JPS61173169A - 光学測定装置 - Google Patents
光学測定装置Info
- Publication number
- JPS61173169A JPS61173169A JP60016182A JP1618285A JPS61173169A JP S61173169 A JPS61173169 A JP S61173169A JP 60016182 A JP60016182 A JP 60016182A JP 1618285 A JP1618285 A JP 1618285A JP S61173169 A JPS61173169 A JP S61173169A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical
- read
- sensor probe
- memory
- optical modulator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、例えば温度、Ｉｔ流、磁界、電圧。
電界等の被測定物理量を、光学的に測定する光学測定装
置に関するものである。
置に関するものである。
第８図は従来の光学測定装置を示すブロック線図であり
、第８図において、光源（１）は第２図に示す発光スペ
クトルＡを出力し、ビームスプリッタ（２）と一対の光
コネクタ部（４ｂ） Ｉ （４ａ）と光ファイバー１５
１とを介して光変調器（３）に導かれる。光変調器（３
）では例えば被測定物理量が温度の場合には、測定温度
に対応して第２図に示す光受信器（６）の光吸収端波長
Ｂを、第２図の左右方向に変調し、光変調器＋３１を構
成する半導体に吸収される吸収光ＩＩｃと透過する透過
光［１）とを変調する。光変調器（６）で測定温度に対
応して変調された透過光ｆｉＤは、光変調器（６）の反
射板で反射されて、光ファイバ（５）及び一対の光コネ
クタ部（４ａ） 、 （４ｂ）を介してビームスプリッ
タ＋２１に入射され、ビームスプリッタ（２１で反射さ
れて光受信器（６）に導かれる。光受信器（６）の入射
光量は、アナログ量の電気信号に変換されて後、信号増
幅器（７）で増幅して、Ａ／Ｄ変換器＋８１でディジタ
ル量の電気信号に変換され、信号処理器（９）に入力さ
れる。信号処理器（９）はリードオンリーメモリｆｌｌ
からのセンサプローブ＋１２）の固有のデータを読取り
、Ａ／Ｄ変換器（８）からの電気信号を処理して測定温
度を計数し、表示する。
、第８図において、光源（１）は第２図に示す発光スペ
クトルＡを出力し、ビームスプリッタ（２）と一対の光
コネクタ部（４ｂ） Ｉ （４ａ）と光ファイバー１５
１とを介して光変調器（３）に導かれる。光変調器（３
）では例えば被測定物理量が温度の場合には、測定温度
に対応して第２図に示す光受信器（６）の光吸収端波長
Ｂを、第２図の左右方向に変調し、光変調器＋３１を構
成する半導体に吸収される吸収光ＩＩｃと透過する透過
光［１）とを変調する。光変調器（６）で測定温度に対
応して変調された透過光ｆｉＤは、光変調器（６）の反
射板で反射されて、光ファイバ（５）及び一対の光コネ
クタ部（４ａ） 、 （４ｂ）を介してビームスプリッ
タ＋２１に入射され、ビームスプリッタ（２１で反射さ
れて光受信器（６）に導かれる。光受信器（６）の入射
光量は、アナログ量の電気信号に変換されて後、信号増
幅器（７）で増幅して、Ａ／Ｄ変換器＋８１でディジタ
ル量の電気信号に変換され、信号処理器（９）に入力さ
れる。信号処理器（９）はリードオンリーメモリｆｌｌ
からのセンサプローブ＋１２）の固有のデータを読取り
、Ａ／Ｄ変換器（８）からの電気信号を処理して測定温
度を計数し、表示する。
上記のような従来の装置では、光変調器；３）の固有デ
ータ、例えば光吸収端波長Ｂが、個々の光変調Ｈ＋３１
によって異なる場合、またはセンサプローブ１１２の固
有データ、例えば直線性や感度が、個々のセンサプロー
ブ１１３によって異なる場合、リードオンリーメモリｕ
１をその都度変換するか、データの内容を変更しなけれ
ばならない問題点があった。
ータ、例えば光吸収端波長Ｂが、個々の光変調Ｈ＋３１
によって異なる場合、またはセンサプローブ１１２の固
有データ、例えば直線性や感度が、個々のセンサプロー
ブ１１３によって異なる場合、リードオンリーメモリｕ
１をその都度変換するか、データの内容を変更しなけれ
ばならない問題点があった。
この発明は、かかる問題点を解決するためになされたも
ので、光変調器の変換時に、リードオンリーメモリもこ
の光変調器の固有のデータを有するものに交換できるよ
うにした光学測定装置を得ることを目的とする。
ので、光変調器の変換時に、リードオンリーメモリもこ
の光変調器の固有のデータを有するものに交換できるよ
うにした光学測定装置を得ることを目的とする。
この発明に係る光学測定装置は、リードオンリーメモリ
