JPS61162749A - イオン交換樹脂の性能試験装置 - Google Patents
イオン交換樹脂の性能試験装置Info
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- JPS61162749A JPS61162749A JP60004605A JP460585A JPS61162749A JP S61162749 A JPS61162749 A JP S61162749A JP 60004605 A JP60004605 A JP 60004605A JP 460585 A JP460585 A JP 460585A JP S61162749 A JPS61162749 A JP S61162749A
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J47/00—Ion-exchange processes in general; Apparatus therefor
- B01J47/14—Controlling or regulating
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Treatment Of Water By Ion Exchange (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はイオン交換樹脂の処理性能を自動的に試験する
装置に関するものである。
装置に関するものである。
(従来技術) ゛
イオン交換樹脂を内蔵した水処理装置は、長期間使用し
ていると、水中の各種不純物によつ換しなければならな
い。
ていると、水中の各種不純物によつ換しなければならな
い。
このため実際の水処理装置(以下実装置という)からサ
ンづタンクしたイオン交換樹脂の性能を試験することが
従来性われているが、中でも実装置内での状態に近い試
験結果を得諷方法として実装置からサンづリンクしたイ
オン交換樹脂を実装置と同−一樹脂層高を持った小型実
・験ガラ乙に充填し、これに試験水を通水して、その
処理水の水質から性能を試躾する方法があ:1す る。その従来例を第3図(へ)旬に示す。(イ)は温床
式、に)は二床式である。温床式ではサンプルの陽イオ
ン交換樹脂と陰イオン交換樹脂を混合してカラム1に充
填する。三原式では陽イオン交換樹脂をカラム1に、陰
イオン交換樹脂をカラム2に充填する。そして試験条件
に合わせて試験水を調整してタンクに準備し、ボンづP
を運転して試験水を流置計PIと弁で流量調節を行って
カラムに通水し、カラム入口、出口における導電率を計
器C工で測定し、記録計RK記録する。
ンづタンクしたイオン交換樹脂の性能を試験することが
従来性われているが、中でも実装置内での状態に近い試
験結果を得諷方法として実装置からサンづリンクしたイ
オン交換樹脂を実装置と同−一樹脂層高を持った小型実
・験ガラ乙に充填し、これに試験水を通水して、その
処理水の水質から性能を試躾する方法があ:1す る。その従来例を第3図(へ)旬に示す。(イ)は温床
式、に)は二床式である。温床式ではサンプルの陽イオ
ン交換樹脂と陰イオン交換樹脂を混合してカラム1に充
填する。三原式では陽イオン交換樹脂をカラム1に、陰
イオン交換樹脂をカラム2に充填する。そして試験条件
に合わせて試験水を調整してタンクに準備し、ボンづP
を運転して試験水を流置計PIと弁で流量調節を行って
カラムに通水し、カラム入口、出口における導電率を計
器C工で測定し、記録計RK記録する。
(発明が解決しようとする問題点)
イオン交換樹脂の性能を調べる場合、大別して次の三つ
の試験が行われている。
の試験が行われている。
11) 試験水の流量及び水質の変化による処理水の
水質変化の試験、 (2)薬品再生後の洗浄状態の試験、 (3) 貫流容鎗の試験。
水質変化の試験、 (2)薬品再生後の洗浄状態の試験、 (3) 貫流容鎗の試験。
これらの試験においてはカラムに流す試験水の流量や水
質を変える操作、記録苧−夕の新漬のグラフ化を行う操
作などが必要であるが、従来技術ではこれら操作を全て
人手で行うようになっているため、かなりの労力と長い
時間がかかる欠点かあった。このことは、特に沸騰水型
(BWR)原子力発電所に用いられている復水脱塩装置
からサンプリングされたイオン交換樹脂の試験の場合に
は測定者の放射線被tml−が多くなるという問題も招
く。
質を変える操作、記録苧−夕の新漬のグラフ化を行う操
作などが必要であるが、従来技術ではこれら操作を全て
人手で行うようになっているため、かなりの労力と長い
時間がかかる欠点かあった。このことは、特に沸騰水型
(BWR)原子力発電所に用いられている復水脱塩装置
からサンプリングされたイオン交換樹脂の試験の場合に
は測定者の放射線被tml−が多くなるという問題も招
く。
また従来技術は、カラムに流れる試験水の流量や水質を
精密に変化させること、これを迅速に行うことにおいて
満足し得るものとはいえなかった。
精密に変化させること、これを迅速に行うことにおいて
満足し得るものとはいえなかった。
