JPS61184062A - 電荷結合イメージセンサ装置 - Google Patents

電荷結合イメージセンサ装置

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Publication number
JPS61184062A
JPS61184062A JP61021324A JP2132486A JPS61184062A JP S61184062 A JPS61184062 A JP S61184062A JP 61021324 A JP61021324 A JP 61021324A JP 2132486 A JP2132486 A JP 2132486A JP S61184062 A JPS61184062 A JP S61184062A
Authority
JP
Japan
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charge
electrodes
line
electrode
coupled
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Pending
Application number
JP61021324A
Other languages
English (en)
Inventor
レオナルド・ヤン・マリア・エツセル
マルセリウス・ヨハネス・マリア・ペルヘロム
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Gloeilampenfabrieken NV
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Publication date
Application filed by Philips Gloeilampenfabrieken NV filed Critical Philips Gloeilampenfabrieken NV
Publication of JPS61184062A publication Critical patent/JPS61184062A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/148Charge coupled imagers
    • H01L27/14831Area CCD imagers
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/71Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
    • H04N25/745Circuitry for generating timing or clock signals

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体本体を具え、その表面に隣接する平行な
n相の電荷結合装置を設け、各電荷結合装置が感光性要
素(画素)の二次元パターンの一ラインを形成し、放射
線像の入射放射線が電荷パケットに変換され、パケット
のサイズが入射放射線の強さにより決まり、これらの電
荷結合装置が交互にn相の一つに属する複数個の電極を
有するn相のクロック電極システムを具え、各電荷結合
装置のこれらのn相の第一の電極が選択的にバイアスさ
れ、残りの(n−1)個の相の電極が全電極システムに
共通であり、その結果、選択された電荷結合装置の第1
の相の電極に適当な電圧を印加すると、二次元パターン
の選択された一ラインを読出すことができ、選択された
ラインの電荷パケットはずっと対応する電荷結合装置に
蓄えられるライン転送形の電荷結合イメージセンサ装置
に関するものである。
電荷結合装置は既知の表面チャネル形又は埋込みチャネ
ル形とすることができる。電荷結合装置は更に、通常の
2.3又は4相システムとすることができる。
このようなイメージセンサ構造は、例えば、米国特許第
4.424.700号から既知である。これらの構造に
おいて、記録され、電荷パケットに変換されたイメージ
は関連する電荷結合装置を選択的にクロッキングするこ
とによりライン毎に読出される。読出し後、この電荷結
合装置は、所望とあらば、イメージの一本のラインを再
び記録するよう準備される。同時に残りのラインは読出
し続ける。
読出しの前に発生した電荷パターンをメモリに一次的に
蓄えるフレームに転送形又はイメージライン形の一層普
通な電荷結合イメージセンサ装置と対照的に、ライン転
送形のセンサ装置は別個のメ、モリを必要としない。こ
れはチップの全表面積がフレーム転送形又はインクライ
ン形の装置よりもずっと小さくなり、表面積が同じであ
れば、全チップ表面積の感光部が可成り大きくなること
を意味する。
前述した米国特許は第4図およびその以下の図につき2
相の実施例を開示しているが、そこでは一定電圧が共通
電極に印加され、この一定電圧を中心として上下する交
番電圧が選択されたラインの第1の相の電極に印加され
る。この電圧は発生した電荷担体が画素の中心を画成す
る共通電極の下のポテンシャル井戸に蓄えられるように
選ぶ。
電極構成は隣接するラインの画素が互に半ピツチだけず
れているようにする。マトリックスを読出す時、毎回2
個の順次のラインが時分割多重で読出せる。こうして、
ライン当り1個の半二重化、従って、相当な解像度の改
良が得られる。
この改良は共通電極の構成を特別なものにすれば得られ
る。例えば、列方向に共通な電極が直ぐ下の電荷転送チ
ャネルで電荷蓄積サイトの列を画成する真直ぐなストリ
ップにより構成される他の電極構造を具備する実施例で
も所望の高解像度が得られる。可成りのオフセット電極
を有する上述した装置では解像度を一層高いレベルに上
げることも重要である。
本発明の目的は、就中、高解像度が得られ、既存の電極
構造に対してフレキシビリティが高いライン転送形のイ
メージセンサ装置を提供するにある。
この本発明は、就中、第1の相の電極は読出し時に選択
