JPS607236B2 - 原子炉制御棒の駆動制御方式 - Google Patents
原子炉制御棒の駆動制御方式Info
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- JPS607236B2 JPS607236B2 JP51063106A JP6310676A JPS607236B2 JP S607236 B2 JPS607236 B2 JP S607236B2 JP 51063106 A JP51063106 A JP 51063106A JP 6310676 A JP6310676 A JP 6310676A JP S607236 B2 JPS607236 B2 JP S607236B2
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- operating
- control rod
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
Landscapes
- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は原子炉制御榛の駆動制御方式に係り、とくに
制御樺操作回路の動作が正常であるかどうかを常時監視
できる多重化原子炉制御榛駆動制御方式に関する。
制御樺操作回路の動作が正常であるかどうかを常時監視
できる多重化原子炉制御榛駆動制御方式に関する。
従来の多重化原子炉制御棒の駆動制御方式を第1図に従
って説明する。
って説明する。
この図において、制御榛操作回路1は、複数の押ボタン
スイッチ2と、これらのうちから選択された押ボタンス
イッチに対応して所定のデシマル量(実際には押ボタン
は何百個とあるので、複数個の単位デシマル出力の組合
せとなる。
スイッチ2と、これらのうちから選択された押ボタンス
イッチに対応して所定のデシマル量(実際には押ボタン
は何百個とあるので、複数個の単位デシマル出力の組合
せとなる。
)を出力する操作検出回路3と、デシマル量をバィナリ
量に変換するデシマルーバィナリ変換回路4と、ハラレ
ル信号のバィナリ量をシリーズ信号によるバィナリ量に
変換するパラレルーシリーズ変換回路5と、シリーズ信
号をパラレル信号に変換するシリーズーパラレル変換回
路6と、バィナリ量をデシマル量に変換するバィナリー
デシマル変換回路7と、そのデシマル量を受けるランプ
表示回路8と、ランプ9とから成る。ここで、デシマル
ーバィナリ変換回路4の構成を具体的にいえば、例えば
、発振器と、これにより歩進されるバィナリカウンタと
、カゥン夕出力をデシマル量に変換するデコーダとによ
り成っている。そして、発振器によりパイプリカウンタ
を走らせ、このバイナリ出力をデコーダでデシマル量に
変換し、このデシマル量と、前記操作検出回路3からの
デシマル量とを比較し、一致したときのタイミングでそ
のバィナリ量を、シフトレジスタで構成されるパラレル
ーシリーズ変換回路5にセットすることにより、タデシ
マルーバイナリ変換を実行している。一方、原子炉の各
制御榛個々に設けられたバルブ制御回路10及び制御榛
駆動機構11等を制御するマスターコントローラ12が
設けられており、これに対して前記パラレルーシリーズ
変換回路5よりの選択符号S,が加えられるようになっ
ている。以上の様な構成において、まず運転員により、
多数の押ボタン2のうちのいずれかが押圧されると、操
作検出回路3はこの選択された押ボタン2に対応するデ
シマル量を、デシマルーバィナリ変換回路4に加える。
デシマルーバィナリ変換回路4は前述の動作に従って、
そのデシマル量をバィナリ量に変換する。このバィナリ
量はパラレル信号であるので、パラレルーシリーズ変換
回路5によりシリーズ信号のバィナリ量に変換された後
「選択符号S,としてマスターコントローラ12及びシ
リーズーパラレル変換回路6に供給される。シリ,ーズ
ーパラレル変換回路6からのパラレル信号のバィナリ量
はバィナリーデシマル変換回路7により元のデシマル量
に変換され、このデシマル量に対応したランプ9がラン
プ表示回路8により点灯される。このランプ9の点灯に
より、運転員に制御榛操作回路1が正常に動作している
ことを確認させている。一方、マスターコントローラ1
2に送られた選択符号操作指令符号S,は、ここで一時
記憶されるとともに、この選択符号S,に対応した制御
榛を駆動させるための命令語S2として、各々のバルブ
制御回路101こ供給する。
量に変換するデシマルーバィナリ変換回路4と、ハラレ
ル信号のバィナリ量をシリーズ信号によるバィナリ量に
変換するパラレルーシリーズ変換回路5と、シリーズ信
号をパラレル信号に変換するシリーズーパラレル変換回
路6と、バィナリ量をデシマル量に変換するバィナリー
デシマル変換回路7と、そのデシマル量を受けるランプ
表示回路8と、ランプ9とから成る。ここで、デシマル
ーバィナリ変換回路4の構成を具体的にいえば、例えば
、発振器と、これにより歩進されるバィナリカウンタと
、カゥン夕出力をデシマル量に変換するデコーダとによ
り成っている。そして、発振器によりパイプリカウンタ
を走らせ、このバイナリ出力をデコーダでデシマル量に
変換し、このデシマル量と、前記操作検出回路3からの
デシマル量とを比較し、一致したときのタイミングでそ
のバィナリ量を、シフトレジスタで構成されるパラレル
ーシリーズ変換回路5にセットすることにより、タデシ
マルーバイナリ変換を実行している。一方、原子炉の各
制御榛個々に設けられたバルブ制御回路10及び制御榛
駆動機構11等を制御するマスターコントローラ12が
設けられており、これに対して前記パラレルーシリーズ
変換回路5よりの選択符号S,が加えられるようになっ
