２があらかじめ定められた最下位
の位置まで繰返されたとき検査対象物体１に対する検査
が終了することになり、それまでキズ有信号が出力され
なければその検査対象物体はキズがないものとして判定
される。
サーキュラー・ランプ２があらかじめ定められた最下位
の位置まで繰返されたとき検査対象物体１に対する検査
が終了することになり、それまでキズ有信号が出力され
なければその検査対象物体はキズがないものとして判定
される。
前記説明では、明るい帯状のリングの画像データを得る
ため１．第５図山）に示す如く、サーキュラー・ランプ
２を使用した例について説明したが、この代りに、第５
図（ａ）に示す如く、点状光源２′を使用してこれを検
査対象物体１の周りを回転させることもできる。勿論こ
の点状光源２′を使用する場合この点状光源２′を円周
状に回転させる代りにこれを固定して検査対象物体１を
回転させてもよい。
ため１．第５図山）に示す如く、サーキュラー・ランプ
２を使用した例について説明したが、この代りに、第５
図（ａ）に示す如く、点状光源２′を使用してこれを検
査対象物体１の周りを回転させることもできる。勿論こ
の点状光源２′を使用する場合この点状光源２′を円周
状に回転させる代りにこれを固定して検査対象物体１を
回転させてもよい。
１：発明の効果〕
本発明によれば検査対象物体の鏡面反射特性と回転面に
応じた光源を利用しているので、正常部分とキズの部分
との濃淡レベルを太き（異なった形で抽出することがで
きるので、濃淡値のみでキズ検出が容易にできる。
応じた光源を利用しているので、正常部分とキズの部分
との濃淡レベルを太き（異なった形で抽出することがで
きるので、濃淡値のみでキズ検出が容易にできる。
第１図（ａ）〜（ｆ）は本発明の概略説明図、第２図（
１１）、（ｂ）は明るい帯状のリングの内径検出状態説
明図、同（Ｃ）はキズの状態説明図、第３図（ａ）、偽
）はヒストグラム作成状態説明図、第４図は本発明の一
実施例構成図、第５図（ａ）、ら）は本発明の円周状照
射光源の説明図、第６図は検査対象物体の一例である。 図中、ｌは検査対象物体、２はサーキエラー・ランプ、
３はＴＶカメラ、４は光源位置制御回路、５は画像メモ
リ、６はアドレス・コントローラ、７は闇値設定部、８
は明点抽出回路、９は内径外径検出回路、１０はヒスト
グラム作成回路、１１はキズ検出回路を示す。 特許出願人 工業技術院長 （外１名）復代理人弁理
士 山谷晧榮 第１図 第２図 υ″ キス゛の涜荒、 第５図 Ｃｂ） □と＝ト、
１１）、（ｂ）は明るい帯状のリングの内径検出状態説
明図、同（Ｃ）はキズの状態説明図、第３図（ａ）、偽
）はヒストグラム作成状態説明図、第４図は本発明の一
実施例構成図、第５図（ａ）、ら）は本発明の円周状照
射光源の説明図、第６図は検査対象物体の一例である。 図中、ｌは検査対象物体、２はサーキエラー・ランプ、
３はＴＶカメラ、４は光源位置制御回路、５は画像メモ
リ、６はアドレス・コントローラ、７は闇値設定部、８
は明点抽出回路、９は内径外径検出回路、１０はヒスト
グラム作成回路、１１はキズ検出回路を示す。 特許出願人 工業技術院長 （外１名）復代理人弁理
士 山谷晧榮 第１図 第２図 υ″ キス゛の涜荒、 第５図 Ｃｂ） □と＝ト、
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、対象物体を観測する濃淡画像入力手段と、該濃淡画
像入力手段より入力された濃淡画像データを保持する画
像メモリを具備するキズ検出装置において、対象物体の
周辺を円周状に照射する円周状照射光源と、該円周状照
射光源と対象物体との相対距離を順次変更する光源位置
制御手段と、保持された画像データを円周形状に検索す
る制御手段と、前記円周形状に読出された画像データの
暗部分を検出してキズの有無を判定する手段を設けたこ
とを特徴とする鏡面反射特性面のキズ検出装置。 ２、前記円周状照射光源としてサーキュラー・ランプを
使用したことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
鏡面反射特性面のキズ検出装置。 ３、前記円周状照射光源として対象物体の周辺を順次照
射する点状光源を使用したことを特徴とする特許請求の
範囲第１項記載の鏡面反射特性面のキズ検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5707685A JPS61213752A (ja) | 1985-03-20 | 1985-03-20 | 鏡面反射特性を有する回転面物体のキズ検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5707685A JPS61213752A (ja) | 1985-03-20 | 1985-03-20 | 鏡面反射特性を有する回転面物体のキズ検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61213752A true JPS61213752A (ja) | 1986-09-22 |
| JPH049466B2 JPH049466B2 (ja) | 1992-02-20 |
Family
ID=13045369
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5707685A Granted JPS61213752A (ja) | 1985-03-20 | 1985-03-20 | 鏡面反射特性を有する回転面物体のキズ検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61213752A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63153414A (ja) * | 1986-12-17 | 1988-06-25 | Haishisutemu Control Kk | 空缶の検査装置 |
| JPS6459145A (en) * | 1987-08-31 | 1989-03-06 | Kao Corp | Analyzer of surface nature |
| JPH01129112A (ja) * | 1987-11-16 | 1989-05-22 | Ueno Hiroshi | 鏡面的光沢のある凸曲面を有する容器口部の形状検査方法と装置 |
| JPH02208504A (ja) * | 1989-02-09 | 1990-08-20 | Omron Tateisi Electron Co | 球体検査装置 |
| CN109799238A (zh) * | 2019-01-24 | 2019-05-24 | 常州市武进信和精密机械有限公司 | 表面处理装置 |
| CN110389089A (zh) * | 2019-08-06 | 2019-10-29 | 哈尔滨工业大学 | 大口径反射镜表面颗粒污染物离线暗场检测装置 |
-
1985
- 1985-03-20 JP JP5707685A patent/JPS61213752A/ja active Granted
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63153414A (ja) * | 1986-12-17 | 1988-06-25 | Haishisutemu Control Kk | 空缶の検査装置 |
| JPH0553204B2 (ja) * | 1986-12-17 | 1993-08-09 | Hitachi Shipbuilding Eng Co | |
| JPS6459145A (en) * | 1987-08-31 | 1989-03-06 | Kao Corp | Analyzer of surface nature |
| JPH01129112A (ja) * | 1987-11-16 | 1989-05-22 | Ueno Hiroshi | 鏡面的光沢のある凸曲面を有する容器口部の形状検査方法と装置 |
| JPH02208504A (ja) * | 1989-02-09 | 1990-08-20 | Omron Tateisi Electron Co | 球体検査装置 |
| CN109799238A (zh) * | 2019-01-24 | 2019-05-24 | 常州市武进信和精密机械有限公司 | 表面处理装置 |
| CN109799238B (zh) * | 2019-01-24 | 2021-08-31 | 常州市武进信和精密机械有限公司 | 表面处理装置 |
| CN110389089A (zh) * | 2019-08-06 | 2019-10-29 | 哈尔滨工业大学 | 大口径反射镜表面颗粒污染物离线暗场检测装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH049466B2 (ja) | 1992-02-20 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |