JPS61208628A - 光デイスク記録再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はレーザ光等によって光学的に情報を記録再生す
る光ディスク記録再生装置の欠陥セクタの代替に関する
。

従来の技術 従来の光ディスク記録再生可能における欠陥セクタの代
替については特開昭５７−５３８４４号公報に示されて
いる。

第６図はこの従来例の装置であって、同一のペース２２
に設けられた再生用光ヘッド２０と記録再生用ヘッド２
１によって、光ディスク１のトラックを走査する。すな
わち、先行する再生用光ヘッド２０によって欠陥の有無
を検出し、記録再生用光ヘッド２１によって、該当セク
タに不良マークを記入するか、不良セクタＩＤ部につづ
く領域に新らしいＩＤを書込むか、ディスク外部に特別
な小分割セクタをもうけ、そこに不良セクタ情報を記録
しなおすことが開示されている。特にあらかじめ上記の
不良マーク処理した光ディスクにおいて、データの記録
は再生用光ヘッド２０で先行してセクタを走査して、不
良マークの有無を調らべ不良セクタが検出されると該セ
クタは不良セクタとしてディスクの外周部に設けた小分
割セクタへセクタ代替する。

発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記のような構成では、再生用光ヘッドと
記録再生用光ヘッドの２つの光ヘッドを必要とする。も
しも一つの記録再生用光ヘッドを使用するならば、上記
の不良セクタの処理には最／Ｊ・２回転の回転待ち時間
が必要となり、アクセス時間が遅くなるという問題であ
る。

また、再生用光ヘッドと記録再生用光ヘッドは距離ｌだ
けトラック上で離れているから、データと不良マークの
重ね書き部位が生じる。このことはデータ再生時に該欠
陥セクタでの不良マークの検出を困難なものとするとい
う問題点があった。

本発明はかかる点に鑑み、不良セクタの検出を書込み時
に同時に行なうとともに再生時に不良セクタを検出しや
すぐした光ディスク記録再生装置を提供することを目的
とする。

問題点を解決するだめの手段 本発明は、セクタの、欠陥をチェックする手段、不良セ
クタに不良マークを書く手段、データ記録中に光ディス
クからの反射光によって不良セクタマークを検出する手
段、不良セクタマークの検出でセクタを代替する手段を
備えた光ディスク記録再生装置である。

作　　用 本発明は前記した構成により、データ書き込み中に不良
マークが検出されるとデータ書き込みの終了をまって該
セクタを所定の代替セクタへ代替記録する。

不良マークは、セクタの記録ドツトの最小ドツト間隔よ
り十分長いパルス列であって、またデータは所定のデー
タフィールド部だけ記録するようにして、データ再生時
に該不良セクタの不良マークの検出を容易とする。

実施例 第１図は本発明の一実施例における光ディスク記録再生
装置のブロック図を示すものである。

第１図において、１は光ディスク、２はモータ、３は記
録再生用の光ヘッド、４は光ヘッド３のレーザを駆動す
る記録回路、６は光ヘッド３からの微小な再生信号１０
０を増幅、波形等化等を行なう再生回路、６はデータ１
７０をディジタル変調し、復調する変復調回路、７は不
良マーク発生／検出回路、８は欠陥検出回路、９は系の
制御のためのＣｐｕである。

以上のように構成された本実施例の光ディスク記録再生
装置について、以下その動作を説明する。

まずセクタの欠陥の有無のチェックと欠陥のあるセクタ
への不良マーク書き込みの動作について説明する。

ｃｐｕ　９　ハ光ヘッド３をモータ２によって定速回転
している光ディスク１の目的トラックをシークする。光
ヘッド３は光ディスク１に記録しない程度の均一光を照
射して、その反射光を受光して再生信号１００を出力す
る。再生信号１０ｏは再生回路５で増幅され、ディスク
の欠陥検出に適した周波数帯域のフィルタリング処理さ
れて信号１２０として欠陥検出回路８へ入力する。欠陥
検出回路８において再生信号１００中に含まれるドロッ
プアウトやドロップインなどの欠陥の内、所定のスライ
スレベルを越えるものがドロップアウト信号１３０とし
てｃｐｕｓへとりこまれ、その長さや個数によって不良
セクタか否かが判定される。

