JPS61173612A - ガス絶縁閉鎖配電盤の絶縁低下検出装置 - Google Patents
ガス絶縁閉鎖配電盤の絶縁低下検出装置Info
- Publication number
- JPS61173612A JPS61173612A JP60012584A JP1258485A JPS61173612A JP S61173612 A JPS61173612 A JP S61173612A JP 60012584 A JP60012584 A JP 60012584A JP 1258485 A JP1258485 A JP 1258485A JP S61173612 A JPS61173612 A JP S61173612A
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- insulation
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
本発明は、真空遮断器を収納するとともC二絶縁ガスを
封入し九ガス絶縁閉鎖配電盤の絶縁低下検出装置ktC
関するものである。
封入し九ガス絶縁閉鎖配電盤の絶縁低下検出装置ktC
関するものである。
[発明の技術的背景とその問題点コ
近年、中圧縁の閉鎖配電盤1ユおいても、密閉構造とし
た閉鎖箱内に例えば六ふつ化硫黄ガス(以下8F6ガス
という)ま7tt28Faガスと空気の混合ガスを封入
し、従来の空気絶縁C:代えて絶縁耐力を向上させ、閉
鎖配電盤を小形化して設置空間の縮小と保守点検を容易
とすることが図られてき念。
た閉鎖箱内に例えば六ふつ化硫黄ガス(以下8F6ガス
という)ま7tt28Faガスと空気の混合ガスを封入
し、従来の空気絶縁C:代えて絶縁耐力を向上させ、閉
鎖配電盤を小形化して設置空間の縮小と保守点検を容易
とすることが図られてき念。
この絶縁ガスを封入し迄ガス絶縁閉鎖配電盤(以下ガス
キユービクルという)は、大気とは完全C−区画される
ので、従来の空気絶縁で問題となっていた気象条件(例
えば大気の相対湿度や密度の変化等)や環境条件(例え
ば汚損物や塵埃の付着)等に影響されないので、安全と
信頼性が大幅に向上する。
キユービクルという)は、大気とは完全C−区画される
ので、従来の空気絶縁で問題となっていた気象条件(例
えば大気の相対湿度や密度の変化等)や環境条件(例え
ば汚損物や塵埃の付着)等に影響されないので、安全と
信頼性が大幅に向上する。
しかしながら、このガスキユービクルは、上記したよう
ζユ完全密閉構造であるから通常の保守点検ζ二際して
内部の状態を目視することができず、また、内部で一旦
異常が発生すると、その点検や修理をする場合Cユ封入
している絶縁ガスを排出したり再封入をしなければなら
なくなり、この絶縁ガスの処理作業のためC二停電時間
が大幅に長くななることが、ガスキユービクルの欠点と
されているO そこで、これらの異常発生原因を除去するためには、ま
ず、過去のこの種のガスキユービクルにおける10年以
上の運転経過したものの異常発生原因を分析し、これを
参考Cユして対策を講じることが必要である。
ζユ完全密閉構造であるから通常の保守点検ζ二際して
内部の状態を目視することができず、また、内部で一旦
異常が発生すると、その点検や修理をする場合Cユ封入
している絶縁ガスを排出したり再封入をしなければなら
なくなり、この絶縁ガスの処理作業のためC二停電時間
が大幅に長くななることが、ガスキユービクルの欠点と
されているO そこで、これらの異常発生原因を除去するためには、ま
ず、過去のこの種のガスキユービクルにおける10年以
上の運転経過したものの異常発生原因を分析し、これを
参考Cユして対策を講じることが必要である。
この−例として、電気協同研究会報告書(第36巻第3
号)C二、絶縁ガス中における故障は、機械的なものが
52%でその大半はガス洩れであること、また、電気的
なものが48チでその大半は絶縁劣化で、沿面尖絡、部
分放電、地絡、短絡等で、絶縁ガス中1−おける故障は
