JPS6088353A - 液体屈折率測定装置 - Google Patents
液体屈折率測定装置Info
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N21/45—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J4/00—Measuring polarisation of light
-
- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
- G01J9/04—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by beating two waves of a same source but of different frequency and measuring the phase shift of the lower frequency obtained
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明(ri屈折率′f:測定しようとする液体の中に
直接プローブを浸漬してその屈折率をリアルタイムで測
定する手段を提供するもので主に屈折率整合液の調整及
びそれを使用する分野において利用されることが期待さ
れる。
直接プローブを浸漬してその屈折率をリアルタイムで測
定する手段を提供するもので主に屈折率整合液の調整及
びそれを使用する分野において利用されることが期待さ
れる。
従来液体屈折率クリ定装置としては、屈折法を用いたも
のが知られていた。これは屈折率の異なる境界での入射
角と屈折角の比を測定するものである。又反射法を用い
るものも知らnていた。こnは屈折率の異なる境界での
全反射の起る臨界角を測定して屈折率をめるものである
。いわゆるアツベの屈折計と呼ばれるものである。又他
の反射法として屈折率の異なる境界での反射係数から屈
折率をめる方法も知られていた。
のが知られていた。これは屈折率の異なる境界での入射
角と屈折角の比を測定するものである。又反射法を用い
るものも知らnていた。こnは屈折率の異なる境界での
全反射の起る臨界角を測定して屈折率をめるものである
。いわゆるアツベの屈折計と呼ばれるものである。又他
の反射法として屈折率の異なる境界での反射係数から屈
折率をめる方法も知られていた。
しかしながら、以上の方法では屈折率の測定精度が10
−〜10 と低く光通信用ファイバーの製造の如く精密
な屈切率制御を必要とする分野に使えなかった。
−〜10 と低く光通信用ファイバーの製造の如く精密
な屈切率制御を必要とする分野に使えなかった。
又R11折率を精密に測定する方法として11、い゛わ
ゆる干渉法を用いるものが知られていたが、これに被測
だ物をリアルタイムで測定することができなかった。光
ファイバーの製造コントロールを行なう為には、実際の
工程VC>いて即座に屈折率の精密な測定が必要でちる
にもかかわらず、従来の干渉法音用いたものはサンプリ
ングが必要でありIn8ithのものがなかつrc。
ゆる干渉法を用いるものが知られていたが、これに被測
だ物をリアルタイムで測定することができなかった。光
ファイバーの製造コントロールを行なう為には、実際の
工程VC>いて即座に屈折率の精密な測定が必要でちる
にもかかわらず、従来の干渉法音用いたものはサンプリ
ングが必要でありIn8ithのものがなかつrc。
本発明はかかる従来技術の欠点を改善し、リアルタイム
でC夜体の屈折率を精密に測定できる液体屈折率測定装
置を提供することを目的とする。
でC夜体の屈折率を精密に測定できる液体屈折率測定装
置を提供することを目的とする。
本発明の構成を第1図に示す。1は光源部である。光源
部1において(は、一つの光源からでたコヒーレント光
を2つに分割し、各々直交する方向に偏光したのち混合
された光(以下114光混合波という)を作る。この偏
光混合波ぐま導波部2葡伝播してプローブ部5に入る。
部1において(は、一つの光源からでたコヒーレント光
を2つに分割し、各々直交する方向に偏光したのち混合
された光(以下114光混合波という)を作る。この偏
光混合波ぐま導波部2葡伝播してプローブ部5に入る。
プローブ3に入った偏光混合波は、各偏光毎に分離され
一方の偏光波は試料液体を通過し、他方の偏光波は参照
物体を通過する。これによって両者の偏光波間には位相
差が生じるが、この位相差に液体の屈折率の関数である
。これら位相差の生じた2つの偏光波は再度混合され(
以下これを再混合波という)導波部4を伝播して検出部
5に導びかれ、位相差が検出され液体の屈折率が知れる
。
一方の偏光波は試料液体を通過し、他方の偏光波は参照
物体を通過する。これによって両者の偏光波間には位相
差が生じるが、この位相差に液体の屈折率の関数である
。これら位相差の生じた2つの偏光波は再度混合され(
以下これを再混合波という)導波部4を伝播して検出部
5に導びかれ、位相差が検出され液体の屈折率が知れる
。
以上の如く本発明の要点は光源部Iにおいて開光混合波
を作りこれをグローブ部3に導ひき分離した後、各々サ
ンプルとリファレンスを通過させ、再度混合して再混合
波として検出部5に導ひき測定するものである。かかる
方法によってサンプルとリファレンスの屈折率の差が実
時間で測定できるのである。
を作りこれをグローブ部3に導ひき分離した後、各々サ
