JPS6057912A - 積層コンデンサ内部電極用導電性組成物 - Google Patents
積層コンデンサ内部電極用導電性組成物Info
- Publication number
- JPS6057912A JPS6057912A JP16637583A JP16637583A JPS6057912A JP S6057912 A JPS6057912 A JP S6057912A JP 16637583 A JP16637583 A JP 16637583A JP 16637583 A JP16637583 A JP 16637583A JP S6057912 A JPS6057912 A JP S6057912A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- palladium
- silver
- powder
- surface area
- specific surface
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Ceramic Capacitors (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Conductive Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、セラミック積層コンデンサの内部電極を形成
するための銀−パラジウム組成物に関する。
するための銀−パラジウム組成物に関する。
積層コンデン4」はブタン酸バリウl\、酸化ブタン等
未焼成のセラミック誘電体層と内部型141層とを交互
に数層〜数十層積層し、高温で焼結ざ1!ることにJ:
つて一体化された構造のコンデンサ索体とし、これに外
部端子を取付【プて製造される1、内部電極材料には従
来より、誘電体の焼結温度に耐える白金、パラジウム、
銀−パラジウムなどの高融点貴金属粉末を導電成分とし
て用い、これに有 1− 機ビヒクル及び必要に応じて無機酸化物添加剤等を配合
し、塗料化した組成物が使用されている。
未焼成のセラミック誘電体層と内部型141層とを交互
に数層〜数十層積層し、高温で焼結ざ1!ることにJ:
つて一体化された構造のコンデンサ索体とし、これに外
部端子を取付【プて製造される1、内部電極材料には従
来より、誘電体の焼結温度に耐える白金、パラジウム、
銀−パラジウムなどの高融点貴金属粉末を導電成分とし
て用い、これに有 1− 機ビヒクル及び必要に応じて無機酸化物添加剤等を配合
し、塗料化した組成物が使用されている。
近年、特にチップ形の積層コンデンサはハイブリッドI
Cや基板直付は用のリードレスチップ部品どして需要が
急増しており、それに伴って低価格化・小形化・高性能
化の要求がなされているが、焼成コスト及び貴金属コス
ト低減のため、比較的低温で焼結するセラミック誘電体
及び内部電極月利としては低融点の銀を多聞に含有する
銀−パラジウム組成物がめられるようになってぎた。
Cや基板直付は用のリードレスチップ部品どして需要が
急増しており、それに伴って低価格化・小形化・高性能
化の要求がなされているが、焼成コスト及び貴金属コス
ト低減のため、比較的低温で焼結するセラミック誘電体
及び内部電極月利としては低融点の銀を多聞に含有する
銀−パラジウム組成物がめられるようになってぎた。
どころが、銀−パラジウム組成物中の銀の比率が高くな
ると、焼成時にコンデンサ素体にクラック等の構造欠陥
が発生し易い。クラックは注意深い工程管理を行っても
防止し難く、このため銀iiの多い銀−パラジウム内部
電極を用いた積層コンデンサは歩留りの非常に悪いもの
であった。
ると、焼成時にコンデンサ素体にクラック等の構造欠陥
が発生し易い。クラックは注意深い工程管理を行っても
防止し難く、このため銀iiの多い銀−パラジウム内部
電極を用いた積層コンデンサは歩留りの非常に悪いもの
であった。
本発明者等は、銀とパラジウムの配合割合及び導電粉末
の粒度どコンデンサ索体の構造欠陥発生との関係に着目
した。即ち従来の銀の比率の低いパラジウム系内部電極
組成物において使用される2− パラジウム粉末は、例えば特公昭53−23495号公
報、特開昭48−16893月公報、米国特許第387
2360号明細書に示されているように、比表面積約1
0+n2/CI以■ζ、特に0.5〜4TII2/g程
度の比較的粒1αの粗いt)のC′あった。
の粒度どコンデンサ索体の構造欠陥発生との関係に着目
した。即ち従来の銀の比率の低いパラジウム系内部電極
