JPS6068754A - 試験器自動閉塞方式 - Google Patents

試験器自動閉塞方式

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JPS6068754A
JPS6068754A JP17644183A JP17644183A JPS6068754A JP S6068754 A JPS6068754 A JP S6068754A JP 17644183 A JP17644183 A JP 17644183A JP 17644183 A JP17644183 A JP 17644183A JP S6068754 A JPS6068754 A JP S6068754A
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JP
Japan
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test
tester
central processing
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test device
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JP17644183A
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English (en)
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JPH0256869B2 (ja
Inventor
Norio Sakai
堺 紀雄
Ryuzo Shimakage
島影 隆造
Noriaki Kishino
岸野 訓明
Yasuo Kawahara
川原 保男
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS6068754A publication Critical patent/JPS6068754A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04MTELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M3/00Automatic or semi-automatic exchanges
    • H04M3/22Arrangements for supervision, monitoring or testing

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 本発明は、音声あるいはデータ交換システムの保守試験
系における試験器に障害が見出された場合に、ぞの障害
試畿器を自動閉塞する方式に関するものである。
〔従来技術とその171T題点〕 第1図はこの種の試験器閉塞方式の従来例を示すブロッ
ク図である。同図において、11〜1nはそれぞれしく
b器、2は試験制御装置、3は交換システムの中央@理
装置、4は入出力装置−である0 嬉2図は、范1図に示した閂を方式の動作シーケンスを
示す詫明図である。
篠ルゴ、第2図から明らかなように、従来の音声あるい
はデータ交換システムで石、該システムの中央@理装屓
3が入出力装¥t4からの試験要求コマンドに基いて試
1AW1kを決定すると共に、KW?!オーダをt(駒
制御装置λ2に出力する。拭い制御装置2は、受信した
試験オーダを舒析して試験実行コマンドを武賎器1kK
送る。
他方、中央処理装ff13は、δt; lq器1kが正
常であれば該試験器1kから臥巨結工が送られてくるま
でに要する時間を見込んで成る時限を設定しておく。パ
験器11(に除害が発生していると、所定の時限をすぎ
てもV”−験#i’?果は送られてこないので、中央処
理鼓P23はタイムアウトを検v1することになる。
その結果、中央処理装置3は入出力装置4へ試験異常終
了信号を送出して保守者に障害を通知する。それにより
保守者は、試験器閉塞コマンドあるいは試験糸切離しコ
マンドを入出力装置4を介して中央処理装置3へ送る。
それにより、以後、第2図に見られる如き手順で試験器
11【の閉塞または試験系の切離しが行なわれていた。
以上説明した如き、従来の閉塞方式では、(1)保守者
が障害試験器を閉塞するためのコマンドまたは保守試験
系全体を交換システムから切離すためのコマンドを祖し
て実際に閉塞または切離しが行なわれるまでは、障害を
発生している試験器が再び選択される可能性があること
、(li)閉塞に際し保守者が誤って正常な試験器を閉
塞してしまう可能性があること、C1H)試験系全体が
切離される場合、正常な試験器を用いて行なわれるべき
試験についてもこれの実行が不可能となること、などの
欠点があった。
〔発明の目的〕 本発明は、上述の如き従来技術の欠点を除去するだめに
なされたものであり、従って本発明の目的は、保守者に
依存せず、障害発生中の試験器は可及的速やかにかつ誤
りなくこれを閉塞出来、しかも試験系全体の切離しは行
なわないようにした試験器自動閉塞方式を提供すること
にある。
〔発明の要点〕
本発明の要点は、交換システム側から試験オーダを与え
られると、該オーダに基いて対象試験器を決定して該試
験器に試験実行コマンドを送出するようにした試験制御
装置において、前記コマンドの送tJ3後、一定の時限
を設定し、該詩限内に試験結果が前記試験器から受信さ
れないときは、そのことに基いて前記試験器を自動閉塞
するようにした点にある。
〔発明の実施例〕
次に図を参照して本発明の詳細な説明する。
椿3図は本発明の一実施例を示すブロック図である。同
図において、11〜1nはそれぞれプロセッサを有する
試験器、2人は試験制御装置、3は交換システムの中央
処理装置、4は中央処理装置3の入出力装置を示す。試
験制剥裂ff12AG:!、試験器11〜1nとの間の
通信インタフェース装「L211〜21n1中央夕〜理
装置3との間のバスインタフェース装置23および試験
器11〜1nの試験制御や実行r!理等を行なうプロセ
ッサ22などから成っている。また中央処理共WE 3
はバス制御装置31、入出力制御装置33および交換制
御等を行なうプロセッサ32などから成っている。
保守者が入出力装置4から試駆要求コマンドを入力する
