JPS61128626A - 多点形光電子スイツチ回路 - Google Patents
多点形光電子スイツチ回路Info
- Publication number
- JPS61128626A JPS61128626A JP59248816A JP24881684A JPS61128626A JP S61128626 A JPS61128626 A JP S61128626A JP 59248816 A JP59248816 A JP 59248816A JP 24881684 A JP24881684 A JP 24881684A JP S61128626 A JPS61128626 A JP S61128626A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光電子スイッチ回路に関し、特に光ファイバー
を用いた多点形光電子スイッチ回路忙関する。
を用いた多点形光電子スイッチ回路忙関する。
第３図は従来の一点形光電子スイッチ回路のブロック線
図である。第３図において、ＯＦＩは送信側の光ファイ
バー、ＯＦ、は受信側の光ファイバー、ＬＥＤは発光素
子、ＰＴｒは受光素子、１はＬＥＤの駆動回路、２は発
信回路、３は受光素子で検出された信号の前置増幅回路
、４は感度調整回路、５は増幅回路、６はＡＮＤ回路、
７は積分回路。
図である。第３図において、ＯＦＩは送信側の光ファイ
バー、ＯＦ、は受信側の光ファイバー、ＬＥＤは発光素
子、ＰＴｒは受光素子、１はＬＥＤの駆動回路、２は発
信回路、３は受光素子で検出された信号の前置増幅回路
、４は感度調整回路、５は増幅回路、６はＡＮＤ回路、
７は積分回路。
８はシュミット回路、ＤＳＰは表示素子、９は出力回路
である。
である。
このような構成において、光７アイバーＯＦＩおよびＯ
ＦＩの配置は、第４図（、） 、 （ｂ）に示すように
、ＯＦＩおよびＯＦＩを平行に配置して被測定物ＯＢが
ＯＦＩ 、ｏｒ、の前面を通過したときの被測定物Ｏ
Ｂからの反射光をＯＦ！が検出する反射式（、）と、Ｏ
Ｆ＋ およびＯＦ意を同一光軸上に空隙を設けて配置し
被測定物ＯＢがＯＦ＋ とＯＦｍの間の空隙を横切った
ときに生ずる断続光をＯＦ。
ＦＩの配置は、第４図（、） 、 （ｂ）に示すように
、ＯＦＩおよびＯＦＩを平行に配置して被測定物ＯＢが
ＯＦＩ 、ｏｒ、の前面を通過したときの被測定物Ｏ
Ｂからの反射光をＯＦ！が検出する反射式（、）と、Ｏ
Ｆ＋ およびＯＦ意を同一光軸上に空隙を設けて配置し
被測定物ＯＢがＯＦ＋ とＯＦｍの間の空隙を横切った
ときに生ずる断続光をＯＦ。
が検出する透過式（ｂ）とが用いられている。
ＬＥＤは駆動回路ｌおよび発振回路２によって７４’ル
ス幅数十マイクロ秒、周期数百マイクロ秒の発゛ 撮
信号により発振されており、これは室内の螢光灯の光等
外部光から分別するためとＬＥＤに出来るだけ大なるｔ
流を流すためにこのようなパルス状にして発振させる。
ス幅数十マイクロ秒、周期数百マイクロ秒の発゛ 撮
信号により発振されており、これは室内の螢光灯の光等
外部光から分別するためとＬＥＤに出来るだけ大なるｔ
流を流すためにこのようなパルス状にして発振させる。
第４図（、）に示す反射式では被測定物ＯＢの表面の反
射率によって受光光量が減少するために、ＯＦ ｍを経
て受光素子ＰＴｒにより受光された光は、前置増幅回路
３により増幅され感度調整回路４により感度調整された
後増幅回路５により必要なレベルまで増幅されて論理積
回路（ＡＮＤ回路）６に入力される。一方、発振回路２
からもＡＮＤ回路６に発掘信号が入力される。ＡＮＤ回
路６では両方の入力が一致したとき出力し、積分回路７
により波形整形し、シーミツト回路８によって５〜１０
パルスの確認を行い、表示素子ＤＳＰに表示し出力回路
９に出力する。
射率によって受光光量が減少するために、ＯＦ ｍを経
て受光素子ＰＴｒにより受光された光は、前置増幅回路
３により増幅され感度調整回路４により感度調整された
後増幅回路５により必要なレベルまで増幅されて論理積
回路（ＡＮＤ回路）６に入力される。一方、発振回路２
からもＡＮＤ回路６に発掘信号が入力される。ＡＮＤ回
路６では両方の入力が一致したとき出力し、積分回路７
により波形整形し、シーミツト回路８によって５〜１０