ている。以上の様な構成において、まず運転員により、
多数の押ボタン2のうちのいずれかが押圧されると、操
作検出回路3はこの選択された押ボタン2に対応するデ
シマル量を、デシマルーバィナリ変換回路4に加える。
デシマルーバィナリ変換回路4は前述の動作に従って、
そのデシマル量をバィナリ量に変換する。このバィナリ
量はパラレル信号であるので、パラレルーシリーズ変換
回路5によりシリーズ信号のバィナリ量に変換された後
「選択符号S,としてマスターコントローラ12及びシ
リーズーパラレル変換回路6に供給される。シリ,ーズ
ーパラレル変換回路6からのパラレル信号のバィナリ量
はバィナリーデシマル変換回路7により元のデシマル量
に変換され、このデシマル量に対応したランプ9がラン
プ表示回路8により点灯される。このランプ9の点灯に
より、運転員に制御榛操作回路1が正常に動作している
ことを確認させている。一方、マスターコントローラ1
2に送られた選択符号操作指令符号S,は、ここで一時
記憶されるとともに、この選択符号S,に対応した制御
榛を駆動させるための命令語S2として、各々のバルブ
制御回路101こ供給する。
この命令語S2を受けた各バルブ制御回路1川ま、各自
互いに異なった固定の比較用/ゞィナリ設定器を有して
おり、このバィナリ設定器の設定値と、命令語S2の内
容とを比較し、一致したバルブ制御回路10のみ、制御
榛駆動機構11を作動させる。このようにして、押ボタ
ン2で指定した制御棒の駆動が実行される。また、制御
棒が制御榛駆動機構11により作動されたかどうかを判
別するために、各々のバルフ制御回路10は、検出回路
を有している。そしてこの検出回路の出力は、ロジック
信号として各々のバルブ制御回路固有のバィナリ−符号
に追加され、バィナリ−符号とともに応答語S3として
マスターコントローラ12に送出される。マスターコン
トローラ12は、先に一時記憶した選択符号S,と応答
語S3とを比較し、一致したときは命令語S2を送り続
け、一致しないときは送るのを止め、故障とみなして何
らかの処置を自動的にとるようにしている。さらに、マ
スターコントローラ12は、上記敷作の他に模擬騒動符
号(以下テスト符号という)S4を作成し、これを各バ
ルブ制御回路1川こ送り出し、バルブが実際動作しえな
いような短い時間だけ制御榛駆動機構11等を駆動して
、これらが正常に動作するかどうかをテストしている。
互いに異なった固定の比較用/ゞィナリ設定器を有して
おり、このバィナリ設定器の設定値と、命令語S2の内
容とを比較し、一致したバルブ制御回路10のみ、制御
榛駆動機構11を作動させる。このようにして、押ボタ
ン2で指定した制御棒の駆動が実行される。また、制御
棒が制御榛駆動機構11により作動されたかどうかを判
別するために、各々のバルフ制御回路10は、検出回路
を有している。そしてこの検出回路の出力は、ロジック
信号として各々のバルブ制御回路固有のバィナリ−符号
に追加され、バィナリ−符号とともに応答語S3として
マスターコントローラ12に送出される。マスターコン
トローラ12は、先に一時記憶した選択符号S,と応答
語S3とを比較し、一致したときは命令語S2を送り続
け、一致しないときは送るのを止め、故障とみなして何
らかの処置を自動的にとるようにしている。さらに、マ
スターコントローラ12は、上記敷作の他に模擬騒動符
号(以下テスト符号という)S4を作成し、これを各バ
ルブ制御回路1川こ送り出し、バルブが実際動作しえな
いような短い時間だけ制御榛駆動機構11等を駆動して
、これらが正常に動作するかどうかをテストしている。
このテストを具体的に説明すると、マスターコントロー
ラ12内のバイナリカウンタを1カウントずつ進めて、
この世力であるバィナリ符号をシリーズ転送し、このバ
ィナリ符号に対応するバルブ制御回路1川こ前記テスト
符号S4を送出し、これに対するバルブ制御回路10か
らの応答語S3と、マスターコントローラ12で一時記
憶していたテスト符号S4とが一致しているか杏かによ
り動作の正否を判別するようにしている。このテスト動
作は高速にて実行されるから、全てのバルブ制御回路1
0がテストされるのに殆んど時間はかからない。このよ
うに、多重化原子炉制御榛駆動制御方式にあっては、運
転員が制御棒を操作していないときでも、上記のごとく
バルブ制御回路や周辺回路の動作チェックをして、故障
時には自動的にシステムのシャツトダウンを行う等、安
全処置をすみやかに行えるようになっている。しかしな
がら、従来の多重化原子炉制御榛駆動制御方式にあって
は、常時テストされ、監視されている箇所は、マスター
コントローラ12より後の部分、すなわちバルブ制御回
路10及びその周辺回路のみであり、制御榛操作回路1
については常時監視を行っていないため、制御榛操作回
路1が故障したときは、誤った選択符号S,が送出され
てしまうという問題が生じる。
ラ12内のバイナリカウンタを1カウントずつ進めて、
この世力であるバィナリ符号をシリーズ転送し、このバ
ィナリ符号に対応するバルブ制御回路1川こ前記テスト
符号S4を送出し、これに対するバルブ制御回路10か
らの応答語S3と、マスターコントローラ12で一時記
憶していたテスト符号S4とが一致しているか杏かによ
り動作の正否を判別するようにしている。このテスト動
作は高速にて実行されるから、全てのバルブ制御回路1
0がテストされるのに殆んど時間はかからない。このよ
うに、多重化原子炉制御榛駆動制御方式にあっては、運
転員が制御棒を操作していないときでも、上記のごとく
バルブ制御回路や周辺回路の動作チェックをして、故障
時には自動的にシステムのシャツトダウンを行う等、安
全処置をすみやかに行えるようになっている。しかしな
がら、従来の多重化原子炉制御榛駆動制御方式にあって
