JPS61155872A - クライストロン試験装置 - Google Patents

クライストロン試験装置

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JPS61155872A
JPS61155872A JP27615084A JP27615084A JPS61155872A JP S61155872 A JPS61155872 A JP S61155872A JP 27615084 A JP27615084 A JP 27615084A JP 27615084 A JP27615084 A JP 27615084A JP S61155872 A JPS61155872 A JP S61155872A
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JP
Japan
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collector
anode
voltage
power source
aging
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JP27615084A
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English (en)
Inventor
Hideo Aoki
英夫 青木
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Toshiba Corp
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Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] 本発明はクライストロンの試験装置に係り、特に大電力
のクライストロンのエージングを効率良〈実施できかつ
省力化の可能なりライストロン試験装置に間する。
[発明の技術的背景とその問題点] 周知のようにクライストロンは数100MHzから数G
H2の周波数帯の大電力増幅管として送信器やレーダー
装置などに幅広く使用されている速度変調型電子管であ
る。近年では、高エネルギー加速器の高周波加速空胴の
高周波源として、或いは核融合装置のローア・ハイブリ
ッド(LOWERHYBRID)周波数帯の高周波によ
るプラズマ加熱装置の高周波源として出力電力がパルス
で数MWから数十MWの大電力管が開発されている。
ところで、このような大電力クライストロンでは製作後
、クライストロン試験装置によりエージングという処理
を行なってから使用するようにしている。すなわち、大
電力クライストロンは通常数十kVから数百k ’Vと
いう高いコレクタ電圧で動作するが、製作後はまず低い
電圧で動作させ、クライストロン内の真空度を監視しな
がら徐々に動作電圧を上昇させ、最終的に定格の電圧で
動作することを確認してから使用される。
従来、かかる大電力クライストロンのエージング処理を
行なうクライストロン試験装置としては第10図に示す
ような構成のものが採用されている。第1図において、
1はクライストロン、2はポテンショメータ4aの設定
値を基準電圧V Cref    ’として出力電圧を
制御するコレクタ電源、3はポテンショメータ4bの設
定値を基準電圧varerとして出力電圧が制御される
アノード電源、5はフィラメント電源、6はクライスト
ロン1の外周部に設けられた収束マグネット7に電流を
供給する収束マグネット電源、8はクライストロン1に
連結されたイオンポンプ9に電流を供給するイオンポン
プ電源である。
しかして、このような構成のクライストロン試験装置に
おいて、製作後のクライストロン1のエージング処理を
行なうにはまずカソード電源2、アノード電8I!3の
基準電圧V cref、 varefをポテンショメー
タ4a、4bによりそれぞれ低い値に設定して通電する
。そして運転員がイオンポンプ9を流れる電流値を監視
してイオン電流値が設定された基準値よりも低い場合に
はポテンショメータ4a、4bを調節してVcrer、
 Varefを上昇させる。Vcref、 Varef
が上昇すると1、コレクタからのガス放出等により管内
の真空度が一旦劣化し、イオン電流値も一旦増加するが