組成物において使用される2− パラジウム粉末は、例えば特公昭53−23495号公
報、特開昭48−16893月公報、米国特許第387
2360号明細書に示されているように、比表面積約1
0+n2/CI以■ζ、特に0.5〜4TII2/g程
度の比較的粒1αの粗いt)のC′あった。
これは、この範囲を越えてJt表面積の大ぎい、111
1ち粒度の細かいものを用いるど層間列1111 (デ
ラミネーション)が発生し易くなるためである。しかし
銀含有量の多い(例えば銀30%以上)の内部電極にこ
の粒度のパラジウム粉末を用いると、前述のごとくクラ
ックが発どト覆る。本発明者等は、おそらく銀が高比率
になるど、焼成中の銀とパラジウムの拡散速度のjri
いl)目ら銀−パラジウム層の焼結が悪くなって体積紛
服が起り、このどきセラミックにひび割れが発生するも
のと考えた。この推測に基づき、種々の粒度の銀、パラ
ジウムC実験を重ねた結果、比表面積の極めて人さ゛/
丁パラジウム粉末が銀−パラジウムの比の特定範囲で(
i効であることを見出1)だ。
1ち粒度の細かいものを用いるど層間列1111 (デ
ラミネーション)が発生し易くなるためである。しかし
銀含有量の多い(例えば銀30%以上)の内部電極にこ
の粒度のパラジウム粉末を用いると、前述のごとくクラ
ックが発どト覆る。本発明者等は、おそらく銀が高比率
になるど、焼成中の銀とパラジウムの拡散速度のjri
いl)目ら銀−パラジウム層の焼結が悪くなって体積紛
服が起り、このどきセラミックにひび割れが発生するも
のと考えた。この推測に基づき、種々の粒度の銀、パラ
ジウムC実験を重ねた結果、比表面積の極めて人さ゛/
丁パラジウム粉末が銀−パラジウムの比の特定範囲で(
i効であることを見出1)だ。
即lう本発明は、導電成分が銀粉末60 ”□ 90Φ
吊%及びパラジウム粉末40〜10重量%からなり、該
パラジウム粉末の比表面積が15〜25Tl+’/gで
ある積層コンデンサ内部電極用導電性組成物に関するも
のである。
吊%及びパラジウム粉末40〜10重量%からなり、該
パラジウム粉末の比表面積が15〜25Tl+’/gで
ある積層コンデンサ内部電極用導電性組成物に関するも
のである。
銀とパラジウムの比率が60:40〜90:10でパラ
ジウムの比表面積が上記の範囲であれば、コンデンサの
焼成時、銀−パラジウムの合金化が速やかに進行し、焼
結性が向上する。結果として緻密ぐ連続性の良好な内部
電極被膜が形成されるとともに、焼結時の電極膜厚の膨
張が抑えられ、クラックの発生が防止されると考えられ
る。しかもパラジウムの多い電極に見られたような、デ
ラミネーションを起こ1傾向が全くないという特徴もあ
る。
ジウムの比表面積が上記の範囲であれば、コンデンサの
焼成時、銀−パラジウムの合金化が速やかに進行し、焼
結性が向上する。結果として緻密ぐ連続性の良好な内部
電極被膜が形成されるとともに、焼結時の電極膜厚の膨
張が抑えられ、クラックの発生が防止されると考えられ
る。しかもパラジウムの多い電極に見られたような、デ
ラミネーションを起こ1傾向が全くないという特徴もあ
る。
従って本発明の内部電極組成物を用いることにより厳密
な製造工程管理の必要なく、構造欠陥のない良好な内部
電極膜が形成される。このことは、積層コンデンサ製造
工程の簡略化、不良率の低下、信頼fllの向」−につ
ながり、ひいては製造コストの低下が可能どなる。
な製造工程管理の必要なく、構造欠陥のない良好な内部
電極膜が形成される。このことは、積層コンデンサ製造
工程の簡略化、不良率の低下、信頼fllの向」−につ
ながり、ひいては製造コストの低下が可能どなる。
3−
パラジウム粉末の比表面積が157112/!]未満だ
とクラックが発生し易い。又25T112/(+を越え
るとデラミネーションが発生したり、粉末の嵩が大きす
ぎるため塗料化が困がとなるので使用することができな
い。
とクラックが発生し易い。又25T112/(+を越え
るとデラミネーションが発生したり、粉末の嵩が大きす
ぎるため塗料化が困がとなるので使用することができな
い。
パラジウム粉末と混合する銀粉末は、通常Jrlいられ
ている粒度のもの、例えば比表面積0.5〜10Tr1
2/gのものでよい。銀粉末の粒度は、本発明の銀−パ
ラジウムの比率では構造欠陥発生にほとんど影響が認め
られない。
ている粒度のもの、例えば比表面積0.5〜10Tr1
2/gのものでよい。銀粉末の粒度は、本発明の銀−パ
ラジウムの比率では構造欠陥発生にほとんど影響が認め
