JPS61168587A - メタライズ炭化けい素基板 - Google Patents
メタライズ炭化けい素基板Info
- Publication number
- JPS61168587A JPS61168587A JP60005728A JP572885A JPS61168587A JP S61168587 A JPS61168587 A JP S61168587A JP 60005728 A JP60005728 A JP 60005728A JP 572885 A JP572885 A JP 572885A JP S61168587 A JPS61168587 A JP S61168587A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- silicon carbide
- dew point
- unsintered
- carbide substrate
- metallized
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、メタライズ炭化けい素基板に係り、特に高熱
伝導電気絶縁性炭化けい未焼結体を高温焼付メタライズ
したメタライズ炭化けい素基板に関するものである。
伝導電気絶縁性炭化けい未焼結体を高温焼付メタライズ
したメタライズ炭化けい素基板に関するものである。
従来、炭化けい未焼結体のメタライズ法には、導電ガラ
スペースト焼付法、金属ペースト高温焼付法など各種方
法があるが、接着強度が要求されるものは、金属ペース
ト高温焼付法が採用される。
スペースト焼付法、金属ペースト高温焼付法など各種方
法があるが、接着強度が要求されるものは、金属ペース
ト高温焼付法が採用される。
例えばモリブデンメタライズについては、炭化けい未焼
結体にモリプデ/ペーストを塗布し、乾燥後、ウェット
(露点:50C)の窒素と水素のフォーミングガス中1
400Cまで昇温し、1h保持後、ドライ(露点ニー5
0C)雰囲気に切換えてさらに同温度で1h保持するこ
とでメタライズする。しかるにこの従来法によってメタ
ライズされた炭化けい未焼結体は、メタライズされない
部分が変質する。特に電気絶縁性が1012Ω/□(5
00V / cmの電界強度で)以上の電気絶縁性炭化
けい素の場合、表面抵抗が1〜2桁低下し、混成集積回
路用絶縁基板のメタライズ法として問題であった。
結体にモリプデ/ペーストを塗布し、乾燥後、ウェット
(露点:50C)の窒素と水素のフォーミングガス中1
400Cまで昇温し、1h保持後、ドライ(露点ニー5
0C)雰囲気に切換えてさらに同温度で1h保持するこ
とでメタライズする。しかるにこの従来法によってメタ
ライズされた炭化けい未焼結体は、メタライズされない
部分が変質する。特に電気絶縁性が1012Ω/□(5
00V / cmの電界強度で)以上の電気絶縁性炭化
けい素の場合、表面抵抗が1〜2桁低下し、混成集積回
路用絶縁基板のメタライズ法として問題であった。
本発明の目的は上記従来技術の問題点を解消し、炭化け
い未焼結体表面の変質や表面抵抗が低下することがない
、特に絶縁基板用として良好なメタライズ炭化けい素基
板を提供するととKある。
い未焼結体表面の変質や表面抵抗が低下することがない
、特に絶縁基板用として良好なメタライズ炭化けい素基
板を提供するととKある。
本発明者らは上記メタライズ法によシ炭化けい未焼結体
表面の変質や表面抵抗が低下する原因について調べた結
果、炭化けい未焼結体は1400C程度の高温でドライ
(露点ニー50C)な窒素−水素7オーミングガス中に
さらされると、炭化けい素焼給体表面がサーマルエッチ
され変質すること及びそのため、粒界で電気絶縁性をも
たせている高熱伝導電気絶縁性炭化けい未焼結体の表面
抵抗も影響を受け、抵抗が低下し絶縁基板として適さな
くなることを見い出した。しかして1400C程度の温
度及び窒素と水素のフォーミングガス中で、ウェット(
露点:20〜70’C)とドライ(露点ニー5Or)の
切換温度を制御することにより、良好なメタライズ品が
できることを見出した。
表面の変質や表面抵抗が低下する原因について調べた結
果、炭化けい未焼結体は1400C程度の高温でドライ
(露点ニー50C)な窒素−水素7オーミングガス中に
さらされると、炭化けい素焼給体表面がサーマルエッチ
され変質すること及びそのため、粒界で電気絶縁性をも
たせている高熱伝導電気絶縁性炭化けい未焼結体の表面
抵抗も影響を受け、抵抗が低下し絶縁基板として適さな
くなることを見い出した。しかして1400C程度の温
度及び窒素と水素のフォーミングガス中で、ウェット(
露点:20〜70’C)とドライ(露点ニー5Or)の
切換温度を制御することにより、良好なメタライズ品が
できることを見出した。
本発明はこのような知見に基づいて成されたものであっ
て、炭化けい未焼結体をメタライズ焼成するに際し、露
点が20〜70Cの窒素−水素7オーミングガス中で炭
化けい素とメタライズ材とを1350〜1450C’で
反応接着させた後、焼成温度を50〜100C下げてか
ら、ドライ(露点ニー50C)の窒素−水素フォーミン
