JPS61158141A - フオトエツチング装置 - Google Patents
フオトエツチング装置Info
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- JPS61158141A JPS61158141A JP59276747A JP27674784A JPS61158141A JP S61158141 A JPS61158141 A JP S61158141A JP 59276747 A JP59276747 A JP 59276747A JP 27674784 A JP27674784 A JP 27674784A JP S61158141 A JPS61158141 A JP S61158141A
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Classifications
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
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- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は半導体集積回路やプリント用基板に回路パター
ンを形成するためのフォトエツチング装置に関し、特に
プリント基板とフォトマスクを微少間隔を保ってマスク
パターンの焼付けを行う方式に好適なフォトエツチング
装置に関する。
ンを形成するためのフォトエツチング装置に関し、特に
プリント基板とフォトマスクを微少間隔を保ってマスク
パターンの焼付けを行う方式に好適なフォトエツチング
装置に関する。
(従来技術とその問題点)
この種のフォトエツチング装置は、光照射により基板上
の感光性樹脂を露光して回路パターン成形を行うための
ものである。露光源としては、一般−に、波長が300
〜400μの紫外線で、光源としてキセノンランプまた
は超高圧水銀灯が用いられる。
の感光性樹脂を露光して回路パターン成形を行うための
ものである。露光源としては、一般−に、波長が300
〜400μの紫外線で、光源としてキセノンランプまた
は超高圧水銀灯が用いられる。
ところで、従来、600awX700am程度の広域面
を照射する場合、良質な平行光が得られないことから、
マスクパターンの焼付けはフォトマスクと基板を密着さ
せて行う方式、いわゆる密着型が多く用いられている。
を照射する場合、良質な平行光が得られないことから、
マスクパターンの焼付けはフォトマスクと基板を密着さ
せて行う方式、いわゆる密着型が多く用いられている。
しかし、この密着型では、フォトマスク上に塵や汚れな
どが付着するとその形も焼付けられたり、フォトマスク
が損耗し易いという問題がある。そして、この問題を解
決するためにプリント基板とフォトマスクを数百μ離し
て焼付けするフォトエツチング装置が望まれ、初期の課
題であった良質な平行光を得るための研究がなされてい
る。
どが付着するとその形も焼付けられたり、フォトマスク
が損耗し易いという問題がある。そして、この問題を解
決するためにプリント基板とフォトマスクを数百μ離し
て焼付けするフォトエツチング装置が望まれ、初期の課
題であった良質な平行光を得るための研究がなされてい
る。
この平行光を作る従来方式としては第7図及び第8図に
示すものがある。
示すものがある。
第7図は、シリンドリカルレンズa及びレンズaの下部
に配置された複数のスリット板すとにより、水銀灯Cか
らの光束をX、Y方向に平行に整える方式である。第8
図は、平行用ハニカムボードeを介在させることで水銀
灯dからの光束を平行に整える方式のものである。
に配置された複数のスリット板すとにより、水銀灯Cか
らの光束をX、Y方向に平行に整える方式である。第8
図は、平行用ハニカムボードeを介在させることで水銀
灯dからの光束を平行に整える方式のものである。
しかしながら、第7図の方式では、仮に基板とフォトマ
スク間が300〜400μの場合に、光の収束により、
フォトマスク上で100μ幅の線幅が基板上で最大10
0μm15μまで細くなることを許容限界とすると、ス
リット板すの長さし=100m、スリット板す同士の間
隔W= :21111としなくてはならず、このような
条件を満たすことは製造上至難でコスト高となる。
スク間が300〜400μの場合に、光の収束により、
フォトマスク上で100μ幅の線幅が基板上で最大10
0μm15μまで細くなることを許容限界とすると、ス
リット板すの長さし=100m、スリット板す同士の間
隔W= :21111としなくてはならず、このような
条件を満たすことは製造上至難でコスト高となる。
また第8図の方式では、通常のものではハニカムeから
出光する光が平行光に対し約2.5度の傾きr照射する
。したがって、例えば第9図に示すように、フォトマス
クfと基板qとの間隔を350μに設定し、フォトマス
クh上100μの線幅を基板上に90μ以上の忠実度で