ンプルとリファレンスを通過させ、再度混合して再混合
波として検出部5に導ひき測定するものである。かかる
方法によってサンプルとリファレンスの屈折率の差が実
時間で測定できるのである。
本発明においては全体としてはレーザー干渉計を構成し
ている。しかし被測定液を1吏用状態のままで実時間で
監視するという目的のために特にサンプリング操作を行
なわないことを前提としたので光源と測定場所が離ルて
しまうという問題がある。そこで本発明では干渉させる
2つの光波をまず互いに直交する方向に調光させた後、
混合してあたかも一光線束のような状態にしてから導波
部を通して測定場所へと導く。このようにすると外乱に
よる影響は干渉時にはほぼ相殺除去されるとう■利さが
ある。さらに測定場所にはプローブ部が挿入される。こ
のプローブ2Vrvcは光学系が収められている。すな
わち偏光混合波は合々の調光状態に拠ってもとの2つの
偏光波に空間的に分離さされ、見かけ上通常の干渉計の
ごとく一方の偏光波は少なくとも試料の一部を通過し、
他方の偏光波は参照のための媒質中を通過する。次に、
これら2つの偏光波は再び混合させられた後検出部−\
と導かれる。これは前述と同じ目的で外乱がらの影響を
除去するためである。この工うな光学配置遺でをよ1本
の光ファイバーによって光源部1.プローブ部5及び検
出部5を接続できる。以上に述べたようにグローブ中の
微少な領域のみを干渉計として利用することのできる光
学系によりグローブが浸っているl皮体の屈折率を測>
i Lようとするのが本発明の目的である。
ている。しかし被測定液を1吏用状態のままで実時間で
監視するという目的のために特にサンプリング操作を行
なわないことを前提としたので光源と測定場所が離ルて
しまうという問題がある。そこで本発明では干渉させる
2つの光波をまず互いに直交する方向に調光させた後、
混合してあたかも一光線束のような状態にしてから導波
部を通して測定場所へと導く。このようにすると外乱に
よる影響は干渉時にはほぼ相殺除去されるとう■利さが
ある。さらに測定場所にはプローブ部が挿入される。こ
のプローブ2Vrvcは光学系が収められている。すな
わち偏光混合波は合々の調光状態に拠ってもとの2つの
偏光波に空間的に分離さされ、見かけ上通常の干渉計の
ごとく一方の偏光波は少なくとも試料の一部を通過し、
他方の偏光波は参照のための媒質中を通過する。次に、
これら2つの偏光波は再び混合させられた後検出部−\
と導かれる。これは前述と同じ目的で外乱がらの影響を
除去するためである。この工うな光学配置遺でをよ1本
の光ファイバーによって光源部1.プローブ部5及び検
出部5を接続できる。以上に述べたようにグローブ中の
微少な領域のみを干渉計として利用することのできる光
学系によりグローブが浸っているl皮体の屈折率を測>
i Lようとするのが本発明の目的である。
第2図は光源部1の詳細図である。光源6は光干渉を起
すことのできるコヒーレント性ヲ有する元を発するレー
ザーよりする。レーザー光は分割部7により2つの光線
束に分けられる。分割部7としCはビームスプリッタ−
やプリズムが用いられる。次に一方の光Hx方向偏波部
8により偏光波となる。X方向偏光部8f′i例えば偏
光子よりなる。又他方の光線束はY方向偏波部9により
直交する偏光波となる。Y方向偏光部9も例えば偏光子
よりなる。これら2つの互いに直交する1116光波は
混合部10において混合され1つの光線束となって導波
部2に導かれる。導波部2はマルチモードファイバ、単
一モードファイバ若しくは偏波面保存ファイバ等の光フ
ァイバーにより構成される。
すことのできるコヒーレント性ヲ有する元を発するレー
ザーよりする。レーザー光は分割部7により2つの光線
束に分けられる。分割部7としCはビームスプリッタ−
やプリズムが用いられる。次に一方の光Hx方向偏波部
8により偏光波となる。X方向偏光部8f′i例えば偏
光子よりなる。又他方の光線束はY方向偏波部9により
直交する偏光波となる。Y方向偏光部9も例えば偏光子
よりなる。これら2つの互いに直交する1116光波は
混合部10において混合され1つの光線束となって導波
部2に導かれる。導波部2はマルチモードファイバ、単
一モードファイバ若しくは偏波面保存ファイバ等の光フ
ァイバーにより構成される。
第3図にプローバ部3の詳細図である。導波部2より導
びかれた混合側光波は分離部11によりもとの互いに直
交する偏光波に分離される。分離部11は例えば分割型
検光子よりなる。次に一方の偏光波は試料部12を通過
する。試料部12にはグローブ3を試料液体に浸漬する
ことによ!ll被測定試料が導入される。他方の偏光波
に参照部13を通過する。参照部13には例えば屈折率
既知の石英などが用いられる−従って本装置においては
液体の屈折率は参照物体たる石英の屈折率との差試料温
;シは既知である必要があった。しかしながら本発明に
おいては液体の屈折率をその与えられた温度条件下にお
いて参照媒質(例えば石英)の屈折率との差として筒梢
度に測5iできるので実用上より便利なことが多い。
びかれた混合側光波は分離部11によりもとの互いに直
交する偏光波に分離される。分離部11は例えば分割型
検光子よりなる。次に一方の偏光波は試料部12を通過
する。試料部12にはグローブ3を試料液体に浸漬する
ことによ!ll被測定試料が導入される。他方の偏光波
に参照部13を通過する。参照部13には例えば屈折率