その大半が絶縁破壊Cユ至る重大事故C:つながる危険
性があると報告されている。したがって、重大事故を未
然に防止する九めC:け、絶縁劣化の予知検出がきわめ
て重要であることを示唆している。
号)C二、絶縁ガス中における故障は、機械的なものが
52%でその大半はガス洩れであること、また、電気的
なものが48チでその大半は絶縁劣化で、沿面尖絡、部
分放電、地絡、短絡等で、絶縁ガス中1−おける故障は
その大半が絶縁破壊Cユ至る重大事故C:つながる危険
性があると報告されている。したがって、重大事故を未
然に防止する九めC:け、絶縁劣化の予知検出がきわめ
て重要であることを示唆している。
一方、ガスキユービクル内に収納される真空遮断器は、
ガス遮断器のように絶縁ガス中C:おいて電流遮断を行
わないので、電流遮断時iユおける分解ガスの発生は全
くない。シ声がって、絶縁ガスの劣化管理は容易となる
が、反面真空バルブにおいては、真空不良が発生し7’
C場合Cユその検出がきわめて困難C二なる。
ガス遮断器のように絶縁ガス中C:おいて電流遮断を行
わないので、電流遮断時iユおける分解ガスの発生は全
くない。シ声がって、絶縁ガスの劣化管理は容易となる
が、反面真空バルブにおいては、真空不良が発生し7’
C場合Cユその検出がきわめて困難C二なる。
これは、真空不良が発生した場合C二絶縁ガスが真空バ
ルブ内C:侵入し絶縁が回復されるためで、従来実施さ
れている開極後の耐電圧試験等では真空不良の条件によ
っては完全に検出することができないからである。
ルブ内C:侵入し絶縁が回復されるためで、従来実施さ
れている開極後の耐電圧試験等では真空不良の条件によ
っては完全に検出することができないからである。
以上述べたように、真空遮断器を収納するガスキユービ
クルC−おいては、絶縁劣下の検出と、真空バルブの真
空不良の検出がメンテナンス7り一化を指向する上でき
わめて重要な課題となってきた0 [発明の目的コ 本発明は、上記し次事情に鑑みてなされたもので、ガス
キユービクルの内部に封入した絶縁ガスの絶縁劣化と真
空バルブの真空不良C:よる絶縁劣化を、その程度を含
めて検出できるようCニしたガス絶縁閉鎖配電盤の絶縁
低下検出装置を提供することを目的とする。
クルC−おいては、絶縁劣下の検出と、真空バルブの真
空不良の検出がメンテナンス7り一化を指向する上でき
わめて重要な課題となってきた0 [発明の目的コ 本発明は、上記し次事情に鑑みてなされたもので、ガス
キユービクルの内部に封入した絶縁ガスの絶縁劣化と真
空バルブの真空不良C:よる絶縁劣化を、その程度を含
めて検出できるようCニしたガス絶縁閉鎖配電盤の絶縁
低下検出装置を提供することを目的とする。
[発明の概要コ
本発明に、絶縁ガスが封入された閉鎖箱の内部C二収納
した真空バルブの内部C二連通し、絶縁ガス中Cユ沿面
距離を有する絶縁ブッシングと、一端を主回路Cユ接続
し切替可能とし九複数の可変コンデンサと、この可変コ
ンデンサの分圧端子と大地間に直列に接続する主コンデ
ンサおよび検出器と、一端を主回路I:接続し他端を可
変コンデンサの分圧端子に接続した放電ギャップで構成
し、真空バルブの真空度が低下すると放電電圧が低下す
るから、この放電電圧を放電ギャップを介して検出し、
また、絶縁ガスの絶縁が低下すると絶縁ブッシングの沿
面絶縁が低下するから、この放電電圧を絶縁ブッシング
を介して検出することにより、真空バルブの真空低下と
絶縁ガスの絶縁低下を、その程度を含めて検出可能とし
たものである。
した真空バルブの内部C二連通し、絶縁ガス中Cユ沿面
距離を有する絶縁ブッシングと、一端を主回路Cユ接続
し切替可能とし九複数の可変コンデンサと、この可変コ
ンデンサの分圧端子と大地間に直列に接続する主コンデ
ンサおよび検出器と、一端を主回路I:接続し他端を可
変コンデンサの分圧端子に接続した放電ギャップで構成
し、真空バルブの真空度が低下すると放電電圧が低下す
るから、この放電電圧を放電ギャップを介して検出し、
また、絶縁ガスの絶縁が低下すると絶縁ブッシングの沿