は、常時テストされ、監視されている箇所は、マスター
コントローラ12より後の部分、すなわちバルブ制御回
路10及びその周辺回路のみであり、制御榛操作回路1
については常時監視を行っていないため、制御榛操作回
路1が故障したときは、誤った選択符号S,が送出され
てしまうという問題が生じる。
これを防ぐために、制御榛操作回路1の部分を完全に2
重化し、2重化回路からの2つの選択符号をマスターコ
ントローラで比較チェックする方法がとられている。こ
うすることにより、謀まった選択符号でバルブ制御回路
10を動作させてしまう危険性はなくなるが、故障の発
見は、運転員が操作して初めて行なわれるという欠点が
ある。また2重化回路からの選択符号は、両者互に同期
がとれていないため、比較チェックの方法が複雑になり
、さらに選択符号とテスト符号とを交互にバルブ制御回
路に送り出すシーケンスの処理も複雑となる欠点も生ず
る。この発明は上記の欠点を除去し、制御樟操作回路を
常時監視することにより信頼性の向上を図つた原子炉制
御樺駆動制御方式を提供しようとするものである。
重化し、2重化回路からの2つの選択符号をマスターコ
ントローラで比較チェックする方法がとられている。こ
うすることにより、謀まった選択符号でバルブ制御回路
10を動作させてしまう危険性はなくなるが、故障の発
見は、運転員が操作して初めて行なわれるという欠点が
ある。また2重化回路からの選択符号は、両者互に同期
がとれていないため、比較チェックの方法が複雑になり
、さらに選択符号とテスト符号とを交互にバルブ制御回
路に送り出すシーケンスの処理も複雑となる欠点も生ず
る。この発明は上記の欠点を除去し、制御樟操作回路を
常時監視することにより信頼性の向上を図つた原子炉制
御樺駆動制御方式を提供しようとするものである。
この目的を達成するため、本発明は、複数本の制御棒の
それぞれに操作指令を与えるスイッチを有しこの操作指
令を符号化して選択符号(操作指令符号)を作りこの符
号を表示回路に与えて前記スイッチの作動状態を表示す
る制御榛操作回路と、テスト符号を作成する回路を有し
このテスト符号を前記制御榛操作回路に同期的に送出し
て該制御榛操作回路を模擬的に駆動テストさせると共に
前記制御樟操作回路から与えられる前記操作指令符号を
取り出すマスターコントローラと、このマスターコント
ローラから取り出された操作指令符号に基づいて前記各
制御榛を駆動するための制御信号を出力するバルブ制御
回路とを備え、前記マスターコントローラにより前記制
御榛操作回路から与えられる操作指令符号を記憶し該操
作指令を所定のタイミングで取り出して前記テスト符号
に重畳し、前記制御榛操作回路に転送して前記表示回路
により駆動テスト状態と操作指令の対象であるスイッチ
の作動状態とを表示させるようにしたことを特徴とする
。
それぞれに操作指令を与えるスイッチを有しこの操作指
令を符号化して選択符号(操作指令符号)を作りこの符
号を表示回路に与えて前記スイッチの作動状態を表示す
る制御榛操作回路と、テスト符号を作成する回路を有し
このテスト符号を前記制御榛操作回路に同期的に送出し
て該制御榛操作回路を模擬的に駆動テストさせると共に
前記制御樟操作回路から与えられる前記操作指令符号を
取り出すマスターコントローラと、このマスターコント
ローラから取り出された操作指令符号に基づいて前記各
制御榛を駆動するための制御信号を出力するバルブ制御
回路とを備え、前記マスターコントローラにより前記制
御榛操作回路から与えられる操作指令符号を記憶し該操
作指令を所定のタイミングで取り出して前記テスト符号
に重畳し、前記制御榛操作回路に転送して前記表示回路
により駆動テスト状態と操作指令の対象であるスイッチ
の作動状態とを表示させるようにしたことを特徴とする
。
以下、この発明に係る原子炉制御榛駆動制御方式の実施
例を図面に従って説明する。
例を図面に従って説明する。
第2図は実施例のブロック図である。
この図において、制御榛操作回路IAは、複数の押ボタ
ンスイッチ2と、これらのうちから選択された押ボタン
スイッチに対応して所定のデシマル量を出力する操作検
出及び切替回路3Aと、その出力を受けるディジタルコ
ンパレータ20と、シリーズ−パラレル変換回路6と、
バィナリーデシマル変換回路7と、ランプ表示回路8と
、ランプ9と、ディジタルコンパレータ20及びシリー
ズーパラレル変換回路6の出力を受けるゲート回路21
とから成る。一方、従来と同様に、原子炉の制御榛個々
に設けられたバルブ制御回路10及び制御榛駆動機構1
1等を制御するマスターコントローフ12が設けられて
いる。第3図は、上記ブロックのうち、制御榛操作回路
IAとマスターコントローラ12とをさらに詳細に示す
ものである。
ンスイッチ2と、これらのうちから選択された押ボタン
スイッチに対応して所定のデシマル量を出力する操作検
出及び切替回路3Aと、その出力を受けるディジタルコ
ンパレータ20と、シリーズ−パラレル変換回路6と、
バィナリーデシマル変換回路7と、ランプ表示回路8と
、ランプ9と、ディジタルコンパレータ20及びシリー
ズーパラレル変換回路6の出力を受けるゲート回路21
とから成る。一方、従来と同様に、原子炉の制御榛個々
に設けられたバルブ制御回路10及び制御榛駆動機構1
1等を制御するマスターコントローフ12が設けられて
いる。第3図は、上記ブロックのうち、制御榛操作回路
IAとマスターコントローラ12とをさらに詳細に示す
ものである。
ここで、説明を簡単にするため、バルブ制御回路1川ま
全部で16あり、従ってこれに対応する押ボタン2も全
部で16であるとし説明する。この図において、1釘固
の押ボタンスイツチ2は、4行、4列に配列され、各々
操作検出及び切替回路3Aを構成するトランジスタ30
,31の対応するベース回路に抵抗器32,33を介し