本発明は、このような問題点を解決するイオン交換樹脂
の性能試験装置を提供しようとするものである。
の性能試験装置を提供しようとするものである。
(問題点を解決するための手段)
本発明によるイオン交換樹脂の性能試験装置は、高純度
水タンク、薬液タンク、混合室、高純度水を高純度水タ
ンクから混合室に送入するパルスポンプ、薬液タンクか
ら薬液を混合室に送入するパルスポンづ、被試験イオン
交換樹脂全充填可能なカラム、混合室から出る液の濃度
を検出する濃度検出器、該濃度検出器を経た液のプロー
および該カラムへの送入の、いずれかに切換′可能な弁
、該カラムを通過した液の濃度を検出する濃度検出器、
上記各パルスポンプの人力周波数および上記弁の切換を
試験、の工程および設定条件に従って制御する制御装置
、混合室から出る液の流量および濃度並びにカラムを通
過した液の濃度を上記パルス七−夕の入力周波数および
上記濃度検出器の出力から表示・記録する装置;を備え
てなるものである。
水タンク、薬液タンク、混合室、高純度水を高純度水タ
ンクから混合室に送入するパルスポンプ、薬液タンクか
ら薬液を混合室に送入するパルスポンづ、被試験イオン
交換樹脂全充填可能なカラム、混合室から出る液の濃度
を検出する濃度検出器、該濃度検出器を経た液のプロー
および該カラムへの送入の、いずれかに切換′可能な弁
、該カラムを通過した液の濃度を検出する濃度検出器、
上記各パルスポンプの人力周波数および上記弁の切換を
試験、の工程および設定条件に従って制御する制御装置
、混合室から出る液の流量および濃度並びにカラムを通
過した液の濃度を上記パルス七−夕の入力周波数および
上記濃度検出器の出力から表示・記録する装置;を備え
てなるものである。
(作用)
上記構成において、混合室で薬液が高純度水で希釈混合
されることによって、カラムに流すべき所定濃度の試験
水が混合室から得られる。
されることによって、カラムに流すべき所定濃度の試験
水が混合室から得られる。
試験水の濃度および流量は前記各パルスモータの人力周
波数を調節することによる混合室への高純度水と薬液の
流量の調節によって、自由に制御することができる。こ
のようにして試験水を種々の設定濃度、設定波音でカラ
ムに流し、その入口側、出口側濃度を前記濃度検出器で
測定し、表示・記録することによりイオン交換樹脂の性
能を試験する。高純度水のみを混合室へ、ひいてはカラ
ムへ流せば、洗浄を行うこともできる。
波数を調節することによる混合室への高純度水と薬液の
流量の調節によって、自由に制御することができる。こ
のようにして試験水を種々の設定濃度、設定波音でカラ
ムに流し、その入口側、出口側濃度を前記濃度検出器で
測定し、表示・記録することによりイオン交換樹脂の性
能を試験する。高純度水のみを混合室へ、ひいてはカラ
ムへ流せば、洗浄を行うこともできる。
(実施例)
本発明の実施例を以下説明する。
第1図において、DMはイオン交換樹脂混床を内蔵した
前段混床式脱塩塔、C−1は該脱塩塔DMからの処理水
の塩濃度をその導電率として検出する導電率計tル、A
V−1は電磁弁、T−1は脱塩水タンク、P−1は脱塩
水タンクT−1内の水を前記の脱塩塔DMに送り込む脱
塩水パルスポジづ、A−1およびBP’V−1はパルス
ポンプp−1の吐出水の脈動を平滑化する為のア牛ユム
し一夕および背圧弁である。
前段混床式脱塩塔、C−1は該脱塩塔DMからの処理水
の塩濃度をその導電率として検出する導電率計tル、A
V−1は電磁弁、T−1は脱塩水タンク、P−1は脱塩
水タンクT−1内の水を前記の脱塩塔DMに送り込む脱
塩水パルスポジづ、A−1およびBP’V−1はパルス
ポンプp−1の吐出水の脈動を平滑化する為のア牛ユム
し一夕および背圧弁である。
以上の諸機器は、タンクT−1から上記の順路でパルス
ホンづP−1により水を循環させることによって高純度
の脱塩水tタンクT−1中に用意し、これをパルスポン
づP−I Kより脱塩塔DMを経て逆上弁CHVから後
述の洗浄用および薬液希釈用として送出する為の脱塩水
供給装置を構成している。
ホンづP−1により水を循環させることによって高純度
の脱塩水tタンクT−1中に用意し、これをパルスポン
づP−I Kより脱塩塔DMを経て逆上弁CHVから後
述の洗浄用および薬液希釈用として送出する為の脱塩水
供給装置を構成している。
T−2は試験用の薬液を貯蔵した薬液タンク、P−2は
タンクT−2内の薬液を混合室庶に送る薬液パルスポン
プ、A−2およびBPV−2はパルスボンづP−2の吐
出液の脈動を平滑するためのア牛ユムレータおよび背圧
弁、 MXは薬液タンク’I’−2から送られた薬液を
前記脱塩水供給装置から逆止弁(HVを経て送られた脱
塩水と混合希釈して所定濃度の試験水を作るための混合
室、C−2は混合室MXの出口水の濃度を検出する導電
率計セル、AV−2は電磁弁である。 ゛には実装
置からサンプリンジされ再生処理された被試験イオン交
換樹脂を充填するカラム、C−3は該カラムにの出口水
の濃度を検出する導を率計t+b、BPV−3d逆止弁
、Av−aa 力5 L Kの出口水が高純度の水であ
るときはこれを前記の脱塩水タンクT−1に回収するよ