パルスの確認を行い、表示素子ＤＳＰに表示し出力回路
９に出力する。
上記の構成にあっては、例えば集積回路（ｒｃ）パッケ
ージの端子の検査を行う場合には問題がある。即ち、Ｉ
ＣＡ？ッケージ端子の検査では、複数の端子を効率よく
検査するために第３図に示すような回路を複数組（例え
ば８チヤネル）用意して、各々の回路が複数の端子の所
定の個所を担当し、例えば第１の回路が第１端子、第２
の回路が第２端子のように分担して行われる、部ち、一
点式を複数組用意して多点式として用いている。しかし
ながら、１ＣｉＪ？ツケージ端子の如き隣り同志が極め
て近接した被測定物の場合には＠接する被測定物からの
反射光を検出してしまう。即ち、例えば第２の回路のＯ
Ｆ、が第１端子からの反射光を検出する場合、あるいは
第３の回路のＯＦ、が第２端子からの反射光を検出する
場合である。一般に一点形光電子スイッチ回路は変調光
を使用し、他の光電子スイッチと干渉を生じないように
工夫されているが、発光のタイミングが全く同一釦なる
と干渉を生じ、誤動作する場合がある。また発振周波数
が若干異なっている場合には必ず数秒後に数十パルスの
ＡＮＤが取れ出力がチャタリングしだす。そのため２台
の装置を並列に使用する場合には一方を他方の２分の１
又は２倍の発振周波数としてＡＮＤが１ノやルス以上は
続けて取れないようにしていた。だがこの方法では発振
周波数が異なるために各回路の検出距離、応答性が著し
く変化してしまう問題がある。このように近接した複数
の被測定物の検査の場合には誤判断することがあり問題
となっていた。
ージの端子の検査を行う場合には問題がある。即ち、Ｉ
ＣＡ？ッケージ端子の検査では、複数の端子を効率よく
検査するために第３図に示すような回路を複数組（例え
ば８チヤネル）用意して、各々の回路が複数の端子の所
定の個所を担当し、例えば第１の回路が第１端子、第２
の回路が第２端子のように分担して行われる、部ち、一
点式を複数組用意して多点式として用いている。しかし
ながら、１ＣｉＪ？ツケージ端子の如き隣り同志が極め
て近接した被測定物の場合には＠接する被測定物からの
反射光を検出してしまう。即ち、例えば第２の回路のＯ
Ｆ、が第１端子からの反射光を検出する場合、あるいは
第３の回路のＯＦ、が第２端子からの反射光を検出する
場合である。一般に一点形光電子スイッチ回路は変調光
を使用し、他の光電子スイッチと干渉を生じないように
工夫されているが、発光のタイミングが全く同一釦なる
と干渉を生じ、誤動作する場合がある。また発振周波数
が若干異なっている場合には必ず数秒後に数十パルスの
ＡＮＤが取れ出力がチャタリングしだす。そのため２台
の装置を並列に使用する場合には一方を他方の２分の１
又は２倍の発振周波数としてＡＮＤが１ノやルス以上は
続けて取れないようにしていた。だがこの方法では発振
周波数が異なるために各回路の検出距離、応答性が著し
く変化してしまう問題がある。このように近接した複数
の被測定物の検査の場合には誤判断することがあり問題
となっていた。
〔問題点を解決するための手段および作用〕本発明は上
述した問題点を解消した多点式光電子スイッチ回路を提
供するものであり、その手段は、対をなす発光素子およ
び受光素子を複数組並列配置してなる多点形光電子スイ
ッチ回路において、１つの発振手段の発振信号を該並列
配置に順次選択する第１の選択手段と該選択手段の選択
信号を順次選択する第２の選択手段を設け、該選択信号
の期間特定の発光素子を複数回点滅させ、該発光素子と
対をなす受光素子にて得られた受光信号を該第２の選択
手段を介して１つの増幅手段により増幅の後、１つのＡ
ＮＤ）ｌａ−）において該選択信号と該受光信号との一
致信号により検証し、該選択信号による期間の出力状態
を保持するようにしたことを特徴とする。
述した問題点を解消した多点式光電子スイッチ回路を提
供するものであり、その手段は、対をなす発光素子およ
び受光素子を複数組並列配置してなる多点形光電子スイ
ッチ回路において、１つの発振手段の発振信号を該並列
配置に順次選択する第１の選択手段と該選択手段の選択
信号を順次選択する第２の選択手段を設け、該選択信号
の期間特定の発光素子を複数回点滅させ、該発光素子と
対をなす受光素子にて得られた受光信号を該第２の選択
手段を介して１つの増幅手段により増幅の後、１つのＡ