、イオンポンプの排気作用によって時間とともにイオン
電流値が減少する。イオン電流値が基準値よりも低くな
ると再びVcref、 Varefを上昇させ、これを
繰り返して最終的に定格電圧での使用が可能になる。
しかしこのようなエージング処理では定格電圧で使用可
能になるまでに上記のような操作を数百ステップに分割
して行なう必要があり、またエージング時間も2週間程
度を必要とする。また上記のような一連の操作を全て運
転員の手動操作により行なわれるために基準電圧Vcr
ef、 Varefの設定が難かしく、しかも誤操作に
より保護装置が動作するとエージングの一時中断が避け
られず、かつ、エージング間は常に運転員が監視してい
る必要があった。
[発明の目的] 本発明は上記の欠点を解消するためになされたもので、
その目的はクライストロン製作後のエージング処理を自
動化することによって効率の良いかつ省力化が可能なり
ライストロン試験装置を提供することにある。
[発明の概要] 本発明は、上記目的を達成するために、エージング処理
におけるクライストロンのカソード電源およびアノード
電源の基準電圧Vcref、 Varef及び各ステッ
プの基準電圧に対応するエージング時間Tのそれぞれの
パターンをあらかじめ登録し、そのパターンに応じた各
ステップにおけるエージング時間経過後、イオン電流値
が設定値以下になっていれば次のスフツブに進む処理を
自動的に行なえるようにすることによプて効率良くエー
ジング処理を行なうと共に省力化を可能にしたものであ
る。
[発明の実施例] 以下、本発明を第1図に示す第1の実施例について説明
するに、第10図と同一構成要素に対しては同一記号を
付してその説明を省略し、ここでは異なる部分について
述べる。第1図において、10.11はそれぞれの各操
作ステップにおけるコレクタ電圧、アノード電圧の基準
電圧y crer。
y arerを記憶するコレクタ電圧パターンファイル
及びアノード電圧パターンファイル、12はエージング
の各ステップにおけるエージング時間Tを記憶するエー
ジング時間パターンファイルである。
13はコレクタ電圧パターンファイル10.アノニド電
圧パターンファイル11.エージング時間パターンファ
イル12の各ステップにおける値を設定するパターン設
定手段である。
また14は、コレクタ電圧パターンファイル10、アノ
ード電圧パターンファイル11、エージング時間パター
ンファイル12およびタイマ16、そしてイオンポンプ
電源8とイオンポンプ9との間に設けられたイオン電流
検出手段15の出力信号がそれぞれ入力される制御手段
である。
この制皿出力手段14はエージング時間パターンファイ
ル12の各ステップにおけるエージング時間だけ経過し
た時点でイオン電流検出手段15により検出されたイオ
ン電流値11と設定値とを比較し、イオン電流値ILが
設定値以下であればコレクタ電圧パターンフィル10.
アノード電圧パターンファイル11からの次のステップ
の電圧を基準電圧Vcref、 Varefとしてコレ
クタ電源2、アノード電源3に出力してエージング時間
パターンファイル12の次のステップのエージング時間
だけエージングを行ない、Ixが設定値をこえる場合は
ステップを更新せず、さらにこのステップのエージング
時間だけエージングを行なう機能を備えたものである。
上記タイマ16は制御手段14がエージング時間ファイ
ルの各ステップにおけるエージング時間だけ経過したこ
とを検出するためのものである。   ′ 次に、上記のように構成されたクライストロン試験装置
の作用について説明する。第1図の動作の流れを第2図
に示す。まず、パターン設定手段13で段階的に増加し
、最終ステップK IaXで定格電圧となるようなVc
r+J、 Varefの電圧パターンを予めコレクタ電
圧パターンファイル10、アノード電圧パターンファイ
ル11に設定しておく。
また各ステップの基準電圧に対応するエージング時間を
予めエージング時間パターンファイル12に設定してお
く。このような状態にして制御手段14をスタートさせ
ると第2図に示すようにまず■でカウンターKを1にセ
ットし、■でコレクタ電圧パターンファイル10、アノ
ード電圧パターンファイル11のに−1の値Vcref
 (i ) 。
Varef (1)をコレクタ電源2、アノード電源3
に出力する。次に■でエージング時間パターンファイル