うに切替られる切換電磁弁である。
タンクT−2内の薬液を混合室庶に送る薬液パルスポン
プ、A−2およびBPV−2はパルスボンづP−2の吐
出液の脈動を平滑するためのア牛ユムレータおよび背圧
弁、 MXは薬液タンク’I’−2から送られた薬液を
前記脱塩水供給装置から逆止弁(HVを経て送られた脱
塩水と混合希釈して所定濃度の試験水を作るための混合
室、C−2は混合室MXの出口水の濃度を検出する導電
率計セル、AV−2は電磁弁である。 ゛には実装
置からサンプリンジされ再生処理された被試験イオン交
換樹脂を充填するカラム、C−3は該カラムにの出口水
の濃度を検出する導を率計t+b、BPV−3d逆止弁
、Av−aa 力5 L Kの出口水が高純度の水であ
るときはこれを前記の脱塩水タンクT−1に回収するよ
うに切替られる切換電磁弁である。
薬液タンクT−2中には、カラムKに通水すべき試験水
の濃度より50〜100倍はど濃い薬液(水溶液)が用
意しである。薬液としては、実装置に流れる塩成分に対
応させて、NaCl、 Na2SO4又はその両者の水
溶液を用意する。
の濃度より50〜100倍はど濃い薬液(水溶液)が用
意しである。薬液としては、実装置に流れる塩成分に対
応させて、NaCl、 Na2SO4又はその両者の水
溶液を用意する。
前記パルスポンプP−1、P−2は、電気パルス入力を
1ヶ受ける毎に、一定体積の液を吐出する一種の定容積
型ポンプで69、人力パルス周波数を変えればその流量
を変えることができる。
1ヶ受ける毎に、一定体積の液を吐出する一種の定容積
型ポンプで69、人力パルス周波数を変えればその流量
を変えることができる。
そのストO−り、従って1パルス当りの吐出量は、特に
必要がない限り、通常一定値に設定されているものであ
る。本実施例では脱塩水パルスポジづP−1としては最
大吐出量が6000パルス当り501のものを用い、薬
液パルスポンづP−2としては最大吐出量が7000パ
ルス当り51のものを用いた。 ゛ 表お、第1図中、Dはそこから液をづO−する(捨てる
)ための排出口、Wはカラムに内のイオン交換樹脂の詰
め替え用の圧力水供給口である。またv−1〜v−11
は手動弁を示すもので、常時使用するもので彦<、省略
してもよい。
必要がない限り、通常一定値に設定されているものであ
る。本実施例では脱塩水パルスポジづP−1としては最
大吐出量が6000パルス当り501のものを用い、薬
液パルスポンづP−2としては最大吐出量が7000パ
ルス当り51のものを用いた。 ゛ 表お、第1図中、Dはそこから液をづO−する(捨てる
)ための排出口、Wはカラムに内のイオン交換樹脂の詰
め替え用の圧力水供給口である。またv−1〜v−11
は手動弁を示すもので、常時使用するもので彦<、省略
してもよい。
欠に、第1図示した上述の装置による試験の工程につい
て、表1および表2を参照しつつ説明する。なお、後述
するように、これら工程の制御・−統括および記録また
は表示はgz図に示す制御・統括系によって行われるよ
うになっている。また表1および表2において、電磁弁
AV−1、AM−2のうち開いているもの、導電率計セ
ルC−1、C−2、C−3のうち検出作動中のもの、お
よびパルスポンプp−1、p−2のうち動作中のものは
○印で示し、無印は閉じているもの、非検出作動中のも
の、非動作中のものt示す。まり表において、切替電磁
弁AV−3については、点線丸印は脱塩水タンクT−1
側に切替る場合のあることを示し、無印はブロー側へ切
替っていることを示す。
て、表1および表2を参照しつつ説明する。なお、後述
するように、これら工程の制御・−統括および記録また
は表示はgz図に示す制御・統括系によって行われるよ
うになっている。また表1および表2において、電磁弁
AV−1、AM−2のうち開いているもの、導電率計セ
ルC−1、C−2、C−3のうち検出作動中のもの、お
よびパルスポンプp−1、p−2のうち動作中のものは
○印で示し、無印は閉じているもの、非検出作動中のも
の、非動作中のものt示す。まり表において、切替電磁
弁AV−3については、点線丸印は脱塩水タンクT−1
側に切替る場合のあることを示し、無印はブロー側へ切
替っていることを示す。
(11脱塩水の用意
これは表1中の前段循環!および前段循環Hの工程によ
り行われる。先ず、前段循環Iの工程として、脱塩水パ
ルスポンプP−1を起動し、電磁弁AV−1t−開き、
前段脱塩塔DMおよび脱塩水タンクT−1の間で前述の
順路に従って、所定流t(201)で水を一定時間(1
0分間)循環させる。次に、前段循環lの工程において
は、上記の前段循環Iの終りに導電(i−1 率tシテ寛出する処理水の導電率が高純度を示す所定f
[(o、xμVIIL)以下であれば、1分後にべの配
管洗浄工程に進むが、セルc−1で検出する該導電率が
上記所定値以とであった場合は、更に上記循環を続行し
、上記所定導電率以下となった時に配管洗浄工程に進む
。
り行われる。先ず、前段循環Iの工程として、脱塩水パ
ルスポンプP−1を起動し、電磁弁AV−1t−開き、
前段脱塩塔DMおよび脱塩水タンクT−1の間で前述の
