JPS61213665A - 漏洩磁束探傷方法及びその装置 - Google Patents
漏洩磁束探傷方法及びその装置Info
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- JPS61213665A JPS61213665A JP5636485A JP5636485A JPS61213665A JP S61213665 A JPS61213665 A JP S61213665A JP 5636485 A JP5636485 A JP 5636485A JP 5636485 A JP5636485 A JP 5636485A JP S61213665 A JPS61213665 A JP S61213665A
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- Japan
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- coil
- flaw detection
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
崖1上久利且分l
この発明は励磁された被検査材の表面からの漏洩磁束を
検出することに基づいて、被検査材の探傷を行う漏洩磁
束探傷方法およびその装置に関する。
検出することに基づいて、被検査材の探傷を行う漏洩磁
束探傷方法およびその装置に関する。
従】蛭n逝
従来、漏洩磁束探傷方法において、被検査材の欠陥部か
らの漏洩磁束を感知する磁気センサとして、感磁性素子
(例えば、ホール素子、マグネトダイオード等)やサー
チコイル等が用いられている。さらに、信号対雑音比(
S/N)を向上させるために、前記磁気センサを欠陥の
走査方向に近接して2個配置し、それぞれの検出信号を
差動的に取り出している。また、検出信号の変化分を大
きくして、より探傷感度を上げるために、磁気センサは
探傷すべき欠陥と略同じくらいに小さくされる傾向にあ
る。
らの漏洩磁束を感知する磁気センサとして、感磁性素子
(例えば、ホール素子、マグネトダイオード等)やサー
チコイル等が用いられている。さらに、信号対雑音比(
S/N)を向上させるために、前記磁気センサを欠陥の
走査方向に近接して2個配置し、それぞれの検出信号を
差動的に取り出している。また、検出信号の変化分を大
きくして、より探傷感度を上げるために、磁気センサは
探傷すべき欠陥と略同じくらいに小さくされる傾向にあ
る。
(°゛と る□ 占
ところで、第3図(a)に示すように、丸形の被検査材
3を差動結合された磁気センサ1.2で探傷する場合、
被検査材の中心線Cと磁気センサの中心線C′とが一致
するように相互の位置関係が決められている。
3を差動結合された磁気センサ1.2で探傷する場合、
被検査材の中心線Cと磁気センサの中心線C′とが一致
するように相互の位置関係が決められている。
しかしながら、磁気センサl、2と被検査材3との芯ズ
レが発生した場合、磁気センサと被検査材との距離が同
図(a)、(b)に示すようにLからL′に増大する。
レが発生した場合、磁気センサと被検査材との距離が同
図(a)、(b)に示すようにLからL′に増大する。
そのため、磁気センサの出力信号が、磁気センサと被検
査材との間隙寸法の変化に伴って変化するいわゆるリフ
トオフ効果を生じる。このリフトオフ効果は、探傷信号
に雑音成分として現れる他、探傷感度を磁気センサと被
検査材との距離の二乗に比例して減衰させるという問題
を引き起こす。
査材との間隙寸法の変化に伴って変化するいわゆるリフ
トオフ効果を生じる。このリフトオフ効果は、探傷信号
に雑音成分として現れる他、探傷感度を磁気センサと被
検査材との距離の二乗に比例して減衰させるという問題
を引き起こす。
この発明は上記の事情に鑑みてなされたもので、磁気セ
ンサと被検査材との芯ズレが生じても、探傷感度が変動
しない漏洩磁束探傷方法及びその装置を提供することを
目的としている。
ンサと被検査材との芯ズレが生じても、探傷感度が変動
しない漏洩磁束探傷方法及びその装置を提供することを
目的としている。
□ 占 ゛ た の びこの発
明に係る漏洩磁束探傷方法は、適宜の長さに巻回された
検出コイルを、被検査材の代表的欠陥方向に略直交する
ように、前記被検査材に近接して配設する。そして、励
磁された被検査材の表面から漏洩した磁束を、前記検出
コイルによって検出することにより探傷を行っている。
明に係る漏洩磁束探傷方法は、適宜の長さに巻回された
検出コイルを、被検査材の代表的欠陥方向に略直交する
ように、前記被検査材に近接して配設する。そして、励
磁された被検査材の表面から漏洩した磁束を、前記検出
コイルによって検出することにより探傷を行っている。
このように検出コイルを配設することにより、芯ズレが