ゲートとして使えるだけでなく、半導体本体内に発生し
た電荷を電荷パケットの形で蓄えるポテンシャル井戸を
誘起する光ゲートとしても使えることを52識したこと
に基づいている。
本発明によれば、冒頭に述べた種類のイメージセンサに
おいて、放射線像の記録時に電荷結合装置の第1の相の
電極に異なる電圧を印加する手段を設け、一方の電圧で
は前記電極が個別の電極として働き、これらの電極の下
の半導体領域では電位障壁が形成され、これらの電位障
壁が隣接する画素を互に分離し、他方の電圧では前記電
極が光ゲートとして働き、これらの電極の下にある半導
体領域が各々の一個の所定の画素に属し、一個のライン
の2個の隣接する画素は共通電極の下の半導体領域内に
形成される電位障壁により互に分離されるように構成し
たことを特徴とする。
本発明に係るイメージセンサにおいては、−ライン内の
画素の分布が純粋に電子的手段で生じ、その結果解像度
が高いまま、電極構成においても、動作モードにおいて
もいく通りもの選択かできる。
図面につき本発明の詳細な説明する。
第1図はライン転送形の電荷結合イメージセンサ1のブ
ロック回路図を示す。このイメージセンサは多数の隣接
し、平行な電荷結合装置を具えている。その数は2〜3
00、時には1000台にも達する。しかし、図面には
そのうちの6個、即ち、装置2〜7しか示していない。
これらの電荷結合装置は各々−ラインの感光性素子、即
ち、画素を構成する。これらの画素は読出し手段9の出
力端子8に順次に読出せる。後に特定の実施例につき説
明するように、読出し手段は垂直な電荷結合ラインを具
えるが、その転送方向はチャネル2〜7での転送方向に
対し直角である。この構成は更に選択手段IOを具え、
この選択手段により読出すべきライン、即ち、レジスタ
2〜7を選択できる。
ここに述べたタイプの構成は、フレーム転送形およびイ
ンターライン形の二種類の周知の電荷結合イメージセン
サと、余分な蓄積空間を必要としないため、少量の空間
で足りる点で区別できる。
第2図は本発明に係るライン転送形のイメージセンサの
略式平面図である。この構成の断面図を第3図ないし第
6図に示す。
第2図では、感光性マトリックスを形成する水平なCC
Dレジスタを再び符号2〜6を付して示した。これらの
レジスタは、本例では、2相電荷結合装置として構成さ
れているが、3相、4相又はもっと相が大きい電荷結合
装置を使用することもできることを理解すべきである。
これらの電荷結合装置には、交互に2相の1相に属する
電極群を具える一個の電極系を設ける。符号12〜16
を付した一方の相の電極は各電荷結合装置2〜6毎に選
択的に制御できる。本例では、これらの電極は細長いス
) IJツブ状の導体により構成され、電荷結合装置の
関連するチャネルの上に、それと平行に延在する。他方
の(第2の)相のクロック電極は、第2図には4個17
−2OLか示していないが、これらの電極は全部のCC
Dライン2〜6に共通で、各々がストリップ状の導体に
より構成され、CCD2〜6の電荷転送方向に対し、垂
直方向に延在する。電極17〜20は略式図示した接続
ライン80により相互に結線されている。
本例では、読出し手段9が従来からの4相垂直CCDレ
ジスクを具え、クロック電極23〜26が交互にクロッ
クライン27〜30に接続されている。
第3図ないし第6図に示した断面図から明らかなように
、電荷結合装置2〜6,9は埋込みチャネル形になって
いる。しかし、表面形即ちBBD形の電荷結合装置も使
用できることを理解されたい。これらの電荷結合装置は
、例えば、nチャネル形であり、各々n形の表面区域3
3を具え、これがp形シリコン本体32内に形成され、
電荷結合装置の電荷転送チャネルを構成する。これらの
電荷転送チャネルは表面31上に設けられる。例えば、
酸化シリコンから成る薄い絶縁層34により上方の電極
から分離されている。
出力レジスタ9の電荷転送チャネル33は左側では第2
図に破線で示したp形チャネル限界区域36により横方
向に境界づけられ、右側では、クロック電極17とX印
を付した線との間にあるn影領域41により境界づけら
れる。クロック電極23〜26は領域41と重なり合う
。その結果、これらの電極にクロック電圧を印加すると
、領域41内に電位障壁が誘起され、これが垂直チャネ
ル9に電荷が移るのを制限する。このチャネル9内にn
ドープ層31(第3図参照)を負荷することにより、チ
ャネル9と領域41との間にドーピングの差をつける。
第3図から明らかなように、電極23〜26には2層の
重なり合う電極構成を用いることができる。
電荷結合装置2〜6のチャネル33はチャネル制限区域
37により互に分離される。その一部37a(第2図に
一点鎖線で示した)は垂直読出し手段9の電極23の下
迄延在する。p形チャネル区域37bは上として電極に
より覆われないマトリックスの部分にある。
ロチャネル33および中間p形チャネル制限区域37は
、先ずp形基板32内に一様なn影領域を形成し、次に
この一様なn影領域からp形区域37aによりnチャネ
ル33を形成することにより得られる。
電極12〜20を設けた後、感光性マトリックスの電極
材料により覆われない部分内にp形チャネル制限区域3
7bを形成する。
共通電極17.18.19.20は導線38に接続し、
ここに電圧v1を印加する。個別のクロック電極12〜
16は各々導線39を介して選択手段10に接続する。
電極12,20は2相システムを形成するが、これによ
りこれらの電極の各々の下で電圧を印加した時の電荷転
送方向が定まる。ここ(第4図参照)に述べた実施例で
は、電極12〜20の下のn影領域40内でドーピング
濃度を高めている。こうして電圧を印加すると、区域4
0にポテンシャル井戸が発生し、これが電極蓄積領域と
して働く。各ポテンシャル井戸は右側は領域40どうし
の間のドーピング濃度が低い領域で電位障壁により境界
づけられる。後者の領域は転送領域として働くだけであ
る。領域40は右側から左側への電荷転送を定める。領
域40には同時に垂直チャネル9内の領域31を設ける