グガス中でメタライズ材を焼結させることを特徴とする
ものである。
て、炭化けい未焼結体をメタライズ焼成するに際し、露
点が20〜70Cの窒素−水素7オーミングガス中で炭
化けい素とメタライズ材とを1350〜1450C’で
反応接着させた後、焼成温度を50〜100C下げてか
ら、ドライ(露点ニー50C)の窒素−水素フォーミン
グガス中でメタライズ材を焼結させることを特徴とする
ものである。
本発明において、ドライ(露点ニー50C)雰囲気の温
度がウェイト雰囲気の温度に比較して50Cよシ小さい
温度差で低い場合、強固なメタライズはできるけれども
、炭化けい未焼結体のメタライズされない部分は、表面
の酸化膜が還元されさらにサーマルエッチを受けて変質
したシ、表面抵抗の低下が見られる。またその温度が1
oot:’よシ大きい場合は、メタ2イズ膜の焼結が進
みにくくもろい膜になる。なお表面抵抗の測定は、図に
示すようにメタライズ後、絶縁抵抗計で測定した。
度がウェイト雰囲気の温度に比較して50Cよシ小さい
温度差で低い場合、強固なメタライズはできるけれども
、炭化けい未焼結体のメタライズされない部分は、表面
の酸化膜が還元されさらにサーマルエッチを受けて変質
したシ、表面抵抗の低下が見られる。またその温度が1
oot:’よシ大きい場合は、メタ2イズ膜の焼結が進
みにくくもろい膜になる。なお表面抵抗の測定は、図に
示すようにメタライズ後、絶縁抵抗計で測定した。
実施例 1
酸化ベリリウム2wt% を含む炭化けい素焼給体基
板の片間に、Mo、Mo−W、Mo−Mnなど各種金属
ペーストを印刷し、乾燥後、ドライ(露点ニー50C)
の窒素と水素の7オーミングガス中、1400C−1h
焼成し九。結果はいずれのペーストとも、炭化けい未焼
結体と反応接着する前に金属粉の焼結が進みすぎて剥離
してしまった。
板の片間に、Mo、Mo−W、Mo−Mnなど各種金属
ペーストを印刷し、乾燥後、ドライ(露点ニー50C)
の窒素と水素の7オーミングガス中、1400C−1h
焼成し九。結果はいずれのペーストとも、炭化けい未焼
結体と反応接着する前に金属粉の焼結が進みすぎて剥離
してしまった。
実施例 2
酸化ベリリウム2wt%を含む炭化けい未焼結体の片面
に、表1に示す金属ペーストを印刷、乾燥した後、ウェ
ット(露点: 40C)の窒素−水素フォーミングガス
中14000−1h保持後、さらにドライ(露点ニー5
0C’)の窒素−水素7オーミングガス中1400C−
1h保持し焼成した。その結果表1に示すように、基板
表面抵抗値が低下した。
に、表1に示す金属ペーストを印刷、乾燥した後、ウェ
ット(露点: 40C)の窒素−水素フォーミングガス
中14000−1h保持後、さらにドライ(露点ニー5
0C’)の窒素−水素7オーミングガス中1400C−
1h保持し焼成した。その結果表1に示すように、基板
表面抵抗値が低下した。
表 1
実施例 3
酸化ベリリウム2wt%を含む炭化けい未焼結体の片面
に、MOペーストを印刷し乾燥した後、ウェット(露点
:40C)の窒素−水素フォーミングガス中1400C
−1h、及び1450C−1h保持後、表2に示すよう
な温度差に温度を下げてから、ドライ(露点ニー5OC
)の窒素−水素7オーミングガスに切換えて1h保持し
焼成した。
に、MOペーストを印刷し乾燥した後、ウェット(露点
:40C)の窒素−水素フォーミングガス中1400C
−1h、及び1450C−1h保持後、表2に示すよう
な温度差に温度を下げてから、ドライ(露点ニー5OC
)の窒素−水素7オーミングガスに切換えて1h保持し
焼成した。
結果は表2に示すように、50〜100 G@度を下げ
てからドライ雰囲気に切換えれば、接着強度が強固でし
かもSiC基板表面抵抗値の低下もないメタライズがで
きる。
てからドライ雰囲気に切換えれば、接着強度が強固でし
かもSiC基板表面抵抗値の低下もないメタライズがで
きる。
表 2
実施例 4
酸化べ171Jウム2wt*を含む炭化けい未焼結体の
片面に、MOペーストを印刷し、乾燥後衣3に示すよう
に露点の異なる窒素−水素7オーミングガス中1400
C−1h保持後、1320Cに温度を下げてからドライ
(露点ニー50C)の窒素−水素フォーミングガスに切
換えて1h保持し焼成した。結果に表3に示すように露
点が20Cよシ低くなると基板表面抵抗が低下する。ま
た露点が70Cよシ高くなるとメタライズの接着強度が
低下する。
片面に、MOペーストを印刷し、乾燥後衣3に示すよう
に露点の異なる窒素−水素7オーミングガス中1400
C−1h保持後、1320Cに温度を下げてからドライ
(露点ニー50C)の窒素−水素フォーミングガスに切
換えて1h保持し焼成した。結果に表3に示すように露
点が20Cよシ低くなると基板表面抵抗が低下する。ま
た露点が70Cよシ高くなるとメタライズの接着強度が
低下する。
表 3
〔発明の効果〕
以上のように本発明によれば、炭化けい未焼結体の表面
抵抗を低下させることなく、強固な接着強度を持つメタ
ライズができる。
抵抗を低下させることなく、強固な接着強度を持つメタ
ライズができる。