発生しても、漏洩磁束は芯ズレ以前と同じ位置関係で検
出コイルの一部と交差する。
発生しても、漏洩磁束は芯ズレ以前と同じ位置関係で検
出コイルの一部と交差する。
また、この発明に係る漏洩磁束探傷装置は、適宜長さの
検出コイルと、二股状コアに巻回された差動用コアを差
動結合するとともに、前記検出コイルを前記二股状コア
の両脚部間に配設したプローブを備えている。このプロ
ーブは、前記検出コイルが代表的欠陥方向と略直交する
ように、被検査材に近接して配置される。しかして芯ズ
レが発生しても、検出コイルの一部に漏洩磁束が常に一
定の位置関係で交差することにより、一定の探傷感度を
得ている。また、検出コイルと差動用コイルを差動結合
することによって、雑音成分を除去してS/Nを向上さ
せている。
検出コイルと、二股状コアに巻回された差動用コアを差
動結合するとともに、前記検出コイルを前記二股状コア
の両脚部間に配設したプローブを備えている。このプロ
ーブは、前記検出コイルが代表的欠陥方向と略直交する
ように、被検査材に近接して配置される。しかして芯ズ
レが発生しても、検出コイルの一部に漏洩磁束が常に一
定の位置関係で交差することにより、一定の探傷感度を
得ている。また、検出コイルと差動用コイルを差動結合
することによって、雑音成分を除去してS/Nを向上さ
せている。
災胤皿
第1図はこの発明に係る漏洩磁束探傷方法の一実施例の
説明図である。
説明図である。
図において、IOは励磁された被検査材、11は被検査
材10の表面にある代表的な欠陥を示している。
材10の表面にある代表的な欠陥を示している。
12は前記代表的な欠陥11の方向(通常、被検査材1
0の軸方向)に略直交するように、被検査材10に近接
して配設される検出コイルである。この検出コイル12
の長さは、この検出コイルの中心から左右に芯ズレが生
じた場合を考慮して、最大芯ズレの2倍以上の長さに設
定されている。
0の軸方向)に略直交するように、被検査材10に近接
して配設される検出コイルである。この検出コイル12
の長さは、この検出コイルの中心から左右に芯ズレが生
じた場合を考慮して、最大芯ズレの2倍以上の長さに設
定されている。
しかして、同図1b)に示すように芯ズレが発生しても
、同図(alに示したと同様の位置関係で漏洩磁束13
は検出コイル12の一部に交差している。すなわち芯ズ
レが生じる前後で、被検査材10と検出コイル12との
間隙寸法が変化しないから、芯ズレによって探傷感度は
変動しない。
、同図(alに示したと同様の位置関係で漏洩磁束13
は検出コイル12の一部に交差している。すなわち芯ズ
レが生じる前後で、被検査材10と検出コイル12との
間隙寸法が変化しないから、芯ズレによって探傷感度は
変動しない。
第2図はこの発明に係る漏洩磁束探傷装置の一実施例に
備えられるプローブの構成を略示した説明図である。
備えられるプローブの構成を略示した説明図である。
同図において第1図と同一部分は同一符号で示している
。20は例えばフェライト等の高磁性材料等からなる二
股状のコアである。このコア20には差動用コイル21
が巻回されている。22は被検査材20の欠陥11から
漏洩した磁束を検出する検出コイルである。この検出コ
イル22は前述したように最大芯ズレの2倍以上の長さ
に巻回されており、前記コア20の両脚部の間に配設さ
れている。しかして、前記検出コイル22および差動用
コイル21は差動結合されている。このプローブは、検
出コイル22が被検査材lOの代表的な欠陥11の方向
に略直交するように、被検査材10に近接して配設され
る。
。20は例えばフェライト等の高磁性材料等からなる二
股状のコアである。このコア20には差動用コイル21
が巻回されている。22は被検査材20の欠陥11から
漏洩した磁束を検出する検出コイルである。この検出コ
イル22は前述したように最大芯ズレの2倍以上の長さ
に巻回されており、前記コア20の両脚部の間に配設さ
れている。しかして、前記検出コイル22および差動用
コイル21は差動結合されている。このプローブは、検
出コイル22が被検査材lOの代表的な欠陥11の方向
に略直交するように、被検査材10に近接して配設され
る。
しかして、上述したプローブと被検査材10との芯ズレ
が発生しても、前述したように検出コイル22と被検査
材IOとの間隙距離は変わらないから、芯ズレにより探
傷感度は変動しない。また、差動コイル21と検出コイ
ル22とが差動結合されているから、被検査材lOの表
面状態の変化等に基づく雑音成分は打ち消されて、欠陥
11に基づ(探傷信号のみが取り出されることにより、
S/Nの向上が図られる。そして、差動的に取り出され
た探傷信号は図示しない増幅器で増幅された後、同期検
波、絶対値検波及びレベル弁別等の公知の信号処理をさ
れることにより、傷の判別が行われる。
が発生しても、前述したように検出コイル22と被検査