て接続される。これらトランジスタ30,31の出力電
圧は、ディジタルコンパレータ20A,208に各々印
加される。一方、マスターコントローラ12の選択テス
ト符号S,。が、制御榛操作回路IA内のシリーズパラ
レル変換回路6を構成するシフトレジス夕6A,6Bに
入力される。そしてシフトレジスタ68の出力はバイナ
リーデシマル変換回路7としてのデコーダ7A,7Bに
印加される。ここで、これらの論理回路のタイミング等
を制御するロジックシーケンス回路34が設けられてお
り、シフトレジスタ6Bが情報をセットしおわらないと
きに、デコーダ7A,7Bが不用な動作をしないように
信号S,.をこれらに印力0している。デコーダ7A,
7Bの出力は、デイジタルコンパレー夕20A,20B
に加えられるとともに、ランプ表示回路8を構成するト
ランジスタ35,36に加えられる。ここでランプ表示
回路8は、各行にプラス電圧を印加する前記トランジス
タ35と、各列をコモンに導通させる前記トランジスタ
36と、これらトランジスタ35,36との間に各々接
続されるランプ9としての発光ダイオード37及びフオ
トカツプラ38とを有している。そして、フオトカツプ
ラ38は、前記操作検出及び切替回路3Aの抵抗器32
,33に接続される。一方、ディジタルコンパレータ2
0A,20Bの比較出力は、アンド回路39に入力され
、このアンド回路39の出力はアンド回路401こ印放
される。このアンド回路40には、前記ロジックシーケ
ンス回路34からのタイミング信号S,2も加えられる
。従ってアンド回路401ま、適当なタイミングでメモ
リー回路41をセットし、アンド回路42を介して、マ
スターコントローラ12へ選択テスト符号S,3を送出
する。なお、ロジックシーケンス回路34のタイミング
信号S,4は、アンド回路43を介して、前記シフトレ
ジスタ6Aに加えられ、またロット回路44、トランジ
スタ45を介して、前記トランジスタ35に加えられる
とともに、トランジスタ46を介して各押ボタン2に加
えられる。一方「マスターコントローラ12には、テス
ト符号発生用/ゞィナリカゥンタ50が設けられており
、このカウンタ50の出力は、パラレル信号をシリーズ
信号として送るためのシフトレジスタ51に加えられる
。
全部で16あり、従ってこれに対応する押ボタン2も全
部で16であるとし説明する。この図において、1釘固
の押ボタンスイツチ2は、4行、4列に配列され、各々
操作検出及び切替回路3Aを構成するトランジスタ30
,31の対応するベース回路に抵抗器32,33を介し
て接続される。これらトランジスタ30,31の出力電
圧は、ディジタルコンパレータ20A,208に各々印
加される。一方、マスターコントローラ12の選択テス
ト符号S,。が、制御榛操作回路IA内のシリーズパラ
レル変換回路6を構成するシフトレジス夕6A,6Bに
入力される。そしてシフトレジスタ68の出力はバイナ
リーデシマル変換回路7としてのデコーダ7A,7Bに
印加される。ここで、これらの論理回路のタイミング等
を制御するロジックシーケンス回路34が設けられてお
り、シフトレジスタ6Bが情報をセットしおわらないと
きに、デコーダ7A,7Bが不用な動作をしないように
信号S,.をこれらに印力0している。デコーダ7A,
7Bの出力は、デイジタルコンパレー夕20A,20B
に加えられるとともに、ランプ表示回路8を構成するト
ランジスタ35,36に加えられる。ここでランプ表示
回路8は、各行にプラス電圧を印加する前記トランジス
タ35と、各列をコモンに導通させる前記トランジスタ
36と、これらトランジスタ35,36との間に各々接
続されるランプ9としての発光ダイオード37及びフオ
トカツプラ38とを有している。そして、フオトカツプ
ラ38は、前記操作検出及び切替回路3Aの抵抗器32
,33に接続される。一方、ディジタルコンパレータ2
0A,20Bの比較出力は、アンド回路39に入力され
、このアンド回路39の出力はアンド回路401こ印放
される。このアンド回路40には、前記ロジックシーケ
ンス回路34からのタイミング信号S,2も加えられる
。従ってアンド回路401ま、適当なタイミングでメモ
リー回路41をセットし、アンド回路42を介して、マ
スターコントローラ12へ選択テスト符号S,3を送出
する。なお、ロジックシーケンス回路34のタイミング
信号S,4は、アンド回路43を介して、前記シフトレ
ジスタ6Aに加えられ、またロット回路44、トランジ
スタ45を介して、前記トランジスタ35に加えられる
とともに、トランジスタ46を介して各押ボタン2に加
えられる。一方「マスターコントローラ12には、テス
ト符号発生用/ゞィナリカゥンタ50が設けられており
、このカウンタ50の出力は、パラレル信号をシリーズ
信号として送るためのシフトレジスタ51に加えられる
。
このソフトレジスタ51の出力は、テスト符号と選択符
号とを切り替えるための切替回路52に加えられる。こ
の切替動作は、マスターコントローラ12内の各回路の
タイミング等を制御するロジックシーケンス回路53か
らの切替信号S2oにより行なわれる。この切替回路5
2の出力が選択テスト符号S,。として制御棒線作回路
IAに送出される。一方、制御榛操作回路IAより送ら
れてくる選択テスト符号S,3を受けるために、シフト
レジスタ54が設けられており、選択テスト符号を命令
語S2,としてバルブ制御回路10、制御榛駆動機構1
1等の末端回路に送出するとともに、シリーズ信号をパ
ラレル信号に変換してメモリー回路55に加える。また
、命令語S幻を一時記憶するメモリー回路56及びチェ
ック回路57が設けられており、このチェック回路57
により、命令語S2,と末端回路よりの応答語S滋とを