られない。
銀−パラジウムの比率はセラミックの焼結温庶によって
適宜決定される。
適宜決定される。
導電粉末を塗料化するためのビヒクルとしては、通常積
層コンデンサの内部電極に用いられているものであれば
差し支えない。例えばエチルセルロース、ニド[1セル
ロース、ポリテルペン樹脂等の樹脂類、テルピネオール
、ブチルセロソルブ、ブチルカルピトール等の溶剤、ジ
ブ1ルノタ1ノー1〜、ジエチルフタレート、ワックス
イrどが適宜層IJ−され−(使用される。
層コンデンサの内部電極に用いられているものであれば
差し支えない。例えばエチルセルロース、ニド[1セル
ロース、ポリテルペン樹脂等の樹脂類、テルピネオール
、ブチルセロソルブ、ブチルカルピトール等の溶剤、ジ
ブ1ルノタ1ノー1〜、ジエチルフタレート、ワックス
イrどが適宜層IJ−され−(使用される。
4−
更に本発明組成物には、積層コンデンサの特性改善のた
め従来よりしばしば用いられている無機酸化物添加剤例
えば酸化チタン、酸化ジルコニウム、酸化マグネシウム
、酸化ジルコニウム、アルミナ、シリカなどの金属酸化
物粉末や、誘電体層と同一の誘電体粉末、アミン処理ベ
ントナイト等を添加してもよい。
め従来よりしばしば用いられている無機酸化物添加剤例
えば酸化チタン、酸化ジルコニウム、酸化マグネシウム
、酸化ジルコニウム、アルミナ、シリカなどの金属酸化
物粉末や、誘電体層と同一の誘電体粉末、アミン処理ベ
ントナイト等を添加してもよい。
次に、本発明を実施例によって具体的に説明する。
実施例で使用した粉末の比表面積は、吸着ガスにN2を
用いたB、E、T、法によって測定したものである。又
実施例中、U部」はすべて重量部である。
用いたB、E、T、法によって測定したものである。又
実施例中、U部」はすべて重量部である。
実施例1゜
比表面積15yn”10のパラジウム粉末 30部比表
面積2 Tn’ / illの銀粉末 70部エチルセ
ルロース 6部 石油系溶剤 30部 ′fルピネオール 34部 以上の混合物を3本ロールミルにて混練し、塗利とした
。これを酸化チタン系誘電体l?ラミックのグリーンシ
ー]〜上にスクリーン印刷し、30 h’W f+’を
層、加圧成形したものを電気炉にて200℃/時間の速
度で昇温し、1100℃に2時間保持した後、200℃
/時間の速度で降渇し、積層コンデンサを製造した。
面積2 Tn’ / illの銀粉末 70部エチルセ
ルロース 6部 石油系溶剤 30部 ′fルピネオール 34部 以上の混合物を3本ロールミルにて混練し、塗利とした
。これを酸化チタン系誘電体l?ラミックのグリーンシ
ー]〜上にスクリーン印刷し、30 h’W f+’を
層、加圧成形したものを電気炉にて200℃/時間の速
度で昇温し、1100℃に2時間保持した後、200℃
/時間の速度で降渇し、積層コンデンサを製造した。
得られた積層コンデンサについてクラックの発生、デラ
ミネーション、及び内部電極膜の膜厚と連続性を調べた
。結果を表に承?i。
ミネーション、及び内部電極膜の膜厚と連続性を調べた
。結果を表に承?i。
実施例2゜
実施例1において、比表面積11”In+’/!]のパ
ラジウム粉末を用いる以外は同様にlノで積層コンデン
サを製造した。
ラジウム粉末を用いる以外は同様にlノで積層コンデン
サを製造した。
実施例3゜
実施例1においC1比表面積20 w’ / (Jのパ
ラジウム粉末を用いる以外は同様にして積層二1ンデン
サを製造した。
ラジウム粉末を用いる以外は同様にして積層二1ンデン
サを製造した。
実施例4゜
実施例1においC1比表面積23T112/(lのパラ
ジウム粉末を用いる以外は同様にして積層コンチン(す
を製造した。
ジウム粉末を用いる以外は同様にして積層コンチン(す
を製造した。
実施例5゜
実施例2にdiいて、銀どパラジウムの重量圧を80
: 20として同様に積層コンデンサを製造した。
: 20として同様に積層コンデンサを製造した。
比較例1、
実施例1において、比表面積5TI12/gのパラジウ
ム粉末を用いる以外は同様にして積層コンチン4]を製
造した。
ム粉末を用いる以外は同様にして積層コンチン4]を製
造した。
比較例2゜
実施例1において、比表面積10711?/(+のパラ
ジウム粉末を用いる以外は同様にして積層コンデンサー
を製造した。
ジウム粉末を用いる以外は同様にして積層コンデンサー
を製造した。
比較例3゜
実施例1において、化表面積30Tll?/(+のパラ
ジウム粉末を用いる以外は同様にして積層コンチンtす
を製造した。