図は本発明のメタライズ炭化けい素基板の実施例の素面
抵抗測定説明図である。 2・・・SiC基板、3・・・メタライズ部。
抵抗測定説明図である。 2・・・SiC基板、3・・・メタライズ部。
Claims (1)
- 1、炭化けい素基板の表面抵抗が500V/cmの電界
強度で10^1^2Ω/□以上あることを特徴とするメ
タライズ炭化けい素基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60005728A JPS61168587A (ja) | 1985-01-18 | 1985-01-18 | メタライズ炭化けい素基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60005728A JPS61168587A (ja) | 1985-01-18 | 1985-01-18 | メタライズ炭化けい素基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61168587A true JPS61168587A (ja) | 1986-07-30 |
Family
ID=11619180
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60005728A Pending JPS61168587A (ja) | 1985-01-18 | 1985-01-18 | メタライズ炭化けい素基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61168587A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7184656B2 (en) | 1999-11-30 | 2007-02-27 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Infrared lamp, heating apparatus, and method for manufacturing infrared lamp |
-
1985
- 1985-01-18 JP JP60005728A patent/JPS61168587A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7184656B2 (en) | 1999-11-30 | 2007-02-27 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Infrared lamp, heating apparatus, and method for manufacturing infrared lamp |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS6273799A (ja) | 多層セラミツク配線基板 | |
JPS5832073A (ja) | 焼結体 | |
JP4023944B2 (ja) | 窒化アルミニウム焼結体の製造方法並びにプレートヒーター又は静電チャック | |
JPS61168587A (ja) | メタライズ炭化けい素基板 | |
JPH0447978B2 (ja) | ||
JPH0568877B2 (ja) | ||
JPH05156303A (ja) | メタライズ用金属粉末組成物,それを用いたメタライズ基板及びメタライズ基板の製造方法 | |
JPH0360443A (ja) | 低温焼成ガラスセラミック体 | |
JPH05144316A (ja) | 導体ペースト組成物 | |
JP2813447B2 (ja) | 窒化アルミニウム焼結基板用導体ペースト | |
JP2892163B2 (ja) | 低温焼成ガラスセラミック体 | |
JP2506270B2 (ja) | 高熱伝導性回路基板及び高熱伝導性外囲器 | |
JPS62108788A (ja) | 炭化けい素焼結体のメタライズ法 | |
JPS61242950A (ja) | セラミツク基板用組成物 | |
JP2754806B2 (ja) | 窒化アルミニウム基板用導体ペースト | |
JP3433260B2 (ja) | メタライズ基板及びその製造方法 | |
JPH087646A (ja) | 銅ペースト | |
JPH0725690A (ja) | AlN基板のメタライズ層の形成方法 | |
JPH0590734A (ja) | セラミツク基板上への導体形成方法および導体回路パターンの形成方法 | |
JPS62180980A (ja) | セラミツクヒ−タ | |
JPS6381787A (ja) | セラミツクヒ−タ | |
JPS5899183A (ja) | 厚膜回路を有する非酸化物系セラミツク体 | |
JPS5918669A (ja) | 厚膜回路の形成法 | |
JPS62167272A (ja) | 銅ペ−ストおよび銅導体セラミツク配線基板 | |
JP2723555B2 (ja) | グレーズ抵抗材料およびこれを用いた混成集積回路装置 |