照合している。なお、シフトレジスタ54と、メモリー
回路55との間には、アンド回路58、メモリー回路5
9、タイマー回路60が設けられており、さらにメモリ
ー回路55からのパラレル信号をシリーズ信号に変換し
て切替回路52に加えるためにシフトレジスタ61が設
けられている。次に上記実施例の動作を第4図のタイム
チャートとともに説明する。
号とを切り替えるための切替回路52に加えられる。こ
の切替動作は、マスターコントローラ12内の各回路の
タイミング等を制御するロジックシーケンス回路53か
らの切替信号S2oにより行なわれる。この切替回路5
2の出力が選択テスト符号S,。として制御棒線作回路
IAに送出される。一方、制御榛操作回路IAより送ら
れてくる選択テスト符号S,3を受けるために、シフト
レジスタ54が設けられており、選択テスト符号を命令
語S2,としてバルブ制御回路10、制御榛駆動機構1
1等の末端回路に送出するとともに、シリーズ信号をパ
ラレル信号に変換してメモリー回路55に加える。また
、命令語S幻を一時記憶するメモリー回路56及びチェ
ック回路57が設けられており、このチェック回路57
により、命令語S2,と末端回路よりの応答語S滋とを
照合している。なお、シフトレジスタ54と、メモリー
回路55との間には、アンド回路58、メモリー回路5
9、タイマー回路60が設けられており、さらにメモリ
ー回路55からのパラレル信号をシリーズ信号に変換し
て切替回路52に加えるためにシフトレジスタ61が設
けられている。次に上記実施例の動作を第4図のタイム
チャートとともに説明する。
マスターコントローラ12内にあるテスト符号発生用バ
ィナリカゥンタ501こよって発生されるテスト符号は
、シフトレジスタ511こより、第4図Aに示すとうり
AI,A2,B1,B2の4ビットよりなるシリーズ信
号S23に変換され、切替回路52に出力される。
ィナリカゥンタ501こよって発生されるテスト符号は
、シフトレジスタ511こより、第4図Aに示すとうり
AI,A2,B1,B2の4ビットよりなるシリーズ信
号S23に変換され、切替回路52に出力される。
ここで、AI,A2は押ボタンスイッチ2の位置をマト
リクス化して表わした時のたての列を表わし、B1,8
2は横の行を表わす。第4図Aにおいて、これらAI〜
B2の符号を送る前には、4ビット分のタイミングだけ
「1」となっており、その後1ビット分だけ「0」とな
っているのは、ロジックシーケンス回路34,53とシ
リーズ信号との同期をとるためである。さて、切替回路
52はロジックシーケンス回路53よりの第4図Bに示
すような出力S2oを受けて、テスト符号と、シフトレ
ジスタ61よりの選択符号とを切り替えて交互に送出す
る。まず、テスト符号が第4図日に示すS,。として制
御榛操作回路IAに送出された場合について述べる。テ
スト符号はまずシフトレジスタ6Bにセットされ、パラ
レル信号に変換される。そしてテスト符号AI,A2は
デコーダ78に、B1,B2はデコーダ7Aに加えられ
て、各々デシマル符号に変換される。これらのデコーダ
7A,7Bは、第4図Cに示すようなロジックシーケン
ス回路34の出力S,.が「0」の期間のみランプ表示
回路8及びディジタルコンパレータ20A,20Bに出
力する。ここでデコーダ7Bは、AI,A2が「0」「
0」で出力端子1だけ「1」となり、「1」「0」のと
きは出力端子2だけ「1」,「0」「1」のときは出力
端子3だけ「1」,「1」「1」のときは出力端子4だ
け「1」となる。デコーダ7Aも同様である。従って、
テスト符号に対応して、トランジスタ35のいずれか1
つが作動され、かつ36のいずれか1つが作動される。
仮りにAI,A2,B1,B2が「0」「0」「0」「
0」であるとすると、第1行、第1列のトランジスタが
オンとなり、第1の発光ダイオード37及びフオトカッ
プラ38に電流が流れる。以上のようにしてテスト符号
が次々に送られてくると、ランプ表示回路8は、順次ほ
んの短い間だけ動作することになる。一方、前記フオト
カッブラ38が作動すると、操作検出及び切替回路3A
内の抵抗器32,33を介して対応する行、列のトラン
ジスタ30,31が作動され、これらの出力がディジタ
ルコンパレータ20A,20Bに印加される。操作検出
及び切替回路3A及びランプ表示回路8の動作が正常で
あれば、ディジタルコンパレータ20A,20Bの比較
値は一致するから、これらは、一致出力をアンド回路3
9に出す。この結果、アンド回路39の出力は「1」と
なり、第4図Eに示すS,2が「1」のときにアンド回
路40を介してメモリー回路41を「1」にセットする
。しかして、前記シフトレジスタ6Bに一時記憶されて
いたテスト符号が第4図FのOS,3としてアンド回路
42を介してマスターコントロ−ラ12に返送される。
このようにして制御榛操作回路IAのテストが実行され
る。バルブ制御回路10、制御榛駆動機構11等末端回
路のテストは、マスターコントローラ12内のシフトレ
ジスタ54からテスト符号を命令語S幻として送出し、
末端回路よりの応答語S22と、その命令語S2,とを
チェック回路57で照合することにより行う。次に、運
転員が押ボタン2のいずれかを押して操作指令を出した
場合の動作を説明する。
リクス化して表わした時のたての列を表わし、B1,8
2は横の行を表わす。第4図Aにおいて、これらAI〜
B2の符号を送る前には、4ビット分のタイミングだけ
「1」となっており、その後1ビット分だけ「0」とな
っているのは、ロジックシーケンス回路34,53とシ
リーズ信号との同期をとるためである。さて、切替回路
52はロジックシーケンス回路53よりの第4図Bに示
すような出力S2oを受けて、テスト符号と、シフトレ
ジスタ61よりの選択符号とを切り替えて交互に送出す
