JPS61173173A - Ic試験用バ−ンインボ−ド - Google Patents

Ic試験用バ−ンインボ−ド

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JPS61173173A
JPS61173173A JP60014769A JP1476985A JPS61173173A JP S61173173 A JPS61173173 A JP S61173173A JP 60014769 A JP60014769 A JP 60014769A JP 1476985 A JP1476985 A JP 1476985A JP S61173173 A JPS61173173 A JP S61173173A
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JP
Japan
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printed circuit
circuit board
board
burn
rigid
Prior art date
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Pending
Application number
JP60014769A
Other languages
English (en)
Inventor
Akio Nakamura
昭雄 中村
Takumi Suda
工 須田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shin Etsu Polymer Co Ltd
Shin Etsu Chemical Co Ltd
Original Assignee
Shin Etsu Polymer Co Ltd
Shin Etsu Chemical Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Shin Etsu Polymer Co Ltd, Shin Etsu Chemical Co Ltd filed Critical Shin Etsu Polymer Co Ltd
Priority to JP60014769A priority Critical patent/JPS61173173A/ja
Publication of JPS61173173A publication Critical patent/JPS61173173A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はIC試験用バーンインボード、特には剛性盤体
を磁気的結合手段で固着するようにしたフラットパッケ
ージICの加熱通電試験用のソケットレス・バーンイン
ポーげに関するものである。
(従来の技術) IC,LSIなどの半導体装置は出荷される時にその全
数がバーンイン試験によって初期故障チェックされてい
るが、この試験は数十個のICをプリント基板上に載せ
、120〜160℃の高温雰囲気で一定時間通電負荷を
かけるという方法で行なわれており、ICのプリント基
板への搭載にはソケット方式が用いられていた。
しかして、DIP、SIP、PGAなどのようなリード
ビン挿入型ICはプリント基板に半田付固定した専用I
Cソケットの雌型ピンにICリードを挿入して電気的接
続をさせても、このソケットが安価であり、電気的接続
も確実で、ICリードの挿抜繰返しも簡単であるけれど
も、LCClPLCC,FPP、SOPなどのフラット
パッケージICでは特殊構造の専用ソケットが必要とさ
れ、これには一定ピツチで配列されたコンタクトバネを
ポリサルホン、ポリブチレンテレフタレート(PBT)
、ホリフェニレンサルファイド樹脂(PPS)などのよ
うな熱可塑性樹脂でモールドした専用ソケットを使用し
、開閉可能に設計された」二蓋を閉めてソケット内に装
着したICパッケージを加圧し、この加圧力によってI
CのI/Oリードとコンタクトバネとの電気的接続を得
るというものであるため、l)ンケッ1価が高価になる
、2)IC設計の変更のたびに新しいソケットを作る必
要があり、そのために高価な成型用金型が必要とされる
。3)ソケット寸法がICソケフト寸法に対して嵩高い
ためにプリント基板1枚に対するIC搭載数量が少ない
という不利であった。
このため、最近はソケットレス・バーンインボード方式
が開発され、この方式はフラットパッケージICをプリ
ント基板上に直接または異方導電性シートを介して搭載
し、これらの上下両面を剛性を有する盤体で挟持して機
械的に加圧することによって該ICの170電極と該プ
リント基板のパターン電極との電気的接続を得るという
ものであるということから、これには位置決め固定枠を
プリント基板上に固定するだけでI/O電極と該プリン
ト基板との位置合わせが可能となるので、IC設計が変
更されたときでも位置決め固定枠成形用金型を作るだけ
でよく、これは極めて安価であり、L記剛性盤体も熱可
塑性樹脂または熱硬化性樹脂のように射出成形、圧縮成
形で大量生産できる安価なものでもよいという利点があ
り、さらにはこのプリント基板は数種類の規格にまとめ
ることが可能であるためこの成型用金型もこれに合わせ
て数種類を製作するだけで対応することができるので、
ソケット方式にくらべてIC設計の変更に伴なう費用を
非常に少なくすることができるという利点がある。
しかし、このソケットレス・バーンインボード方式では
ICパッケージが直接あるいは厚みが薄くて変位置の小
さい異方導電性ゴムシートを介し゛て硬質のプリント基
板に搭載されているため、確実な電気的接続を得るため
には高い圧力が必要とされ、士数個から百般十個のIC
を搭載するように設計された大寸法のプリント基板に剛
性盤体を梁り渡してICをプリント基板に加圧し、12
0〜160’cの高温奪回%に放置すると熱可塑性樹脂
または熱硬化性樹脂で作られた剛性盤体が内部圧力によ
るクリープ変形によって押し開かれるために電気接続が
得られにくくなるという不利があり、この不利を解決す
るために剛性盤体を鋼鉄、ステンレス鋼、アルミニウム
などの金属製の分厚いものとすると重量が嵩むためにバ
ーンイン試験槽への出し入れが不便になるし、これは機
械加工によって成形されるために加工費の高いものとな
り、量産性もわるくなるという欠点が生じる。
(発明の構成) 本発明はこのような不利を解決したIC試験用バーンイ
ンボードに関するものであり、これはフラットパッケー
ジICを直接または異方導電性シートを介してプリント
基板に載せ、これらの上下両面を磁気的結合手段により
固着するようにした剛性盤体で挟持して加圧し、該IC
のI/O電極と該プリント基板のパターン電極とを電気
的に接続するようにしてなることを特徴とするものであ
