JPS61144615A

JPS61144615A - 自動焦点検出装置

Info

Publication number: JPS61144615A
Application number: JP59267025A
Authority: JP
Inventors: Shuichi Tamura; 秀一田村
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1984-12-18
Filing date: 1984-12-18
Publication date: 1986-07-02
Also published as: US4652107A

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（発明の利用分野）本発明は、カメラ等に用いられる自動焦点検出装置に関
し、特に被測距物上の測距位置を連続的に変化させ、得
られた測゛距信号のうちの所望のものを有効な測距信号
として使用する自動焦点検出装置の改良に関するもので
ある。

（発明の背景）この種の装置の一例として、シャッタボタンの押圧に連
動して、発光素子１及び半導体装置検出器２の前面に配
置された投光レンズ３．受光レンズ４を回転（第４図矢
印方向）′！−せ、発光素子１より投射した投光像を第
４図に示すように被測距物５面上で走査させ、その間連
続的に得られる測距結果のうち、例えば、最も近い距離
を示す信号を用いて撮影レンズのピント合せを行わせる
ように構成した自動焦点検出装置が本願出願人より先願
（特願昭５８−９７１６１号）されている。

しかしながら、このような装置においては、第５図に示
されるように投光像が被測距物６のエツジ部或いは高コ
ントラストの部分などの境界にかかった場合には、本来
の測距情報とは異なった測距信号が得られることがあり
、正確な測距情報を得ることができな、かった。更に詳
しく述べると１本来被測距物６が充分投光像を覆うほど
大きければ投光像のａ１〜ａ、までの全ての領域の反射
光が半導体装置検出器２上に入射し、その光の加重平均
位置が測距信号となる。ところが、第５図のような状況
下においては投光像のａ２〜ａ３の領域の反射光のみし
か半導体装置検出器２上に入射せず、その光の加重平均
位置が測距信号となるため、上記の場合よりも近距離或
いは遠距離（第５図の状況下では近距離）の測距信号が
得られ、正確な測距情報を得ることができない。このよ
うな現象は従来の一般的な画面中央部のみを測距する装
置においても生じる現象ではあるが、被測距物を画面の
中央に設けられた測距範囲内に位置させて測距を行えば
上記のような誤測距は避けられる（操作性の面では問題
があるが）。しかし、被測距物上を走査して測距を行う
タイプの装置においては走査の過程で必らずと言ってよ
いほど上記現象を生ずる。

（発明の目的）本発明の目的は、上述した問題点を解決し。

被測距物の境界における誤測距な防止することができる
自動焦点検出装置を提供することである。

（発明の特徴）上記目的を達成するために１本発明は、測距動作中に得
られた測距信号のうち、その変動率が所定値以下の測距
信号を有効な測距情報として選別する測距情報選別手段
を設け、以て、被測距物の境界において発生する測距信
号の誤差分を除去するようにしたことを特徴とする。

（発明の実施例）以下１本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する
。

第１図は本発明の一実施例を示す回路図である。図示し
ないシャッタボタンを押圧すると、電源スィッチ７がオ
ンし、電源電池８からスイッチングトランジスタ９を介
して各回路に電源が供給され、同時にキャパシタ１０を
介してトランジスタ１１０ベースに一瞬電圧が加わるこ
とから該トランジスタ１１が一瞬オンとなり。

後述する割算回路より送られてくる測距信号をホールド
するキャパシタ１２０両端が短絡される。さらに、前述
したように、シャッタボタンを押圧するとそれに連動し
て不図示の投光レンズと受光レンズが回転し、発光素子
より発せられた光が被測距物上を走査し始め、その反射
光が半導体装置検出器１３に入射し、該半導体装置１３
０両出力端からはその時々の入射位置に応じた出力Ａ、
Ｂが表れる。この出力Ａ、Ｂは各々次段の演算増幅器１
４．１５及び抵抗１６゜１７により電圧に変換された後
、公知の加算回路１８及び減算回路１９へ出力され、加
算回路１８より出力（Ａ＋Ｂ　）が、減算回路１９より
出力（Ａ−Ｂ’）が、それぞれ割算回路２０へ出力され
る。すると１割算回路２０は（Ａ−Ｂ）／（Ａ＋Ｂ）を
演算し、半導体装置検出器１３への入射位置に応じた。