既知の石英などが用いられる−従って本装置においては
液体の屈折率は参照物体たる石英の屈折率との差試料温
;シは既知である必要があった。しかしながら本発明に
おいては液体の屈折率をその与えられた温度条件下にお
いて参照媒質(例えば石英)の屈折率との差として筒梢
度に測5iできるので実用上より便利なことが多い。
さて互いに異なる媒質を通過し7C偏光波は位相のズレ
を生じた後混合部14により一本の光線束となり導波部
4を通過して検出部5に導かれる。
を生じた後混合部14により一本の光線束となり導波部
4を通過して検出部5に導かれる。
そこでレーザ干渉測定が行なわれ屈折率が知れる。
ここでレーザ干渉測定について3つの異なる原理を述べ
ておく。
ておく。
干渉出力信号と2つの媒質(サンプルとリファレンス)
の屈折率の差の関係は以下の式で示される。
の屈折率の差の関係は以下の式で示される。
(112つのコヒーレント光が同一の周波数をもってい
る場合(ホモダインの場合) ■=μ、10(1+ets(KnaXe−KnkXk)
) −・・・・−(11で表わさnる。
る場合(ホモダインの場合) ■=μ、10(1+ets(KnaXe−KnkXk)
) −・・・・−(11で表わさnる。
ここに工は出力1言−号、μは検出器の能率、工oは−
−,,,,−−、−4,、、,2π1、λは光の真空中
での波長)、又は媒質の光路丹に占める長さ、nは媒質
の屈折率である。SとR4″iそれぞれ試料(−!lI
゛ンプル)及び参照媒質(リファレンス)に関する数値
であることを意味しCいる。
−,,,,−−、−4,、、,2π1、λは光の真空中
での波長)、又は媒質の光路丹に占める長さ、nは媒質
の屈折率である。SとR4″iそれぞれ試料(−!lI
゛ンプル)及び参照媒質(リファレンス)に関する数値
であることを意味しCいる。
式111VcおいてもしnRXo ntlXll: 、
、とおくことができれば微妙な屈折率の変化自=rN、
!’rRに↓る出力の変fヒは Δj:=≧’IiKΔaXθ・・・・・・・・・・・・
(2)と近似できる。工iはn RX s−n RX
R−/2と設定した時の出力の大きさである。このよう
にすれば、KおよびXeを知υへ王を測定することによ
って誦がめられる。
、とおくことができれば微妙な屈折率の変化自=rN、
!’rRに↓る出力の変fヒは Δj:=≧’IiKΔaXθ・・・・・・・・・・・・
(2)と近似できる。工iはn RX s−n RX
R−/2と設定した時の出力の大きさである。このよう
にすれば、KおよびXeを知υへ王を測定することによ
って誦がめられる。
(2)2つのコヒーレント光が異る周波数αl、α2を
もっている場合(ヘテロダインの場合)交流成分につい
て考えると、 I==μI o、知(2ffΔftrrexa nRx
R) −−−(3)ここに△α=1α1−−1である。
もっている場合(ヘテロダインの場合)交流成分につい
て考えると、 I==μI o、知(2ffΔftrrexa nRx
R) −−−(3)ここに△α=1α1−−1である。
式(3〕においては、導波の搗幅部分にまったく依存せ
ずにΔf という周波数をもつ搬送波の位相に注目する
ことによって △(J = △nXR(ただしX−=X q= X R
) という位相後ずしとして微少屈折率△n′をとらえ
ることができ式(2)のホモダインのような近似および
初期設定は要しないのでより高精度な測定が可能となる
。
ずにΔf という周波数をもつ搬送波の位相に注目する
ことによって △(J = △nXR(ただしX−=X q= X R
) という位相後ずしとして微少屈折率△n′をとらえ
ることができ式(2)のホモダインのような近似および
初期設定は要しないのでより高精度な測定が可能となる
。
以上2:+ウリの干渉側だ法を述べたが第3の方法もあ
る。それは略同偏光を利用することである。
る。それは略同偏光を利用することである。
今干渉計の2つの光路に互いに直交する偏光波を入れる
と、干渉波は位相差によってその偏光状態が異なる。す
なわちもし位相径が0° であれば直fHfJti+光
(1弓光角45°)、又もし位相差が90°であれば円
・調光波を与えその中間ではすべて略同偏光と呼ばれる
状態を呈する。従って偏光の11〜円度と偏光角を測定
すれば上側で述べた屈折率゛、函を決定することができ
る。本発明においては上記6つの原理のいずれもが利用
できる。
と、干渉波は位相差によってその偏光状態が異なる。す
なわちもし位相径が0° であれば直fHfJti+光
(1弓光角45°)、又もし位相差が90°であれば円
・調光波を与えその中間ではすべて略同偏光と呼ばれる
状態を呈する。従って偏光の11〜円度と偏光角を測定
すれば上側で述べた屈折率゛、函を決定することができ
る。本発明においては上記6つの原理のいずれもが利用
できる。
〔実施1り」1〕
214図はヘテロダイン法を用いた本発明の実施例1を
示す。光源15はレーザであってコヒーレットな光を出
す。又光源15は準コヒーレ/ト光源であっても良い。
示す。光源15はレーザであってコヒーレットな光を出
す。又光源15は準コヒーレ/ト光源であっても良い。
コヒーレント光はビームスグリツタ−16により2つの
光線束に分けられる。
光線束に分けられる。
これら2つの光線束は各々fOの周波数をもっていたも
のが、光変調器17及び18によって周波数変調されα
1及びα2となる。光髪調器としては””’1.+g
Oa/を又はRamahX−Nath Oau が用い