順路に従って、所定流t(201)で水を一定時間(1
0分間)循環させる。次に、前段循環lの工程において
は、上記の前段循環Iの終りに導電(i−1 率tシテ寛出する処理水の導電率が高純度を示す所定f
[(o、xμVIIL)以下であれば、1分後にべの配
管洗浄工程に進むが、セルc−1で検出する該導電率が
上記所定値以とであった場合は、更に上記循環を続行し
、上記所定導電率以下となった時に配管洗浄工程に進む
。
前段循環Hの工程で循環を所定時間(10m)続行して
もfilL、C−1の検出する導電率が上記所定値以下
にならない場合には、次の配管洗浄工程に進むのは止め
、警報を表示する。
もfilL、C−1の検出する導電率が上記所定値以下
にならない場合には、次の配管洗浄工程に進むのは止め
、警報を表示する。
(2)配管洗浄
この工程においては、上記(1)で得られた高純度の脱
塩水を、電磁弁AV−1を閉じ電磁弁AV−2を開くこ
とにより、所定流量で逆止弁CHV 、混合室MX、導
電率計tルC−2からなる流路に流し、電磁弁AV−2
か4つローする。これは導電率計t jL+ C−2の
検出する導電率が所定値(0,1p S/611 )以
下になるまで続けられる。
塩水を、電磁弁AV−1を閉じ電磁弁AV−2を開くこ
とにより、所定流量で逆止弁CHV 、混合室MX、導
電率計tルC−2からなる流路に流し、電磁弁AV−2
か4つローする。これは導電率計t jL+ C−2の
検出する導電率が所定値(0,1p S/611 )以
下になるまで続けられる。
これにより前記の脱塩水供給装置からカラ乙にの入口ま
での配管および機器が清浄化される0 上記(1)および(2)の工程中、流量、時間、セルC
−1、C−2の検出する導電率の表示が行われる。なお
この<1+および(2)の工程は下記の(3)、(4)
又は(5)のいずれの試験の場合でも、それに先立って
実施されるものである。
での配管および機器が清浄化される0 上記(1)および(2)の工程中、流量、時間、セルC
−1、C−2の検出する導電率の表示が行われる。なお
この<1+および(2)の工程は下記の(3)、(4)
又は(5)のいずれの試験の場合でも、それに先立って
実施されるものである。
(3) カラ乙に流す試験水の流量および濃度の変化
によるカラ乙出口水の濃度変化の試験これは以下の(梢
、(2)、Q〜、口の工程よりなる0 (イ) カラム中の樹脂の洗浄 この工程は表1中に樹脂洗浄I% ■として示されてお
り、前記(2)の配管洗浄工程の後、iE磁弁AV−1
、AV−2t−閉L、逆止弁ciから上記流路を経て前
記の高純度の脱塩水を被試験イオン交換樹脂の充填され
たカラムKに所定波数で流し、該樹脂を洗浄する工程で
ある。この工程では導電率計セルC−3により検出する
ガラム出日水の導電率が所定値(0,2μS、& )
基1下になるまではカラム出口水を電磁弁AV−3から
づO−L、該所定導電率以下になると、電磁弁AV−3
を切替えてカラム出口水を脱塩水タンクT−LK回収す
る。この工程中は流量、時間、セルC−2、C−3の検
出する導電率の表示および記録がなされる。
によるカラ乙出口水の濃度変化の試験これは以下の(梢
、(2)、Q〜、口の工程よりなる0 (イ) カラム中の樹脂の洗浄 この工程は表1中に樹脂洗浄I% ■として示されてお
り、前記(2)の配管洗浄工程の後、iE磁弁AV−1
、AV−2t−閉L、逆止弁ciから上記流路を経て前
記の高純度の脱塩水を被試験イオン交換樹脂の充填され
たカラムKに所定波数で流し、該樹脂を洗浄する工程で
ある。この工程では導電率計セルC−3により検出する
ガラム出日水の導電率が所定値(0,2μS、& )
基1下になるまではカラム出口水を電磁弁AV−3から
づO−L、該所定導電率以下になると、電磁弁AV−3
を切替えてカラム出口水を脱塩水タンクT−LK回収す
る。この工程中は流量、時間、セルC−2、C−3の検
出する導電率の表示および記録がなされる。
U 試験水の調整
上記(−0の工程の終了後、電磁弁AV−2を開き、脱
塩水パルスポンプPLIの他に薬液パルスポンづP−2
も作動さ、せ、且つこれらパルスポンづの入力パルス周
波数を調節することKよって、混合室MXに入る薬液お
よびそれを希釈する脱塩水の流量を調節し、その結果と
して混合室から所定の設定濃度の試験水が出て来るよう
にする。なお、この工程中、混合室から出る試験水は電
磁弁AV−2からプO−され、また、混合室■に入る薬
液および脱塩水の流量の変化にかかわらず、混合室MX
から出る試験水は一定の設定流量になるように各パルス
ポンづP−1、P−2の人力パルス周波数を制御するも
のとする。
塩水パルスポンプPLIの他に薬液パルスポンづP−2
も作動さ、せ、且つこれらパルスポンづの入力パルス周
波数を調節することKよって、混合室MXに入る薬液お
よびそれを希釈する脱塩水の流量を調節し、その結果と
して混合室から所定の設定濃度の試験水が出て来るよう
にする。なお、この工程中、混合室から出る試験水は電
磁弁AV−2からプO−され、また、混合室■に入る薬
液および脱塩水の流量の変化にかかわらず、混合室MX
から出る試験水は一定の設定流量になるように各パルス
