JPS609000B2 - 帯状シリコン結晶の成長装置 - Google Patents

帯状シリコン結晶の成長装置

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JPS609000B2
JPS609000B2 JP52059864A JP5986477A JPS609000B2 JP S609000 B2 JPS609000 B2 JP S609000B2 JP 52059864 A JP52059864 A JP 52059864A JP 5986477 A JP5986477 A JP 5986477A JP S609000 B2 JPS609000 B2 JP S609000B2
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JP
Japan
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band
dies
die
carbon
shaped silicon
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JP52059864A
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宏 伊東
直明 真木
都四郎 松井
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National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
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Agency of Industrial Science and Technology
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、帯状シリコン結晶の成長装置に関する。
最近、帯状シリコン結晶を得る方法として第1図に示す
ような装置を用いて行っている。
即ち、石英ガラスで構成されたルッボ11にシリコン葛
虫液12が収容され、この融液12中にカーボンで構成
されスロットを有するように構成された一対の夕、−ィ
13a,13bを設置したものである。なお、この一対
のダイ13a,13bの先端は、ナイフエッジ状に鋭く
加工されている。そして、このように構成された装置で
、温度を上げると、一対のダーィ13a,13bで構成
されたスロットを毛細管現象により、シリコン融液12
が上昇する。
この上昇したシリコン融液12に種子結晶を接触させて
引き上げることにより、前、言己一対のダィ13a,1
3bで構成されたスロット(開放孔)とほぼ同等の断面
形状の帯状シリコン結晶14が成長する。しかしながら
このような装置を用いて帯状シリコン結晶を得るのでは
、量産性に適さなく、例えば太陽電池用素子として用い
るのにコストがアップし好ましくない。
そこで最近ルッボにスロットを有するダィを複数設置し
、帯状シリコン結晶を同時に複数引き上げることが考え
られている。
なお、ルッボから複数の結晶を同時に成長させることは
、従来の方法であるチョクラルスキ−(CZ)法やフ。
ーティングゾーン(FZ)法において結晶の成長にとも
ない生ずる干渉の効果のために事実上不可能である。即
ちCZ法においては、自由液面上からの結晶成長である
ために、成長結晶の直径を制御したり、引き上げ速度を
制御したりすることにより液面を伝搬して融液面上の広
い領域(ほぼルッボ全域)に亘つて及ぼされる。従って
仮に2個以上の複数の結晶を成長させようとしても、そ
れぞれを制御しつつ成長させることができない。ところ
が上述した第1図のよに一対のダーィを用いて結晶成長
を行う方法においては、ルッボ内に存在する融液と毛細
管現象で上昇する一対のダィの上部に存在する融液とが
結晶成長において分離される。
したがってッッボ内に存在する融液の表面に生ずる揺動
は、一対のダィの上部に存在する融液に対して大きく影
響されなく、またダィ自体が熱的に分離物となるので、
ダィ内部(スロット部に存在する)の融液はルッボ内に
存在する融液と独立な熱的挙動を示すようになる。しか
しながら、この成長方法においては、一対のダィの上部
に存在する融液は、ルッボ内に存在する融液と独立な熱
的挙動を示すが、複数のターーィを配置した場合に隣接
する一対のターーィの上部に存在する融液の個々の影響
の範囲がある。
例えば、ルッボに一つでも多くの一対のダィを設置しよ
うとして、隣接する一対のダィを近付けると、ダィの上
部に存在する融液の温度制御が難しく、帯状結晶を引き
上げ中ダィの上部で固化したりする場合が生ずる。そこ
で、本発明者等は、第1図に示す装置で一対のダィの成
長する領域(ダィの上部)が、成長にとって温度(熱)
の及ぼす影響がどこまであるかを調べた。
その結果、第2図に示す第1図の平面図から明らかのよ
うに夕、.ィの最辺方向については外縁部から1比肋未
満の領域で、また短辺方向の端部については5肌未満の
領域で影響を及ぼすことが判明した。なお第2図で第1
図と同じ部分は同じ付号で示し、点線15で示す部分が
熱の及ぼす影響の範囲である。またこの点線15で示す
領域がルッボ11と交差すると、帯状結晶が成長しない
ということも判明した。この発明は上記実験事実に基づ
いて鑑みなされたもので、帯状シリコン結晶を同時に複
数引き上げる際に、例えば引き上げ中に夕、1ィの上部
で引き上げ結晶とダィが固化したり、引き上げ結晶が切