勿論、転送領域の上に薄い酸化物層を設けたり、転送領
域内にpインプランテーションを行ったりするように、
それ自体は既知の異なる態様で得ることもできる。
クロック電極12〜16は選択手段10によりバイアス
されるが、この選択手段は第2図にブロック42により
示したシフトレジスタを具える。一番下のブロック42
を介して、人力信号Viaが与えられるが、これはクロ
ック電圧φ、およびφ2により先の段ヘシフトさせられ
る。これらのシフトレジスタはスイッチ48を制御する
。スイッチ48は、閉じられると、クロック電極12〜
16をクロック電圧源φ3に接続する。
第7図はシフトレジスタ10の一実施例のく一部の)回
路図を示す。この回路はCM OSインバータ回路43
.L 43,2.43.3−m−の直列回路を具える。
各C!J OSインバータ回路はpチャネルM OS 
T44とnチャネルMO3T45とを有する。これらの
インバータ回路はnMO3Tスイッチ46により相互に
接続する。これらのnMO3Tスイッチ46は第2図に
既に示したようにタロツク電圧φ1およびφ2により交
互に駆動される。インバータ回路43は2個の給電線3
1a、31bを介して給電されるが、これらの給電線に
は、夫々、高電圧Hおよび低電圧りが印加される。この
ためこれらの給電線を、夫々、pMO3)ランジスタ4
4およびnMO3T)ランジスク45のソース領域に接
続する。
CMOSインバータ回路43の出力端子を導体47を介
してモジュロ2スイッチ48,1.48,2.48.3
等の入力端子へ接続する。モジュロ2スイツチとは、2
個の入力信号が等しい時閉じ、入力信号が等しくない時
開くスイッチのことである。本例では、各スイッチ48
が2個の直列接続されたpMO3Tトランジスタ49お
よび50(又は1個のデュアルゲー)MO3T)並びに
これと並列に入る2個の直列に接続されたnMO3T 
 )ランジスタ52および53(又は1個のデュアルゲ
ー)MO3T)を具える。トランジスタ49および52
はクロックライン54に接続し、クロック電圧φ3を印
加する。このクロック電圧φ3は、入力信号に依存して
、スイッチ48により伝送される。トランジスタ50お
よび53は導体39に接続する。導体39を介してクロ
ック電圧φ3をクロック電極2〜6に送ることができる
第7図から明らかなように、接続線47.1.47,3
゜−一−をトランジスタ50および53のゲート電極に
接続し、接続線47,2.47,4.−  をトランジ
スタ49および52のゲート電極に接続する。
ここに述べた構成は一般に既知の技術で作れる。
第7図に示したシフトレジスタは、所望により、電荷結
合センサと一緒に同じ半導体本体内に集積化できる。勿
論、機能が匹敵する他のタイプの回路、例えば、nチャ
ネルトランジスタだけで作った回路をブロック43およ
び48に使うことができる。
ここに述べた回路の動作を説明するために、第8図は時
間tの関数として印加すべきクロック電圧の波形図を示
す。また、この第8図には、夫々、ライン期間および水
平帰線期間を表す時間間隔TLおよびTaをも示す。参
照レベルとして電圧V1を選び、これを共通りロック電
極17〜20に印加する(第2図参照)。夫々のクロッ
ク電極12〜16にクロック電圧V、2〜V、6を電圧
v1のレベルの上又は下にして与える。1個又は複数個
のvl。〜V16がvlよりも高い時、関連電極12〜
16の下の関連するチャネル内の領域が電荷蓄積領域を
形成し、このレジスタの電極17〜20の下の領域が電
位障壁を形成する。逆に、所定の水平レジスタ内の関連
する電極12〜16の電位がvlより低い時は、この電
極の下の領域が電位障壁を形成し、電極17〜20の下
の領域が電荷蓄積領域を形成する。
動作を説明するために、先ず第7図に示した状況を考察
する。ここでは信号H,H,L、Hを夫々の導体47.
1−−−47.4に印加する。この状態で、スイッチ4
8,1だけを閉じる。残りのスイッチ48.2 。
48.3−m−は開放状態にある。スイッチ48.1−
−−48.4は導体39を介して、夫々、クロック電極
13.14.15および16に接続すると仮定すると、
クロック電圧φ3はスイッチ48.1を介して電極13
だけにかかる。
1oとtlの間のライン期間T2で、タロツク電極13
が一部を形成する電荷結合装置3内の情報が垂直な電荷
結合装置9に転送される。通常の4層形態で、装置9を
介して4層りロック電圧ν2□〜V3oを印加すること
により電荷パケットを検出要素に送る。
検出要素ではこれらの電荷パケットが順次に読出される
。第8図から明らかなように、クロック電極12をvI
に対し低レベルとし、その後で電荷を移動させる。従っ
て、発生した電荷を集積することは電極17〜21の下
の電荷蓄積部で行った。ライン3を読出す間に、放射線
が残りの全てのライン4〜6(電荷結合装置)で吸収さ
れ、電荷の形態で集積する。この期間において、電極1
4は高レベルになり、従ってライン14において、電荷
が電極14の下のポテンシャル井戸に集積される。逆に
、クロック電極I5は低レベルになり、従って、ライン
5において、電荷が共通電極17〜20の下に集積され
る。ライン6において、電荷は再びクロック電極16の
下に集積される。それ故、隣接するラインの各対で画素
が互に半ピツチだけずらされる(少なくとも同じフィー
ルド又はフレームで)。これを第9図に略式図示する。
この第9図はいくつかのライン3.4,5.6等を具え
る感光性マ) IJノクスの一部を略式図示したもので
、X印は第1のフレーム時の画素の中心を表す。ライン
3.5−m−において、画素はライン2,4.6等内の
画素に対し半ピツチだけずらされる。
ライン3が完全に空になり、水平帰線期間Taが開始す
る(第8図の瞬時1+)  ライン期間の終了後はφ3
が高レベルにとどまる。クロックφ2が高レベルに達す
ると、その結果接続147.1での信号Hはインハーク
回路43,2の入力側に移される。
この時インバータ回路43.2の出力側に低信号りが現
われる。こうして高信号Hが接続部47,1に現われ、