焼付ける場合を想定すると、平行光に対して光源からの
光は最大0.8度の傾きで収束するために、第8図のも
のも実用的ではなかった。
出光する光が平行光に対し約2.5度の傾きr照射する
。したがって、例えば第9図に示すように、フォトマス
クfと基板qとの間隔を350μに設定し、フォトマス
クh上100μの線幅を基板上に90μ以上の忠実度で
焼付ける場合を想定すると、平行光に対して光源からの
光は最大0.8度の傾きで収束するために、第8図のも
のも実用的ではなかった。
また、両方式にあっては、スリット板すやハニカムeで
光束を仕切っているため光損失も大きいものとなってい
た。
光束を仕切っているため光損失も大きいものとなってい
た。
(発明の目的)
本発明、上記事情に鑑みなされたもので、光源から平行
光束を効率良く得ることを目的と鴨、より具体的にはフ
ォトマスクと基板が250μ〜450μの隙間を保って
、フォトマスク上100μの線幅を基板上90μ以上の
忠実度で焼付けることができるフォトエツチング装置を
提供することを目的とする。
光束を効率良く得ることを目的と鴨、より具体的にはフ
ォトマスクと基板が250μ〜450μの隙間を保って
、フォトマスク上100μの線幅を基板上90μ以上の
忠実度で焼付けることができるフォトエツチング装置を
提供することを目的とする。
(発明の構成)
上記目的を達成するために、本発明は、フォトマスク上
に光を照射することにより、マスクパターンに応じたパ
ターンをフォトマスク下面に位置する基板上にフォトエ
ツチングするための装置であって、前記装置は、光源の
光を入光する複数の光ファイバと、光ファイバの他端を
縦横マトリックス状に接続した平行ユニットボードと、
平行ユニットボードの照射面側にあって各光ファイバの
出光面に対向配置された複数の凸レンズとからなること
を特徴とする。
に光を照射することにより、マスクパターンに応じたパ
ターンをフォトマスク下面に位置する基板上にフォトエ
ツチングするための装置であって、前記装置は、光源の
光を入光する複数の光ファイバと、光ファイバの他端を
縦横マトリックス状に接続した平行ユニットボードと、
平行ユニットボードの照射面側にあって各光ファイバの
出光面に対向配置された複数の凸レンズとからなること
を特徴とする。
(実施例の説明)
第1図乃至第4図は、本発明を適用したフォトエツチン
グ装置の一実施例を示したものである。
グ装置の一実施例を示したものである。
本発明のフォトエツチング装置は、第1図及び第2図に
示すように、集光部Aと、集光部Aからの光が中継部B
を介して伝送される平行ユニットボード7とを備えてい
る。
示すように、集光部Aと、集光部Aからの光が中継部B
を介して伝送される平行ユニットボード7とを備えてい
る。
集光部Aは、半楕円状のりフレフタ2と、リフレクタ2
の一方の焦点に配置された超高圧水銀灯などの光源1と
からなり、光源1からの光をリフレクタ2の他方の焦点
に集光する。
の一方の焦点に配置された超高圧水銀灯などの光源1と
からなり、光源1からの光をリフレクタ2の他方の焦点
に集光する。
尚、集光部Aは、第5図に示すように、放物状のりフレ
フタ20a及び集光レンズ20bを組み合わせて光#i
1からの光を集光するようにしても良い。
フタ20a及び集光レンズ20bを組み合わせて光#i
1からの光を集光するようにしても良い。
前記中継部Bは、集光部Aの他方の焦点に受光面3bが
配置された光ミキシング0ツド3と、光ミキシングロッ
ド3の出光面3aに接触・配置され、かつ多数の光ファ
イバ4a、4b、4c、・・・を巻具5で束ねたファイ
バ結束部4とからなっている。
配置された光ミキシング0ツド3と、光ミキシングロッ
ド3の出光面3aに接触・配置され、かつ多数の光ファ
イバ4a、4b、4c、・・・を巻具5で束ねたファイ
バ結束部4とからなっている。
各ファイバ4a、’4b、4c、・・・としては、吸収
損失などの伝送特性などを考慮して、石英ファイバまた
はプラスチックファイバなどから適宜選定する。また各
ファイバ4a、4b、4c、・・・の長さはユニットボ
ード7のスキャン量も付加して余裕をもたせである。フ
ァイバ4a、4b、4c。
損失などの伝送特性などを考慮して、石英ファイバまた
はプラスチックファイバなどから適宜選定する。また各
ファイバ4a、4b、4c、・・・の長さはユニットボ
ード7のスキャン量も付加して余裕をもたせである。フ
ァイバ4a、4b、4c。
・・・の数は、ユニットボード7に装着される凸レンズ
8の数に対応している。例えば複数の集光部Aから光を
伝送する場合には集光部への数を含めて光ファイバ及び
レンズの数が算出される。
8の数に対応している。例えば複数の集光部Aから光を
伝送する場合には集光部への数を含めて光ファイバ及び
レンズの数が算出される。
前記平行ユニットボード7は、ボード本体7aと、本体
7aの照射面7b側に配置された多数の凸レンズ8とか
らなり、第2図に示すように、基板6と間隔を保って配
置されるフォトマスク9の上方でスキャンできるように
配設される。
7aの照射面7b側に配置された多数の凸レンズ8とか