すなわち、本発明者らは従来公知のソケットレス・バー
ンインボードの不利を解決する方法について種々検討し
た結果、この種のソケットレス・バーンインボードにお
けるプリント基板とフラットパッケージICとを挟持す
る上下2枚の剛性盤体の接合をこの剛性板体に磁石を取
りつけ、この磁石の磁気的結合で行なわせるようにすれ
ば特に大きな機械的圧力を加えなくてもこの剛性盤体の
磁気的結合によってプリント基板とICとが接合される
ので、これらの間の電気的接続が容易にかつ確実に行な
われるということを見出し、これによれば、この剛性板
体に大きな機械的圧力を加える必要がないので剛性板体
を金属板に限定する必要はなく、したがってこれを安価
で成形も容易な合成樹脂製としてもよいということを確
認し、この磁気的結合手段、剛性盤体の種類、形状など
についてこの研究を進めて本発明を完成させた。
つぎに本発明のバーンインボードを添付の図面にもとづ
いて説明する。第1図は本発明のIC用せ馳田バーソイ
ンゼーVの窃断面Mか云14たものであり、図中の下側
剛性盤体lと上側剛性盤体2は蝶番部3で開閉可動に相
互に係止されており、これらは蝶番部3の反対側のラッ
チ4でブックされている。この剛性盤体1,2はポリア
ミノビスマレイミド(PABM)、  ビスマレイミド
トリアジン樹脂(BTレジン)、ポリアミドイミド樹脂
、ポリオキシベンゾイル樹脂、ボリアリレート樹脂、ポ
リサルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリフェ
ニレンサルファイド樹脂(PPS)などのような耐熱性
エンジニアリングプラスチックで成形されたものとすれ
ばよく、これは鋼鉄、ステンレス鋼、アルミニウム、ジ
ュラルミンなどの金属成形物であってもよいが、耐熱性
樹脂のものが射出成形なので量産できるのに対して金属
成形材は機械加工によるもので量産性がわるいので、耐
熱性樹脂製のものとすることがよい。
この下側剛性盤体lの上には銅張ガラス布ポリイミド樹
脂積層板、銅張ガラス布エポキシ樹脂積層板などで作ら
れた耐熱性プリント基板5が固定され、これには上記し
た耐熱性樹脂から成形された。または上記の耐熱性積層
板からNC加工で作られた位置決め固定枠6が固定され
ているが、この固定枠6の中には必要に応じ異方導電性
ゴムシート7が収納されており、ここにLCCなどのフ
ラットパッケージIC8が挿入される。また、この種の
装置では剛性盤体によるプリント基板、ICの挟持を効
果的に行なうために上側と下側の剛性盤体に図示したよ
うにゴムバッキング9が接着固定されるが、このバッキ
ング9はプリント基板、フラットパッケージIC1異方
導電性ゴムシートの厚み公差や、剛性盤体の成形公差、
反りなどを吸収してフラットパッケージICをプリント
基板に押しつける働きをする。
本発明のバーンインボードでは上記した剛性盤体1.2
の接合が磁気的結合により行なわれるのであるが、この
磁気的結合を行なわせる手段としてはこの剛性盤体l、
2に磁石lOが設けられる。この磁石/Oは保磁力H、
最大エネルギ積(Bl()marなどの磁気的性質にす
ぐれており。
高温雰囲気中での熱減磁の小さいSmCo5系、S I
I 2 Co□系などの希土類永久磁石とすることがよ
いが、これらは図に示しであるように円柱状、角柱状の
ものとして、N、S極が向き合うようにL下剛性盤体に
プリント基板5を貫通するように接着固定すればよく、
これによれば上側剛性盤体を上げた状態でフラットパッ
ケージICを前記した固定枠6の中に挿入してから、上
側剛性盤体を閉じるとこの磁石/Oの磁気的結合によっ
て上下剛性盤体が固着されるので、これによってIC8
がプリント基板5に接続され、電気的接続が容易にかつ
確実に行なわれるという効果が与えられる。
つぎに本発明の実施例をあげるが、これは本発明を限定
するものではない。
実施例 第2図に示したように、24ピン−LCC(JEDEC
タイプ)11の18個を、プリント基板の巾方向に3個
、長さ方向に6個がピッチ40m■でセンター振分は搭
載するようにパターン設計した巾160s■×長さ30
0℃麿のプリント基板1ヱを製作し、該LCC用電極パ
ターンを挟む位置に合計24個の丸穴(径8■■)13
を穴明加工した。ついでこのプリント基板上にLCC位
置決め枠をビス止め固定し、この枠内の電極パターン上
に異方導電性ゴムシート(信越ポリマー社製インターコ
ネクターMAFタイプ)を置き、さらに該LCCを搭載
したが、これは実験によりLCCの上からIKgFの応
力をかけると、LCCとプリント基板間の接触抵抗が5
0mΩ以下になることが確められた。
つぎにポリアミノビスマレイミド樹脂・キネル4515
(仏閣、ローヌプーラン社製商品名)で厚さ8腸■に成
形し、成形歪を除去するために200℃で12時間熱処
理をし、上記したプリント基板のLCC電極に相当する
位置に応力I Kgfが発生するように厚み設計したシ
リコーンゴムバッキング・GA−40(信越ポリマー社
製商品名)を18個接着すると共に、上記したプリント
基板の丸穴に相当する位置に直径71組長さ51で軸方
向上下に着磁した保磁力Hc =7,000エルステッ
ド、最大エネルギー(BH)   =27メガガウaX ス・エルステッド、150℃における熱減磁が/O%の
S m Co 5系希土類永久磁力24個を接着させた
2枚の剛性盤体をプリント基板の巾(1601I纏)方
向に梁り渡して同樹脂で成形したラッチで上記したプリ
ント基板を挟持させたところ、この磁石のN−5吸引力
が1.05Kgf  (実測値)であることから上下の
剛性盤体はシリコーンゴムバッキングの応力に打ち勝っ
て空隙ゼロで完全に結合し、これによってLCCとプリ
ント基板は接触抵抗50mΩ以下の状態で/O0%電気
的接続が行なわれ、これは150℃で96時間放置を/
O回くり返しても変化がなかった。
しかし、比較のために上記において永久磁石を使用せず
、上下剛性盤体を閉じたところ、LCCとプリント基板
は50mΩ以下の状態で/O0%電気的に接続されたが
、150℃の恒温槽中で96時間放置後はこれらの接続
は抵抗値が となって電気的接続がほとんど失われてお
り、上下剛性盤体を開きLCCを取り外して上下剛性盤
体のクリヤランスを測定したところ、これはその中央部
において1,5層脚で初期状態よりも開いた状態であっ
た。
【図面の簡単な説明】
第1rl!Jは本発明のIC試験用バーンインボードの
縦断面要因、第2図は実施例におけるプリント基板の平
面図を示したものである。 19・・下側剛性盤体、  2・・拳上側剛性盤体、3
@・・蝶番部、    4・・・ラッチ、5.12・Φ
Φプリント基板、 6・・・位置決め固定枠、 7・・・異方導電性シート、 811・−フラットパッケージIC 9@・・ゴムパツキン、・/O・・・永久磁石、1l−
−−LCCl   13−−−丸穴、手続補正帯 昭和60年3月5日

