JPS5950638B2 - 帯状シリコン結晶の製造装置 - Google Patents

帯状シリコン結晶の製造装置

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JPS5950638B2
JPS5950638B2 JP11297382A JP11297382A JPS5950638B2 JP S5950638 B2 JPS5950638 B2 JP S5950638B2 JP 11297382 A JP11297382 A JP 11297382A JP 11297382 A JP11297382 A JP 11297382A JP S5950638 B2 JPS5950638 B2 JP S5950638B2
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silicon
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直明 真木
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Toshiba Corp
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Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/14Heating of the melt or the crystallised materials

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、帯状シリコン結晶の製造装置の改良に関する
〔発明の技術的背景とその問題点〕
近時、結晶製造技術の1つとして帯状シリコン結晶の成
長方法が開発されているが、この帯状シリコン結晶を成
長させる炉内の平面図を第1図aに、そのA−A′断面
図をbに示す。
この第1図は、シリコン融液11を収容する石英ガラス
製ルツボ12にカーボンで作られたスリット (間隙)
を有するキャピラリ・ダイ13 (13a、13b)
(以下単にダイと言う)をその長辺方向をルツボ1
2の長辺方向に平行に設置した状態を示す。
このダイ13の先端部は鋭く、ナイフェツジ状に加工さ
れており、また、これらのダイ13はルツボ]2上に設
けられた熱遮蔽板14に強く固定されている。
この熱遮蔽板14は融液11の熱輻射を上記ダイ13の
先端に到達するのを弱める役割をはだすもので、ダイ1
3の先端部を露出させる窓があけられている。
ルツボ12は、カーボンで形成されたルツボホルダー1
5内に挿入されている。
このルツボホルダー15の外側には、一対の板状のヒー
タ16 (16a、 16b) カ設けられている
このヒータ16は上記ダイ13およびルツボホルダー1
5の長手方向に平行に設置され、かつ上下から交互に切
込み17が加工されてこれにより電気抵抗値を制御する
仕組みになっている。
18はチャンバー側壁である。 □上記のように構成
されへ成長装置の石英ルツボ12に多結晶シリコンを入
れ、ヒータ16の温度を約1500℃に上昇させる。
すると、多結晶シリコンはシリコン融液11となり、そ
してこのシリコン融液11が毛細管現象により、ダイ1
3の先端部まで上昇する。
この上昇したシリコン融液11に上方から種子結晶(図
示せず)を接触させ、次に徐々に引き上げることにより
、帯状シリコン結晶を成長させることができる。
本発明者は上述した成長装置において、幅広のシリコン
結晶の成長を試みたところ、引上げ速度が5〜10mm
/分と非常に遅く、また種子結晶より必ず幅が狭くなり
、1mm程度に減少(以下ネックダウンと呼ぶ)し、そ
の後のリボン幅の拡幅操作が複雑であり、長い幅広の結
晶が得られなかつた。
上記した従来技術は、帯状シリコン結晶の大量生産を考
えると、時間的にも材料的にも損失であり、大量生産に
は最適な技術ではない。
この原因は固液界面近傍の引上げ方向の温度勾配が低く
、横方向の温度分布が悪いことにある。
本発明者はダイの先端に種子結晶を接触後、固液界面の
温度分布を非接触測定法で測定したところ、種子結晶(
幅100mm)の中央部で低温で、両端部で高温、つま
り固液界面の温度分布は種子幅に対して凹型となってい
た。
上記温度分布の場合、帯状シリコン結晶の成長では、種
子幅と同じ幅の結晶を成長開始より得ることは困難とな
り、必ずネックダウンを生じる。
さらに、ネックダウン後の拡幅では、両端の温度が高い
ため、拡幅程度がおそく、温度の低い中央部でダイと固
着する確率が高かった。
さらに本発明者は引上げ方向の温度勾配を熱電対で測定
したところダイ先端部で100℃/cmと勾配がなだら
かであった。