られる2、これらα1及びα2の光束は名々偏光子19
及び20によって互いに直交する偏光波すなわちX偏光
波及びY調光波となる。これら2つの偏光波はミラー2
1及び22によって方向を変えられ光混合器23によっ
て一本の光線束すなわち偏光混合波となる。
のが、光変調器17及び18によって周波数変調されα
1及びα2となる。光髪調器としては””’1.+g
Oa/を又はRamahX−Nath Oau が用い
られる2、これらα1及びα2の光束は名々偏光子19
及び20によって互いに直交する偏光波すなわちX偏光
波及びY調光波となる。これら2つの偏光波はミラー2
1及び22によって方向を変えられ光混合器23によっ
て一本の光線束すなわち偏光混合波となる。
偏光混合波eま凸レンズ24によって光ファイバー25
の入射口に集められ光ファイバー25の中に導かれる。
の入射口に集められ光ファイバー25の中に導かれる。
光ファイバー25は導波部2の役割と東たし偏光混合波
はプローブ部6に導いている。
はプローブ部6に導いている。
光ファイバー25を伝わった偏光混合波は光ファイバー
25の出口で発散しマイクロレンズ26によって平行光
線となる。この平行光線は分割型検光子27によって互
いiC直交する偏光束の混合27の構造rJ第5図に示
すようになっており、互いに直交する偏光軸を有する半
円型の検光子28゜29を貼り合わせたものでちる。分
割型検光子27を通過した混合偏光波のうち上半分はY
方向に振動する偏光波のみを含み、下半分はX方向に振
動する偏光波のみを含む。従って光渾部から発し念混合
聞光波は分割型検光子27により分離されるのである。
25の出口で発散しマイクロレンズ26によって平行光
線となる。この平行光線は分割型検光子27によって互
いiC直交する偏光束の混合27の構造rJ第5図に示
すようになっており、互いに直交する偏光軸を有する半
円型の検光子28゜29を貼り合わせたものでちる。分
割型検光子27を通過した混合偏光波のうち上半分はY
方向に振動する偏光波のみを含み、下半分はX方向に振
動する偏光波のみを含む。従って光渾部から発し念混合
聞光波は分割型検光子27により分離されるのである。
つまり分割型検光子27は周波数α■ のX偏光波と周
波数α2 のY偏光波の混合波を分離し元の周波数α、
(7)X偏光波と周波数へ のY偏光波に分けるもので
ある。
波数α2 のY偏光波の混合波を分離し元の周波数α、
(7)X偏光波と周波数へ のY偏光波に分けるもので
ある。
次に分離された周波数αlのX偏光波は石英で作られた
試料保持部50の凹部51に導入され1こ試料液体を通
過する。なお試料液体はプローブ6全体を液体中に浸漬
することによジ凹部34に自動的Kl入さ才L7)。
試料保持部50の凹部51に導入され1こ試料液体を通
過する。なお試料液体はプローブ6全体を液体中に浸漬
することによジ凹部34に自動的Kl入さ才L7)。
又分離された周波数α2 のY偏光波は試料保持部50
のう°ら石英の肉厚部を通過する。この部分は既値の、
Iポ折inRを有するから内照部として働くのである。
のう°ら石英の肉厚部を通過する。この部分は既値の、
Iポ折inRを有するから内照部として働くのである。
すなわち周波数α1の光線と周波数α2の光線の全党路
を比較すると、プローブ部内の試料部と参照部において
異なるのみで残Vは共通である。しかして周波数α1の
光線の位相遅れはこれが試料部を通過したことによる。
を比較すると、プローブ部内の試料部と参照部において
異なるのみで残Vは共通である。しかして周波数α1の
光線の位相遅れはこれが試料部を通過したことによる。
従ってこの位相遅れを検出すれば試料液体の参照部に対
する相対屈折率差Δ11が知れるのである。
する相対屈折率差Δ11が知れるのである。
位相遅れ△0とΔnの関係は△Δ=2XkΔnで与えら
ハる。なお△Zの検出方法については後に説明する。
ハる。なお△Zの検出方法については後に説明する。
さて試料保持部30を通過した光は前方にあるミラー3
2によって逆方向に反射さn往路と全く同一の光路を逆
に伝わっていく。分割型検光子27(il:逆に通過し
た光はマイクロレンズ26によって再混合され、再混合
波として光ファイバ25を逆にもどっていく。このよう
に本実施例においては導波部2と導波部4とは共通の光
ファイバー25によって構成されている。光ファイバー
を逆に通過した再混合波は凸レンズ24を通、過し′C
C性行光線なり、生後、ビームスプリッタ−55によっ
て分離取り出され、再混合波の偏光方向に対して45°
の角度にセットされた検光子34を通過後検出器35
へと導か:Itろ。検出器65における動作を次に?、
見明する。
2によって逆方向に反射さn往路と全く同一の光路を逆
に伝わっていく。分割型検光子27(il:逆に通過し
た光はマイクロレンズ26によって再混合され、再混合
波として光ファイバ25を逆にもどっていく。このよう
に本実施例においては導波部2と導波部4とは共通の光
ファイバー25によって構成されている。光ファイバー
を逆に通過した再混合波は凸レンズ24を通、過し′C
C性行光線なり、生後、ビームスプリッタ−55によっ
て分離取り出され、再混合波の偏光方向に対して45°
の角度にセットされた検光子34を通過後検出器35
へと導か:Itろ。検出器65における動作を次に?、
見明する。
互い(でifグする偏光波α1とq2 の9陽師波であ