を電気コネクタを介して信号処理器に接続したものであ
る。
を電気コネクタを介して信号処理器に接続したものであ
る。
光変調器の交換時に、現在のリードオンリーメモリを電
気コネクタを介して信号処理器から取外し、新たな光変
調器の固有のデータを有するリードオンリーメモリを、
電気コネクタを介して信号処理器に取付ける。
気コネクタを介して信号処理器から取外し、新たな光変
調器の固有のデータを有するリードオンリーメモリを、
電気コネクタを介して信号処理器に取付ける。
第１図はこの発明に係る光学測定装置の一実施例を示す
ブロック線図で、第１図において、光源（１）は例えば
発光ダイオードからなり、第２図に示す発光スペクトル
Ａを出力する。ビームスプリッタ（２１は光源（１）か
らの光のみを透過し、他からの光は反射するように構成
されている。光変調器（３）は一対の光コネクタ部（４
ａ） 、 （４ｂ）と光ファイバ＋５１ トを介して、
ビームスプリッタ（２１を透過した光源（１）からの発
光スペクトルＡを受光し、例えば被測定物理量が温度の
場合は、測定温度に対応して第２図に示す光吸収端波長
Ｂを第２図の左右方向に変調し、光変調器（３）を構成
する半導体に吸収される吸収光量Ｃと透過する透過光量
りとを変調する。
ブロック線図で、第１図において、光源（１）は例えば
発光ダイオードからなり、第２図に示す発光スペクトル
Ａを出力する。ビームスプリッタ（２１は光源（１）か
らの光のみを透過し、他からの光は反射するように構成
されている。光変調器（３）は一対の光コネクタ部（４
ａ） 、 （４ｂ）と光ファイバ＋５１ トを介して、
ビームスプリッタ（２１を透過した光源（１）からの発
光スペクトルＡを受光し、例えば被測定物理量が温度の
場合は、測定温度に対応して第２図に示す光吸収端波長
Ｂを第２図の左右方向に変調し、光変調器（３）を構成
する半導体に吸収される吸収光量Ｃと透過する透過光量
りとを変調する。
光受信器（６）は例えば受光ダイオードであり、光変゛
調器１３）で変調された透過光量りを、光ファイノ豹５
）と一対の光コネクタ（４ａ） 、 （４ｂ）とビーム
スプリッタ１２）とを介して受光し、アナログ量の電気
信号に変換する。信号増幅器（７］は光受信器（６）の
出力を増幅する。Ａｌ１）変換器＋８１はアナログ量の
電気信号をディジタル量に変換するものである。信号処
理器（９）はＡｌ１）変換器１８）からのディジタル量
の電気信号を受信して、被測定温度を計数し表示する。
調器１３）で変調された透過光量りを、光ファイノ豹５
）と一対の光コネクタ（４ａ） 、 （４ｂ）とビーム
スプリッタ１２）とを介して受光し、アナログ量の電気
信号に変換する。信号増幅器（７］は光受信器（６）の
出力を増幅する。Ａｌ１）変換器＋８１はアナログ量の
電気信号をディジタル量に変換するものである。信号処
理器（９）はＡｌ１）変換器１８）からのディジタル量
の電気信号を受信して、被測定温度を計数し表示する。
リードオンリーメモリａυは一対の電気コネクタ部（１
１ａ）。
１ａ）。
（ｌｌｂ）とを介して信号処理器（９）に接続され、光
変調器（３）の例えば吸収端波長Ｂの傾き等の固有のデ
ータ、もしくはセンサプローブａ２ｉの直線性や感度等
の固有のデータを記憶して信号処理器１９）に与える。
変調器（３）の例えば吸収端波長Ｂの傾き等の固有のデ
ータ、もしくはセンサプローブａ２ｉの直線性や感度等
の固有のデータを記憶して信号処理器１９）に与える。
センサプローブ１１３は光変調器１３）と光ファイバ＋
５）と光コネクタ部（４ａ）とから構成されている。ま
た、光コネクタ部（４ａ）と電気コネクタ部（１１ａ）
とは一体に構成されており、リードオンリーメモリα０
は電気コネクタ部（１１ａ）に内蔵されている。さらに
、光コネクタ部（４ｂ）と電気コネクタ部Ｑ１ｂ）とは
一体に構成されており、信号処理本体＋１３１に取付け
られている。信号処理本体Ｉｌｌは光源（１）とビーム
ガリツタ（２）と光受信器（６）と信号増幅器（７）と
Ａ／Ｄ変換器（８）と信号処理器（９）とを収納してい
る。
５）と光コネクタ部（４ａ）とから構成されている。ま
た、光コネクタ部（４ａ）と電気コネクタ部（１１ａ）
とは一体に構成されており、リードオンリーメモリα０
は電気コネクタ部（１１ａ）に内蔵されている。さらに
、光コネクタ部（４ｂ）と電気コネクタ部Ｑ１ｂ）とは
一体に構成されており、信号処理本体＋１３１に取付け
られている。信号処理本体Ｉｌｌは光源（１）とビーム
ガリツタ（２）と光受信器（６）と信号増幅器（７）と
Ａ／Ｄ変換器（８）と信号処理器（９）とを収納してい
る。
第２図は仁の発明の動作説明図で、横軸に波長入を、縦
軸に光源（１）の発光パワーＰと光受信器（６）の光透
過率μを取っており、光受信器（６）の光吸収端波長Ｂ
の温度依存性を示したものである。
軸に光源（１）の発光パワーＰと光受信器（６）の光透