と、中央処理共f123はその試pコマンドに対応する
試験オーダをバスルート等を通して試験制御装置2人へ
送出する。その試験オーダを受信すると試験制御装置2
人におけるプロセッサ22は、それを解析し、その試験
を実行すべき試験器1k(14にイn)を決定すると共
に、該試験器1kが障害中または使用中でないことを自
らの有する試験器実行管理テーブルにより確認する。
試験器1kが障害中でなく、かつ使用中でなければ、試
験制御装置2人は試験器実行管理テーブルにおける試験
器1kに使用中表示を立てると共に試験器1kに試験実
行コマンドを送出する0試験器1kが障害中または使用
中であれば、試験制御装置2人は中央処理装置3へ試験
実行不可の旨のアンサを返す。中央処理装置3は入出力
装置4を通してその旨のメツセージを出力することによ
り保守者に通知する。
試験器1には試験を終了すると、試験制御装置2人へ試
験結果コマンドを送信する。これを受信すると試験制御
装置2人は実行管理テーブルにおける試験器1kを空表
示とすると共に試験結果を編集して、アンプとして中央
処理装置3へ返す。
中央処理装置3は、入出力装置4を通して受信した試験
結果を出力する。このシーケンスを拍4図に示す。
試験制御装置2人は試験器1kK試験実行コマンドを送
出すると同時に、試験器1にの試験所要時間をもとにし
たタイムアウト時間を設定する。
そしてタイムアウト時間を過ぎても試験器1kからの試
験結果コマンドを受信しない場合、または受信したE験
結果コマンド等が異常と判断された場合、バ(L)汗、
Iノ御装fti 2 Aはりトライ処理として、百度、
試Fz、器1kK試家・処実行コマンドを送出し同様の
処理を行なう。
あらかじめ設定した回数だリリトライ社を行なっても試
馳異%Tとなる場合、試験制御装置2人は自らの試験器
に実行什理テーブルにおいて試験器II(の「ηソ:′
中表示を立てると共に、中央処理装置3にその旨を通知
する。これにより、中央処理装置3は入出力3り置4を
通して保守者にr:L岩を通知する。
なお、障害中表示を持たない試、rf、′!器実行管理
テーブルの場合には、試q)中表示を立てたままにする
ことにより代替することも可能である。試験器障害時の
シーケンスを第5図に、また、試験制御装置7ji 2
 Aの試験器制御手順を第6図に示す。
試験制御装置ζN2Aはこの後、8・け5>alに以外
の使用用能な試II!器を検索、捕捉して回度試験実施
コマンドを送出することも、中央処理装置3からの次の
オーダを待つようにすることも可能である。
このように、試験制御装置i22 Aに試じH(の実行
背理機能を持たせることにより、試験器の障害発見時、
保守者を煩わせることなく速やかにそれを自動閉塞する
ことが可能となる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、試験器が障害発生
中であると判断した時点で速やかに保守者の手を煩わす
ことなく、その試験器だけを障害中または試験中という
形で自動的に閉塞できるので、従来技術の欠点を全て解
消できるという利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は試験器閉塞方式の従来例を示すブロック図、第
2図は第1図に示した閉塞方式の動作シーケンスを示す
説明図、第3図は本発明の一実施例を示すブロック図、
第4図は本発明の一実施例の試験器の正常時の動作シー
ケンスを示す説明図、第5図は同じく試験器障害時の動
作シーケンスを示す説明図、第6図は本発明の実施例に
おける試験制御装置ffの試験器制御手順を示す流れ図
、である0 符号説明 11〜1n・・・・・・試験器、2,2A・・・・・・
試験制御装置、211〜21n・・・・・・試験器イン
タフェース装L22・・・・・・プロセッサ、23・・
・・・・バスインタフェース装置、3・・・・・・中央
処理装置、31・・・・・・バス制御装置、32・・・
・・・プロセッサ、33・・・・・・入出力制御装置、
4・・・・・・入出力装置代理人 弁理士 並 木 昭
 夫 代理人 弁理士 松 崎 清 第4図 wc5図 4 .7 2 74

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1)交換システム側から試験オーダを与えられると、該
    オーダに基いて対象試験器を決定して該試験器に試験実
    行コマンドを送出するようにした試験制御装置において
    、前記コマンドの送出後、一定の時限を設定し、該時限
    内に試験結果が前記試lA器から受信されないときは、
    そのことに基いて前記試#器を自動閉塞するようにした
    ことを特徴とする試験器自動閉塞方式。
JP17644183A 1983-09-26 1983-09-26 試験器自動閉塞方式 Granted JPS6068754A (ja)

Priority Applications (1)

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JP17644183A JPS6068754A (ja) 1983-09-26 1983-09-26 試験器自動閉塞方式

Applications Claiming Priority (1)

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JP17644183A JPS6068754A (ja) 1983-09-26 1983-09-26 試験器自動閉塞方式

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Publication Number Publication Date
JPS6068754A true JPS6068754A (ja) 1985-04-19
JPH0256869B2 JPH0256869B2 (ja) 1990-12-03

Family

ID=16013756

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JP17644183A Granted JPS6068754A (ja) 1983-09-26 1983-09-26 試験器自動閉塞方式

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