るF1混合波は再混合波の面光方向に対して45°の閲
光角゛辷なすようにセットされた検光子54を通過する
ことにより各偏光のうち検尼子の偏波方向成分がと9出
され、それらは互いに干渉する。
るF1混合波は再混合波の面光方向に対して45°の閲
光角゛辷なすようにセットされた検光子54を通過する
ことにより各偏光のうち検尼子の偏波方向成分がと9出
され、それらは互いに干渉する。
−+!−C異、よる周波数α1とα2 の2光線の一1
T渉を用いたレーザー干渉)去(ヘテロゲイン方式1に
おいて※4干渉1伎の出力信号の波形(づα]−α2
という周波数の正弦波でちって位相差成分として△σを
含む、 f、tつてζ机と位相差Oの参照13号を位相
検出回路より構成されている検出器65により比較する
ことにより位相差へZが知れる。従って△0=2xkA
、nの式から、:、nが知れも。
T渉を用いたレーザー干渉)去(ヘテロゲイン方式1に
おいて※4干渉1伎の出力信号の波形(づα]−α2
という周波数の正弦波でちって位相差成分として△σを
含む、 f、tつてζ机と位相差Oの参照13号を位相
検出回路より構成されている検出器65により比較する
ことにより位相差へZが知れる。従って△0=2xkA
、nの式から、:、nが知れも。
〔で、(1の実1怜11列〕
・実施例1においてf−,1干渉方式とじて−\テロダ
イン方1(?用いた。しかしながら1:12の方1去例
えば先に述べたホモダイン方式ちるいげ略同偏光を利用
する方式も考えられる。これらの場合には第4図に示す
実施例1において光変調器17及び18が不要となるの
みで他の構成はほとんど共通でちる。
イン方1(?用いた。しかしながら1:12の方1去例
えば先に述べたホモダイン方式ちるいげ略同偏光を利用
する方式も考えられる。これらの場合には第4図に示す
実施例1において光変調器17及び18が不要となるの
みで他の構成はほとんど共通でちる。
父、會実晦例1においてはビームスプリッタ−16と検
光子19及び20により互いに直交する偏光波を作って
いるが、ビームスプリッタ−16と検光子19及び20
は偏光分離能力のあるビームスプリッタ−で置換するこ
とができる。
光子19及び20により互いに直交する偏光波を作って
いるが、ビームスプリッタ−16と検光子19及び20
は偏光分離能力のあるビームスプリッタ−で置換するこ
とができる。
・又、ビームスプリッタ−16及び23のかわりにウォ
ラストンプリズムその他のプリズムを用いることができ
る。
ラストンプリズムその他のプリズムを用いることができ
る。
・又実施例1においては偏光混合波をプローブ部へ導く
ために光ファイバーを用いたが、他の実施例においては
第6図に示すように複数の鏡面を有する町とう性を持っ
た光路を用いることもできる。
ために光ファイバーを用いたが、他の実施例においては
第6図に示すように複数の鏡面を有する町とう性を持っ
た光路を用いることもできる。
・又実施例1においては導波部2と導波部4は兼用され
ていたが、もちろん第7図に示すよう((別個の構成と
してもよい。この場合には光ファイバによって平行光−
となり、ついで分割型検光子によジ分離さ7′L各々の
光線が試料保持部の試料液体部と象照部を別々に通過す
る。@:后にマイクロレンズ56によって収束され、他
の光ファイバー25を通って検出部に導かれる。
ていたが、もちろん第7図に示すよう((別個の構成と
してもよい。この場合には光ファイバによって平行光−
となり、ついで分割型検光子によジ分離さ7′L各々の
光線が試料保持部の試料液体部と象照部を別々に通過す
る。@:后にマイクロレンズ56によって収束され、他
の光ファイバー25を通って検出部に導かれる。
・又、上記実施例は光の往路方向と復路方向が同一方向
であったが、第8図に示すように直角プリズム37を用
いて往路と復路を相違方向にとることができる。
であったが、第8図に示すように直角プリズム37を用
いて往路と復路を相違方向にとることができる。
9又、実施例1においてグローブ部5に用いられたマイ
クロレンズ26け、たとえばS I!1LFo Oレン
ズ(登録商標)が用いられる。
クロレンズ26け、たとえばS I!1LFo Oレン
ズ(登録商標)が用いられる。
・ 又、実施例1においてプローブ部3に用いられた偏
光分離素子27は波面分割型検光子であったが、110
の実施例においては偏光分離能力をもつビームスプリッ
ターでちっても良(八。
光分離素子27は波面分割型検光子であったが、110
の実施例においては偏光分離能力をもつビームスプリッ
ターでちっても良(八。
・又、実施例IVc:9いては試料保持部30は全体と
して参照部をも含んだ一体的構造になっていた、しかし
ながら、他の実施例においては第9図に示すように参照
部38をカセット式とし、種々の匈照物体を使えるよう
にしても良い。
して参照部をも含んだ一体的構造になっていた、しかし
ながら、他の実施例においては第9図に示すように参照
部38をカセット式とし、種々の匈照物体を使えるよう
にしても良い。
・ 実施例1においては導波部2及び4として偏光面保
存光ファ・fバーを用いた。しかしながら他の実施例と
して偏光面が回転してしまう光ファイバーを用いること
もでき、7Neただしこの場合には、プローブ部におい
て、偏光分離素子の設定角を光ファイバ25の1所而に
対して可変とし測定時に調整可能と17でおくことが必
要である。この場合、偏光分離菓子の設定角を固定し逆