過率μを取っており、光受信器（６）の光吸収端波長Ｂ
の温度依存性を示したものである。
次に動作について説明する。光源（１）は第２図に示す
発光スペクトルＡを出力し、ビームスプリッタ（２）と
一対の光コネクタ部（４ｂ） ＊ （ａａ）と光ファイ
バ１５）とを介して光変調器＋３１に導かれる。光変調
器１３）では例えば被測定物理量が温度の場合には、測
定温度に対応して光変調器＋３１を構成する半導体の光
吸収端波長Ｂを、１第２図の左右方向に変調し、光変調
器（３）を構成する半導体に吸収される吸収光３１ｃと
、透過する透過光量りとを変調する。透過光量りは光変
調器（３）の反射板で反射され、光ファイバー（５）及
び一対の光コネクタ部（４ａ） ｓ （４ｂ）を介して
ビームスプリッタ（２）に入射され、ビームスプリッタ
（２）で反射されて光受信器（６）に導かれる。透過光
ｉＤは光受信器（６）でアナログ量の電気信号Ｃ′ζ変
換されて後、信号増幅器（７）で増幅され、んの変換器
（８）でディジタル量の電気信号に変換されて信号処理
器（９）に入力される。信号処理器（９）はリードオン
リーメモリ（１（ｌからのセンサプローブ（功の固有の
データを読取り、Ａ／Ｄ変換器（８）からの電気信号を
処理して測定温度を計数し表示する。
発光スペクトルＡを出力し、ビームスプリッタ（２）と
一対の光コネクタ部（４ｂ） ＊ （ａａ）と光ファイ
バ１５）とを介して光変調器＋３１に導かれる。光変調
器１３）では例えば被測定物理量が温度の場合には、測
定温度に対応して光変調器＋３１を構成する半導体の光
吸収端波長Ｂを、１第２図の左右方向に変調し、光変調
器（３）を構成する半導体に吸収される吸収光３１ｃと
、透過する透過光量りとを変調する。透過光量りは光変
調器（３）の反射板で反射され、光ファイバー（５）及
び一対の光コネクタ部（４ａ） ｓ （４ｂ）を介して
ビームスプリッタ（２）に入射され、ビームスプリッタ
（２）で反射されて光受信器（６）に導かれる。透過光
ｉＤは光受信器（６）でアナログ量の電気信号Ｃ′ζ変
換されて後、信号増幅器（７）で増幅され、んの変換器
（８）でディジタル量の電気信号に変換されて信号処理
器（９）に入力される。信号処理器（９）はリードオン
リーメモリ（１（ｌからのセンサプローブ（功の固有の
データを読取り、Ａ／Ｄ変換器（８）からの電気信号を
処理して測定温度を計数し表示する。
次に、光変調器１３）を取替える場合、即ちセンサプロ
ーブ囮を取替える場合ｌζは、一対の光コネクタ（４ａ
） 、 （４ｂ）と一対の電気コネクタ （１ｔａ）
、 Ｑｘｂ）＋１２１を接続する。
ーブ囮を取替える場合ｌζは、一対の光コネクタ（４ａ
） 、 （４ｂ）と一対の電気コネクタ （１ｔａ）
、 Ｑｘｂ）＋１２１を接続する。
なお、上記実施例では、被測定物理量が温度の場合につ
いて説明したか、ファラデー効果を利用した電流、磁界
の測定や、ポッケルス効果を利用した電圧、電界の測定
等、被測定物理量を光の変調度合に変換できるものであ
れば、どのような被測定物理量であってもよい。
いて説明したか、ファラデー効果を利用した電流、磁界
の測定や、ポッケルス効果を利用した電圧、電界の測定
等、被測定物理量を光の変調度合に変換できるものであ
れば、どのような被測定物理量であってもよい。
以上のように、この発明によれば、光変調器の固有デー
タを記憶したリードオンリーメモリを、電気コネクタ部
に内蔵させ、光変調器の取替時にリードオンリーメモリ
も取替えられるようにしたため、リードオンリーメモリ
の取替えが容易になる効果がある。
タを記憶したリードオンリーメモリを、電気コネクタ部
に内蔵させ、光変調器の取替時にリードオンリーメモリ
も取替えられるようにしたため、リードオンリーメモリ
の取替えが容易になる効果がある。
第１図はこの発明に係る光学測定装置の一実施例を示す
ブロック線図、第２図はこの発明の動作説明図、第８図
は従来の光学測定装置を示すブロック線図である。 図において、（１）は光量、＋３１は光変調器、（４ａ
） ＊（４ｂ）は一対の光コネクタ部、）５）は光ファ
イバ、（６）は光受信器、（９）は信号処理器、ｔｌＧ
はリードオンリーメモリ、（１１ａ） ｅ （１ｌｂ）
は一対の電気コネクタ部、■はセンサプローブ、１ｔ３
は信号処理本体である。 なお、各図中同一符号は同一もしくは相当部分を示す。 代理人 弁理士 大 岩 増 雄第１図 ３： 尤変へ周８ １亀：１１炙）
オクタ那４Ｍ＋尤コネクタ音１５ １
２：ｔ＝ン１７°ローア５：尤ファイバ ６；光受信器 ９＝（ＩＩ号恋理雰
ブロック線図、第２図はこの発明の動作説明図、第８図
は従来の光学測定装置を示すブロック線図である。 図において、（１）は光量、＋３１は光変調器、（４ａ
） ＊（４ｂ）は一対の光コネクタ部、）５）は光ファ
イバ、（６）は光受信器、（９）は信号処理器、ｔｌＧ
はリードオンリーメモリ、（１１ａ） ｅ （１ｌｂ）