れたりしない帯状シリコン結晶の成長装置を提供すもの
である。
以下図面を参照して本発明の一実施例を説暁する。
第3図は本発明を実施して帯状シリコン結晶を得るため
の説明を行う成長装置の断面図である。
石英ガラスで構成した直径32比吻のルッボ2 1中に
シリコン多結晶22を収容し加熱する。そしてこのルッ
ボ21に、スロットを有するように構成した先端がナイ
フエッジ状のカーボンダィ23,a,23,b、232
a,232b、233a,233bを配設する。尚カー
ボンはシリコン融液に濡れる材料である。シリコンは1
41〆0以上で融解し、1500℃に加熱されると、毛
細管現象により夫々のダィのスロット(間隙)を上昇し
、上端部まで達して静止する。これらダィ23のそれぞ
れのスロット(閉口部)に種子結晶(図示せず)を挿入
し、融液と接触させる。そして十分なじませたのち、厚
さ0.3肋、幅30肌の帯状シリコンを引き上げる目的
で種子結晶を均一な引上げ速度1肌/mlnで引上げを
開始する。例えば長辺方向に平行に設置したダィ23,
,232 ,233 の長辺側の間隔を1仇肋未満に近
寄せて設計すると、定常的な引上げ速度が5柳/mln
になったとき、中央部のダィ23,とその両側のダーィ
232,233との間に温度差(中央部のダィの温度が
低くなる)が生じ、中央部のダィ23.にて成長した帯
状シリコン結晶24が、ダィ23,に固着し成長が持続
できない状態となった。
例えばダィの長辺側の間隔を5側位にすると、再現性は
10%以下になる。そこでダイ23,,232,233
の長辺側の間隔を1仇吻以上の範囲内で設置すると、相
互干渉が存在せず引上げ速度15脚/minで帯状シリ
コン結晶24を再現性80%以上で成長させることがで
きた。
尚、ダイ23,,232,233とルッボ121との間
隔も、ダィの長辺側で1仇肋以上、短辺側で5肋以上離
す必要がある。また、ダィ23,,232,233の間
隔をlow肋をこえる距離に設計すると、相互干渉はな
く帯状結晶を得ることはできるが、直径320肌のルッ
ボ21中に設置することはルッボ壁との相互作用が生じ
て不可能であった。
さらにルッボ21を巨大なルッボーに変更する場合は、
投入シリコン多結晶22が多量に必要となるため、複数
個の夕」、ィを一つのルッボに設ける方法よりも、第1
図に示した一つのダィを一つのルッボに設け、その炉の
個数を増加させる方法のほうが歩蟹りと生産性が上がる
ことがわかった。両方の方法を比して、その採用基準は
ダィ間隔で10仇肋のところにあることもまた判明した
。なお上記実施例においては夕、.ィ23が3本の場合
について示したが、第2図に示す15の領域の外に最も
近いダィが設置されているならば、3本に限ることなく
更に多数の帯状シリコン結晶を成長させることができる
また、上記実施例においては、成長領域の長辺方向に平
行な配置にダィを設置したが、これ以外の配置例えば上
から見た場合に三角形、四角形、五角形状に夫々一対の
ダィを配置がとれれば、帯状結晶が成長させられること
はいうまでもない。尚、ルッボが上から見た場合四角形
であれば、ダィの配置は四角形、丸の場合は五角形以上
が望ましい。さらに上記実施例においては、複数の帯状
結晶を同時に均一な成長速度で引上げる場合についての
べたが、それぞれのダィからの成長速度を個別に制御す
ることも可能である。
この場合にはダィの間隔を更に近付けて、熱的な干渉が
少々生じても引上げ速度の制御により帯状結晶を成長さ
せることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の帯状シリコン,結晶を成長する方法を説
明するための成長装置の断面図、第2図は第1図の平面
図であって本発明に至る実験例を説明するための図、第
3図は本発明の一実施例を説明するための成長装置の断
面図である。 21・・・・・・石英ガラスのルッボ、22・・・・・
・シリコン融液、23・・・・・・ダィ、24・・・・
・・引き上げられた帯状シリコン結晶。 第1図 第2図 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 シリコン融液を収容した石英ルツボに、スロツトを
    有するように構成した先端がナイフエツジ状の一対のカ
    ーボンダイを複数配設し、該一対のカーボンダイで夫々
    構成したスロツトを毛細管現象により前記シリコン融液
    を上昇せしめ、この上昇したシリコン融液に夫々種子結
    晶を接触させ、その夫々の種子結晶を同時に引き上げる
    ことにより複数の帯状シリコン結晶を同時に成長させる
    装置において、前記カーボンダイの長辺側のカーボンダ
    イ間隔を10mm〜100mmとし、短辺側のカーボン
    ダイ間隔を5mm〜100mmとし、且つ前記ルツボと
    長辺側のカーボンダイとの間隔を10mm〜100mm
    とし、ルツボと短辺側のカーボンダイとの間隔を5mm
    〜100mmとしたことを特徴とする帯状シリコン結晶
    の成長装置。
JP52059864A 1977-05-25 1977-05-25 帯状シリコン結晶の成長装置 Expired JPS609000B2 (ja)

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JPS53144888A JPS53144888A (en) 1978-12-16
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