に光ファイバ25を回転調整(7ても良い2、 第10[yiは空隙を非常に小さくとらなければならな
い場合に用いた参照媒体片69を示した。これは厚さの
わずかに異なる2つの小片をはり合わせるか又(〆1部
分研磨によつ゛C製作した。(この場&一部が液体にお
きかえられている 第10図40参照)以夕′l第9図
に示すも77)と捷ったく同じである。
存光ファ・fバーを用いた。しかしながら他の実施例と
して偏光面が回転してしまう光ファイバーを用いること
もでき、7Neただしこの場合には、プローブ部におい
て、偏光分離素子の設定角を光ファイバ25の1所而に
対して可変とし測定時に調整可能と17でおくことが必
要である。この場合、偏光分離菓子の設定角を固定し逆
に光ファイバ25を回転調整(7ても良い2、 第10[yiは空隙を非常に小さくとらなければならな
い場合に用いた参照媒体片69を示した。これは厚さの
わずかに異なる2つの小片をはり合わせるか又(〆1部
分研磨によつ゛C製作した。(この場&一部が液体にお
きかえられている 第10図40参照)以夕′l第9図
に示すも77)と捷ったく同じである。
以上亦べtように、本発明によればレーデ−干渉法とい
う高精度の屈折率測定法を利用しつつ、プローブ部全艇
測定液体に浸漬すれば、リアルタイムで屈折率が測定で
きるという従来の屈折計には無い高精度リアルタイム(
即時)型液体屈折附が得られた。
う高精度の屈折率測定法を利用しつつ、プローブ部全艇
測定液体に浸漬すれば、リアルタイムで屈折率が測定で
きるという従来の屈折計には無い高精度リアルタイム(
即時)型液体屈折附が得られた。
第1図は本発明にががる;楔体屈折率測定装置のブロッ
ク図、第2図は光源部の詳細図、第3図(1プロ一ブ部
の詳細図である。?Iτ4図は本発明の一実施(Qlを
示す図、第5図、第6図。・剪9図及び第10図は実施
例に用いる部品を表ゎ(7た図、第7図及び第8図は他
の実殉例に用いるプローブ部の具体図である。 1 ヅ・を師部 2・・・導波部 3・・]t’j −フfXr!I4・・・導波部5・・
・検出部 6・・・光源 7・・・分割部 8・・・Y方向偏波部9・・Y方向偏
波部 1o・・・混合部11・・・分随部 12・・・
試料部 13・・・参照部 14・・・混合部 16・・・ビームスプリンター 19.20・・・検光子 23・・・光混合器25・・
・元ファイバー 26・・・マイクロレンズ27・・・
分別型検光子 60・・・試料保持部35・・・検出器 以 上 代理人 最 上 務 第8図 第9図 8
ク図、第2図は光源部の詳細図、第3図(1プロ一ブ部
の詳細図である。?Iτ4図は本発明の一実施(Qlを
示す図、第5図、第6図。・剪9図及び第10図は実施
例に用いる部品を表ゎ(7た図、第7図及び第8図は他
の実殉例に用いるプローブ部の具体図である。 1 ヅ・を師部 2・・・導波部 3・・]t’j −フfXr!I4・・・導波部5・・
・検出部 6・・・光源 7・・・分割部 8・・・Y方向偏波部9・・Y方向偏
波部 1o・・・混合部11・・・分随部 12・・・
試料部 13・・・参照部 14・・・混合部 16・・・ビームスプリンター 19.20・・・検光子 23・・・光混合器25・・
・元ファイバー 26・・・マイクロレンズ27・・・
分別型検光子 60・・・試料保持部35・・・検出器 以 上 代理人 最 上 務 第8図 第9図 8
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 m たがいに直交する方向に偏光したうえで混合した2
つのコヒーレント光を試料中に浸しであるグローブ部へ
と導く液体屈折率測定装置において、該グローブは該2
つの光波を偏光に上って分離し、各々を異なった空間す
なわち一方は試料中を他方は参照媒質中を伝播させたの
ち再混合させることができる構造をもち、この再混合波
をさらに検出部へと導いた時に発生する信号を利用する
ことを特徴とする液体屈折率測定装置。 (2)偏光混合波が異なる周波数をもつ2つの光波から
なり検出部では光ヘテロダイン検出の方式を用いること
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の液体屈折率測
定装置。 (3)偏光混合波をプローブへ導くために光ファイバを
用いることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の液
体屈折率測定装置。 (4)瑞光混合波全プローブ部へ導くために複数の鏡面
を有する町とり性を持った光路を用いたことを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載の液体屈折率測定装置。 (5) 再混合波を検出部へ導くために用いる光ファイ
バーと、iffff光混合波ローブ部へ導くために用い
る光ファイバーを兼用したことを特徴とする特許請求の
範囲第3項記載の液体屈折率測定装置。 (6) プローブ部において偏光分離素子が波面分別型
検光子であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載の液体屈折率測定装置。 (7) グローブ部において偏光分1碓素子が偏光分離
能力をもつビームスプリッタであることを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載の液体屈折率測定装置。 (8)グローブ部において空間的に分離された2つの偏