ジウム粉末を用いる以外は同様にして積層コンチンtす
を製造した。
比較例1、
実施例2においで、銀とパラジウムの重量化を50 :
50として同様に積層コンデンサを製造し7− た。
50として同様に積層コンデンサを製造し7− た。
実施例2〜5、比較例1〜4について−b実施例1ど同
様クラック、デラミネーション、電極膜厚及び連続性を
調べ、結果を表に示した。
様クラック、デラミネーション、電極膜厚及び連続性を
調べ、結果を表に示した。
クラックの有無は、コンデンサ表面を低イ8率の光学顕
微鏡で観察し、コンデンサ50個中クラックの発生した
個数で示した。
微鏡で観察し、コンデンサ50個中クラックの発生した
個数で示した。
デラミネーションの有無、内部電極膜の連続性及び膜厚
は、積層コンデンサを電極面に垂直な面で切断した後切
断面を研磨し、光学顕微鏡にJ:り観察、測定した。デ
ラミネーションも試1150個中の発生数で表わした。
は、積層コンデンサを電極面に垂直な面で切断した後切
断面を研磨し、光学顕微鏡にJ:り観察、測定した。デ
ラミネーションも試1150個中の発生数で表わした。
電極膜の連続性は、連続ならば○、不連続点の見られた
ものは×として評価した。
ものは×として評価した。
一〇−
特許出願人 昭栄化学工業株式会社
Claims (1)
- 1 導電成分が銀粉末60〜90iTtff1%及びパ
ラジウム粉末40〜10重量%からなり、該パラジウム
粉末の比表面積が15〜25′Tl12/gである積層
コンデンサ内部電極用導電性組成物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16637583A JPS6057912A (ja) | 1983-09-09 | 1983-09-09 | 積層コンデンサ内部電極用導電性組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16637583A JPS6057912A (ja) | 1983-09-09 | 1983-09-09 | 積層コンデンサ内部電極用導電性組成物 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6057912A true JPS6057912A (ja) | 1985-04-03 |
JPH025283B2 JPH025283B2 (ja) | 1990-02-01 |
Family
ID=15830241
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16637583A Granted JPS6057912A (ja) | 1983-09-09 | 1983-09-09 | 積層コンデンサ内部電極用導電性組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6057912A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05250913A (ja) * | 1991-02-28 | 1993-09-28 | Taiyo Yuden Co Ltd | 導電性ペ−スト及びこれを使用した積層磁器コンデンサの製造方法 |
JPH05250912A (ja) * | 1991-02-28 | 1993-09-28 | Taiyo Yuden Co Ltd | 導電性ペ−スト及びこれを使用した積層磁器コンデンサの製造方法 |
-
1983
- 1983-09-09 JP JP16637583A patent/JPS6057912A/ja active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05250913A (ja) * | 1991-02-28 | 1993-09-28 | Taiyo Yuden Co Ltd | 導電性ペ−スト及びこれを使用した積層磁器コンデンサの製造方法 |
JPH05250912A (ja) * | 1991-02-28 | 1993-09-28 | Taiyo Yuden Co Ltd | 導電性ペ−スト及びこれを使用した積層磁器コンデンサの製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH025283B2 (ja) | 1990-02-01 |
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