ポンづP−1、P−2の人力パルス周波数を制御するも
のとする。
上記の設定濃度の試験水を得るには、まず、薬液タンク
T−2内の薬液の濃度、試験水の設定濃度および設定流
量の値から、試験水のこの設定濃度および設定流量を得
るために必要なパルスポジづP−1、P−2の夫夫の入
力パルス周波数を算出し、これを夫夫パルスポンプP−
1、P−2に入力する。そして、このとき混合室■から
実際に出て来る試験水の製置、従ってセルC−2の検出
する導電率、が上記設定値からずれていれば、そのずれ
を無くすように各パルスポンプP−1、P−2の入力パ
ルス周波数のフィードバック制御を行う(このフィード
バック制御はPより動作型のものが好ましい)。なお、
こ必濃度のフィードバック制御は次のQ〜の工程中も継
続される。
T−2内の薬液の濃度、試験水の設定濃度および設定流
量の値から、試験水のこの設定濃度および設定流量を得
るために必要なパルスポジづP−1、P−2の夫夫の入
力パルス周波数を算出し、これを夫夫パルスポンプP−
1、P−2に入力する。そして、このとき混合室■から
実際に出て来る試験水の製置、従ってセルC−2の検出
する導電率、が上記設定値からずれていれば、そのずれ
を無くすように各パルスポンプP−1、P−2の入力パ
ルス周波数のフィードバック制御を行う(このフィード
バック制御はPより動作型のものが好ましい)。なお、
こ必濃度のフィードバック制御は次のQ〜の工程中も継
続される。
Q〜 試験水の通水
上記(Oの工程で混合室MXから設定濃度(設定導電率
)の試験水が得られるようになったら、電磁弁AM−2
を閉じ、所定の設定時間だけカラムKに該試験水を上記
設定流量で流し、その時間の間、カラムKから出て来る
処理水の濃度(導電率)をセルC−3で検出し、これを
記録する。−この間、該処理水の導電率が所定値(0,
2μ塘)以とであればこれをブローし、以下であれば電
磁弁AV−3の切替によって、これを脱塩水タンクT−
1に回収する。この試験水通水中は前記(CIで述べた
試験水濃度のフィードバック制御は継続される。
)の試験水が得られるようになったら、電磁弁AM−2
を閉じ、所定の設定時間だけカラムKに該試験水を上記
設定流量で流し、その時間の間、カラムKから出て来る
処理水の濃度(導電率)をセルC−3で検出し、これを
記録する。−この間、該処理水の導電率が所定値(0,
2μ塘)以とであればこれをブローし、以下であれば電
磁弁AV−3の切替によって、これを脱塩水タンクT−
1に回収する。この試験水通水中は前記(CIで述べた
試験水濃度のフィードバック制御は継続される。
ロ 試験水の再調整・再通水
上記Q〜の設定時間の終了後、前記(Oと同様の仕方で
試験水の設定流量および/ま蘂は設定濃度を変更したと
で、更に上記Q〜と同じ工程を行う。以下、同様に設定
条件−変更して、これを繰返すことにより、一連の試験
を完了する。
試験水の設定流量および/ま蘂は設定濃度を変更したと
で、更に上記Q〜と同じ工程を行う。以下、同様に設定
条件−変更して、これを繰返すことにより、一連の試験
を完了する。
上記(至)、Q〜、に)の工程中は、セルC−2、C−
3の検出する導電率、時間、薬液・脱塩水・試験水容流
量の表示および記録がなされる。
3の検出する導電率、時間、薬液・脱塩水・試験水容流
量の表示および記録がなされる。
(4)薬品再生後のイオン交換樹脂の洗浄状態の試験゛
高純度水の通水により洗浄状態を試験する場合は、前述
した脱塩水の用意および配管洗浄を行なった後、前記(
3)の(イ)の工程のみを設定流量を変化させて行う。
した脱塩水の用意および配管洗浄を行なった後、前記(
3)の(イ)の工程のみを設定流量を変化させて行う。
試験水の通水により洗浄状態を試験する場合は、(3)
の印の工程を行わず、直ちK([3の工程に入る。
の印の工程を行わず、直ちK([3の工程に入る。
(5)貫流容疑の試験
試験水の濃度および流量を一定に保ち、カラム出口水が
規定の濃度に増加するまで試験水のカラム通水を行うこ
と以外は、前記(3)と同様である。これを表2に示す
。この場合、データ記録の時間間隔は長くとる。
規定の濃度に増加するまで試験水のカラム通水を行うこ
と以外は、前記(3)と同様である。これを表2に示す
。この場合、データ記録の時間間隔は長くとる。
次に第2図について説明する。ここでは第1図に示した
装置がnヶ(n系列)並設されている例を示しており、
各系列には各1ケの制御ボックスが属し、各制御ボック
スは通信モジュール、制御コンピュータ、アナロジ入力
七ジュール、チジタル出力七ジュール、導電率計セルの
セレクター、導電率計から構成されている。他方、全系
列に共通に統括コンピュータ(これは所謂パーソナルコ
ンピュータであってよい)、づレンジ、X−Yづ0ツタ
、その切換バッファ、子イスづレー(CRT表示器)、
フロッピー苧イスクが設けられている。
装置がnヶ(n系列)並設されている例を示しており、
各系列には各1ケの制御ボックスが属し、各制御ボック
スは通信モジュール、制御コンピュータ、アナロジ入力
七ジュール、チジタル出力七ジュール、導電率計セルの