12のT(1)をタイマ16にセットし、■でエージン
グ時間T(1)だけ経過するのを待ち、■でイオン電流
Ixが設定値I Set以内にあることをチェックする
。イオン電流Itが設定値l Set以内であれば■で
カウンターをカウントアツプし、基準電圧Vcref 
(2) 、 Varef (2)でエージング時間T(
2)の間だけエージングを行ない、以下この処理を繰り
返す。■でカウンターをカウントアツプしたときは■で
指定したステップだけエージングを行なったかを調べ、
これが満たされれば目標値までのエージングは終了した
と判断して終了する。■でイオン電流11が設定値1 
setを越える場合はステップを更新せず、基準電圧V
 cref、  V arefはそのままでさらにエー
ジング時間だけエージングを行ない、以下イオン電流1
+が設定値以下となるまでこの処理を行なう。
第3図は各ステップに対応する基準電圧ycrer。
v arefの時間的変化を示したもので、まず、第1
ステップではVeref (1) 、 Varef (
1)で■(1)時間だけエージングを行ない、T(1)
時間経過した時点でイオン電流値Itが設定値l Se
t以下であることをチェックして第2ステツプに移る。
この図では第4ステツプでT(4)時間だけ経過した後
もイオン電流値Itが設定値I Setを超えているた
め、基準電圧vcrer。
V arefはそのままで再びT(4)時間だけエージ
ングを行なっている。
以上説明したように、この実施例によれば、パターン設
定手段13により基準電圧Vcre4゜V arefと
なる電圧パターン、各ステップの基準電圧に対応するエ
ージング時間パターンをコレクタ電圧パターンファイル
10、アノード電圧バタ゛−ンファイル11、エージン
グ時間パターンファイル12に予め設定しておけば後は
定格動作に至るまでのエージング処理を自動化すること
ができる。
上記実施例ではクライストロン1の管内の真空度をイオ
ン電流値Itが設定値1 t Set以下かこれを超え
るかによりエージング処理の経過を管理するようにして
いるが、真空度が限界値よりも劣化し、−担エージング
を停止して真空排気後再び最初のステップからエージン
グを行なう再エージング処理のほうが良い場合もある。
第4図はこのような機能を備えた本発明の第2の実施例
を示すもので、第1図と同一構成要素には同一記号を付
してその説明を省略し、ここでは異なる点について述べ
る。本実施例では第4図に示すように再エージング処理
を行なう場合の各ステップの基準電圧に対応するエージ
ング時間を予めパターン設定手段13′により設定して
おき、これを新たに設けられた再エージング時間パター
ンファイル17に記憶させ、その出力信号を制御手段1
4′に入力するようにしたものである。
次に上記のように構成されたクライストロン試験装置に
おいて、制御手段14′によるエージング処理の動作を
第5図を参照しながら説明する。
第5図において、■〜のは第1図の実施例の動作の流れ
を示した第2図と同じである。第5図において、第2図
と異なる点は■においてタイマにエージング時fllT
(K)がセットされその時間を待つ間に■でイオン電流
値ILが限界値I l111を以下であるか否かを監視
している点にある。このエージング時間T(K>以内に
ItがIli曽itをこえた場合は■で基準電圧vcr
er、 Varefの出力をリセットしてエージングを
中断し、[株]でイオン電流値ILが再エージング開始
可能な電流値I Startg、下になるまで待つ。そ
して、11がl 8tal’を以下になると再びVce
ref (i)、 Varef(1)からエージングを
開始する。0〜Oまでの処理はOでしがKより大きくな
る。すなわち、イオン電流値lxが限界値11outを
超え、−担エージングを中断したステップまで戻ると、
再びもとの■〜■の処理にはいることを除いては■〜■
と同じである。
再エージングでは最初のステップV cref(1) 
V aref(11から再びもとの■〜■の処理にはい
るまでの間、各ステップのエージング時間T′がパター
ン設定手段13′に設定されており、これを再エージン
グ時間パターンファイル17に記憶している。このよう
にしている理由は、この間のステップがすでにエージン
グを行なっているステップであり、エージング時間Tパ
ターンファイル12に記憶される設定値よりも短時間で
次のステップへ進めるため、これを別のファイルで管理