低信号りが接続部47,2に現れるため、差入力信号が
スイッチ48,1に移される。それ故、スイッチ48,
1が開き、この結果クロック電極13と、クロックφ3
の間の接続路が切れる。この切断の瞬時において、φ3
は高レベルになり、クロック電極13は高レベルにとど
まる。こうなると、電荷結合装置3は次のフレームのた
めイメージを記録する準備が整い、発生した電荷が電極
13の下のポテンシャル井戸に集積する。ライン3の画
素(今度は中心を第9図の黒点で示す)を第1のフレー
ムの画素(×印)に対し半ピツチだけずらされる。
低信号りがインバータ回路43,2の出力側にあり、イ
ンバータ回路43.2の出力信号が変わっていないため
、等しい人力信号が接続部47,2および47,3を介
してスイッチ48,2に加えられる。それ故、スイッチ
48.2は閉じ、クロックφ3を導体39を介してクロ
ック電極14に加える。前の集積期間(第8図)では、
この電極高電圧レベル(V+より高い)にあり、それ故
集積ゲートとして働き、その下に発生させられた電荷が
集積される。第9図で再びX印で示した画素の中心はラ
イン3における同じフレ−ム内の画素の中心に対して半
ピツチだけずらされる。
t3において水平帰線期間が終了し、次のライン期間T
L においてφ3が再びクロックし始める。
既知の二相態様では、ライン4で蓄えられた電荷パケッ
トが電荷結合装置(ライン4)内で垂直レジスタ9の左
にシフトされ、通常の4相態様でレジスタ9内で読出し
部材にシフトさせられる。瞬時L4において、ライン(
電荷結合装置)4は完全に空になる。この瞬時において
、タロツクφ3は低電圧レベルにとどまる。t5でφ1
が高になり、その結果インバータ回路43,2の出力側
の低信号りが次の段、即ち、インパーク回路43.3の
入力側に移される。この低入力信号は段43,3で反転
させられ、その結果高信号Hが導体47,3を介してス
イッチ48,2に送られる。導体47.2を介して低信
号りが連続的にスイッチ48.2に送られる。次にスイ
ッチ48.2が開き、この結果φ3はクロック電極14
との間の連続関係が切れる。新しい電荷パケットの形成
に具えているライン4では、発生させられた電荷担体が
電極17〜20の下に集積される。第2図では、ライン
に再び黒丸で示した。これらのドツトは第1のフレーム
時のライン4内の画素の中心に対し半ピツチだけずれて
いる。先行するライン3での第2のフレームの画素の中
心についても同じである。
類似した態様で、マトリックスの残りのライン5.6を
第1のフレームのために読出され、その後で第2のフレ
ームがずらされた画素内で集積化する。最后(一番上)
のラインが読出されると、第2のフレームが類似した態
様でフレーム帰線期間の後続出される。注意すべきこと
は、水平電極13、14.15等が集積期間時に異なる
電圧レベルになると、画素密度が増大し、従って簡単に
分解能も大きくなる。
ここに述べたイメージセンサでは、各ラインが別々に読
出される。冒頭に述べた米国特許第4,242、700
号に既に記載されているように、時分割多重方式で毎回
2個の隣接するラインを読出すようにしても有利である
この動作モードの一実施例を第10図に略式図示する。
この第10図においても、第9図と同じ態様で、2個の
順次のフレーム時の電荷結合装置3゜4.5.6等内で
画素の分布を、夫々、X印と黒丸で示しである。第1の
フレームを読出す時は、例えば、ライン3と4を時分割
多重で一緒に読出し、その後で同じ態様でライン5と6
を読出す等。
第10図ではこれは実線60で略式図示されている。
第1のフレームが完全に読出されたら、第2のフレーム
を読出す。CCDIはCCD2と一緒に読出され、次に
CCD3とCCD4が一緒に読出され、次にCC[15
とCCD6とが一緒に読出される。これは第10図では
黒丸を結ぶ破線61て略式図示されている。
センサの動作を説明するために、スターチインク部材を
第2図ないし第6図につき述べた構成とし、水平CCD
2.3等と比較して、垂直レジスタ9をクロック周波数
の2倍で動作させねばならないことを考慮する。水平C
CDを選択するシフトレジスタ10は2個の第7図に示
した種類のレジスタで作れる。第1の水平CCDの別個
の電極は第1のシフトレジスタに接続し、次の水平CC
Dの別個の電極は第2のシフトレジスタに接続する。
空間が少しですむ簡単な実施例を第11図に示す。
この構成はまた、一連のインバータ回路63.1゜63
.2.63.3−m−を具える。これらのインバータ回
路は図面ではブロック図の様式で示されているが、所望
とあらば、第7図のCMOSインバータ回路43と同じ
構造にすることができる。インバータ回路63の各対の
間にスイッチ、例えば、MOS  )ランジスタロ4の
形態をしたスイッチを設ける。これにより出力信号は制
御自在な態様で一つのインバータ回路から次のインバー
タ回路に転送できる。スイッチ64はゲートはクロック
ラインに接続し、これらのクロックラインを介してクロ
ック電圧φ1およびφ2が供給される。インバータ回路
63の出力端子は接続部65を介してモジュロ2スイツ
チ66、1゜66.2.66.3等に接続する。これら
のモジュロ2スイツチ66の構造(排他的N0R)は第
7図のスイッチ8の構造と類似している。各スイッチは
左側枝路には、例えば、pMO3)ランジスタロ7を具
え、右側岐路にはnMO5トランジスタ68を具える。
各回路66の一番下のトランジスタ67、68は再び出
力端子69を介して水平CCD ライン2,3.4等の
個別の制御自在のクロック電極12.13.14等に接
続する。一番上のトランジスタ67、68は今度はも早
や、前の実施例のように、−緒に一本のクロックライン
に接続することはしない。pMO3)ランジスクはクロ
ックラインφ3に接続し、nMO3トランジスタ68は
クロックラインφ3に接続する。φ、はφ3の相補クロ
ックを表す。
インバータ回路63.1の出力端子はスイッチ66.1
の一番上のトランジスタに接続する。スイッチ66.1
の一番下のトランジスタ67、68は、スイッチ66.