る。まず、テスト符号が第4図日に示すS,。として制
御榛操作回路IAに送出された場合について述べる。テ
スト符号はまずシフトレジスタ6Bにセットされ、パラ
レル信号に変換される。そしてテスト符号AI,A2は
デコーダ78に、B1,B2はデコーダ7Aに加えられ
て、各々デシマル符号に変換される。これらのデコーダ
7A,7Bは、第4図Cに示すようなロジックシーケン
ス回路34の出力S,.が「0」の期間のみランプ表示
回路8及びディジタルコンパレータ20A,20Bに出
力する。ここでデコーダ7Bは、AI,A2が「0」「
0」で出力端子1だけ「1」となり、「1」「0」のと
きは出力端子2だけ「1」,「0」「1」のときは出力
端子3だけ「1」,「1」「1」のときは出力端子4だ
け「1」となる。デコーダ7Aも同様である。従って、
テスト符号に対応して、トランジスタ35のいずれか1
つが作動され、かつ36のいずれか1つが作動される。
仮りにAI,A2,B1,B2が「0」「0」「0」「
0」であるとすると、第1行、第1列のトランジスタが
オンとなり、第1の発光ダイオード37及びフオトカッ
プラ38に電流が流れる。以上のようにしてテスト符号
が次々に送られてくると、ランプ表示回路8は、順次ほ
んの短い間だけ動作することになる。一方、前記フオト
カッブラ38が作動すると、操作検出及び切替回路3A
内の抵抗器32,33を介して対応する行、列のトラン
ジスタ30,31が作動され、これらの出力がディジタ
ルコンパレータ20A,20Bに印加される。操作検出
及び切替回路3A及びランプ表示回路8の動作が正常で
あれば、ディジタルコンパレータ20A,20Bの比較
値は一致するから、これらは、一致出力をアンド回路3
9に出す。この結果、アンド回路39の出力は「1」と
なり、第4図Eに示すS,2が「1」のときにアンド回
路40を介してメモリー回路41を「1」にセットする
。しかして、前記シフトレジスタ6Bに一時記憶されて
いたテスト符号が第4図FのOS,3としてアンド回路
42を介してマスターコントロ−ラ12に返送される。
このようにして制御榛操作回路IAのテストが実行され
る。バルブ制御回路10、制御榛駆動機構11等末端回
路のテストは、マスターコントローラ12内のシフトレ
ジスタ54からテスト符号を命令語S幻として送出し、
末端回路よりの応答語S22と、その命令語S2,とを
チェック回路57で照合することにより行う。次に、運
転員が押ボタン2のいずれかを押して操作指令を出した
場合の動作を説明する。
仮りに第1行、2列目の押ボタンが押された場合、第4
図Dに示す信号S,4によりトランジスタ46がオンと
なると同時に、1行目のトランジスタ30と2列目のト
ランジスタ31が作動される。そしてこれらトランジス
タ30,31の出力は各々ディジタルコンパレータ20
A,20Bに加えられる。従って、押された押ボタン2
の位置に対応したテスト符号「1」「0」「0」「0」
のみが到来したとき、アンド回路39が「1」となる。
この出力はアンド回路401こ加えられるとともにアン
ド回路43に加えられる。従って、アンド回路43は、
前記S,4が「1」のとき、選択ビット(以下SRビッ
トという。)をストアするよう割当てられたシフトレジ
スタ6Aを「1」にセットし、しかる後、アンド回路4
2を介して他のテスト符号情報とともにマスターコント
ローラ12に送出する。このようなSRビットを含んだ
テスト符号はマスターコントローラ12内のシフトレジ
スタ54にストアされ、パラレル信号に変換される。そ
してパラレル信号のうちSRビットはアンド回路58に
加えられているので、アンド回路58はSRビットが「
1」のときのみメモリー回路65にテスト符号AI,A
2,B2,B2をセットする。ここでメモリー回路59
、タイマー回路60により、制御榛が一連の動作を終え
るまでの期間、メモリー回路55にテスト符号を保持し
、終了後、メモリー回路55をリセットするようにして
いる。従って、メモリー回路55は所定期間、シフトレ
ジスタ61に同じテスト符号を印加し続ける。シフトレ
ジスタ61の出力は選択符号S24として前記信号S2
。が「1」のタイミングのときに制御樺操作回路IAに
送出される。以後、この選択符号と、バィナリカウンタ
50で発生されたテスト符号とが交互に制御榛操作回路
IAに送られることになる。この選択符号は、テスト符
号とは異なり、ランプ9としての発光ダイオード37が
点灯しているのを見分けることができる。以上説明した
ように、上記実施例によれば、マスターコントローラ1
2で作り出したテスト符号をまず制御捧操作回路IAに
送り出し、運転員がそのテスト符号に対応する押ボタン
2を実際に押したかのような回路動作を作り出し、これ
によって作り出されたものをテスト符号とし、マスター
コントローラ12を介してバルブ制御回路10‘こ送り
出し、これの応答語と比較するという方式を用いる。こ
こで実際に制御棒を駆動するための選択符号は、従来の
ように制御棒線作回路で作り出しここに一時記憶させる
のではなく、マスターコントローラー2から順次送られ
てくるテスト符号を利用し、これに実際に押ボタンスイ
ッチ2が押されたかどうかの情報を加え、マスターコン
トローラ12でこの情報の有無を判別し該マスターコン
トローラ12に一時記憶させ、次に選択符号としてテス
ト符号と交互に制御榛操作回路IAに送り出し、この選
択符号に対応した表示ランプ9を点灯し、運転員に操作
の確認をさせる一方、テスト符号と同様の径路を通りマ
スターコントローフ12を介してバルブ制御回路1川こ
送られる。そして実際ドライバ回路を駆動させ制御榛を
動かすが、このときも従釆と同じように常に動作チェッ
クのために応答語をマスターコントローラ12で受け、
先に一時記憶させた選択符号と比較するようにしている