することにより、より短時間で元のステップまでの再エ
ージングを終了できるからである。
第6図は基準電圧vcrer、 Varefの時間的変
化を示したもので、この図では第4ステツプでイオン電
流値ILが限界値I liw+itを超えるためこの時
点で一担エージングを中断し、イオン電流値lxが再エ
ージング開始可能な電流値l 5tart以下になった
時点で第1ステツプからエージングを開始している。再
エージングでは再ニージンク時間パターンファイル17
の値T’(11〜T’(31を使用し、短時間で第4ス
テツプに達し、第4ステツプ以降は再びエージング時間
パターンファイル12のニージンク時間Tの値を使用し
てエージングを行なっている。
また、上記第2の実施例ではイオン電流値lxが設定@
 l 1 setを超えると一担エージングを停止して
排気後再び最初ステップからエージングを行なう再エー
ジング処理について述べたが、電圧基準値Vcref、
 Varefはそのままで制御シーケンスを一担中断し
、その間にコレクタ電圧パターンファイル10、アノー
ド電圧パターンファイル11、エージング時間パターン
ファイル12を書き換え可能な機能を制御手段に持たせ
ることによって、より柔軟なエージング処理を行なうこ
とができる。
第7図はこのような機能を備えた本発明の第3の実施例
を示すもので、第1図と同一構成要素には同一記号を付
してその説明を省略し、ここでは異なる点についてのみ
述べる。本実施例では第7図に示すようにタイマ16を
セットしてからT(K>時間経過するまでの間にイオン
電流値Itが設定値I j Setを超えるとエージン
グ中断スイッチ18からの指令により制御手段14“は
基準電圧Vcref、 Varefをそのままにしてタ
イマ16を一旦停止し、その闇にパターン設定手段13
によりコレクタ電圧パターンファイル10.アノード電
圧パターンファイル11、エージング時間パターンファ
イル12の各設定値が層き換えられると、再びタイマ1
6を動作させてエージングを開始するようにしたもので
ある。これにより、それまでのエージングの状況を見な
がら、各ステップ間の電圧変化幅、各ステップにおける
エージング時間を変えられるため、各クライストロンの
動作特性に合わせて、最適なエージング処理を行なうこ
とができる。
第8図は第7図の動作の流れを示したもので、■〜のは
第2図と同じである。第8図において、第2図と異なる
点はエージング時間T (K>だけ待つ間にOでエージ
ング中断スイッチ18が押されているかを調べ、エージ
ング中断の場合はOで再開される・のを持ち、再開され
ると■以降の処理にもどる。     。
第9図は基準電圧Vcref、 Varefの時間的変
化を示したもので、この図では第4ステツプで一担エー
ジングを中断し、コレクタ電圧パターンファイル10、
アノード電圧パターンファイル11、エージング時間パ
ターンファイル12を書き換えた後、エージング処理を
再開していることを表わしている。
[発明の効果] 以上述べたように本発明によれば、クライストロンのエ
ージング処理工程を自動化でき、真空度劣化時は一時中
断した後再エージング時間パターンに従ったエージング
処理も可能となり、一時中断している間に電圧パターン
ファイル、時間パターンファイルを書き換える機能を持
たせることによって、各クライストロンの特性に応じた
最適なエージング処理を行なうことが可能となり、もっ
て効率的で省力化が可能なりライストロン試験装置を提
供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるクライストロン試験装置の第1の
実施例を示すブロック構成図、第2図は同実施例を説明
するための70−チャートを示す図、第3図は同実施例
のVcref、 Varef、  I tの時間的変化
を示す図、第4図は本発明によるクライストロン試験装
置の第2の実施例を示すブロック構成図、第5図は同実
施例の動作を説明するためのフローチャートを示す図、
第6図は同実施例のVcref、 Varef、  I
 Jの時間的変化を示す図、第7図は本発明によるクラ
イストロン試験装置の第3の実施例を示すブロック構成
図、第8図は同実施例の動作を説明するためのフローチ
ャートを示す図、第9図は同実施例のVcref、 V
arefの時間的変化を示す図、第10図は従来方式の