セレクター、導電率計から構成されている。他方、全系
列に共通に統括コンピュータ(これは所謂パーソナルコ
ンピュータであってよい)、づレンジ、X−Yづ0ツタ
、その切換バッファ、子イスづレー(CRT表示器)、
フロッピー苧イスクが設けられている。
統括コンピュータにはプロクラムに従って下記の項目が
入力されている。
入力されている。
試験対象系列番号;試験の種別;カラムKK充填した被
試験イオン交換樹脂の名称および体積;薬タンクT−2
内の薬液の種類および濃度(導電率);前述の工程(1
)の所定流量、到達すべき所定導電率、所定循環時間、
工程(2)の所定流量、到達すべき所定導電率、試験(
3)の工程(イ)の所定流量、到達すべき所定導電率、
工程0)、Q〜の試験水の設定導電率、設定流量、回収
のための所定導電率、工程(5の逐次の試験水の設定導
電率、設定流量、試験(4)の各設定値、試験(5)の
設定濃度、設定流量、規定の濃度など、試験のだめの各
設定条件。
試験イオン交換樹脂の名称および体積;薬タンクT−2
内の薬液の種類および濃度(導電率);前述の工程(1
)の所定流量、到達すべき所定導電率、所定循環時間、
工程(2)の所定流量、到達すべき所定導電率、試験(
3)の工程(イ)の所定流量、到達すべき所定導電率、
工程0)、Q〜の試験水の設定導電率、設定流量、回収
のための所定導電率、工程(5の逐次の試験水の設定導
電率、設定流量、試験(4)の各設定値、試験(5)の
設定濃度、設定流量、規定の濃度など、試験のだめの各
設定条件。
統括コンピュータに入力された各設定条件は、制御コン
ピュータのパラメータ定数に変換され、各工程の都度、
通信上ジュールを介して制御コンピュータに与えられる
。制御コンピュータはこの人力された設定条件、および
アナロジ入力上ジュールを介して入力される選択された
導電率計の測定値に基づき演算を行い、前述した各工程
における操作・制御を行9ように各電磁弁へ開閉もしく
は切替信号および各パルスポンプへ所要周波数のパルス
信号を苧ジタル出力モジ、 ニールを介し°て与える
。各工程が終ると制御コンピュータは統括コンピュータ
から次工程の設定条件をパラメータ定数として受は取り
、同様にして当該次工程を実行する。各工程中に得られ
た前述の測定チークおよび運転チークは通信Lジュール
を介して統括コンピュータに返送され、前述した所に従
い、ディ予プレイ上に表示され、又はフ0ツピーヂイス
クに記録される。
ピュータのパラメータ定数に変換され、各工程の都度、
通信上ジュールを介して制御コンピュータに与えられる
。制御コンピュータはこの人力された設定条件、および
アナロジ入力上ジュールを介して入力される選択された
導電率計の測定値に基づき演算を行い、前述した各工程
における操作・制御を行9ように各電磁弁へ開閉もしく
は切替信号および各パルスポンプへ所要周波数のパルス
信号を苧ジタル出力モジ、 ニールを介し°て与える
。各工程が終ると制御コンピュータは統括コンピュータ
から次工程の設定条件をパラメータ定数として受は取り
、同様にして当該次工程を実行する。各工程中に得られ
た前述の測定チークおよび運転チークは通信Lジュール
を介して統括コンピュータに返送され、前述した所に従
い、ディ予プレイ上に表示され、又はフ0ツピーヂイス
クに記録される。
試験の全工程が終了するとフロッピー苧イスクの記録内
容はプリンタ又はX−Yづ0ツタに表出される。
容はプリンタ又はX−Yづ0ツタに表出される。
なお、導電率針セルc−1、C−3F!、同時に検出動
作状態に置かれることはないので、第2図の例ではその
出力を℃しフタで選択して共用の導電率計(回路)に入
力させるようにしているが、各セルに専用の導電率計回
路主膜けてもよい。
作状態に置かれることはないので、第2図の例ではその
出力を℃しフタで選択して共用の導電率計(回路)に入
力させるようにしているが、各セルに専用の導電率計回
路主膜けてもよい。
また、前述の試験水のフィードバック制御のPより動作
(これも制御コンピュータで演算制御される)の定数線
通常固定であるが、これら定数を統括コンピュータから
変更することも可能である。
(これも制御コンピュータで演算制御される)の定数線
通常固定であるが、これら定数を統括コンピュータから
変更することも可能である。
図示の各導電率計憾その測定値(応じ、そのレンジを制
御コンピュータから自動的に切換えることができるよう
になっている。
御コンピュータから自動的に切換えることができるよう
になっている。
統括コンピュータと制御ボックスは通信グープルで結ば
れているので、ケーブルを長くすれば、遠隔処理が可能
であり、特に放射線被曝の恐れのめる原子カブ7ントか
らサンプリングしたイオン交換樹脂の試験の場合に、こ
れは%に有利である。
れているので、ケーブルを長くすれば、遠隔処理が可能
であり、特に放射線被曝の恐れのめる原子カブ7ントか
らサンプリングしたイオン交換樹脂の試験の場合に、こ
れは%に有利である。
第4図、第5図はX−Yづ0ツタに片対数グラフとして
得られたもので、第4図は前記(3)の試験結果の例を
示し、第5図は前記(4)の試験結果の例を示す。実線
