JPS6088459A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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Publication number
JPS6088459A
JPS6088459A JP58196197A JP19619783A JPS6088459A JP S6088459 A JPS6088459 A JP S6088459A JP 58196197 A JP58196197 A JP 58196197A JP 19619783 A JP19619783 A JP 19619783A JP S6088459 A JPS6088459 A JP S6088459A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
charges
gates
ccd
drain
transferred
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58196197A
Other languages
English (en)
Inventor
Tadashi Aoki
正 青木
Hirokuni Nakatani
中谷 博邦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electronics Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electronics Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electronics Corp
Priority to JP58196197A priority Critical patent/JPS6088459A/ja
Publication of JPS6088459A publication Critical patent/JPS6088459A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/148Charge coupled imagers
    • H01L27/14825Linear CCD imagers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、電荷の転送機能を有する半導体装置に関する
ものである。
(従来例の構成とその問題点) 昨今、電荷転送機能を有するCCD (電荷結合素子)
の開発が進み、その応用としてCODイメージセンサの
開発が活発に進められている。
第1図は、従来の一次元CCD固体撮像装置の構成の概
略を示したものである。入射した光は光電変換部1で光
の強弱に応じた電荷に変換され、ある一定の期間蓄積さ
れた後、光電変換部1内の奇数番目の画素に蓄積された
電荷は、シフ)r−12aを通じて奇数側のCODシフ
トレジスタ3aに転送され、偶数番目の画素に蓄積され
た電荷は、シフトゲート2bを通じて偶数側のCODシ
フトレジスタ3bに転送され、偶奇各々のシフトレジス
タ内の電荷はCOD転送によシ、出力ゲート4を通じて
出力部5に転送される。以上のような従来の゛構成では
、CCDレジスタ内で常に全画素の電荷を転送しなけれ
ばならず、1ラインの走査時間は1段当りの転送時間に
画素数を乗じたものとなシ、上記のようなCODシフト
レジスタを奇数と偶数に分けた構成のものでも上記走査
時間の半分にしかならない。昨今情報の一部を高速に認
識したいという要望が高まっておシ、上記従来例の装置
では、その要望を満たすことができなかった。
(発明の目的) 本発明は、上記従来の問題点を解消するもので、電荷も
しくは画像情報の一部を捨て去シ、所望の情報の信号を
高速で認識することのできる半導体装置を提供するもの
である。
(発明の構成) 本発明は、1個、あるいは複数個のケ゛−トを介して、
相隣シ合う電荷転送装置を備えた半導体装置であシ、一
つの電荷転送装置内の信号を隣接するダートに制御信号
を加えることにより、他方の電荷転送装置へ転送するこ
とができる。
(実施例の説明) 第2図は、本発明の一実施例における一次元CCD固体
撮像装置の構成の概略を示したものである。第2図にお
いて入射した光は、光電変換部1で光の強弱に応じた電
荷に変換され、ある一定の期間蓄積された後、光電変換
部1内の奇数番目の画素に蓄積された電荷は、シフトグ
”−)2aを通じて奇数側のCODシフトレジスタ3a
に転送され、偶数番目の画素に蓄積された電荷は、シフ
トグー)2be通じて偶数側のCCDシフトレジスタ3
bに転送され、偶奇釜々のシフトレジスタ内の電荷はC
CD転送により、出力ダート4を通じて出力部5に転送
される。出力部に転送されてくる電荷は時系列に出てく
るが、ある一定時間出力させ、所望の情報の信号を出力
させた後、まだ出力部5に転送されてきていない不必要
な電荷についてはドレインゲート6a及び6bを開くこ
とによシ偶奇のドレインCCDシフトレジスタ7a及び
7bに移送され、CCD転送によシミ荷配出部8a及び
8bに配出される。
以上のように本発明の実施例によれば、ドレイングー)
6a及び6bに加えるパルスのタイミングを適当に選ぶ
ことによシ、固体撮像装置の1画素から全画素まで任意
の画素数を選択することができ、それに従って1ライン
の走査時間即ち蓄積時間を大幅に縮小することができる
。例んば4096画素を持つ一次元CCD固体撮像装置
について述べると、本発明の装置を用いた場合以下のよ
うになる0 1段当シの周波数は同じで、画素数が4096必要な期
間と、画素数は512程度で良いが1ラインの走査時間
をできるだけ速くしたい場合の期間の両方の期間を含む
ような使用法に、本発明の装置は最適である。即ち1段
当ジの周波数が1触とすると、4096画素の信号を全
て使用するには、1ラインの走査時間は 1μ5X(−4096+α)に:4.1mSここでαは
遊びの転送段数である。これが512画素だけで良いと
なると、1ラインの走査時間は、1μS X (512
+α)中0.5mSで、画素数に応じた1ラインの走査
時間が得られる。以上のように本実施例によれば、ある
情報の一部を捨て去ることにより所望の情報を高速で読
み取ることができる。なお、実施例では一次元CCD固
体撮像装置について述べたが、二次元の転送型固体撮像
装置あるいは半導体遅延装置についても同じ効果がある
ことは言うまでもない。
(発明の効果) 本発明の半導体装置は、1個あるいは複数個のダートを
介して、一つの電荷転送装置の電荷を他の電荷転送装置
へと転送することができ、その実用的効果は大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来例の構成図、第2図は、本発明の一実施
例の構成図である。 l・・・光電変換部、2a・2b・・・シフトゲート、
3a・3b・・・CCDシフトレジスタ、4・・・出力
ダート、5・・・出力部、6a・6b・・・ドレインダ
ート、7a・7b・・・ドレインCCDシフトレジスタ
、8a・8b・・・電荷配出部。 特許出願人松下電子工業株式会社 代理人星 野 恒 司 □□□□□□□ 第1図 第2図 0

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1個又は複数個のダートを介して、相隣シ合う電荷転送
    装置を備えたことを特徴とする半導体装置。
JP58196197A 1983-10-21 1983-10-21 半導体装置 Pending JPS6088459A (ja)

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JP58196197A JPS6088459A (ja) 1983-10-21 1983-10-21 半導体装置

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JP58196197A JPS6088459A (ja) 1983-10-21 1983-10-21 半導体装置

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Publication Number Publication Date
JPS6088459A true JPS6088459A (ja) 1985-05-18

Family

ID=16353803

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JP58196197A Pending JPS6088459A (ja) 1983-10-21 1983-10-21 半導体装置

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JP (1) JPS6088459A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0574612A2 (en) * 1992-06-18 1993-12-22 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Linear image sensor

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0574612A2 (en) * 1992-06-18 1993-12-22 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Linear image sensor
EP0574612A3 (en) * 1992-06-18 1994-05-11 Mitsubishi Electric Corp Linear image sensor
US5483282A (en) * 1992-06-18 1996-01-09 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method for driving a linear image sensor

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