このことは引上げ速度が5〜10mm/分と遅いことを
意味する。
〔発明の目的〕 本発明の目的は、引上げ速度を大幅に向上させ、ネック
ダウンの発生を防止し、成長開始より幅広帯状結晶を引
上げることを可能ならしめた大量生産に適した帯状シリ
コン結晶の製造装置を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明者は前記した従来技術の欠点の改良を目的として
鋭意研究を重ねた子吉果、成長開始直後の固液界面の温
度分布を凸型にして、同時に引上げ方向の温度勾配を急
峻にすることにより、従来技術の欠点を改善できること
を見出した。
そこで本発明においては、固液界面付近に一対の冷却温
度調整器を設置する。
この冷却温度調整器はダイ先端部をおおうようにコの字
型とし、ダイ側に細孔を設けて冷却ガスを流して、固液
界面付近の温度を下げるように制御する。
また、冷却温度調整器は耐熱を考慮して例えばモリブデ
ンを使用し、冷却ガス供給手段としてモリブデンパイプ
あるいはステンレスパイプをこの冷却温度調整器に溶接
加工する。
更に、冷却温度調整器は帯状シリコン結晶の成長中に炉
外よりダイ長手方向に移動可能な構造とし、固液界面の
温度分布を任意に制御できるようにすることが好ましい
モリブチ゛ンあるいはステンレスパイプは例えばチャン
バ側面で支持され、さらに冷却温度調整器は熱遮蔽板上
をスライドする構成とする。
冷却温度調整器の移動は手動、あるいはモータによる自
動も可能である。
〔発明の効果〕
本発明によれば、ダイ先端部にその長手方向に2個冷却
温度調整器を設置することによって、引上げ直後の固液
界面の温度分布を凸型に形成することができ、かつ、固
液界面周辺の温度を従来技術と比べて、十分に低温とす
ることができるため、帯状シリコン結晶表面からの熱の
放散が良くなり、ひいては引上げ方向の温度勾配が急峻
になる。
従って引上げ直後のネックダウンを生じることなく、種
子結晶の幅と同じ帯状シリコン結晶を引上げることが可
能となり、かつ、引上げ方向の温度勾配が急峻となるた
め、従来の技術で達成できなかった高速引上げが可能と
なる。
従って、時間的、材料的損失が減少し、高速化のため大
幅に帯状シリコン結晶の生産量が増加する。
その他の作用効果として、固液界面近傍にガスを噴出す
るため、ダイ先端部と炉内雰囲気が遮断でき、ダイ先端
部のシリコン融液にスラッゾが浮遊することを防止する
ことができる。
〔発明の実施例〕
第2図aは本発明の一実施例の概略構成を示す平面図で
あり、bはそのA−A’断面図である。
尚、第1図と同一部分には同一符号を付して、その詳し
い説明は省略する。
この実施例装置が第1図に示した従来装置と異なる点は
、ダイ13の先端部長手方向の両端にコの字型の一対の
冷却温度調整器19 (19a、 19b)を相対向
させて設置したことにある。
この冷却温度調整器19は耐熱を考慮してモリブデンで
構成され、さらに冷却ガスであるアルゴンガスの流路と
なるモリブデンあるいはステンレスパイプ20 (2
0a、20b)が溶接で接続されている。
このパイプ20はチャンバ18で支持され、チャンバ外
側でフレキシブルパイプ22 (22a、22b)に
接続されている。
冷却温度調整器19の形状はダイ13の幅に依存するが
、ダイ幅100mmの場合、幅20mm長さ60mm厚
さ10mmであり、ダイ側側面には冷却ガス流出入口と
なる0、5mmφの細孔23がおいている。
冷却温度調整器19の移動(図中矢印21a、21b)
はチャンバ外より手動あるいはモータ等(図示せず)で
冷却パイプ20を移動させることにより、熱遮蔽板14
上をスライドする。
本発明者はこの実施例装置を使用し、種子結晶とダイ先
端のシリコン融液の固液界面の温度分布を測定した。
第3図にテ゛−夕を示す。第3図aは従来装置の温度分
布であるが、ダイ中央部(図のC点)で1427±1℃
、右側(R点)で1434±1℃、左側(L点)で14
34±2℃で、凹型になっていた。
bは本実施例による温度分布であるが、各々の冷却温度
調整器19をダイ中央部より約20mm移動させた位置
に設定した場合である。
尚、アルゴンガスの流量は各々517m1nである。
温度分布はC点で1440±1℃、R点で1434±1
℃、L点で1434±2℃と凸型になった。
次に本発明者は従来装置と本実施例装置での引上げ方向
の温度勾配を熱電対で測定した。
従来装置の場合、ダイ直上で100℃/cmであるのに
対し、本実施例装置で200℃/cmであった。
さらに本発明者は第3図a。bの温度分布で引上げ実験
を行った。
この場合、ダイ幅102mm、種子結晶幅98mmとし
た。
その状況での引上げ初期の種子結晶41 (41a、
41b)と帯状シリコン結晶42 (42a、42b
