JPS61147535A - 回転乾燥方法および装置 - Google Patents

回転乾燥方法および装置

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Publication number
JPS61147535A
JPS61147535A JP27006184A JP27006184A JPS61147535A JP S61147535 A JPS61147535 A JP S61147535A JP 27006184 A JP27006184 A JP 27006184A JP 27006184 A JP27006184 A JP 27006184A JP S61147535 A JPS61147535 A JP S61147535A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
air
corona
rotating
discharged
Prior art date
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Pending
Application number
JP27006184A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeo Sasaki
栄夫 佐々木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP27006184A priority Critical patent/JPS61147535A/ja
Publication of JPS61147535A publication Critical patent/JPS61147535A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/302Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
    • H01L21/304Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
    • H01L21/3046Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting using blasting, e.g. sand-blasting

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
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  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明はウェーハを回転させて乾燥する回転乾燥方法お
よび装置に関する。
(発明の技術的背景とその問題点〕 一般に、半導体装置の製造工程において半導体ウェーハ
の乾燥を行うために、ウェーハを高速回転させて乾燥さ
せる回転乾燥装置が用いられる。
そして乾燥の効果を更に向上させるために高圧エアをウ
ェーハに吹付けることが行われている。
しかしながら高速回転しているウェーハに高圧エアを吹
付けると静電気が発生し、ウェーハ上に形成されたMO
8型トランジスタ、ダイオード、入力保護抵抗器等がそ
れらの耐電圧を超えて破壊されることが起きる。この静
電破壊現象を第2図および第3図に示すMO8集積回路
の場合について説明する。第2図に示す入力保護抵抗R
は第3図に示すP!1iii!9に対応する。いま第2
図の入力保護抵抗Rすなわち第3図のP領域9に+(プ
ラス)の電位が印加された場合、順方向のバイアスとな
り電流が流れやすくなる。逆に−(マイナス)の電位が
印加された場合、第2図の入力保護抵抗Rすなわち第3
図のPv4域9のジャンクション耐圧を超える電圧にな
るとジャンクション破壊が生じる。通常200〜600
Vの電圧でジャンクション破壊が起きる。
〔1発明の目的〕 本発明は上記事情を考慮してなされたもので、静電気が
発生して、ウェーハ上に形成された素子が破壊しないよ
うにした回転乾燥方法および装置を提供することを目的
とする。
〔発明の概要〕
上記目的を達成するために本発明による回転乾燥方法は
、ウェーハを回転させながら、コロナ放電されたエアを
前記ウェーハに吹付けて、前記ウェーハを乾燥すること
を特徴とする。
また、本発明による回転乾燥装置はウェーハを保持し回
転させる回転ステージと、エアをコロナ放電させるコロ
ナ放電電極と、このコロナ放電電極によりコロナ放電さ
れたエアをウェーハに吹付けるエア吹付ノズルとを備え
、ウェーハを回転させて乾燥覆ることを特徴とする。
これによりウェーハに発生した静電気を中和し、ウェー
ハ上に形成された素子の静電破壊を防止するものである
〔発明の実施例〕
本発明の一実施例による回転乾燥装置を第1図に示す。
ウェーハ5は回転ステージ4上に置かれている。回転ス
テージ4の内部には真空吸着用管7が通っていて、この
真空吸着用管7は図示されていない真空ポンプにつなが
っている。また回転ステージ4のシャフトと直流モータ
2のシャフトとは連結器3によって連結されている。ウ
ェーハ5の上方には首を左右に振ることのできるエア吹
付ノズル6が取付けられていて、このエア吹付ノズル6
内にはコロナ放電用高圧電極8が設けられている。容器
1はその中にウェーハ5と回転ステージ4とエア吹付ノ
ズル6のノズル口部分とを収容している。
次に動作を説明する。回転ステージ4上に置かれたウェ
ーハ5は、真空吸着用管7内の空気が真空ポンプにより
抜かれることによって回転ステージ4の高速回転によっ
てもはね飛ばされないように保持される。直流モータ2
は連結器3を介して回転ステージ4を高速回転させる。
こうしてウェーハ5を高速回転させることによりウェー
ハ5を乾燥させる。他方、エアはコ日す放電用高圧電極
8によりコロナ放電されて、エア中の02は03に変わ
る。コロナ放電されたエアは、左右に首を振っているエ
ア吹付ノズル6を通って、高速回転しているウェーハ5
に高圧で吹付けられ、ウェーハ5の乾燥の効果を更に高
める。このとぎ、容器1内はコロナ放電されたエアによ
って満たされ、発生した静電気を中和する。
こうして高速回転しているウェーハ5にエアを高圧で吹
付けるにもかかわらず、そのエアをコロナ放電し、エア
中のOを03に変えることによつて、静電気の発生が防
止される。
回転ステージ5の回転数500〜4000 rpmおよ
びエア圧力2〜88y/airの条件のトで本実施例に
よる回転乾燥装置を使用したところ、従来の回転乾燥装
置によって静電破壊された素子の割合が3〜20%であ
ったのに対して、0〜1%と大幅に減少した。
〔発明の効果〕
以上の通り、本発明によれば、ウェーハを回転乾燥させ
ると共に、静電気の発生を防ぐことによってウェーハ上
に形成された素子の破壊を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例による回転乾燥装置を示す図
、第2図、第3図はMO8集積回路における静電破壊を
説明するための図である。 1・・・容器、2・・・直流モータ、3・・・連結器、
4・・・回転ステージ、5・・・ウェーハ、6・・・エ
ア吹付ノズル、7・・・真空吸着用管、8・・・コロナ
放電装置、9・・・P領域、10・・・入力ビン。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、ウェーハを回転させながら、コロナ放電されたエア
    を前記ウェーハに吹付けて、前記ウェーハを乾燥するこ
    とを特徴とする回転乾燥方法。 2、ウェーハを保持しかつ回転させる回転ステージと、
    エアをコロナ放電させるコロナ放電電極と、前記コロナ
    放電電極によりコロナ放電されたエアを前記ウェーハに
    吹付けるエア吹付ノズルとを備え、ウェーハを回転させ
    て乾燥することを特徴とする回転乾燥装置。
JP27006184A 1984-12-21 1984-12-21 回転乾燥方法および装置 Pending JPS61147535A (ja)

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JP27006184A JPS61147535A (ja) 1984-12-21 1984-12-21 回転乾燥方法および装置

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JPS61147535A true JPS61147535A (ja) 1986-07-05

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JP27006184A Pending JPS61147535A (ja) 1984-12-21 1984-12-21 回転乾燥方法および装置

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JP (1) JPS61147535A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0346617A2 (en) * 1988-06-15 1989-12-20 International Business Machines Corporation Formation of metallic interconnects by grit blasting
JPH0220329U (ja) * 1988-07-25 1990-02-09
US5170245A (en) * 1988-06-15 1992-12-08 International Business Machines Corp. Semiconductor device having metallic interconnects formed by grit blasting

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