即ち被測距物までの距離に対応した信号（測距信号）を
出力する。本実施例では、近距離はど割算回路２０の出
力が増大するように構成しているものとする。

一方、加算回路１８の出力（Ａ＋Ｂ）は抵抗２１、キャ
パシタ２２で構成される遅延回路を介してバッファアン
プ２３へ送られ、ダイオ−）’２４を通してコンパレー
タ２５の反転入力端及びコンパレータ２６の非反転入力
端へ入力する。又この時、コンパレータ２５の非反転入
力端には加算回路１８の出力（Ａ＋Ｂ）がそのまま入力
し、コンパレータ２６の反転入力端にはダイオード２７
を介して入力している。よって。

コンパレータ２５は非反転入力端に入力する信号（遅延
されない）が反転入力端に入力する信号（遅延された）
に比べて、所定値（ダイオード２４の順方向電圧降下分
）より高い時にノ・イレペルの信号を出力し、コンパレ
ータ２６は非反転入力端に入力する信号（遅延された）
が反転入力端に入力する信号（遅延なれない）に比べて
、所定値（ダイオード２７の順方向電圧降下分）より高
い時にハイレベルの信号を出力し。

アンドゲート２８は遅延された信号と遅延されない信号
の相互差が前記所定値以下の時（コンパレータ２５．２
６の出力がいずれのハイレベルの時）のみハイレベルの
信号を出力することになる。尚、前述した所定値は、充
分大きな被測距物を測距走査した時の信号の変動（回路
ノイズ、被測距物の反射率変動等は変動とはみなされな
い）を許容する位の値に設定されている。

アンドゲート２ｉｒよりハイレベルの信号が出力される
と、アナログスイッチ２９がオンし、割算回路２０から
の信号が該アナログスイッチ２９、逆流防止用のダイオ
ードを介してキャパシタ１２へ入力する。従って、半導
体装置検出器１３に入射する全信号光の変動が少ない時
のみの割算回路２０の出力の最大値（最近距離情報）が
キャパシタ１２にホールドされる。つまり、被測距物を
走査している間（測距動作中）に被測距物のエツジ等で
信号光が大きく変動している時の測距信号は無視される
ので正確な距離情報がホールドされることになる。この
ように電圧値としてキャパシタ１２にホールドされた測
距情報は次段のＡ／Ｄコンバータ３０によってディジタ
ル信号に変換され、この信号は撮影レンズ駆動制御用の
信号として用いられる。

レンズ駆動制御回路３１は該信号に基づいて撮影レンズ
の繰出繰込み位置制御を行い、被測距物にピントの合っ
た撮影を可能とする。

次に、第２図（ａｌ〜（ｄｌに示す各回路の出力波形及
びタイムチャートを参照しながら前述の主要部分を簡単
に説明する。ここでは画面の中央に。

ある大きさの被測距物が近距離側に位置し、そ　　　　
　゛の他の被測距物は一定の遠距離側に位置している場
合を想定して述べる。割算回路２０の出力（Ａ−Ｂ／Ａ
＋Ｂ）は、当初は遠距離側を測距しているため第２図ｆ
ａｔに示される如くある一定の信号出力し、その後近距
離側の被測距物の端部に達すると一担近距離測距物の真
の位置よりもさらに近距離の信号を出力し、反対側の端
部では今度は遠距離被測距物よりもさらに遠距離の信号
を出力した後、真の遠距離側の被測距物までの距離に対
応した信号を出力する。一方、加算回路１８の出力（Ａ
＋Ｂ）は、第２図（ｂ）に示されるように遠距離側の被
測距物から近距離側の被測距物に測距ゾーンが移行する
時には徐々に増加し、反対に近距離側の被測距物から遠
距離側の被測距物に移行する時には徐々に減少する。こ
のように加算回路１８の出力が変動している時のみアナ
ログスイッチ２８はオフで、その他の場合はオンとなっ
ている（第３図（Ｃ１参照）ため、キャパシタ１２には
アナログスイッチ２８がオンしている間の最大値がホー
ルドされる（第２図（ｄｌ参照）。

