JPS6059078A - ドライエツチング装置 - Google Patents
ドライエツチング装置Info
- Publication number
- JPS6059078A JPS6059078A JP16656283A JP16656283A JPS6059078A JP S6059078 A JPS6059078 A JP S6059078A JP 16656283 A JP16656283 A JP 16656283A JP 16656283 A JP16656283 A JP 16656283A JP S6059078 A JPS6059078 A JP S6059078A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- dry etching
- communicate
- etching gas
- etching apparatus
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- ing And Chemical Polishing (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、平行平板電極型のドライエツチング装置に関
する。
する。
半導体デバイスの製造工程におけるエツチング処理には
、いわゆる湿式のエツチング装置に代えて、排液処理の
問題が無く、かつ微細なパターンのエツチングも可能な
各種のドライエツチング装置が提供されている。その一
つのタイプとして、平板状の上部電極と下部電極とが互
いに平行に配設される。いわゆる平行平板電極型と呼ば
れるドライエツチング装置が用いられている。しかしな
がら、このタイプの装置には。
、いわゆる湿式のエツチング装置に代えて、排液処理の
問題が無く、かつ微細なパターンのエツチングも可能な
各種のドライエツチング装置が提供されている。その一
つのタイプとして、平板状の上部電極と下部電極とが互
いに平行に配設される。いわゆる平行平板電極型と呼ば
れるドライエツチング装置が用いられている。しかしな
がら、このタイプの装置には。
エンチングガスの注入方法あるいは排気方法によってク
エハ内でのエツチング速度のばらつきが大きくなるとい
う欠点がある。すなわち、エンチングガスを上部対向電
極から注木し、チャンバ内の下部から排気する方法であ
っても、ウェハ内でのガスの供給が不均一であるため、
エッチャントの偏りが生じ、エツチング速度のばらつき
が大きかったり2反応生成物等のデポジションが起った
りして、良好なエツチングを行うことが難しい。
エハ内でのエツチング速度のばらつきが大きくなるとい
う欠点がある。すなわち、エンチングガスを上部対向電
極から注木し、チャンバ内の下部から排気する方法であ
っても、ウェハ内でのガスの供給が不均一であるため、
エッチャントの偏りが生じ、エツチング速度のばらつき
が大きかったり2反応生成物等のデポジションが起った
りして、良好なエツチングを行うことが難しい。
本発明は、このような欠点に鑑み、ウェハ内でのエツチ
ング速度のばらつきが小さく、かつ高速でエツチングで
きるドライエンチング装置を提供することを目的とする
。
ング速度のばらつきが小さく、かつ高速でエツチングで
きるドライエンチング装置を提供することを目的とする
。
本発明は、上部電極にエツチングガス注入口と排気口と
を複数個設けて、上部電極を通してエツチングガス注入
と排気とを同時(−し力・もウェハに対して均一に行う
ことができるようにしたものである。
を複数個設けて、上部電極を通してエツチングガス注入
と排気とを同時(−し力・もウェハに対して均一に行う
ことができるようにしたものである。
以下に9本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図は1本発明による平行平板電極型ドライエツチン
グ装置の一実施例を縦断面図で示す。
グ装置の一実施例を縦断面図で示す。
真空チャンバ1内の下部側にウエノ・4を載置する平板
状の下部電極6が設けられてlzXる。下部電極乙に対
向させてその上方には上部電極2が設けられている。7
は下部電極ろ(=接続した高周波電源である。
状の下部電極6が設けられてlzXる。下部電極乙に対
向させてその上方には上部電極2が設けられている。7
は下部電極ろ(=接続した高周波電源である。
上部電極2は、ダクト状にして内部を仕切板21により
2分し、一方をエツチングガス注入系8に、他方を排気
系9にそれぞれ連通させている。また、下部電極6と対
向している上部電極2の下面全面に、細長いエンチング
ガス注入口5と排気口6とを交互に設けている。そして
。
2分し、一方をエツチングガス注入系8に、他方を排気
系9にそれぞれ連通させている。また、下部電極6と対
向している上部電極2の下面全面に、細長いエンチング
ガス注入口5と排気口6とを交互に設けている。そして
。
排気口6はすべて排気系9に連通させており。
注入口5は上部電極2の内壁に設けたダクト22により
排気系9の空間から仕切り、しかもすべて注入系8に連
通ずるよう構成している。
排気系9の空間から仕切り、しかもすべて注入系8に連
通ずるよう構成している。
以上のような構成により、エツチングガス注入と排気と
を同時かつ均一に行い、ウェハ4上でのガスの流れを最
小限におさえることができるので、ウェハ4には常に新
しいエッチャントが供給され、きわめて均一性の良い高
速のエツチングを行うことができる。本実施例では、ウ
ェハ4のエツチング速度は15%以下となり。
を同時かつ均一に行い、ウェハ4上でのガスの流れを最
小限におさえることができるので、ウェハ4には常に新
しいエッチャントが供給され、きわめて均一性の良い高
速のエツチングを行うことができる。本実施例では、ウ
ェハ4のエツチング速度は15%以下となり。
エツチング速度も大きくなる。