もし不良セクタと判定されると、ｃｐｕ９は不良マーク
発生／検出回路７に起動信号１４０を送る。

不良マーク発生／検出回路７は不良マーク信号１５０を
記録回路４へ出力し、該当セクタにマーキングする。

以上のセクタ欠陥のチェックと欠陥セクタへのマーキン
グの繰り返しによってセクタ検査が行なわれる。

次にデータの記録とデータ記録済セクタの再生について
以下にその動作を説明する。

エラー訂正符号の付与されたデータ１７０は、変復調回
路６で変調される。変調信号１８０は記録回路４に印加
され、光ヘッド３のレーザを書込みパワーレベルで変調
して光ディスク１へ照射する。このとき、光ディスクで
反射された光は、再生信号１０ｏとして検出され再生回
路５で処理され信号１９０として不良マーク発生／検出
回路７に入力され、不良マークの有無がチェックされる
。

不良マークが検出されると割込み信号２００がｃｐｕ９
へ出力される。ｃｐｕ　９はこの割込みで、変復調回路
６の該当セクタへのデータ書込みが完了するのを待って
、代替セクタ処理ルーチンへ制御を切りかえ、代替セク
タの割出し、該データの代替セクタへの再書込みを実行
する。

データ再生においては、再生信号１００は再生回路５で
データ再生用の信号２１０と不良マーク検出用の信号１
９０に分割される。信号２１ｏは変復調回路６で復調さ
れデータ１７０として出力される。信号１９０は、デー
タ記録時と同機に不良マーク発生／検出回路７に入力さ
れ、その有無をチェックする。

信号２２０はセクタの書込み／再生モードの制御および
各回路のステータスを表わす。

第２図は本実施例の光ディスク１の外観図である。案内
トラック１１はセクタＩＤ部、ＩＤで複数のセクタ１０
に分割されている。セクタＩＤ部。

ＩＤはトラックアドレス、セクタアドレスのアドレス情
報等からなるセクタ識別部である。残りはデータを記録
するデータフィールド部である。

第３図は第１図、第２図の実施例における動作信号波形
図である。第３図は欠陥のある不良セクタと良品セクタ
の波形を示している。各信号の番号は第１図と対応して
いる。第３図ａとｂは不良セクタへ書込む不良マーク信
号１５０と不良マーク信号１６０を書込んだ不良セクタ
からの再生信号１００の波形である。不良マーク信号１
５０はデータの記録ドツト間隔より十分に長いパルス列
の例を示している。第３図Ｃは変調信号１８０である。

第３図ｄはデータ書込み時の光ヘッドからの再生信号１
００の波形を示している。不良マーク部１６０ａは光デ
ィスクの記録層の反射率がすでに変化している。この変
化は反射率が増加あるいは減少するかのいずれかで、記
録の前後で数１゜チの反射率変化が生じている。このた
め不良マーク部１５０ａで反射される反射光量は不良マ
ーク部以外の反射光量よりも大きく再生信号１０ｏに凹
凸の波形１６ｏｂを生じる。ｖｆはスライスレベルであ
って、不良マーク部のみを検出するレベルに設定される
。

第３図ｑはデータ記録終了後の再生信号１ｏＯの波形で
ある。不良マーク部１５０Ｃは変調信号１８０の記録は
行なわれず、第３図すの状態が保存される。

第４図は、本発明の不良マーク発生／検出回路７の一実
施例のブロック図である。

第４図において、１２．１３はコンパレータ、１４　、
１　ｓハ比較を圧ｍ−ｒ、それぞれｖｆ、ｖｏ−なるス
ライスレベルを与える。１６はアンド回路、１７はオア
回路、１８は再トリガ形モノマルチバイブレータなどで
構成されるエンベロープ検出回路、１９はシリアルポー
トである。

前記のように構成された不良マーク発生／検出回路７に
ついて以下その動作を説明する。

シリアルポート１９はｃｐｕ９の起動信号１４０を受け
て、・第３図ａに示す不良マーク信号１６゜を発生する
。シリアルポート１９は例えばＵＡＲＴ（非同期伝送用
）、ＬＳＩなどが使用される。

データ記録中は、再生回路６の出力１９０をコンパレー
タ１２で２値化する。スレッシヨルド■やは第３図ｄに
示されるように不良マーク部からの再生信号を検出し、
正常部分よりの再生信号を検出しないレベルに設定され
る。コンパレータ１２の出力はオア回路１７を経て第３
図ｅに示される信号２３０を出力する。