面絶縁が低下するから、この放電電圧を絶縁ブッシング
を介して検出することにより、真空バルブの真空低下と
絶縁ガスの絶縁低下を、その程度を含めて検出可能とし
たものである。
[発明の実施例コ
以下、本発明のガスキユービクルの絶縁低下検出装置の
一実施例を図面を参照して説明する。まず、ガスキユー
ビクルの構成を!1図を参照して説明する。閉鎖箱lは
気密に構成されており、この内部にはSF6ガスを封入
するとともシニ真空遮断器2、操作機構3mを連結した
電源側断路器3、操作機構4畠を連結した負荷側断路器
4、変流器5、負荷側C:接続される母線6、電源側に
接続されるケーブルヘッド7等が敗付けられており、こ
れらの機器は導体8で接続されている。なお、同図中符
号9はケーブルヘッド71;取付けられたシールドリン
グ、符号lOは計器用変成器を示す0次に、絶縁低下検
出装置の構成を第2図を参照して説明する。真空遮断器
2の真空バルブ11111’公知の構成であるが、この
7ランジ12にはパイロット電極13が設けられる。こ
のパイロット電極13の一端は、7ランジ12および真
空バルブ11の主回路導体14と同電位となり、他端は
分圧要素15の分圧端子16に接続される。この分圧要
素15は、主コンデンサC1と可変コンデンサCxが直
列C二接続されており、主コンデンサC1の一端は閉鎖
箱1の外部Cユ設けられた検出器17を介して大地−接
続されている0また、パイロット電極13は、第3図&
:示すよう1−7ランジ121m、設けた開口部121
と内部が連通ずる絶縁ブッシング18と、この絶縁ブッ
シング18の内部ζ:配設される放電ギャップ19で構
成されている。
一実施例を図面を参照して説明する。まず、ガスキユー
ビクルの構成を!1図を参照して説明する。閉鎖箱lは
気密に構成されており、この内部にはSF6ガスを封入
するとともシニ真空遮断器2、操作機構3mを連結した
電源側断路器3、操作機構4畠を連結した負荷側断路器
4、変流器5、負荷側C:接続される母線6、電源側に
接続されるケーブルヘッド7等が敗付けられており、こ
れらの機器は導体8で接続されている。なお、同図中符
号9はケーブルヘッド71;取付けられたシールドリン
グ、符号lOは計器用変成器を示す0次に、絶縁低下検
出装置の構成を第2図を参照して説明する。真空遮断器
2の真空バルブ11111’公知の構成であるが、この
7ランジ12にはパイロット電極13が設けられる。こ
のパイロット電極13の一端は、7ランジ12および真
空バルブ11の主回路導体14と同電位となり、他端は
分圧要素15の分圧端子16に接続される。この分圧要
素15は、主コンデンサC1と可変コンデンサCxが直
列C二接続されており、主コンデンサC1の一端は閉鎖
箱1の外部Cユ設けられた検出器17を介して大地−接
続されている0また、パイロット電極13は、第3図&
:示すよう1−7ランジ121m、設けた開口部121
と内部が連通ずる絶縁ブッシング18と、この絶縁ブッ
シング18の内部ζ:配設される放電ギャップ19で構
成されている。
ここで、絶縁ブッシング18 ri、その材料として絶
縁ガス(8F6ガスと空気の混合ガス)中で絶縁低下1
ユ反応しやすい例えば耐分解性ガスが劣るガラスや磁器
等のようCユ珪素(Sl)を含んだものを用いる。一方
、分圧要素15の可変コンデンサCXは、cxl 、
cxs 、 cxaと分圧電圧が切替器20によって変
化でき、この切替えの場合C:分圧回路が開放状態にな
らないようI:する九め、接点21を2個設けて分圧回
路を形成しながら切替えるようシュしかつ閉鎖箱1の外
部から操作可能Cユ構成されている。同図に示すCxo
Fi、パイロット電極13が内部または外部で連続放電
を繰返すような場合C:、分圧回路を短絡して印加電圧
を0にするため(−設けたものであるoシfF−かって
、主コンデンサC1は、 単独で主回路の耐電圧強度を有している。
縁ガス(8F6ガスと空気の混合ガス)中で絶縁低下1
ユ反応しやすい例えば耐分解性ガスが劣るガラスや磁器