第３図は第１図に示す加算回路１８の出力（Ａ＋Ｂ）の
変動を検出する回路（抵抗２１からアンドゲート２８ま
で）の他の例を示すもので。

その動作は、電源投入時にキャパシタ３２に充電された
電圧と加算回路１８の出力を比較し、キャパシタ３２の
電圧が低い場合には、コンパレータ３３の出力がハイレ
ベルとなるため、キャパシタ３２の電圧は加算回路１８
の出力と同がハイレベルとなりトランジスタ３５がオン
してキャパシタ３２を短絡するため、該キャパシタ３２
の電圧は加算回路１８の出力と同レベルになるまで放電
される。測距動作中も同様に加算回路１８の出力が増加
傾向の場合には、コンパレータ３３の出力がハイレベル
となり、キャパシタ３２は充電され、加算回路１８の出
力が減少傾向の場合には、コンパレータ３４の出力がハ
イレベルとなり、キャパシタ３２は放電される。よって
、加算回路１８の出力が定常状態（所定値以内の変動率
）にある時は、コンパレータ３３．３４の出力がローレ
ベルとなるように各コンパレータ３３．３４のオフセッ
ト電圧等を調整しておけば、加算回路１８の出力が変動
していない時のみノアゲート３６の出力がノ・イレベル
となり、この間アナログスイッチ２８がオン状態となる
。

本実施例によれば、測距走査中に投光像の一部の領域が
被測距物面上よりはずれ（被測距物のエツジ部或いは高
コントラスト部などの境界にかかった場合）、加算回路
１８の出力が大きく変動した場合には１割算回路１８か
らの測距情報をキャパシタ１２へ伝送しないようにした
から、該測距を防止することができ、極めて正確なピン
ト合せを行うことができる。

（発明と実施例の対応）本実施例において、第１図の抵抗２１からアナログスイ
ッチ２９まで及び第３図のアナログスイッチ２９．キャ
パシタ３２からノアゲート３６までが本発明の測距情報
選別手段に相当すす。

（変形例）本実施例では、測距走査を行うことにより連続的に得ら
れる多数の測距情報のうちの最近距離情報を測距結果と
して使用する場合を述べたが、最遠距離或いは平均距離
等を有効な測距情報として使用するような構成にしても
よい。

（発明の効果）以上説明したように１本発明によれば、測距動作中に得
られた測距信号のうち、その変動率が所定値以下の測距
信号を有効な測距情報として選択する測距情報選別手段
を設け、以て、被測距物の境界において発生する測距信
号の誤差分を除去するようにしたから、被測距物の境界
における誤測距を防止することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す回路図、第２図（ａｌ
は第１図の割算回路の出力状態を示す波形図、第２図（
ｂｌは同じく加算回路の出力状態を示す波形図、第２図
ｔｃ＋は同じくアナログスイッチのタイムチャート、第
２図（ｄｉは同じくキャパシタの充電状態を示す図、第
３図は第１図の加算回路の出力変動を検出する他の例を
示す回路図、第４図は従来の測距走査系の一例を示す図
、第５図は従来装置での誤測距を生じる場合を説明する
図である。１２・・・キャパシタ、１３・・・半導体装置検出器。１８・・・加算回路、１９・・・減算回路、２０・・・
割算回路、２１・・・抵抗、２２・・・キャパシタ、２
３・・・バッファアンプ、２４・・・ダイオード、２５
．２６・・・コンパレータ、２７・・・ダイオード。２８・・・アンドゲート、２９・・・アナログスイッチ
、３２・・・キャパシタ、３３．３４・・・コンパレー
タ、３５・・・トランジスタ、３６・・・ノアゲート。

Claims

【特許請求の範囲】

１、測距視野位置を連続的に変化させ、その測距動作中
に得られた測距信号に基づいてレンズの焦点制御を行う
自動焦点検出装置において、前記測距動作中に得られた
測距信号のうち、その変動率が所定値以下の測距信号を
有効な測距情報として選別する測距情報選別手段を設け
たことを特徴とする自動焦点検出装置。