ＮＤ）ｌａ−）において該選択信号と該受光信号との一
致信号により検証し、該選択信号による期間の出力状態
を保持するようにしたことを特徴とする。
第１図は本発明に係る多点式光電子スイッチ回路の一実
施例を示すブロック線図である。本実施例では８セツト
（８チヤネル）の場１合について説明する。第１図にお
いて、ＯＦ＋ａ 〜ＯＦ’＋ｔは送信側光７アイパー、
ＯＦＩ◎〜ＯＦ！？は送信側光ファイバーに各々対応す
る受信側光ファイバー、ＬＥＤ ｏ ＝ ＬＥＤ ｖは
発光素子ＰＴｒ ６〜ＰＴｒ ｑは受光素子であってこ
れらは対をなしかつ並列配置され、１−０〜１−７は駆
動回路、２は発振回路、３−０〜３−７は前置増幅回路
、４−０〜４−７は感度調整回路、５は増幅回路、６は
第１のＡＮＤダート回路、７は積分回路、８はシュミッ
ト回路、ＤＳＰ ｏ ＝ ＤＳＰ ｑは表示素子、９−
０〜９−７は出力回路、１０は第１の選択手段としての
デマルチプレクス回路、１１はバイナリカウンター。
施例を示すブロック線図である。本実施例では８セツト
（８チヤネル）の場１合について説明する。第１図にお
いて、ＯＦ＋ａ 〜ＯＦ’＋ｔは送信側光７アイパー、
ＯＦＩ◎〜ＯＦ！？は送信側光ファイバーに各々対応す
る受信側光ファイバー、ＬＥＤ ｏ ＝ ＬＥＤ ｖは
発光素子ＰＴｒ ６〜ＰＴｒ ｑは受光素子であってこ
れらは対をなしかつ並列配置され、１−０〜１−７は駆
動回路、２は発振回路、３−０〜３−７は前置増幅回路
、４−０〜４−７は感度調整回路、５は増幅回路、６は
第１のＡＮＤダート回路、７は積分回路、８はシュミッ
ト回路、ＤＳＰ ｏ ＝ ＤＳＰ ｑは表示素子、９−
０〜９−７は出力回路、１０は第１の選択手段としての
デマルチプレクス回路、１１はバイナリカウンター。
１２は４人力の第２のハの回路、１３は第２の選択手段
としてのマルチデレクス回路、そして１４は８ビツト・
ラッチ回路である。
としてのマルチデレクス回路、そして１４は８ビツト・
ラッチ回路である。
このような構成において、第」図装置の動作を第２図に
示す信号タイミングチャートを参照しつつ説明する。発
振回路２から第２図Ａに示す一定周期Ｔの発振信号がＬ
ＥＤを発振させる／臂ルス幅と周期を与えるために発生
され、４ビツトバイナリカウンター１１はこのノ（ルス
に基づいて該発振回路の出力を分配するためにＢ、、Ｂ
、、Ｂ、。
示す信号タイミングチャートを参照しつつ説明する。発
振回路２から第２図Ａに示す一定周期Ｔの発振信号がＬ
ＥＤを発振させる／臂ルス幅と周期を与えるために発生
され、４ビツトバイナリカウンター１１はこのノ（ルス
に基づいて該発振回路の出力を分配するためにＢ、、Ｂ
、、Ｂ、。
Ｂ４なる各々２倍の周期の・千ルスおよびＢ、。
Ｂ６，１３ｒなる各々２倍の周期のパルスを発生する。
Ｂ、の半周期ごとにＬＥＤ Ｏ−ＬＥＤγは順次発光さ
れ、この半サイクルは図示するように、Ａノノクルスｔ
の１６パルス、 Ｂｌ ）８周期、Ｂ意ノ４周期、Ｂｓ
の２周期、Ｂ、の１周期に相当する。
れ、この半サイクルは図示するように、Ａノノクルスｔ
の１６パルス、 Ｂｌ ）８周期、Ｂ意ノ４周期、Ｂｓ
の２周期、Ｂ、の１周期に相当する。
即チ、マルチプレクス回路１０はコモンパルスＡを順次
その出力端子Ｏ〜７に供給するように切替へ、出力端子
Ｏ〜７は各々駆動回路】−０〜］−７に接続されている
ので選択された選択信号によって順次発光させることが
できる。この場合、チャネルの順次切替は各々２倍の周
期で発生される）Ｊ？ルスＬ ｒ Ｂｉ 、Ｂｙに
基ツいてデマルチプレクス回路内部の切替回路ＣＨによ
り行われる。即ち、ＬＥＤ ６〜ＬＥＤ ｑは第２図の
ＬＥＤ ｏ −ＬＥＤ ？に示す如く、Ｂ！の半周期ご
とに１６個のパルスを発振回路２からＬＥＤに供給して
発光される。この場合、被測定物ＯＢが存在する場合に
は反射光が受信側光ファイバーを介して受光信号として
受光素子、感度調整回路を経てマルチプレクス回路１３
０入力端子に入力される。マルチプレクス回路１３はパ
ルスＢ５ ＋Ｂｓ 、Ｂｉがカウンター１１から同時
に入力されるので、デマルチプレクス回路１０と同期し
てその入力端子０〜７を順次切替えて後段の増幅回路５
に受光信号を送出する。
その出力端子Ｏ〜７に供給するように切替へ、出力端子