クライストロン試験装置の構成を示すブロック線図であ
る。 1・・・クライストロン、2・・・コレクタ電源、3・
・・アノード電源、4a、4b・・・ポテンショメータ
、5・・・フィラメント電源、6・・・収束マグネット
電源、7・・・集束マグネット、8・・・イオンポンプ
電源、9・・・イオンポンプ、10・・・コレクタ電圧
パターンファイル、11・・・アノード電圧パターンフ
ァイル、12・・・エージング時間パターンファ不ル、
13゜13′・・・パターン設定手段、14.14’ 
、14”・・・制御手段、15・・・イオン電流検出手
段、16・・・タイマ、17・・・再エージング時間パ
ターンファイル、18・・・エージング中断スイッチ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第8図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)収束マグネット電源により励磁される収束マグネ
    ットを備えたクライストロンにおいて、イオンポンプ電
    源により駆動され且つ前記クライストロンの容器内を真
    空引きするイオンポンプと、基準電圧により前記クライ
    ストロンのコレクタ及びアノードに与える出力電圧を制
    御するコレクタ電源及びアノード電源と、前記クライス
    トロンのフィラメントを加熱するフィラメント電源と、
    前記イオン電源からイオンポンプに流れるイオン電流値
    を検出するイオン電流検出手段と、前記コレクタ電源及
    びアノード電源に与えられる基準電圧として段階的に上
    昇するコレクタ電圧パターン、アノード電圧パターンを
    設定、記憶する第1の手段と、前記段階的に上昇する電
    圧パターンの各ステップにおけるエージング時間パター
    ンを設定、記憶する第2の手段と、前記第1の手段によ
    り与えられる各ステップにおけるコレクタ電圧パターン
    、アノード電圧パターンの値を前記コレクタ電源、アノ
    ード電源にそれぞれ基準電圧として出力し且つ前記第2
    の手段により与えられる各ステップにおけるエージング
    時間パターン値の時間経過後前記イオン電流検出手段に
    より検出されたイオン電流値が設定値を越えているか否
    かを判別する手段、この手段によりイオン電流値が設定
    値以下と判別されると前記コレクタ電源、アノード電源
    に出力される基準電圧となる電圧パターンのステップを
    順次一つずつ更新させる手段、前記判別手段によりイオ
    ン電流値が設定値を越えていると判別されると電圧パタ
    ーンのステップの更新を停止しこの停止時のステップに
    対して与えられている前記エージング時間パターン値だ
    け同じステップの基準電圧で前記コレクタ電源、アノー
    ド電源を運転する手段を備えた制御手段とから構成した
    ことを特徴とするクライストロン試験装置。
  2. (2)収束マグネット電源により励磁される収束マグネ
    ットを備えたクライストロンにおいて、イオンポンプ電
    源により駆動され且つ前記クライストロンの容器内を真
    空引きするイオンポンプと、基準電圧により前記クライ
    ストロンのコレクタ及びアノードに与える出力電圧を制
    御するコレクタ電源及びアノード電源と、前記クライス
    トロンのフィラメントを加熱するフィラメント電源と、
    前記イオン電源からイオンポンプに流れるイオン電流値
    を検出するイオン電流検出手段と、前記コレクタ電源及
    びアノード電源に与えられる基準電圧として段階的に上
    昇するコレクタ電圧パターン、アノード電圧パターンを
    設定、記憶する第1の手段と、前記段階的に上昇する電
    圧パターンの各ステップにおけるエージング時間パター
    ンを設定、記憶する第2の手段と、前記電圧パターンの
    各ステップにおける再エージング時間パターンを設定、
    記憶する第3の手段、前記第1の手段により与えられる
    各ステップにおけるコレクタ電圧パターン、アノード電
    圧パターンの値を前記コレクタ電源、アノード電源にそ
    れぞれ基準電圧として出力し且つ前記第2の手段により
    与えられる各ステップにおけるエージング時間パターン