光波をその光路の先端に反射説又はプリズム体を設けて
その進行方向を反転させることを特徴とする特〆FcF
f求の範囲第1項記載の液体屈折率6jll定装置。 (9) グローブ部において光路上にマイクロレンズを
置いて、光線を平行光線にならしめ、あるいは収束なら
しめる光学系を有する特許請求の範囲第1項記載の液体
屈折率測定装置。 Qtj プローブ部において空間的に分離された2つの
偏光波の光路上に、非共通部分として一方には参照とな
る物体片をおき、他方に(1試料液浸入のための間隙を
設け、他は共通な媒質であることを特徴とする特許請求
の範囲第1項記載の液体屈折率測定装置。 0υ 混合偏波光が当初円偏光波または合成直線偏光波
となっている場合、検出部では再混合波の略同偏光度を
決定してこれから伝播試料媒質の屈折率をめることを特
許とする!持1/F請求の範囲第1項記載の液体屈折率
測定装置。 02 iftft合波光波つの周波数の異なる光波より
合成されておV、検出部では光ヘテロゲイン法により差
周波数の信号が得られるが、この信号波の位相を決定す
ることにより、伝播試料媒質の屈折率をめることを特徴
とする特許請求の範囲第2項記載の液体屈折率測定装置
。 (13プローブ部において偏光分離素子はその設定角が
可変であり測定時に調整可能となっており、最適値条件
において測定が一丁能となんように調整できることを特
徴とする特許請求の範囲第1項1.(シ載の液体屈折率
測定装置。 (14プローブ部において偏光分離素子に対して入射す
る光の偏光角が可変となっており、最適条件において測
定が可能となるように調整できることを特徴とする特許
請求の範囲第1項記載の液体屈折率測定装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58197093A JPS6088353A (ja) | 1983-10-20 | 1983-10-20 | 液体屈折率測定装置 |
GB08424408A GB2148497B (en) | 1983-10-20 | 1984-09-27 | Liquid refractometer |
US06/660,923 US4640615A (en) | 1983-10-20 | 1984-10-15 | Liquid refractometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58197093A JPS6088353A (ja) | 1983-10-20 | 1983-10-20 | 液体屈折率測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6088353A true JPS6088353A (ja) | 1985-05-18 |
JPH0342622B2 JPH0342622B2 (ja) | 1991-06-27 |
Family
ID=16368606
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58197093A Granted JPS6088353A (ja) | 1983-10-20 | 1983-10-20 | 液体屈折率測定装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4640615A (ja) |
JP (1) | JPS6088353A (ja) |
GB (1) | GB2148497B (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01501567A (ja) * | 1986-10-24 | 1989-06-01 | ブリティッシュ・テクノロジー・グループ・リミテッド | 光学装置および方法 |
JPH02244106A (ja) * | 1989-03-17 | 1990-09-28 | Hitachi Ltd | 薄膜光学定数の測定方法及びそれを用いて作製した光集積回路もしくは半導体素子 |
KR101108693B1 (ko) | 2009-12-08 | 2012-01-25 | 인하대학교 산학협력단 | 백색광 간섭계를 기반으로 하는 굴절률 측정 장치 및 방법 |
JP4912504B1 (ja) * | 2010-09-16 | 2012-04-11 | キヤノン株式会社 | 屈折率の計測方法および計測装置 |
JP2017120255A (ja) * | 2015-12-28 | 2017-07-06 | 大学共同利用機関法人自然科学研究機構 | 円偏光照射器、分析装置及び顕微鏡 |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AT390836B (de) * | 1988-03-11 | 1990-07-10 | Tabarelli Werner | Einrichtung zur wellenlaengebestimmung bzw. brechzahlbestimmung |
KR940002500B1 (ko) * | 1990-02-08 | 1994-03-25 | 미쯔비시덴끼 가부시끼가이샤 | 알콜 함유율 검지장치 |