材IOとの間隙距離は変わらないから、芯ズレにより探
傷感度は変動しない。また、差動コイル21と検出コイ
ル22とが差動結合されているから、被検査材lOの表
面状態の変化等に基づく雑音成分は打ち消されて、欠陥
11に基づ(探傷信号のみが取り出されることにより、
S/Nの向上が図られる。そして、差動的に取り出され
た探傷信号は図示しない増幅器で増幅された後、同期検
波、絶対値検波及びレベル弁別等の公知の信号処理をさ
れることにより、傷の判別が行われる。
髪匪夏処果
以上、説明したようにこの発明は、適宜長さに巻回され
た検出コイルを、被検査材の代表的な欠陥方向に略直交
するように、被検査材に近接して配設したから、検出コ
イルと被検査材との芯ズレが発生しても、検出コイルと
被検査材との間隙距離は変わらない。したがって、この
発明によれば芯ズレが発生しても探傷感度が変化するこ
とがない。そのため、探傷装置の製作精度、被検歪材側
の曲がり精度あるいはライン設備の据付精度等を従来の
ように厳格にする必要がなく、装置の製作・保守点検が
大変容易になる。
た検出コイルを、被検査材の代表的な欠陥方向に略直交
するように、被検査材に近接して配設したから、検出コ
イルと被検査材との芯ズレが発生しても、検出コイルと
被検査材との間隙距離は変わらない。したがって、この
発明によれば芯ズレが発生しても探傷感度が変化するこ
とがない。そのため、探傷装置の製作精度、被検歪材側
の曲がり精度あるいはライン設備の据付精度等を従来の
ように厳格にする必要がなく、装置の製作・保守点検が
大変容易になる。
また、この発明によれば芯ズレに基づく雑音成分がなく
なるから、探傷信号に含まれる雑音成分が少なくなり、
S/Nの向上を図ることができる。
なるから、探傷信号に含まれる雑音成分が少なくなり、
S/Nの向上を図ることができる。
第1図はこの発明に係る漏洩磁束探傷方法の一実施例の
説明図、第2図はこの発明に係る漏洩磁束探傷装置の一
実施例の説明図、第3図は従来の漏洩磁束探傷方法の説
明図である。 10・・・被検査材、11・・・欠陥、12・・・検出
コイル。20・・・コア、21・・・差動用コイル。 特許出願人 株式会社 島津製作所 代理人 弁理士 大 西 孝 治 第1図 (a) (b) 第2図 第3図 (a) (b)
説明図、第2図はこの発明に係る漏洩磁束探傷装置の一
実施例の説明図、第3図は従来の漏洩磁束探傷方法の説
明図である。 10・・・被検査材、11・・・欠陥、12・・・検出
コイル。20・・・コア、21・・・差動用コイル。 特許出願人 株式会社 島津製作所 代理人 弁理士 大 西 孝 治 第1図 (a) (b) 第2図 第3図 (a) (b)
Claims (2)
- (1)適宜長さに巻回された検出コイルを、被検査材の
代表欠陥方向に略直交するように、前記被検査材に近接
して配設し、励磁された前記被検査材の表面からの漏洩
磁束を前記検出コイルで検出することに基づいて探傷を
行うことを特徴とする漏洩磁束探傷方法。 - (2)二股状コアに巻回された差動用コイルと、前記コ
アの両脚部間に配設される適宜長さの検出コイルとを差
動結合してなるプローブを備え、前記検出コイルが被検
査材の代表欠陥方向に略直交するように、前記プローブ
を前記被検査材に近接して配設したことを特徴とする漏
洩磁束探傷装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5636485A JPS61213665A (ja) | 1985-03-19 | 1985-03-19 | 漏洩磁束探傷方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5636485A JPS61213665A (ja) | 1985-03-19 | 1985-03-19 | 漏洩磁束探傷方法及びその装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61213665A true JPS61213665A (ja) | 1986-09-22 |
Family
ID=13025189
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5636485A Pending JPS61213665A (ja) | 1985-03-19 | 1985-03-19 | 漏洩磁束探傷方法及びその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61213665A (ja) |
-
1985
- 1985-03-19 JP JP5636485A patent/JPS61213665A/ja active Pending
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