このトキ、コンパレータ１３の出力はアンド回路１６で
、リードモード信号２２０が無効に設定されているため
、オア回路１７に送付されない。

信号２３０はエンベロープ検出回路１８で高周波成分の
エンベロープが検出され第３図ｆに示すエンベロープ信
号２４０に変換される。エンベロープ信号２４０はシリ
アルポート１９に入力され、所定のパルス数を入力する
ごとに割込み信号２００をｃｐｕｇへ出力する。

第３図ａに示す不良マーク信号１５０は記録ドツトの最
大ドツト間隔より十分広い幅のパルスで、かつディスク
の微小欠陥よりも十分大きいため、特別に大きなドロッ
プアウトを除いて、良好なエンベロープ信号２４０の検
出を可能とする。

次にデータ再生時の動作を説明する。

データ再生時の再生信号１００を第３図ｑに示す。

したがって、コンパレータ１２からの出力はなく、コン
パレータ１３の出力がアンド回路１６゜オア回路１７を
経て信号２３０となる。アンド回路１６の一方の入力、
リードモード信号２２０は有効に設定されていることは
言うまでもない。

第３　図ｑ　Ｋコンパレータ１３のスライスレベルｖ０
の設定位置を示す。第３図りはこの場合のエンベロープ
信号２４０である。第３図りは最初のパルスは、データ
フィールドの中央に不良マーク信号１２０を記録するた
め一般に、次以降のパルスより幅広になり、最初のパル
スをシリアルポート１９のスタートピットとするとき、
第３図Ｉの波形ト異なシリアルポート１９の検出条件を
変えることが必要である。これをさけるには、第３図ａ
の欠陥マーク信号１５０の先頭にＡで示すごとく変調信
号１８０と同程度の高周波パルスを所定の期間植えこめ
ばよい。

以上の説明で明きらかなように本発明によれば、あらか
じめセクタの欠陥の有無を欠陥マーク信号で書込んでお
き、データ記録と同時に上記欠陥マークを検出できる。

また、データ再生においても、データ再生と同時に欠陥
セクタを知ることができる。

発明の詳細 な説明したように本発明によれば、１ヘツドの光ディス
ク記録再生装置において、欠陥セクタに不良マークを書
込んだ光ディスクへのデータ記録−中あるいはデータ再
生中に回転待ちすることなく実時間欠陥セクタ検出を行
なえ、セクタ代替処理の高速化をはかることができる。

また、光ディスクの欠陥による誤動作も少ないな゛ど実
用的効果は大きい。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の光ディスク記録再生装置の
ブロック図、第２図は光ディスクの外観図、第３図は第
１図実施例の動作信号波形図、第４図は欠陥マーク発生
／検出回路の一実施例のブロック図、第５図は従来の光
ディスク記録再生装置の光ヘツド部の説明図である。 １５０・・・・・・欠陥マーク信号、２００・・・−・
・欠陥マーク検出割込み信号、１５０　ａ　、　１５０
ｂ　、　１５０ｃ・・・・・・欠陥マーク、Ａ・・・・
・・高周波パルス植込み部。 代理人の氏名　弁理士　中　尾　敏　男　ほか１名第１
図 第２図 第３図 ｚｑｕ １１１４図 第５図

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）光学的に情報の記録再生可能な案内トラックを有
   し、前記案内トラックはいくつかのセクタに分割された
   光ディスクを用い、前記セクタの欠陥の有無を調べる手
   段と、欠陥の検出されたセクタに不良マークを書込む手
   段と、データ記録中に光ディスクからの反射光を検知す
   る検知手段と、前記検知手段の出力のエンベロープから
   前記不良マークを検出する手段とを有し、前記不良マー
   クは前記セクタの記録ドットの最大ドット間隔より十分
   に長いパルス列であって、前記データ記録の完了をまっ
   て前記不良マークの検出された該当セクタを代替するよ
   うにした光ディスク記録再生装置。
2. （２）不良マークとして複数のパルス列であって最初の
   パルスの前部にデータ記録信号と同等の微小パルス列を
   付加した信号を記録する特許請求の範囲第１項記載の光
   ディスク記録再生装置。