4の一番下のトランジスタ67、68 と共に、インバ
ータ63.4の出力端子に接続する。インバータ63.
2の出力端子はスイッチ66.2の一番下のトランジス
タ67、68に接続し、スイッチ66.2の一番上のト
ランジスタをスイッチ66.3の一番上のトランジスタ
と一緒にインバータ63,3の出力端子に接続する。
スイッチ66.3の一番下のトランジスタをスイッチ6
6.6の一番下のトランジスタと一緒にインバータ回路
63,6の出力端子に接続する。スイッチ66.4の一
番上のトランジスタをスイッチ66.5  の一番上の
トランジスタと一緒にインバータ63,5の出力端子に
接続する等々。
説明を簡単にするため、スイッチ66.1をCCD3の
クロック電極に接続し、スイッチ66.2をCCD4の
クロック電極14に接続し、スイッチ66.3をCCD
5のクロック電極15に接続する等々と仮定する。
先ず第11図に示す状況を考察する。インバータ63.
1.63,2.63.3等の出力端子は夫々レベルL。
H,H,L、H,L、H,L−−−を有する。第11a
図には、電圧φ3.i、φ1.φ2およびV13 V1
6を成る時rJJ間隔時間tの関数としてプロットしで
ある。時間間隔1.−12では2個の入力信号がL(低
)であるスイッチ66.1が左側枝路ではpM(IS 
トランジスタ67を介して閉じ、nMOSトランジスタ
の左側枝路が開いている。スイッチ66.1を介してタ
ロツク電圧φ3をクロック電極13に送る。これと同時
に、二個の入力信号がH(高)であるスイッチ66.2
が左側枝路ではnMO3)ランジスタを介して閉じ、p
l、In5)ランジスクの左側枝路では開いている。ス
イッチ66.2を介して、φ3と逆相でありロック電圧
φ3をクロック電極14に印加する。第10図でX印で
示した電荷結合装置3および4に蓄えられている電荷パ
ケットはCCD3および4により電荷結合装置9へ転送
される。この時一方のチャネルでの転送は他方のチャネ
ルでの転送に対し180゜だけずれている。電荷パケッ
トは時分割多重でチャネルに到達し、周波数を2倍にし
、チャネル3および4に対して位相を正しくし、時分割
多重でチャネル9を動作させることによりそのチャネル
で読出し部材迄転送し、そこから更に処理するため取り
出す。ライン3および4が完全に空になると、水平帰線
期間中φ3は高レベルにとどまり、φ3は低レベルにと
どまる。瞬時t3において、φ2はパルスを生じ、その
結果インバークロ3,3おヨヒ63.4の出力が変わり
、夫々LおよびHとなる。この結果、スイッチ66.1
および66.2が開き、このため電極13および14と
クロクラインφ3およびφ−間の接続関係が切れる。そ
してこれらの電極13および14は、夫々、高および低
レベルにとどまる。
今度は記録すべき放射線像に対応する電荷を再び集積し
、電荷パケットを作る。第10図では、これらのパケッ
トは黒丸印で示す。これらは丁度読み出された電荷パケ
ットに対し半ピツチだけずれている。同時に、スイッチ
66.3および66.4を閉じる。
2個の人力がしてあるスイッチ66.3は左側枝路でp
トランジスタを介して閉じ、φ3をCCO5のクロック
電極15に接続する。2個の入力信号がHであるスイッ
チ66.4は左側枝路のnトランジスタを介して閉じ、
C[1,D6のクロック電極16をφ3に接続する。今
度はクロックφ3およびφ3がクロック電極15および
16に供給される。今度はCCD ライン5および6が
時分割多重で読出される。即ち(第10図の×印)、C
CD ライン3および4と同じ態様である。ライン5お
よび6が空になり、ライン期間が終了する時(第11a
図のt4)、クロックφ3および7Tは、夫々、高およ
び低レベルにとどまる。
t5でφ1パルスを加えると、スイッチ66.1および
66.2につき前述したのと同じ態様でφ3およびφ3
とクロック電極15および16との接続関係が切れる。
今度は電極15および16が、夫々、高および低電圧レ
ベルにとどまる。次の集積期間時には、電極15の下の
ライン5内で電荷パケットが発生しうる。
逆に、CCD ライン6では電極17〜20の下に、即
ち、CCD ライン5に対し半画素だけずれて電荷パケ
ットが発生する。第10図ではこの第2のフレーム期間
時のこれらの電荷パケット(即ち、画素の中心)が黒丸
印で示されている。斯くして、画素の全マトリックスが
時分割多重で読出せる。第1のフレームが完全に読出さ
れ終わった時、ライン1,2、次に3および4、次に5
および6等を前述したのと同じ態様で再び読むことによ
り第2のフレームを読出すことができる。
このようにして、イメージは水平方向で高い解像度で時