    値の時間経過後前記イオン電流検出手段により検出され
    たイオン電流値が設定値を越えているか否かを判別する
    手段この手段によりイオン電流値が設定値以下と判別さ
    れると前記コレクタ電源、アノード電源に出力される基
    準電圧となる電圧のパターンのステップを順次一つずつ
    更新させる手段、前記判別手段によりイオン電流値が設
    定値を越えていると判別されると前記コレクタ電源、ア
    ノード電源を停止してエージングを一旦中断し前記イオ
    ン電流値が再エージング可能な値以下になると前記第3
    の手段により与えられる再エージング時間パターンの値
    に基いて前記中断したステップまで前記コレクタ電源、
    アノード電源に出力される基準電圧となる電圧パターン
    でエージングを行なう手段、この手段により前記中断し
    たステップまでエーシングが行なわれると再び前記第2
    の手段によるエージング時間パターンの値に基いて前記
    コレクタ電源、アノード電源に出力される基準電圧とな
    る電圧パターンでエージングを行なう手段を備えた制御
    手段とから構成したことを特徴とするクライストロン試
    験装置。
  3. (3)収束マグネット電源により励磁される収束マグネ
    ットを備えたクライストロンにおいて、イオンポンプ電
    源により駆動され且つ前記クライストロンの容器内を真
    空引きするイオンポンプと、基準電圧により前記クライ
    ストロンのコレクタ及びアノードに与える出力電圧を制
    御するコレクタ電源及びアノード電源と、前記クライス
    トロンのフィラメントを加熱するフィラメント電源と、
    前記イオン電源からイオンポンプに流れるイオン電流値
    を検出するイオン電流検出手段と、前記コレクタ電源及
    びアノード電源に与えられる基準電圧として段階的に上
    昇するコレクタ電圧パターン、アノード電圧パターンを
    設定、記憶する第1の手段と、前記段階的に上昇する電
    圧パターンの各ステップにおけるエージング時間パター
    ンを設定、記憶する第2の手段と、エージング中断指令
    を出力するスイッチング手段と、前記第1の手段により
    与えられる各ステップにおけるコレクタ電圧パターン、
    アノード電圧パターンの値を前記コレクタ電源、アノー
    ド電源にそれぞれ基準電圧として出力し且つ前記第2の
    手段により与えられる各ステップにおけるエージング時
    間パターン値の時間経過後前記イオン電流検出手段によ
    り検出されたイオン電流値が設定値を越えるているか否
    かを判別する手段、この手段によりイオン電流値が設定
    値以下と判別されると前記コレクタ電源、アノード電源
    に出力される基準電圧となる電圧パターンのステップを
    順次一つずつ更新させる手段、前記判別手段によりイオ
    ン電流値が設定値を越えていると判別されると前記スイ
    ッチング手段からの中断指令により前記電圧パターンの
    ステップの更新を停止すると共に前記第2の手段のエー
    ジング時間パターンの出力を一旦停止させその間に前記
    第1の手段、第2の手段に設定、記憶されている前記コ
    レクタ電圧パターン、アノード電圧パターン、エージン
    グ時間パターンの値を書き換えて再設定する手段、この
    再設定手段により各設定値の書き換えが終ると前記第2
    の手段により再設定後のエージング時間パターンを出力
    させて再設定後のコレクタ電圧パターン、アノード電圧
    パターンに基くエージングを開始する手段を備えた制御
    手段とから構成したことを特徴とするクライストロン試
    験装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103063890A (zh) * 2011-10-19 2013-04-24 中国科学院电子学研究所 一种用于风冷速调管的寿命累计器的制作方法
CN103760433A (zh) * 2013-12-24 2014-04-30 中国科学院等离子体物理研究所 一种冲击大电流模拟测试方法

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