JPS61120070A - スクリ−ニング装置 - Google Patents

スクリ−ニング装置

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Publication number
JPS61120070A
JPS61120070A JP24060784A JP24060784A JPS61120070A JP S61120070 A JPS61120070 A JP S61120070A JP 24060784 A JP24060784 A JP 24060784A JP 24060784 A JP24060784 A JP 24060784A JP S61120070 A JPS61120070 A JP S61120070A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
jig
screened
station
screening
lld
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP24060784A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshio Murayama
村山 利雄
Akira Kojima
彰 小島
Toshinao Saito
斉藤 敏直
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP24060784A priority Critical patent/JPS61120070A/ja
Publication of JPS61120070A publication Critical patent/JPS61120070A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、スクリーニング技術、特K、リードレスダイ
オードの異物スクリーニングに適用して効果のある技術
に関する。
〔背景技術〕
リードレスダイオード(以下、LLDという)の製造過
程において、LLDに存在する異物を除去する場合、L
LDを整列治具に手でセットし、叩き治具を整列治具と
組み合せて全体を手動で振動させることにより異物のス
クリーニングを行うことが考えられる。
ところが、このスクリーニング式では、叩き治具を叩い
た瞬間だけしか計測できないため、検査の信頼性が劣る
という問題がある。また、複数個のLLDを一括して計
測しているため、不良品の摘出に時間がかかるという問
題もあることを本発明者は見い出した。
なお、半導体装置のスクリーニング技術にすし・ては、
株式会社工業調査会、昭和56年11月10日発行、「
電子材料J 1981年11月号別冊p232〜p23
3に説明されている、 〔発明の目的〕 本発明の目的は、スクリーニングを自動的に行うことが
できる技術を提供することにある。
本発明の他の目的は、良品と不良品を個別的に判定でき
、信頼性を高め、歩留りを向上させることのできる技術
を提供することKある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らか忙なるであろう
〔発明の概要〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、次の通りである。
すなわち、被スクリーニング物を搬送テーブルと円版治
具で搬送しなから加振装置により被スクリーニングに振
動を加え、確実かつ効率的に自動スクリーニングを行う
ものである。
〔実施例〕
第1図は本発明の一実施例であるスクリーニング装置を
第3図の[−I線の位置で切った加振部の拡大部分断面
図、第2図はその電極接触部の拡大部分断面図、第3図
は装置の全体的概略を示す平面図である。
本実施例において、被り17−ニング物であるLLDI
は、時計方向に回転可能な搬送テーブル2の所定角度毎
の回転、本実施例では90度毎の間欠回転につれて、挿
入ステーションAから、予備ステーションB、加振ステ
ーションCを経て放出ステーションDから良品と不良品
に分けて排出される。
各ステーションA、B、C,Dには、その上面の周辺部
<′VCLLDを縦方向に整列して保持する孔を有する
円版治具3が搬送テーブル2上に載置されるよう配設さ
れている。円版治具3のうち、少なくとも挿入ステーシ
ョンAとDにおける回転治具3は、搬送テーブル2とは
独立に時計方向に回転できる。
搬送テーブル2は下側の固定ベース2aと上側の可動ベ
ース2bとに分離可能であり、可動ベー・ス2bは上下
移動可能であると共K、モータ4により時計方向に回転
される。
加振ステージ3ンCにおいては、スクリーニングされる
LLDlに対して振動を与えるための加振装置5が設け
られている。すなわち、加振装置5として、本実施例で
は、円版治具3の上方まで垂直方向から水平方向に延び
る加振アーム6と、この加振アーム6の上に設けられた
加振器7とを備えている。
また、加振ステーションCKは、円版治具3を搬送テー
ブル2から持ち上げて、該円版治具3で縦方向に保持さ
れたLLDIの上端を第2図に示す如く、加振アーム6
の下側の上電極治具8の下に設けた上電極9に接触させ
る持上げアーム1゜が配設されている。
上電極9は導線11を介してテスター(図示せず)K接
続されると共に、持上げアーム10に接続した導線12
もテスターに電気的に導通ずる。
そのため、LLDIの下部を保持する円版治具3は導電
材料で作られており、上電極9に対して下電極としての