分割多重でもって読出せる。
第11図に示したシフトレジスタにより毎回2個の等し
いラインを時分割多重で読出すことができる。フレーム
転送形の固体イメージセンサの多くは、所謂ライン飛越
しモードで動作する。第12図に示すシフトレジスタに
よれば、毎回2本の隣接するラインを時分割多重で読出
すことができる。
但し、2個の順次のフレームに対するラインの組み合わ
せは異なる。このレジスタも前述した実施例でのインバ
ータ回路のチェーンと類似の交互にインパーク回路63
とMOSスイッチ64とが並ぶチェーンを具える。イン
バータ63の出力端子を第11図と同じ態様でモジュロ
2スイツチ(排他的NOR回路)66に接続する。これ
らのモジュロ2スイツチは再び各々pチャネルMOSト
ランジスタの左側枝路と、nチャネルMOSトランジス
タの右側枝路とを具える。これらのスイッチを介してク
ロックφ3とこれに対し相補的なりロック電圧φ3とを
第2図に示した電荷結合装置2〜6のクロック電極12
〜16(第12図に略式図示する)に与える。スイッチ
66.1.66.3.66.5等を前述した態様で関連
するクロック電極12.14.16等に接続する。スイ
ッチ66.2.66.4.66.6等のpMO3T枝路
はクロック電極13、15−m=に接続する。スイッチ
66.2.66.4.66.6等のn MOS T岐路
は毎回番号が2若いクロック電極に接続する。例えば、
スイッチ66.4のnMO3T はクロック電極12に
接続し、スイッチ66.6のnMO3Tはクロック電極
15に接続する等。
第12図に示したシフトレジスタの動作を説明するため
に、上の表はいくつかの瞬時におけるインバータ回路6
3,1〜63.7の状態を示す。設片の2列は電荷結合
装置2〜6のどのクロック電極がφ3およびφ3により
クロックされるかを示す。記号「O」は低電圧レベルを
示し、記号「1」は高電圧レベルを示す。1.において
、スイッチ66.1の2個の入力信号はいずれも低であ
る(表では「0」で示す)。この状態でスイッチ66.
1はpMO3Tを介して閉じる。この結果φ3はクロッ
ク電極12にかかる。スイッチ66.2の人力信号はい
ずれも高である。従ってスイッチ66.2はnトランジ
スタを介して閉じ、電圧φ、を伝送する。66.2のn
チャネルトランジスタは接続部70を介してCCD ラ
インのクロック電極71(第12図に破線で示す)に接
続する。
この電極は第2図の一番下側のライン2の手前である。
この状態で、このラインおよびライン2は時分割多重で
読出せる。CCD ライン2がマトリックスの第1のラ
インを形成する場合は、接続部70が設片のCCDの選
択ゲートに至るか、又は、他の実施例では省略する。後
者の場合、例えば、設片のCCDの選択ゲートはスイッ
チ66、2n に接続する。
この状態で垂直レジスタの出力側に現れる情報は使われ
ない。少なくともレジスタ2が空の時、次の水平帰線期
間においてφ2パルスが生ずる。この時生ずる状態を表
ではt2で示す。この時クロック電極13は接続部72
およびスイッチ66.4を介して石に接続し、クロック
電極14はスイッチ66.3を介してφ3に接続する。
類似した態様で、電極゛15゜16等は時分割多重で読
出される。全フレームが読み出された時、第2のフレー
ムが読出される。表はt3において第2のフレーム時の
シフトレジスタの第1の状態を示す。ここでは2個の順
次の期間がいずれも「0」を示す。今度はクロック電極
12はスイッチ66.1(いずれの人力信号も高)を介
してφ3に接続される。クロック電極13はスイッチ6
6.2(いずれの人力信号も低)を介してφ3に接続さ
れる。この結果今度はCCD ライン2および3が時分
割多重で読出される。次の水平帰線期間時にφ2パルス
をシフトレジスタに与え、14(表)での状態が達成さ
れる。次にクロック電極14をスイッチ66.3(高入
力信号)を介してφ3に接続する。スイッチ66.4(
低人力信号)はクロック電極15をφ3に接続する。こ
の状態で、CCD ライン4および5は時分割多重で読
出される。こうして、全マ)IJソックス再び読出され
る。第13図には、2個のフレーム時の画素の中心を表
すX印と黒丸とによりいくつかのC,CD ラインn−
n+4が略式図示されている。第1のフレーム(×印)
では、例えば、組合せ(n、 n+1)、 (n+2.
 n+3) 、 (n+4. n+5)で先ずCCD 
ライン時分割多重で読出す。図では毎回X印を結ぶ破線
により示されている。他方のフレーム(黒丸)では組合
せ(n+1. n+2)、 (n+3.1+4)等でC
CD ラインが時分割多重で読出される。
第2図につき述べた実施例では、共通電極17.18.