USH1370H (en) * | 1991-04-15 | 1994-11-01 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Interferometric vibration and thermal expansion compensator |
US5231466A (en) * | 1991-08-01 | 1993-07-27 | Dow Chemical Company | Capillary fluid stream concentration measuring apparatus and method |
US6356675B1 (en) * | 1995-12-01 | 2002-03-12 | Sandia Corporation | Fiber optic refractive index monitor |
US5870185A (en) * | 1996-10-21 | 1999-02-09 | C.F.C. Technology, Inc. | Apparatus and method for fluid analysis |
WO2000018521A1 (en) * | 1998-10-01 | 2000-04-06 | Minntech Corporation | Reverse flow cleaning and sterilizing device and method |
US6330064B1 (en) * | 2000-03-13 | 2001-12-11 | Satcon Technology Corporation | Doubly-differential interferometer and method for evanescent wave surface detection |
US6879743B2 (en) * | 2001-12-19 | 2005-04-12 | Intel Corporation | Crystal-core fiber mode converter for low-loss polarization-insensitive planar lightwave circuits |
US8184276B2 (en) * | 2008-12-08 | 2012-05-22 | Carl Embry | Continuous index of refraction compensation method for measurements in a medium |
JP6364305B2 (ja) * | 2014-10-09 | 2018-07-25 | 株式会社四国総合研究所 | 水素ガス濃度計測装置および方法 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4171915A (en) * | 1977-10-07 | 1979-10-23 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Laser interferometer probe |
US4571082A (en) * | 1982-05-18 | 1986-02-18 | Downs Michael J | Apparatus and method for measuring refractive index |
-
1983
- 1983-10-20 JP JP58197093A patent/JPS6088353A/ja active Granted
-
1984
- 1984-09-27 GB GB08424408A patent/GB2148497B/en not_active Expired
- 1984-10-15 US US06/660,923 patent/US4640615A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01501567A (ja) * | 1986-10-24 | 1989-06-01 | ブリティッシュ・テクノロジー・グループ・リミテッド | 光学装置および方法 |
JPH02244106A (ja) * | 1989-03-17 | 1990-09-28 | Hitachi Ltd | 薄膜光学定数の測定方法及びそれを用いて作製した光集積回路もしくは半導体素子 |
KR101108693B1 (ko) | 2009-12-08 | 2012-01-25 | 인하대학교 산학협력단 | 백색광 간섭계를 기반으로 하는 굴절률 측정 장치 및 방법 |
JP4912504B1 (ja) * | 2010-09-16 | 2012-04-11 | キヤノン株式会社 | 屈折率の計測方法および計測装置 |
JP2017120255A (ja) * | 2015-12-28 | 2017-07-06 | 大学共同利用機関法人自然科学研究機構 | 円偏光照射器、分析装置及び顕微鏡 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2148497B (en) | 1986-11-26 |
US4640615A (en) | 1987-02-03 |
GB8424408D0 (en) | 1984-10-31 |
GB2148497A (en) | 1985-05-30 |
JPH0342622B2 (ja) | 1991-06-27 |
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