等のようCユ珪素(Sl)を含んだものを用いる。一方
、分圧要素15の可変コンデンサCXは、cxl 、
cxs 、 cxaと分圧電圧が切替器20によって変
化でき、この切替えの場合C:分圧回路が開放状態にな
らないようI:する九め、接点21を2個設けて分圧回
路を形成しながら切替えるようシュしかつ閉鎖箱1の外
部から操作可能Cユ構成されている。同図に示すCxo
Fi、パイロット電極13が内部または外部で連続放電
を繰返すような場合C:、分圧回路を短絡して印加電圧
を0にするため(−設けたものであるoシfF−かって
、主コンデンサC1は、 単独で主回路の耐電圧強度を有している。
第4図は、真空バルブ11内の圧力と放電電圧の関係を
示す線図であり、パッシェンの法則(−より、圧力がI
X 10 Torr以下の範囲すなわちAの領域で
は放電電圧が一定し高い。圧力がBの領域では放電電圧
が急激に低下する範囲がある。そこで、CXIの分圧電
圧で放電電圧Bl、CX2で13s、cxaでBSの放
電電圧をそれぞれ設定するように放電ギャップ19の間
隙長を選定する。
示す線図であり、パッシェンの法則(−より、圧力がI
X 10 Torr以下の範囲すなわちAの領域で
は放電電圧が一定し高い。圧力がBの領域では放電電圧
が急激に低下する範囲がある。そこで、CXIの分圧電
圧で放電電圧Bl、CX2で13s、cxaでBSの放
電電圧をそれぞれ設定するように放電ギャップ19の間
隙長を選定する。
一方、絶縁ガスの絶縁低下は、絶縁ガスに表面側が接触
する絶縁ブッシング18の沿面距離りを、ガスキユービ
クルの耐電圧管理値例えばCx1lの分圧電圧で放電す
る長さに設定しておき検出する。
する絶縁ブッシング18の沿面距離りを、ガスキユービ
クルの耐電圧管理値例えばCx1lの分圧電圧で放電す
る長さに設定しておき検出する。
次に、上記構成1ユより真空バルブ11の真空不良と絶
縁ガスの絶縁低下を検出する方法fユついて説明する。
縁ガスの絶縁低下を検出する方法fユついて説明する。
常時の運転電圧は、分圧要素15によってパイロット電
極13(−印加されている。しかして、真空バルブ11
の真空度が低下した場合には、放電ギャップ19の放電
電圧を第4図の放電レベルB1.BS、BSでそれぞれ
検出する0マ几、例えば分解ガスの発生、ガス漏洩によ
る圧力低下または水分の侵入等のような要因で絶縁ガス
の絶縁が低下した場合には、絶縁ブッシング18の沿面
絶縁も低下して放電するのでこれC二より検出する。
極13(−印加されている。しかして、真空バルブ11
の真空度が低下した場合には、放電ギャップ19の放電
電圧を第4図の放電レベルB1.BS、BSでそれぞれ
検出する0マ几、例えば分解ガスの発生、ガス漏洩によ
る圧力低下または水分の侵入等のような要因で絶縁ガス
の絶縁が低下した場合には、絶縁ブッシング18の沿面
絶縁も低下して放電するのでこれC二より検出する。
上記し次放電ギャップにおける放電(内部放電)と絶縁
ブッシング18における放電(外部放電)の放電電流は
、可変コンデンサOxの一種の部分放電であるから、こ
の放電電流を検出器17で検出することによって真空バ
ルブ11の真空不良や絶縁ガスの絶縁低下を検出するこ
とができる。ま友、この検出C二よって警報表示や絶縁
低下を予知することもできる。
ブッシング18における放電(外部放電)の放電電流は
、可変コンデンサOxの一種の部分放電であるから、こ
の放電電流を検出器17で検出することによって真空バ
ルブ11の真空不良や絶縁ガスの絶縁低下を検出するこ
とができる。ま友、この検出C二よって警報表示や絶縁
低下を予知することもできる。
一方、上記し比検出装置は、真空遮断器の3相シ:それ
ぞれ取付けるので、絶縁ガスが絶縁低下した場合C′−
は3相とも前後して放電が発生するが、真空バルブの真
空不良の場合C−ハ同時Cユ発生する確率はきわめて小
さいと考えてよいから、両者の識別に容易にできる。
ぞれ取付けるので、絶縁ガスが絶縁低下した場合C′−
は3相とも前後して放電が発生するが、真空バルブの真