19等には固定電圧vlをかけ、個別の電極12〜16
にはvlを中心にレベルが上下する交番電圧をシフトレ
ジスタ10を介して加える。この実施例の変形例では、
交番電圧を共通電極17〜2oにかけ、選択されない共
通電極12〜16には、夫々、高電圧H′および低電圧
L′をかける。これらの後者の電圧レベルはクロック電
圧の、夫々、高および低レベルに対応するか又は、夫々
、一層高くとったり、一層低くとったりする。クロック
電圧の2個のレベルの間に入るレベルMを有する固定電
圧は、読出されるラインの選択される電極12〜16に
かけることができる。第14図はこの場合に用いるべき
シフトレジスタの一実施例の回路図を示す。図面は3個
の段80.81.82だけを示す。これらの段はスイッ
チ46により相互に接続されている。スイッチのゲート
はクロックφ1およびφ2により駆動される。人力信号
Vjhは最左端のMO3T46を介して供給する。段8
0.81.82等は2個の電圧レベルHおよびLの間で
スイッチされる。各段は5個のトランジスタから成るが
、これらは全てnチャネルMO3T形である。チャネル
領域を太い線で示したトランジスタ83.84.85は
ディプレッション形、即ち、ゲート−ソース電圧v9s
・Ovの時でも電流が流れるタイプである。トランジス
タ86および87はエンハンスメント形であり、それ故
、V、=OVO時は電流が流れない。トランジスタ84
と87は直列に接続する。トランジスタ84のソースは
ラインLに接続し、トランジスタ84のドレインはトラ
ンジスタ87のソースに接続し、トランジスタ87のド
レインは負荷として接続されたトランジスタ83を介し
てラインHに接続する。同じようにトランジスタ86の
ソースはラインLに接続し、トランジスタ86のドレイ
ンはトランジスタ85のソースに接続する。トランジス
タ85のドレインはトランジスタ83を介してラインH
′に接続する。トランジスタ84および86のゲートは
いずれもスイッチ46の出力側に接続する。
トランジスタ87のゲートはスイッチ46の入力端に接
続する。トランジスタ83および85のゲートは各々そ
れらのソースに接続する。従って、これらのトランジス
タは何時も導通している。トランジスタ86のドレイン
とトランジスタ85のソースとの間の接続点Cは対応す
る段と次段との間にあるスイッチ46の入力端に接続す
る。トランジスタ85および87のドレインと、トラン
ジスタ83のソースとの間の接続点りはシフトレジスタ
の出力端子を構成する。これらの出力端子は各々電極1
2〜16の一つに接続する。説明の便宜上、第14図で
は、−例として電極12.13および14を破線で示し
ている。第14図に示したシフトレジスタの動作を説明
するため、先ず図示した状況を考察する。ここで人力信
号V、、、・H’を段80の入力端子に供給する。この
関係で注目するべきことは、レベルLおよびHから導か
れた信号L′およびH′は段の出力端子りに現れる信号
であり、L′はしより僅かに高く、H′は実際上Hに等
しい。信号L′およびH′は出力端子Cに現れるレベル
であり、L′は再びLより僅かに高く、H′はHに等し
くとれることである。
vIイ・H′で、この信号がスイッチ64を介して第一
段に伝送される状況では、第1段の両方の直列回路87
.84および直列回路85.86が導通する。Dおよび
Cにある出力信号は、夫々、L′およびL′である。信
号L′は電極12に伝送され、従ってこの電極は関連す
る電荷結合装置において、ブロッキングゲートとして働
く。第1段の出力端子Cにある信号L′は第2のスイッ
チ46を介して第2段81へ送られる。この段のトラン
ジスタ87および86は不導通状態にあり、従って信号
H″(=■)およびH′(=H)は夫々出力端子Cおよ
びDに現れる。電圧Hがかかる電極13は集積ゲートと
して働く。信号H″は段82に対する人力信号とも合う
。この段の出力端子CおよびDは、夫々、出力信号L′
およびL′を生じ、従って段82の出力端子りに接続さ
れているゲート電極14はブロッキングゲートとして働
く。それ故イメージセンサの電極12.13.14等は
交互に低および高電圧レベルになる。これは隣接するラ
インの画素が互に半ピツチだけずれていることを示す。
注意すべきことは電極12.13.14等は、集積時に
電極が浮動する前の実施例と対象的に、集積時に正確に
定められた一定の電位にあることである。
集積期間の後に、例えば、ライン2を読み出すためには
、人力信号V、、、=H’を与える。他方φ1は低レベ
ルにあり、スイッチ46はこの結果不導通状態にある。
トランジスタ87、従って直列回路87〜84は今度は
不導通状態になる。しかし、段80のトランジスタ85
〜86は導通状態にとどまる。それ故点Cは低レベルに
とどまる(従って段81では何も生じない)。しかし、
点りの電位はHとLの間のレベルM迄高くなる。Mのレ
ベルはトランジスタ83および85の幾何学的構造を選
択することにより調整できる。こうして問題のライン2
を読み出せる。このライン2が完全に読出され終わった
時、スイッチ46はφ1パルスにより導通させられ、そ
の結果低入力信号もトランジスタ46に与えられる。
このトランジスタ46は導通状態から不導通状態に変わ
る。こうなると電流はも早や段80を通って流れない。
今度は点りは信号Mを電極12に与える。
このためこの電極12は次の集積期間において集積ゲー
トとして働く。同時に点Cで対応する状態変化が生じ、
その結果段81のトランジスタ87が不導通状態から導
通状態に変わり、チェーン87〜84が導通状態になる
。段81のチェーン85〜86は不導通状態にとどまる
。蓋し、段80と81の間のスイッチ46が不導通状態
にあるからである。点CおよびDは両方ともしとHとの
間のレベルMになる。従って、電極13の下のライン3
が読出せる。今度はトランジスタ83および84の幾何
学的構造を選択することによりレベルMが定まる。出力
端子Cにある(8号Mは直接トランジスタ87に送られ
、Mをトランジスタ87のしきい値電圧より高く選ぶこ
とによりトランジスタ87でHと解釈される。この状態
で、段82の状態はそのまま変わらない。ライン3が読
出され終わった時、段80と81の間のスイッチ46が