Ｏ〜７は各々駆動回路】−０〜］−７に接続されている
ので選択された選択信号によって順次発光させることが
できる。この場合、チャネルの順次切替は各々２倍の周
期で発生される）Ｊ？ルスＬ ｒ Ｂｉ 、Ｂｙに
基ツいてデマルチプレクス回路内部の切替回路ＣＨによ
り行われる。即ち、ＬＥＤ ６〜ＬＥＤ ｑは第２図の
ＬＥＤ ｏ −ＬＥＤ ？に示す如く、Ｂ！の半周期ご
とに１６個のパルスを発振回路２からＬＥＤに供給して
発光される。この場合、被測定物ＯＢが存在する場合に
は反射光が受信側光ファイバーを介して受光信号として
受光素子、感度調整回路を経てマルチプレクス回路１３
０入力端子に入力される。マルチプレクス回路１３はパ
ルスＢ５ ＋Ｂｓ 、Ｂｉがカウンター１１から同時
に入力されるので、デマルチプレクス回路１０と同期し
てその入力端子０〜７を順次切替えて後段の増幅回路５
に受光信号を送出する。
増幅回路５の出力は后の回路６に入力され、一方、発信
回路２からも発振信号が入力されるので被測定物が存在
する場合には一致信号によりＡＮＤは開き、積分回路７
、シュミット回路８を経て受光信号が８ビツトラッチ回
路１４に入力される。８ビツトラッチ回路１４は、ＡＮ
Ｄ回路１２がノ４ルスＢ、〜Ｂ４がすべて０”又は′１
”のとき、即ち、パルスｔの１６パルスごとに、 ＡＮ
Ｄを開キ出力するので、常時光の有無に関係なく次のＬ
ＥＤを選択するまで保持させておいてこの周期ごとに出
力するように機能し、この出力が出力回路にて検証され
る。
回路２からも発振信号が入力されるので被測定物が存在
する場合には一致信号によりＡＮＤは開き、積分回路７
、シュミット回路８を経て受光信号が８ビツトラッチ回
路１４に入力される。８ビツトラッチ回路１４は、ＡＮ
Ｄ回路１２がノ４ルスＢ、〜Ｂ４がすべて０”又は′１
”のとき、即ち、パルスｔの１６パルスごとに、 ＡＮ
Ｄを開キ出力するので、常時光の有無に関係なく次のＬ
ＥＤを選択するまで保持させておいてこの周期ごとに出
力するように機能し、この出力が出力回路にて検証され
る。
尚、本実施例では８チヤネルであるためＢＭ ＋８６
、Ｂｙを０００〜１１１に対応させてあり、チャネル数
がより多くなればＢ５ ＋８６ ＋”ｒ ｒＢ８
・・・と２倍の１周期づつ変化するパルスを追加すれば
よい。
、Ｂｙを０００〜１１１に対応させてあり、チャネル数
がより多くなればＢ５ ＋８６ ＋”ｒ ｒＢ８
・・・と２倍の１周期づつ変化するパルスを追加すれば
よい。
本発明によれば、極めて近接した複数の被測定物を他チ
ャネルからの受信光によって誤判断することなく検査鞘
度を向上させることができ、また回路素子を極力共用化
し、小型、低コストの多点形光電子スイッチ回路を提供
することが出来る。
ャネルからの受信光によって誤判断することなく検査鞘
度を向上させることができ、また回路素子を極力共用化
し、小型、低コストの多点形光電子スイッチ回路を提供
することが出来る。
第１図は本発明に係る多点形光電子スイッチ装置の一実
施例ブロック線図、 第２図は第１図装置の信号タイミングチャートの一例、 第３図は従来の一点形光電子スイッチ装置のブロック線
図、および 第４図（、） 、 （ｂ）は送信側および受信側光ファ
イバーの配置例と被測定物との関係を示す図である。 （符号の説明） ＯＦ＋。〜ＯＦ目 ・・・送信側光ファイバー、０Ｆｆ
６〜ＯＦ１ ・・・受信側光ファイバー、ＬＥＤ Ｏ〜
ＬＥＤ ｑ・・・発光素子、ＰＴｒｏ 〜ＰＴｒｖ ・
・・受光素子、１−０〜１−７・・・駆動回路、２・・
・発振回路、３−０〜３−７・・・前置増幅回路、４−
０〜４−７・・・感度調整回路、５・・・増幅回路、６
，１２・・・論理積回路、７・・・積分回路、８・・・
シュミット回路、９−０〜９−７・・・出力回路、１０
・・・デマルチプレクス回路、１１・・・４ビツト・バ
イナリカウンター、１３・・・マルチプレクス回路、１
４・・・８ビツト・うノテ回路、ＤＳＰ ｏ 〜ＤＳＰ
ｑ ・・・表示素子。
施例ブロック線図、 第２図は第１図装置の信号タイミングチャートの一例、 第３図は従来の一点形光電子スイッチ装置のブロック線
図、および 第４図（、） 、 （ｂ）は送信側および受信側光ファ
イバーの配置例と被測定物との関係を示す図である。 （符号の説明） ＯＦ＋。〜ＯＦ目 ・・・送信側光ファイバー、０Ｆｆ