らなり、第2図に示すように、基板6と間隔を保って配
置されるフォトマスク9の上方でスキャンできるように
配設される。
より詳細には、ボード本体7aは、第3図に示すように
、縦横マトリックス状に貫通孔が形成されている。この
貫通孔には受光面7C側に前記光ファイバ4a、4b、
4c、・・・が接続されるとともに、照射面7b側に凸
レンズ8がそれぞれ装着されている。
、縦横マトリックス状に貫通孔が形成されている。この
貫通孔には受光面7C側に前記光ファイバ4a、4b、
4c、・・・が接続されるとともに、照射面7b側に凸
レンズ8がそれぞれ装着されている。
ボード本体7aの大きさは基板6の大きさによって設定
され、またレンズ8の個数及び配置は照明むらの仕様に
よって決定する。
され、またレンズ8の個数及び配置は照明むらの仕様に
よって決定する。
以上の構成において、光源1からの光は、リフレクタ2
あるいはりフレフタ20a及び集光レンズ20bとによ
り集光されるとともに、ミキシングロッド3でミキシン
グされ、かつ複数の光ファイバ4a、4b、4c、・・
・を介してユニットボード7まで伝送される。
あるいはりフレフタ20a及び集光レンズ20bとによ
り集光されるとともに、ミキシングロッド3でミキシン
グされ、かつ複数の光ファイバ4a、4b、4c、・・
・を介してユニットボード7まで伝送される。
また基板9にはフォトレジスト材6aが被着されている
(第2図参照)。フォトエツチング処理は前記ボード7
からの光をフォトマスク9を介してフォトレジスト材6
aに照射することにより施される。
(第2図参照)。フォトエツチング処理は前記ボード7
からの光をフォトマスク9を介してフォトレジスト材6
aに照射することにより施される。
この場合、前記ボーP7のレンズ8から照射される光は
、第4図に示すように、レンズ8を光ファイバ4aの出
光面41aからレンズ8の焦点距離fだけ離して配置す
ることにより、レンズ8から出光する光は平行になる。
、第4図に示すように、レンズ8を光ファイバ4aの出
光面41aからレンズ8の焦点距離fだけ離して配置す
ることにより、レンズ8から出光する光は平行になる。
また、光ファイバ4aの出光面41aの径が小さければ
レンズ8から出光する光の広がり角度αは小さくなる。
レンズ8から出光する光の広がり角度αは小さくなる。
したがって、例えば石英ファイバの出光する広がり角度
θは約50度であるから、光ファイバ4aのコア径π−
0,5mmwの場合では、レンズの焦点路@f=31.
2m、有効径D=30m+7)場合にはα=0.4度と
光学的に算出される。
θは約50度であるから、光ファイバ4aのコア径π−
0,5mmwの場合では、レンズの焦点路@f=31.
2m、有効径D=30m+7)場合にはα=0.4度と
光学的に算出される。
また同一焦点距離f=31.2am+、同−有効径D=
30#であって、石英ファイバのコア径π=1.0II
llの場合には、レンズ8から出光する光の広がり角度
α=0.8度である。
30#であって、石英ファイバのコア径π=1.0II
llの場合には、レンズ8から出光する光の広がり角度
α=0.8度である。
これにより、前記平行ユニットボード7をスキャンする
ことにより、基板5にエツチングされるマスクパターン
は上記第9図に示した最大許容限度0.8度内に入る。
ことにより、基板5にエツチングされるマスクパターン
は上記第9図に示した最大許容限度0.8度内に入る。
さらにコア径π10,5mmの場合にはより確実な許容
限度内の平行光を得ることができる。
限度内の平行光を得ることができる。
第6図は、本発明の第2実施例を示したものである。
この実施例では、光源1からの光を複数の光ファイバ4
0a、40b、40c、・・・により前記実施例におけ
る平行ユニットボード7(不図示)まで伝送するように
した例である。
0a、40b、40c、・・・により前記実施例におけ
る平行ユニットボード7(不図示)まで伝送するように
した例である。
すなわち、光源1は中空球体200の中心位置に配置さ
れている。この球体200の外周部にはランダムに複数
の光ファイバ40a、40b。
れている。この球体200の外周部にはランダムに複数
の光ファイバ40a、40b。
40G、・・・の入光面側が装着されている。この入光
面は集光レンズ200aとともに光源1の中心に向けて
配置しである。
面は集光レンズ200aとともに光源1の中心に向けて
配置しである。
各光ファイバ40a、40b、40c、−・・の出光面
C側は、第1実施例と同様に平行ユニットボード7に接
続される。このように集光部Aを構成することで、第1
実施例における中継部Bが省略できる。
C側は、第1実施例と同様に平行ユニットボード7に接
続される。このように集光部Aを構成することで、第1
実施例における中継部Bが省略できる。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明のエツチング装置は次のよ
うな効果を奏する。
うな効果を奏する。