空不良の場合C−ハ同時Cユ発生する確率はきわめて小
さいと考えてよいから、両者の識別に容易にできる。
また、切替器20によって、その絶縁低下の進行程度も
判定することができる。
判定することができる。
[発明の効果コ
本発明は、以上のようシュ構成されているから、ガスキ
ユービクルC二おいて、封入されている絶縁ガスの絶縁
低下や内部に収納されている真空遮断器の真空バルブの
真空不良を、常時の運転状態で監視することができ、重
大事故に進行する前Cユ予知でき、未然に防止すること
が可能となり、被制御系統ま几はプラントの保護をさら
(;強化することができる。
ユービクルC二おいて、封入されている絶縁ガスの絶縁
低下や内部に収納されている真空遮断器の真空バルブの
真空不良を、常時の運転状態で監視することができ、重
大事故に進行する前Cユ予知でき、未然に防止すること
が可能となり、被制御系統ま几はプラントの保護をさら
(;強化することができる。
第1図は本発明の一実施例1ユ関連するガス絶縁閉鎖配
電盤の構成を示す側面図、第2図は本発明の一実施例を
示す回路図、第3図は本発明の一実施例を示す構成図、
第4図は絶縁ガス中Cユおける圧力と放電電圧の関係を
示す線図である。 l・・・閉鎖箱 2・・・真空遮断器11・・
・真空バルブ 14・・・主回路導体17−・・検
出器 18・・・絶縁ブッシング19・−放電
ギャップ CX1. CXL cxs ”−1iT変:F ンf
ン”!?”C・−生コンデンサ
電盤の構成を示す側面図、第2図は本発明の一実施例を
示す回路図、第3図は本発明の一実施例を示す構成図、
第4図は絶縁ガス中Cユおける圧力と放電電圧の関係を
示す線図である。 l・・・閉鎖箱 2・・・真空遮断器11・・
・真空バルブ 14・・・主回路導体17−・・検
出器 18・・・絶縁ブッシング19・−放電
ギャップ CX1. CXL cxs ”−1iT変:F ンf
ン”!?”C・−生コンデンサ
Claims (1)
- 絶縁ガスが封入された閉鎖箱の内部に収納した真空バル
ブの内部に連通し、絶縁ガス中に沿面距離を有する絶縁
ブッシングと、一端を主回路に接続し切替可能とした複
数の可変コンデンサと、この可変コンデンサの分圧端子
と大地間に直列に接続する主コンデンサおよび検出器と
、一端を主回路に接続し他端を前記可変コンデンサの分
圧端子に接続した放電ギャップとから成るガス絶縁閉鎖
配電盤の絶縁低下検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60012584A JPS61173612A (ja) | 1985-01-28 | 1985-01-28 | ガス絶縁閉鎖配電盤の絶縁低下検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60012584A JPS61173612A (ja) | 1985-01-28 | 1985-01-28 | ガス絶縁閉鎖配電盤の絶縁低下検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61173612A true JPS61173612A (ja) | 1986-08-05 |
Family
ID=11809399
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60012584A Pending JPS61173612A (ja) | 1985-01-28 | 1985-01-28 | ガス絶縁閉鎖配電盤の絶縁低下検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61173612A (ja) |
-
1985
- 1985-01-28 JP JP60012584A patent/JPS61173612A/ja active Pending
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