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、フラットパッケージICを直接または異方導電性シ
    ートを介してプリント基板上に載せ、これらの上下両面
    を磁気的結合手段により固着するようにした剛性盤体で
    挟持して加圧し、該ICのI/O電極と該プリント基板
    のパターン電極とを電気的に接続するようにしてなるこ
    とを特徴とするIC試験用バーンインボード。 2、磁気的結合がプリント基板を貫通してなされる特許
    請求の範囲第1項記載のIC試験用バーンインボード。
JP60014769A 1985-01-29 1985-01-29 Ic試験用バ−ンインボ−ド Pending JPS61173173A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60014769A JPS61173173A (ja) 1985-01-29 1985-01-29 Ic試験用バ−ンインボ−ド

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60014769A JPS61173173A (ja) 1985-01-29 1985-01-29 Ic試験用バ−ンインボ−ド

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Publication Number Publication Date
JPS61173173A true JPS61173173A (ja) 1986-08-04

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ID=11870268

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60014769A Pending JPS61173173A (ja) 1985-01-29 1985-01-29 Ic試験用バ−ンインボ−ド

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JP (1) JPS61173173A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4899107A (en) * 1988-09-30 1990-02-06 Micron Technology, Inc. Discrete die burn-in for nonpackaged die

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56123478A (en) * 1979-11-08 1981-09-28 Sun Chemical Corp Crosslinking reactant agent of fiber product
JPS5942982B2 (ja) * 1979-02-19 1984-10-18 松下電器産業株式会社 化合物半導体装置の電極形成方法

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