なお、実施例では、カソードカップリング方式のりアク
ティブイオンエツチング装置について説明したが、アノ
ードカップリング方式のプラズマエツチング装置にも適
用できることは言うまでもない。また、電極間隔を5〜
20w程度に小さくすることで、1 pm/min (
例えば、A1゜Po1y−8i)以上のエツチング速度
を得ることも可能である。更に、上部電極2の形状につ
いても実施例の形状に限定されるものではない。
ティブイオンエツチング装置について説明したが、アノ
ードカップリング方式のプラズマエツチング装置にも適
用できることは言うまでもない。また、電極間隔を5〜
20w程度に小さくすることで、1 pm/min (
例えば、A1゜Po1y−8i)以上のエツチング速度
を得ることも可能である。更に、上部電極2の形状につ
いても実施例の形状に限定されるものではない。
第1図は本発明による平行平板電極型ドライエツチング
装置の縦断面図。 図中、1は真空チャンバ、2は上部電極、5は下部電極
、4はウェハ、5はエツチングガス注入口、6は排気1
]、7は高周波電源、8はエツチングガス注入系、9は
排気系。 第1図
装置の縦断面図。 図中、1は真空チャンバ、2は上部電極、5は下部電極
、4はウェハ、5はエツチングガス注入口、6は排気1
]、7は高周波電源、8はエツチングガス注入系、9は
排気系。 第1図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、被エツチング基板を載置する平板状の下部電極と、
該下部電極に平行に対向する平板状の上部電極とを内蔵
する平行平板電極型のドライエツチング装置において、
前記上部電極:ニエッチングガス注入口と、排気口とを
複数個設け。 各注入口はエツチングガス注入系路へ、各排気口は排気
系路へそれぞれ連通するよう構成したことを特徴とする
ドライエツチング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16656283A JPS6059078A (ja) | 1983-09-12 | 1983-09-12 | ドライエツチング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16656283A JPS6059078A (ja) | 1983-09-12 | 1983-09-12 | ドライエツチング装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6059078A true JPS6059078A (ja) | 1985-04-05 |
JPS6366394B2 JPS6366394B2 (ja) | 1988-12-20 |
Family
ID=15833560
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16656283A Granted JPS6059078A (ja) | 1983-09-12 | 1983-09-12 | ドライエツチング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6059078A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63157422A (ja) * | 1986-12-22 | 1988-06-30 | Tokyo Electron Ltd | アッシング処理装置 |
JPH01108930U (ja) * | 1988-01-14 | 1989-07-24 | ||
JPH02184022A (ja) * | 1989-01-11 | 1990-07-18 | Koujiyundo Kagaku Kenkyusho:Kk | Cvd電極 |
JPH0319318A (ja) * | 1989-06-16 | 1991-01-28 | Tokyo Erekutoron Kyushu Kk | 被処理体処理装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57131372A (en) * | 1981-02-05 | 1982-08-14 | Seiko Epson Corp | Plasma etching device |
-
1983
- 1983-09-12 JP JP16656283A patent/JPS6059078A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57131372A (en) * | 1981-02-05 | 1982-08-14 | Seiko Epson Corp | Plasma etching device |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63157422A (ja) * | 1986-12-22 | 1988-06-30 | Tokyo Electron Ltd | アッシング処理装置 |
JPH01108930U (ja) * | 1988-01-14 | 1989-07-24 | ||
JPH02184022A (ja) * | 1989-01-11 | 1990-07-18 | Koujiyundo Kagaku Kenkyusho:Kk | Cvd電極 |
JPH0319318A (ja) * | 1989-06-16 | 1991-01-28 | Tokyo Erekutoron Kyushu Kk | 被処理体処理装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6366394B2 (ja) | 1988-12-20 |
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