φ2のパルスにより導通させられ、その結果段81のD
およびCは、夫々、L″およびL″になる。
ライン3の電極13は次の集積期間時にブロッキングゲ
ートとして働く。信号L″′も段82のトランジスタ8
7に送られるため、このトランジスタ87は導通状態か
ら不導通状態になり、その結果段82の点りはL″から
Mになり、電極14と関連するマトリックスのラインが
読み出せる。
本発明は上述した実施例に限定されるものではなく、本
発明の範囲内で当業者ならば多くの変形例を作り得るこ
とを理解されたい。例えば、垂直レジスタ9はライン2
〜7の共通出力ダイオードを構成する細長い区域で置き
変えることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はライン転送形のイメージセンサ構造のブロック
回路図、 第2図は本発明に係るライン転送形のイメージセンサ構
造の一部の平面図、 第3図は第2図の線■−■で切った断面図、第4図は第
2図の線rV−rVで切った断面図、第5図は第2図の
線V−■で切った断面図、第6図は第2図の線VI−V
lで切った断面図、第7図は第2図の構造で使用するシ
フトレジスタの回路図、 第8図は第2図の構造に与える電圧の時間線図、第9図
は第8図に示したクロック電圧での第2図の構造での画
素分布の略図、 第10図はもう一つの動作モードでの第2図の構造での
画素分布の略図、 第11図はこの動作モードで使用できるシフトレジスタ
の回路図、 第11a図はこの動作モードで加えられる電圧の時間線
図、 第12図は第2図の構造でライン飛越しモードを採用す
る時使えるシフトレジスタの回路図、第13図はこのラ
イン飛越しモードの場合の第2図の構造での画素分布を
示す略図、 第14図は本発明に係る電荷結合イメージセンサで使用
できるもう一つのシフトレジスタの回路図である。 1・・・電荷結合イメージセンサ 2〜7・・・電荷結合装置(ライン) 訃・・出力端子 9・・・読出し手段(チャネル) 10・・・選択手段(シフトレジスタ)12〜16・・
・一方の相のクロック電極17〜20・・・他方の相の
クロック電極23〜26・・・クロック電極 27〜30・・・クロックライン 31・・・表面(nドープ層) 32・・・p形シリコン本体 33・・・表面区域(電荷転送チャネル)34・・・絶
縁層      37・・・チャネル制限区域38・・
・接続ライン    39・・・導体40・・・n影領
域     41・・・n影領域42・・・シフトレジ
スタ 43・・・CMOSインバータ回路 44・・・pチャネルMGST   45・・・nチャ
ネルMO3T46・・・nMO3Tスイッチ  47・
・・接続部48・・・スイッチ(モジュロ2) 49、50・・・pMO3T  )ランジスタ52.5
3−nMO3T  ) ラyジスタ54・・・クロック
ライン  63・・・インバータ回路64・・・スイッ
チ     65・・・出力部66・・・モジュロ2ス
イツチ 67・・・pMO3I−ランジスタ ロ8・・・nMO3)ランジスタ フ0・・・接続部      71・・・クロック電極
72・・・接続部      80〜82・・・役83
〜85・・・トランジスタ(ディプレッション)86〜
88・・・トランジスタ(エンハンスメント)LL  
          LL =

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、半導体本体を具え、その表面に隣接する平行なn相
    の電荷結合装置を設け、各電荷結合装置が感光性要素(
    画素)の二次元パターンの一ラインを形成し、放射線像
    の入射放射線が電荷パケットに変換され、パケットのサ
    イズが入射放射線の強さにより決まり、これらの電荷結
    合装置が交互にn相の一つに属する複数個の電極を有す
    るn相のクロック電極システムを具え、各電荷結合装置
    のこれらのn相の第一の電極が選択的にバイアスされ、
    残りの(n−1)個の相の電極が全電極システムに共通
    であり、その結果、選択された電荷結合装置の第1の相
    の電極に適当な電圧を印加すると、二次元パターンの選
    択された一ラインを読出すことができ、選択されたライ
    ンの電荷パケットはずっと対応する電荷結合装置に蓄え
    られるライン転送形の電荷結合イメージセンサ装置にお
    いて、放射線像の記録時に電荷結合装置の第1の相の電
    極に異なる電圧を印加する手段を設け、一方の電圧では
    前記電極が個別の電極として働き、これらの電極の下の
    半導体領域では電位障壁が形成され、これらの電位障壁
    が隣接する画素を互に分離し、他方の電圧では前記電極
    が光ゲートとして働き、これらの電極の下にある半導体
    領域が各々の一個の所定の画素に属し、一個のラインの
    2個の隣接する画素は共通電極の下の半導体領域内に形
    成される電位障壁により互に分離されるように構成した
    ことを特徴とする電荷結合イメージセンサ装置。 2、一個の放射線像を記録し、読み出すことを二回直接
    続けて行う場合、最初に読出した後に、第二回目の像を
    記録する時第1の相の電極に最初に放射線像を記録する
    時これらの電極に印加した電圧と異なる電圧を印加する
    手段を設けたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載の電荷結合イメージセンサ装置。 3、前記個別の電極を一個のシフトレジスタにより駆動
    することを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第2項
    記載の電荷結合イメージセンサ装置。 4、前記シフトレジスタにより読出した時に毎回2個の
    隣接するラインを時分割多重で読出すことを特徴とする
    特許請求の範囲第3項記載の電荷結合イメージセンサ装
    置。
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NL8500337 1985-02-07

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