はカラム入口水の、また点線はカラム出口水の、導il
c率を示す。5vt−1〒示した各時間区間中のカラム
通過流電の設定値を示す(svとは、−位時間当りカラ
ム中の樹脂体積の何倍の体積の液が流れるかで表わした
流量である。)第4図は性能の落ちた古いイオン交換樹
脂、$5図は性能のよい新しいイオン交換樹脂の場合の
結果を示している。
得られたもので、第4図は前記(3)の試験結果の例を
示し、第5図は前記(4)の試験結果の例を示す。実線
はカラム入口水の、また点線はカラム出口水の、導il
c率を示す。5vt−1〒示した各時間区間中のカラム
通過流電の設定値を示す(svとは、−位時間当りカラ
ム中の樹脂体積の何倍の体積の液が流れるかで表わした
流量である。)第4図は性能の落ちた古いイオン交換樹
脂、$5図は性能のよい新しいイオン交換樹脂の場合の
結果を示している。
なお第1図中のカラムには第7図の如き三原式のカラム
に置換えてもよい。この場合の前記(4)の試験結果の
例を第6図に示す。
に置換えてもよい。この場合の前記(4)の試験結果の
例を第6図に示す。
(発明の効果)
本発明によれば、カラムに試験水を流すに際して、高純
度の脱塩水と濃い薬液とをリアルタイムで混合希釈して
所定濃度の試験水を作り出すものであるから、予め所定
濃度の試験水を夕 。
度の脱塩水と濃い薬液とをリアルタイムで混合希釈して
所定濃度の試験水を作り出すものであるから、予め所定
濃度の試験水を夕 。
ンク内に貯蔵してこれをカラムに流すものに比べて、設
備が簡単になり、且つ試験水の濃度変更を簡単迅速に行
うことができ、試験作業の能率が大幅に向とす□る。し
かも、液を流すためのポンプとしてパルス七−夕を用い
ているので、流量の微細な且つ応答性の゛よい調節が可
能であり、リアルタイムの混合希釈による試験水の濃度
調整を適確に行うことができ、しかも該ポン□プはパル
ス入力を受けて働くものであることから、ディジタルコ
ンピュータによる制御を好適に行うことができ、コンピ
ュータ制御によるイオン交換樹脂性能試験の自動化、遠
隔化が容易に達成できる。従って、労力及び試験所要時
間の節約が可能であり、放射能を帯びたイオン交換樹脂
の試験の場合には放射線被曝の防止効果もめる。
備が簡単になり、且つ試験水の濃度変更を簡単迅速に行
うことができ、試験作業の能率が大幅に向とす□る。し
かも、液を流すためのポンプとしてパルス七−夕を用い
ているので、流量の微細な且つ応答性の゛よい調節が可
能であり、リアルタイムの混合希釈による試験水の濃度
調整を適確に行うことができ、しかも該ポン□プはパル
ス入力を受けて働くものであることから、ディジタルコ
ンピュータによる制御を好適に行うことができ、コンピ
ュータ制御によるイオン交換樹脂性能試験の自動化、遠
隔化が容易に達成できる。従って、労力及び試験所要時
間の節約が可能であり、放射能を帯びたイオン交換樹脂
の試験の場合には放射線被曝の防止効果もめる。
第1図は本発明の実施例における液の流路および機器の
系列を示す図、第2図は同実施例における制御・記録系
統を示す図、第3図(イ)、(0は従来例を示す概略図
、第4図、第5図、第6図は、本発明実施例による試験
結果の例を示すクラ7、第7図は第1図のカラムに置換
可能な三原式カラムを示す図である。 AV−1、AV−2、AV−3−11E磁弁P−1、P
−2・・・パルスポンプ c−1、C−2、C−3・・・導電率計セルDM・・・
前段脱塩塔 T−1・・・脱塩水タンクT−2・・・
薬液タンク MX・・・混合室第2図 第3図 (イ) (ロ)
系列を示す図、第2図は同実施例における制御・記録系
統を示す図、第3図(イ)、(0は従来例を示す概略図
、第4図、第5図、第6図は、本発明実施例による試験
結果の例を示すクラ7、第7図は第1図のカラムに置換
可能な三原式カラムを示す図である。 AV−1、AV−2、AV−3−11E磁弁P−1、P
−2・・・パルスポンプ c−1、C−2、C−3・・・導電率計セルDM・・・
前段脱塩塔 T−1・・・脱塩水タンクT−2・・・
薬液タンク MX・・・混合室第2図 第3図 (イ) (ロ)
Claims (1)
- 高純度水タンク、薬液タンク、混合室、高純度水を高純
度水タンクから混合室に送入するパルスポンプ、薬液タ
ンクから薬液を混合室に送入するパルスポンプ、被試験
イオン交換樹脂を充填可能なカラム、混合室から出る液
の濃度を検出する濃度検出器、該濃度検出器を経た液の
ブローおよび該カラムへの送入のいずれかに切換可能な
弁、該カラムを通過した液の濃度を検出する濃度検出器
、上記各パルスポンプの入力周波数および上記弁の切換
を試験の工程および設定条件に従って制御する制御装置
、混合室から出る液の流量および濃度並びにカラムから
出る液の濃度を上記パルスモータの入力周波数および上
記濃度検出器の出力から表示・記録する装置、を備えて