。このようにすることにより、バルブ制御回路10及び
その周辺の回路のみならず、制御榛操作回路IAのテス
トも周期的に実行してその作動状態を常時監視できる。
しかも各回路間の情報の送受の形態は、各回路間をマス
ターコントローラー2を介して選択符号やテスト符号が
ぐるぐる回る形となって規則的となり、チェックや信号
作成のための回路が簡単になると共に、制御榛操作回路
IAもデシマルーバイナリ変換回路等の複雑な動作をす
る回路が省略できる。さらに選択符号はマスターコント
ローラ12内に一時記憶するだけで済むので、回路構成
が簡単で、外乱等の影響が少くなり、また操作確認のた
めのランプ表示はマスターコントローラ12から送られ
てきた情報で行うので、より正しい確認が行なえる利点
がある。なお、発光ダイオード37の明るさは、選択符
号がシフトレジスタ6Bにセットされている間の長さで
決まるが、このタイミングを長くできないときは、シフ
トレジスタ6Bとデコーダ7A,7Bとの間にメモリー
回路を挿入することにより解決できる。
図Dに示す信号S,4によりトランジスタ46がオンと
なると同時に、1行目のトランジスタ30と2列目のト
ランジスタ31が作動される。そしてこれらトランジス
タ30,31の出力は各々ディジタルコンパレータ20
A,20Bに加えられる。従って、押された押ボタン2
の位置に対応したテスト符号「1」「0」「0」「0」
のみが到来したとき、アンド回路39が「1」となる。
この出力はアンド回路401こ加えられるとともにアン
ド回路43に加えられる。従って、アンド回路43は、
前記S,4が「1」のとき、選択ビット(以下SRビッ
トという。)をストアするよう割当てられたシフトレジ
スタ6Aを「1」にセットし、しかる後、アンド回路4
2を介して他のテスト符号情報とともにマスターコント
ローラ12に送出する。このようなSRビットを含んだ
テスト符号はマスターコントローラ12内のシフトレジ
スタ54にストアされ、パラレル信号に変換される。そ
してパラレル信号のうちSRビットはアンド回路58に
加えられているので、アンド回路58はSRビットが「
1」のときのみメモリー回路65にテスト符号AI,A
2,B2,B2をセットする。ここでメモリー回路59
、タイマー回路60により、制御榛が一連の動作を終え
るまでの期間、メモリー回路55にテスト符号を保持し
、終了後、メモリー回路55をリセットするようにして
いる。従って、メモリー回路55は所定期間、シフトレ
ジスタ61に同じテスト符号を印加し続ける。シフトレ
ジスタ61の出力は選択符号S24として前記信号S2
。が「1」のタイミングのときに制御樺操作回路IAに
送出される。以後、この選択符号と、バィナリカウンタ
50で発生されたテスト符号とが交互に制御榛操作回路
IAに送られることになる。この選択符号は、テスト符
号とは異なり、ランプ9としての発光ダイオード37が
点灯しているのを見分けることができる。以上説明した
ように、上記実施例によれば、マスターコントローラ1
2で作り出したテスト符号をまず制御捧操作回路IAに
送り出し、運転員がそのテスト符号に対応する押ボタン
2を実際に押したかのような回路動作を作り出し、これ
によって作り出されたものをテスト符号とし、マスター
コントローラ12を介してバルブ制御回路10‘こ送り
出し、これの応答語と比較するという方式を用いる。こ
こで実際に制御棒を駆動するための選択符号は、従来の
ように制御棒線作回路で作り出しここに一時記憶させる
のではなく、マスターコントローラー2から順次送られ
てくるテスト符号を利用し、これに実際に押ボタンスイ
ッチ2が押されたかどうかの情報を加え、マスターコン
トローラ12でこの情報の有無を判別し該マスターコン
トローラ12に一時記憶させ、次に選択符号としてテス
ト符号と交互に制御榛操作回路IAに送り出し、この選
択符号に対応した表示ランプ9を点灯し、運転員に操作
の確認をさせる一方、テスト符号と同様の径路を通りマ
スターコントローフ12を介してバルブ制御回路1川こ
送られる。そして実際ドライバ回路を駆動させ制御榛を
動かすが、このときも従釆と同じように常に動作チェッ
クのために応答語をマスターコントローラ12で受け、
先に一時記憶させた選択符号と比較するようにしている
。このようにすることにより、バルブ制御回路10及び
その周辺の回路のみならず、制御榛操作回路IAのテス
トも周期的に実行してその作動状態を常時監視できる。
しかも各回路間の情報の送受の形態は、各回路間をマス
ターコントローラー2を介して選択符号やテスト符号が
ぐるぐる回る形となって規則的となり、チェックや信号
作成のための回路が簡単になると共に、制御榛操作回路
IAもデシマルーバイナリ変換回路等の複雑な動作をす
る回路が省略できる。さらに選択符号はマスターコント
ローラ12内に一時記憶するだけで済むので、回路構成
が簡単で、外乱等の影響が少くなり、また操作確認のた
めのランプ表示はマスターコントローラ12から送られ
てきた情報で行うので、より正しい確認が行なえる利点
がある。なお、発光ダイオード37の明るさは、選択符
号がシフトレジスタ6Bにセットされている間の長さで
決まるが、このタイミングを長くできないときは、シフ
トレジスタ6Bとデコーダ7A,7Bとの間にメモリー
回路を挿入することにより解決できる。
また、操作検出及び切替回路3Aとランプ表示回路8と
の結合をフオトカップラ38で行ったが、他の手段によ
っても実現可能であり「押ボタンスイッチ2の入力とフ
オトカップラ38からの入力との切替についても同様で
ある。さらに、制御棒操作回路IAのチェックを表示回
路8と組合せて行なわず、直接操作検出部分の動作をチ
ェックするようにしてもよい。叙上の様に、この発明に