は一対の電気コネクタ部、■はセンサプローブ、１ｔ３
は信号処理本体である。 なお、各図中同一符号は同一もしくは相当部分を示す。 代理人 弁理士 大 岩 増 雄第１図 ３： 尤変へ周８ １亀：１１炙）
オクタ那４Ｍ＋尤コネクタ音１５ １
２：ｔ＝ン１７°ローア５：尤ファイバ ６；光受信器 ９＝（ＩＩ号恋理雰
Claims (2)
- （１）被測定物理量の変化を光変調度の変化に変換する
光変調器と、前記光変調器に光源からの光を光コネクタ
部を介して伝達する光ファイバとを含むセンサプローブ
、前記光変調器で変調された光を受光し電気的な信号処
理を行つて前記被測定物理量を算出する信号処理本体、
及び前記センサプローブ側の前記光コネクタ部に設けら
れ前記センサプローブの固有のデータを電気コネクタ部
を介して前記信号処理本体に与えるリードオンリーメモ
リを備えたことを特徴とする光学測定装置。 - （２）センサプローブ側の光コネクタ部と前記センサプ
ローブ側の電気コネクタ部とは一体に構成されているこ
とを特徴とする特許請求の範囲第（１）項記載の光学測
定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60016182A JPS61173169A (ja) | 1985-01-28 | 1985-01-28 | 光学測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60016182A JPS61173169A (ja) | 1985-01-28 | 1985-01-28 | 光学測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61173169A true JPS61173169A (ja) | 1986-08-04 |
Family
ID=11909370
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60016182A Pending JPS61173169A (ja) | 1985-01-28 | 1985-01-28 | 光学測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61173169A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04118535A (ja) * | 1990-09-10 | 1992-04-20 | Toshiba Corp | 温度分布計測型光ファイバセンサ |
| EP1818672A1 (de) * | 2006-02-14 | 2007-08-15 | Mettler-Toledo AG | Messvorrichtung, Messsonde und Verfahren für den Betrieb der Messvorrichtung |
| JP2013513785A (ja) * | 2009-12-11 | 2013-04-22 | アーベーベー・リサーチ・リミテッド | 交換可能なサブモジュールを備えたセンサを使用する光ファイバ電流センサ |
-
1985
- 1985-01-28 JP JP60016182A patent/JPS61173169A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04118535A (ja) * | 1990-09-10 | 1992-04-20 | Toshiba Corp | 温度分布計測型光ファイバセンサ |
| EP1818672A1 (de) * | 2006-02-14 | 2007-08-15 | Mettler-Toledo AG | Messvorrichtung, Messsonde und Verfahren für den Betrieb der Messvorrichtung |
| JP2007225610A (ja) * | 2006-02-14 | 2007-09-06 | Mettler-Toledo Ag | 測定装置、測定プローブおよび測定装置を動作させる方法 |
| US7924017B2 (en) | 2006-02-14 | 2011-04-12 | Mettler-Toledo Ag | Measuring device, measuring probe, and method of operating the measuring device |
| JP2013513785A (ja) * | 2009-12-11 | 2013-04-22 | アーベーベー・リサーチ・リミテッド | 交換可能なサブモジュールを備えたセンサを使用する光ファイバ電流センサ |
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