なるイオン交換樹脂の性能試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60004605A JPH06105242B2 (ja) | 1985-01-14 | 1985-01-14 | イオン交換樹脂の性能試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60004605A JPH06105242B2 (ja) | 1985-01-14 | 1985-01-14 | イオン交換樹脂の性能試験装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61162749A true JPS61162749A (ja) | 1986-07-23 |
JPH06105242B2 JPH06105242B2 (ja) | 1994-12-21 |
Family
ID=11588670
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60004605A Expired - Lifetime JPH06105242B2 (ja) | 1985-01-14 | 1985-01-14 | イオン交換樹脂の性能試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06105242B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02253159A (ja) * | 1989-03-28 | 1990-10-11 | Hitachi Ltd | 水処理装置の性能診断装置 |
JPH0466855A (ja) * | 1990-07-09 | 1992-03-03 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | イオン交換樹脂の性能評価方法 |
JP2012167062A (ja) * | 2011-02-15 | 2012-09-06 | Japan Organo Co Ltd | アルコールの精製方法及び装置 |
CN106645299A (zh) * | 2016-11-08 | 2017-05-10 | 苏州盛地自动化设备有限公司 | 电导率法离子交换树脂动力学性能试验装置 |
JP2019202291A (ja) * | 2018-05-25 | 2019-11-28 | オルガノ株式会社 | イオン交換樹脂の洗浄試験装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4941901A (ja) * | 1972-08-29 | 1974-04-19 | ||
JPS4971507A (ja) * | 1972-11-14 | 1974-07-10 | ||
JPS5122398A (ja) * | 1974-08-20 | 1976-02-23 | Canon Kk | |
JPS5631444A (en) * | 1979-08-21 | 1981-03-30 | Japan Organo Co Ltd | Automatic measuring device for exchanging capacity of ion exchange resin |
-
1985
- 1985-01-14 JP JP60004605A patent/JPH06105242B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4941901A (ja) * | 1972-08-29 | 1974-04-19 | ||
JPS4971507A (ja) * | 1972-11-14 | 1974-07-10 | ||
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JPH02253159A (ja) * | 1989-03-28 | 1990-10-11 | Hitachi Ltd | 水処理装置の性能診断装置 |
JPH0743365B2 (ja) * | 1989-03-28 | 1995-05-15 | 株式会社日立製作所 | 水処理装置の性能診断装置 |
JPH0466855A (ja) * | 1990-07-09 | 1992-03-03 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | イオン交換樹脂の性能評価方法 |
JP2012167062A (ja) * | 2011-02-15 | 2012-09-06 | Japan Organo Co Ltd | アルコールの精製方法及び装置 |
CN106645299A (zh) * | 2016-11-08 | 2017-05-10 | 苏州盛地自动化设备有限公司 | 电导率法离子交换树脂动力学性能试验装置 |
JP2019202291A (ja) * | 2018-05-25 | 2019-11-28 | オルガノ株式会社 | イオン交換樹脂の洗浄試験装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06105242B2 (ja) | 1994-12-21 |
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