よれば、マスターコントローラにより制御棒線作回路か
ら与えられる操作指令符号を記憶し該操作指令を所定の
タイミングで取り出してテスト符号に重豊し、制御榛操
作回路に転送してその回路内の表示回路により駆動テス
ト状態と操作指令の対象であるスイッチの作動状態とを
表示させるようにしたので、制御棒に操作指令が与えら
れていない状態において制御榛操作回路の駆動テストが
行えるばかりか、制御綾に操作指令が与えられ該制御棒
が作動すれば、この作動状態をも制御榛操作回路により
表示できるため、簡易的欄こ制御淳操作回路及び制御棒
の作動状態をテストでき、したがって高信頼度の原子炉
制御榛駆動制御方式を得ることができる効果がある。
の結合をフオトカップラ38で行ったが、他の手段によ
っても実現可能であり「押ボタンスイッチ2の入力とフ
オトカップラ38からの入力との切替についても同様で
ある。さらに、制御棒操作回路IAのチェックを表示回
路8と組合せて行なわず、直接操作検出部分の動作をチ
ェックするようにしてもよい。叙上の様に、この発明に
よれば、マスターコントローラにより制御棒線作回路か
ら与えられる操作指令符号を記憶し該操作指令を所定の
タイミングで取り出してテスト符号に重豊し、制御榛操
作回路に転送してその回路内の表示回路により駆動テス
ト状態と操作指令の対象であるスイッチの作動状態とを
表示させるようにしたので、制御棒に操作指令が与えら
れていない状態において制御榛操作回路の駆動テストが
行えるばかりか、制御綾に操作指令が与えられ該制御棒
が作動すれば、この作動状態をも制御榛操作回路により
表示できるため、簡易的欄こ制御淳操作回路及び制御棒
の作動状態をテストでき、したがって高信頼度の原子炉
制御榛駆動制御方式を得ることができる効果がある。
第1図は従釆の原子炉制御捧駆動制御方式を示すブロッ
ク図、第2図はこの発明に係る原子炉制御榛駆動制御方
式の実施例を示すブロック図、第3図はその回路図、第
4図は実施例の動作を示すタイムチャートである。 1・・・・・・制御榛操作回路、2・…・・押ボタンス
イッチ、4・・・・・・デシマルーバィナリ変換回路、
5,6・….・パラレルーシリーズ変換回路、8・・・
・・・ランプ表示回路、9・・・・・・ランプ、10・
・・・”バルブ制御回路、11・・・・・様。 御榛操作機構、12・・・・・・マスターコントローフ
o多3図 多1図 多2図 図 寸 偽
ク図、第2図はこの発明に係る原子炉制御榛駆動制御方
式の実施例を示すブロック図、第3図はその回路図、第
4図は実施例の動作を示すタイムチャートである。 1・・・・・・制御榛操作回路、2・…・・押ボタンス
イッチ、4・・・・・・デシマルーバィナリ変換回路、
5,6・….・パラレルーシリーズ変換回路、8・・・
・・・ランプ表示回路、9・・・・・・ランプ、10・
・・・”バルブ制御回路、11・・・・・様。 御榛操作機構、12・・・・・・マスターコントローフ
o多3図 多1図 多2図 図 寸 偽
Claims (1)
- 1 複数本の制御棒のそれぞれに操作指令を与えるスイ
ツチを有しこの操作指令を符号化して操作指令符号を作
りこの符号を表示回路に与えて前記スイツチの作動状態
を表示する制御棒操作回路と、テスト符号を作成する回
路を有しこのテスト符号を前記制御棒操作回路に周期的
に送出して該制御棒操作回路を模擬的に駆動テストさせ
ると共に前記制御棒操作回路から与えられる前記操作指
令符号を取り出すマスターコントローラと、このマスタ
ーコントローラから取り出された操作指令符号に基づい
て前記各制御棒を駆動するための制御信号を出力するバ
ルブ制御回路とを備え、前記マスターコントローラによ
り前記制御棒操作回路から与えられる操作指令符号を記
憶し該操作指令を所定のタイミングで取り出して前記テ
スト符号に重畳し、前記制御棒操作回路に転送して前記
表示回路により駆動テスト状態と操作指令の対象である
スイツチの作動状態とを表示させるようにしたことを特
徴とする原子炉制御棒の駆動制御方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51063106A JPS607236B2 (ja) | 1976-05-31 | 1976-05-31 | 原子炉制御棒の駆動制御方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51063106A JPS607236B2 (ja) | 1976-05-31 | 1976-05-31 | 原子炉制御棒の駆動制御方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS52145693A JPS52145693A (en) | 1977-12-03 |
| JPS607236B2 true JPS607236B2 (ja) | 1985-02-22 |
Family
ID=13219700
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51063106A Expired JPS607236B2 (ja) | 1976-05-31 | 1976-05-31 | 原子炉制御棒の駆動制御方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS607236B2 (ja) |
-
1976
- 1976-05-31 JP JP51063106A patent/JPS607236B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS52145693A (en) | 1977-12-03 |
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