６〜ＯＦ１ ・・・受信側光ファイバー、ＬＥＤ Ｏ〜
ＬＥＤ ｑ・・・発光素子、ＰＴｒｏ 〜ＰＴｒｖ ・
・・受光素子、１−０〜１−７・・・駆動回路、２・・
・発振回路、３−０〜３−７・・・前置増幅回路、４−
０〜４−７・・・感度調整回路、５・・・増幅回路、６
，１２・・・論理積回路、７・・・積分回路、８・・・
シュミット回路、９−０〜９−７・・・出力回路、１０
・・・デマルチプレクス回路、１１・・・４ビツト・バ
イナリカウンター、１３・・・マルチプレクス回路、１
４・・・８ビツト・うノテ回路、ＤＳＰ ｏ 〜ＤＳＰ
ｑ ・・・表示素子。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、対をなす発光素子および受光素子を複数組並列配置
してなる多点形光電子スイッチ回路において、１つの発
振手段の発振信号を該並列配置に順次選択する第１の選
択手段と該選択手段の選択信号を順次選択する第２の選
択手段を設け、該選択信号の期間特定の発光素子を複数
回点滅させ、該発光素子と対をなす受光素子にて得られ
た受光信号を該第２の選択手段を介して１つの増幅手段
により増幅の後、１つのＡＮＤゲートにおいて該選択信
号と該受光信号との一致信号により検証し、該選択信号
による期間の出力状態を保持するようにしたことを特徴
とする多点形光電子スイッチ回路。 ２、該対をなす発光素子および受光素子間の信号伝送が
光ファイバーを介して行われる特許請求の範囲第１項に
記載の多点形光電子スイッチ回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59248816A JPS61128626A (ja) | 1984-11-27 | 1984-11-27 | 多点形光電子スイツチ回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59248816A JPS61128626A (ja) | 1984-11-27 | 1984-11-27 | 多点形光電子スイツチ回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61128626A true JPS61128626A (ja) | 1986-06-16 |
Family
ID=17183834
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59248816A Pending JPS61128626A (ja) | 1984-11-27 | 1984-11-27 | 多点形光電子スイツチ回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61128626A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03130626U (ja) * | 1990-04-10 | 1991-12-27 | ||
| WO1999048215A1 (fr) * | 1998-03-18 | 1999-09-23 | Advantest Corporation | Circuit de commutation a haute vitesse |
-
1984
- 1984-11-27 JP JP59248816A patent/JPS61128626A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03130626U (ja) * | 1990-04-10 | 1991-12-27 | ||
| WO1999048215A1 (fr) * | 1998-03-18 | 1999-09-23 | Advantest Corporation | Circuit de commutation a haute vitesse |
| GB2341023A (en) * | 1998-03-18 | 2000-03-01 | Advantest Corp | High-speed switching circuit |
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