■本発明では光源からの光束を複数の光ファイバにより
伝送することを特徴とするために、光源と照射面との光
学的配置を考慮する必要がなくなる。
伝送することを特徴とするために、光源と照射面との光
学的配置を考慮する必要がなくなる。
■従来の非密着型におけるフォトエツチングの精度が向
上する。すなわちフォトマスクと基板が250μ〜45
0μの間隔を保ってフォトマスク上100μの線幅を基
板上90μ以上の忠実度で焼付けることが可能となる。
上する。すなわちフォトマスクと基板が250μ〜45
0μの間隔を保ってフォトマスク上100μの線幅を基
板上90μ以上の忠実度で焼付けることが可能となる。
■従来のものに対して光損失が少ない。
■平行ユニットボードをスキャンするようにした場合に
は、−回のスキャンにより広域面を均一に照綱できる。
は、−回のスキャンにより広域面を均一に照綱できる。
第1図乃至第4図は本発明の一実施例を示したもので、
第1図はフォトエツチング装置の要部を示す断面模式図
、第2図は基板上にマスクパターンを形成する方法を示
す説明図、第3図はユニットボード部を示す拡大平面図
、第4図はユニットボード部の光学系を説明する為の模
式図、第5図は第1実施例における集光部の変形例を示
す断面模式図、第6図は本発明の第2実施例を示したも
ので、エツチング装置の集光部を示す概略斜視図、第7
図及び第8図は平行光を得るための従来方式を示すもの
で、第7図はシリンドリカルレンズを用いた方式を示す
模式図、第8図はハニカムボードを用いた方式を示す模
式図、第9図は平行光の許容限界を示す説明図である。 A・・・集光部、B・・・中継部、1・・・光源、2゜
20a・・・リフレクタ、20b・・・集光レンズ、4
・・・光フアイバ結束部、4a、4b、4c・・・光フ
ァイバ、7・・・平行ユニットボード、7a・・・ボー
ド本体、7b・・・照射面、7C・・・入光面、8・・
・凸レンズ。
第1図はフォトエツチング装置の要部を示す断面模式図
、第2図は基板上にマスクパターンを形成する方法を示
す説明図、第3図はユニットボード部を示す拡大平面図
、第4図はユニットボード部の光学系を説明する為の模
式図、第5図は第1実施例における集光部の変形例を示
す断面模式図、第6図は本発明の第2実施例を示したも
ので、エツチング装置の集光部を示す概略斜視図、第7
図及び第8図は平行光を得るための従来方式を示すもの
で、第7図はシリンドリカルレンズを用いた方式を示す
模式図、第8図はハニカムボードを用いた方式を示す模
式図、第9図は平行光の許容限界を示す説明図である。 A・・・集光部、B・・・中継部、1・・・光源、2゜
20a・・・リフレクタ、20b・・・集光レンズ、4
・・・光フアイバ結束部、4a、4b、4c・・・光フ
ァイバ、7・・・平行ユニットボード、7a・・・ボー
ド本体、7b・・・照射面、7C・・・入光面、8・・
・凸レンズ。
Claims (2)
- (1)フォトマスク上に光を照射することにより、マス
クパターンに応じたパターンをフォトマスク下面に位置
する基板上にフォトエッチングするための装置であつて
、前記装置は、光源の光を入光する複数の光ファイバと
、光ファイバの他端を縦横マトリックス状に接続した平
行ユニットボードと、平行ユニットボードの照射面側に
あつて各光ファイバの出光面に対向配置された複数の凸
レンズとからなることを特徴とするフォトエッチング装
置。 - (2)前記平行ユニットボードがフォトマスク上をスキ
ャンしながら光を照射する特許請求の範囲第1項に記載
のフォトエッチング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59276747A JPS61158141A (ja) | 1984-12-29 | 1984-12-29 | フオトエツチング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59276747A JPS61158141A (ja) | 1984-12-29 | 1984-12-29 | フオトエツチング装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61158141A true JPS61158141A (ja) | 1986-07-17 |
Family
ID=17573774
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59276747A Pending JPS61158141A (ja) | 1984-12-29 | 1984-12-29 | フオトエツチング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61158141A (ja) |
-
1984
- 1984-12-29 JP JP59276747A patent/JPS61158141A/ja active Pending
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