)の形状を第3図a、 l)にそれぞれ対応させて第
4図a、 l)に示す。
aの場合、引上げ直径約25mm程度まで細くなり、幅
100mmまで拡幅するのに約2m、時間にして約1.
5時間が必要で、幅100mmまで拡幅後の安定成長で
の引上げ速度は平均10〜15mm/分であった。
bの場合、引上げ直後約5mmで幅は100mmまで拡
幅し、安定成長での引上げ速度は平均20〜25mm/
分と従来技術の約2倍に向上した。
また結晶の成長に伴いaの場合幅の変動があるが、bの
場合、冷却温度調整器の位置を微調整することにより、
幅100mm±1mmの制御が可能であった。
第2図に示す本実施例装置のように冷温度調整器を使用
すると、固液界面の温度分布の制御が比較的簡単に行う
ことができ、ひいては第4図aに示すネックダウン部を
発生させずに引上げ開始直後所望の幅まで広げることが
可能であり、また従来装置と比較すると約2倍の高速引
上げが可能である。
従って、時間的、材料的な損失が大幅に減少し、帯状シ
リコン結晶の生産量が大幅に向上し、大量生産が可能で
、太陽電池等の素子に利用する場合、その大幅なコスト
ダウンが可能に1なる。
尚、本発明者は従来装置で、他の制御要素つまり引上げ
速度、ヒータパワーで制御を試みたが、非常に引上げ制
御が複雑で、引上げの失敗確率が高く、またネックダウ
ンの解決には至らなかった。
本発明の他の作用効果として、帯状シリコン結晶が安定
成長している段階で、外部ノイズ等によりヒータパワー
あるいは引上げ速度が変化し、結晶の幅の変化が生じた
場合、炉外より冷却温度調整器の設定位置を変更するこ
とにより、容易にかつ時間的にはやく、幅の制御を行い
得ることが挙げられる。
また、固液界面の温度分布を制御する手段として、ダイ
近傍に小さなヒータを設置することが考えられるが、ヒ
ータ形状、ダイとヒータの間隔に依存する放電現象、パ
ワー制御による時間的遅れ等を考慮すると、本発明の方
が比較的簡単に制御でき、かつパワー制御のための制御
系が不必要であるため、安価に製作することができる。
またヒータは固液界面の温度分布は制御できるが、引上
げ速度を向上させることはできない。
【図面の簡単な説明】
第1図a、 l)は従来装置を示す平面図と断面図、
第2図a、 l)は本発明の一実施例を示す平面図と
断面図、第3図a、bおよび第4図a、 l)は従来
装置と本実施例装置の作用効果を説明するための図で゛
ある。 11・・・シリコン融液、12・・・石英ガラス製ルツ
ボ、13a、13b・・・ダイ、14・・・熱遮蔽板、
15・・・ルツボホルダー、16a、16b・・・ヒー
タ、17・・・切込み、18・・・チャンバ側壁、19
a、19b・・・冷却温度調整器、20a、20b・・
・冷却パイプ、21a、21b・・・冷却温度調整器の
移動方向、22a、22b・・・フレキシブルパイプ、
41a、41b・・・種子結晶、42a、42b・・・
帯状シリコン結晶。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 シリコン融液が収容されたルツボと、このルツボ上
    に設けられた熱遮蔽板と、この熱遮蔽板を貫通して設け
    られ上記ルツボ内のシリコン融液にその一端が浸漬され
    るスロットを有した一対のダイと、上記シリコン融液お
    よびダイを加熱する加熱源とを具備し、上記のダイのス
    ロットを介して上昇したシリコン融液に種子結晶を接触
    させ、この種子結晶を引き上げることによって帯状シリ
    コン結晶を成長せしめる帯状シリコン結晶の製造装置に
    おいて、引上げ方向と直角に熱遮蔽板上を移動可能で、
    固液界面近傍で引上げ方向に垂直に冷却ガスを流出する
    多数の細孔を有するコの字型の一対の冷却温度調整器を
    設置したことを特徴とする帯状シリコン結晶の製造装置
JP11297382A 1982-06-30 1982-06-30 帯状シリコン結晶の製造装置 Expired JPS5950638B2 (ja)

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JPS593094A JPS593094A (ja) 1984-01-09
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH07110100B2 (ja) * 1986-01-27 1995-11-22 三菱電機株式会社 回路しや断器の制御装置
JPH0626450B2 (ja) * 1986-01-27 1994-04-06 三菱電機株式会社 静止型過電流検出装置

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