機能も果たす。
次に、本実施例の作用について説明する。
まず、スクリーニングされるLLDIは挿入ステージ3
ンAで円版治具3の上面周辺部の孔に縦方向に整列して
挿入され保持される。
そのLLDlは搬送テーブル2090度ずつの間欠回転
につれて予備ステーションBを経て加振ステーションC
に搬送される。
加振ステーションCでは、円版治具3は持上げアーム1
0により搬送テーブル2上から持ち上げられ、円版治具
3に保持されたLLDlの上端は上電極9に接触される
。それにより、LLDIは導線11を介してテスター(
図示せず)に接続され、通電により特性測定が行われる
と共に、上電極治具8と加振アーム6を介して加振器7
からの振動を受ける。
したがって、LLDIは異物スクリーニングを受ける。
その時に不良品と判定されたLLDIはその場所をテス
ターに記憶させておく。
この特性測定、加振、異物スクリーニングの後、円版治
具3は加振アーム6への接触のための上昇位置から搬送
テーブル2上に戻され、放出ステーシコンDに搬送され
る。
放出ステーシランDでは、LLDlは良品と不良品を別
々に排出され、良品は次の処理工程忙搬送される。
〔効果〕
(11回転可能な搬送テーブルと円版治具により被スク
リーニング物を搬送しなから加振装置で振動を与えかつ
電極と接触させることによって、異物スクリーニングを
自動的に行うことができ、効率の良いスクリーニングが
可能である。
(2)加振中に被スクリーニング物の導通を個々にテス
ターで判定でき、信頼性を高め、歩留りの向上を図るこ
とができる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもな〜A0 たとえば、加脂装置や持上げ手段として前記以外の構造
のものを用いることもできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例であるスクリーニング装置を
第3図の■−■線の位置で切った加振部の拡大部分断面
図、 第2図はその電極接触部の拡大部分断面図、第3図は装
置の全体的概略を示す平面図である。 1・・・リードレスダイオード(被スクリーニング物)
2・・・搬送テーブル、3・・・円版治具、4・・・モ
ータ、5・・・加振装置、6・・・加振アーム、7・・
・加振器、8・・・上電極治具、9・・・上電極、10
・・・持上げアーム(持上げ手段)、11 、12・・
・導線。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、回転可能な搬送テーブルと、被スクリーニング物を
    収容して前記搬送テーブルの上に載置される円板治具と
    、スクリーニング位置に設けられ、被スクリーニング物
    に振動を与えて異物をスクリーニングする加振装置と、
    被スクリーニング物がスクリーニング位置に来た時に前
    記円板治具を前記搬送テーブルから持ち上げて前記加振
    装置側に設けた電極に接触させる持上げ手段とからなる
    スクリーニング装置。 2、円板治具が複数個設けられ、少なくとも挿入位置お
    よび放出位置における円版治具が前記搬送テーブルとは
    独立に回転可能であることを特徴とする特許請求の範囲
    第1項記載のスクリーニング装置。 3、被スクリーニング物がリードレスダイオードである
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のスクリー
    ニング装置。
JP24060784A 1984-11-16 1984-11-16 スクリ−ニング装置 Pending JPS61120070A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24060784A JPS61120070A (ja) 1984-11-16 1984-11-16 スクリ−ニング装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24060784A JPS61120070A (ja) 1984-11-16 1984-11-16 スクリ−ニング装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61120070A true JPS61120070A (ja) 1986-06-07

Family

ID=17062004

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24060784A Pending JPS61120070A (ja) 1984-11-16 1984-11-16 スクリ−ニング装置

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Country Link
JP (1) JPS61120070A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103163385A (zh) * 2011-12-19 2013-06-19 三星电机株式会社 电子元件检查设备

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN103163385A (zh) * 2011-12-19 2013-06-19 三星电机株式会社 电子元件检查设备

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