JPS6057270A - 回路試験器 - Google Patents

回路試験器

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JPS6057270A
JPS6057270A JP58166025A JP16602583A JPS6057270A JP S6057270 A JPS6057270 A JP S6057270A JP 58166025 A JP58166025 A JP 58166025A JP 16602583 A JP16602583 A JP 16602583A JP S6057270 A JPS6057270 A JP S6057270A
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JP
Japan
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circuit
electric
electrode
conductor
tested
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JP58166025A
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Nobuaki Abu
阿武 伸昭
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、試験される電気回路または電気部品の導体
に、電極を接近させるだけで電気回路または電気部品の
試験を可能とする回路試験器に関するものである。この
回路試験器では。
電気信号は、導体と電極の間を変位電流となって移動し
、電極側に接続された高入力インピーダンス増幅器によ
って検出される。従って、この発明における回路試験器
で検出される電気信号は、試験される電気回路または電
気部品」−において、電極が接近した場所における電位
の変化によって生ずる電気信号である。
ところで、従来より、高人力インピーダンス増幅器を内
蔵した電圧計等の測定機器は存在する。しかし、従来の
機器をそのまま用いた場合。
■−記の変位電流を検出することはむずかしい。
なぜならば、従来の測定機器で電位の変化を検出する場
合、電気回路の2ケ所で導体と直接接触できることが前
提であり、測定機器もそのように設計されているからで
ある。
さて、絶縁電線が断線して、外見上、断線した場所が不
明な場合を考える。このような場合。
従来の機器では、電線の被覆材である絶縁材料を部分的
に破壊しなければ、電圧計測、導通試験ができず、従っ
て、断線の位置を発見できなかった。従って、従来の機
器を用いれば作業性が悪く、被覆材の品質を損うことに
なる。ところが、この発明の場合、導体に直接接触する
必要のない電極を用いて電位の変化を検出するから、絶
縁電線の一端に接地点を持つことができれば、絶縁電線
の被覆材を破損することなく断線した位置を発見できる
。従って、この発明を用いれば1作業性が良<、°被覆
材の品質を損うことが少ない。なお、この発明による回
路試験器は、キャブタイヤケーブルのように、1本のケ
ーブル内に、数本の絶縁電線が入っていて。
その内の1本が断線している場合に、その断線場所を発
見する場合にも利用できる。ただし。
その場合、調べようとする導線が他の導線や導体によっ
てシールドされていてはならない。
以上は、絶縁電線の断線場所を調べる場合の説明であっ
た。しかし、この発明は、電位の変化を検出するという
特徴のゆえに1回路動作等の点検にも利用できる。
ところで、特許請求の範囲第1項における電極から電気
信号を検出するため、従来の機器を用いれば2次のよう
な問題を生ずる。
(イ)信号対雑音の比(S/N)が悪い。
(ロ)一般に、プローブから機器の入力端子まで数メー
トルの同軸ケーブルが用いられ。
増幅器の入力端子には9周波数特性を補償するためにコ
ンデンサと抵抗による回路が取付けられるため、プロー
ブの先端から機器側を見た場合のインピーダンスは、こ
の発明の特許請求の範囲第2項で述べる方法で得られる
人力インピーダンスはど高くできない。
従って、従来の機器は、そのままでは使えない。
さて、試験される電気回路または電気部品の導体から、
接近して来た電極に流入する電流は。
極めて小さい。というのは、特許請求の範囲第1項で述
べた静電容量は極めて小さく、この静電容量によるイン
ピーダンスが非常に大きな値となるからである。それゆ
え、電極から得られた電気信号は、増幅器によって、増
幅されなければならない。ところで、このとき、できる
だけ高い入力インピーダンスを持つ増幅器を用いれば、
検出すべき電気信号の電圧が電極の位置(すなわち、増
幅器の入力側)で高くなる。その結果、雑音対信号の比
(S/N )が改善される。さらに、特許請求の範囲第
2項で言うように、電極に高入力インピーダンス増幅器
を接近して取付ければ、雑音信号が流入することも少な
く、同時に、(ロ)に記述するような従来の機器で見ら
れる欠点も少なくすることができる。
次に、この発明における回路試験器で対象となる周波数
帯域にういて考える。
さて、試巖される電気回路または電気部品の導体と、こ
れに接近した電極とによって定まる静電容量をC2電極
が接近した位置におけるこの導体の電位(接地点に対す
る電圧)をe、静電容量Cを通って流れる交流信号の角
周波数をω、高入力インピーダンス増幅器の入力インピ
ーダンスを2とすれば、高入力インピーダンス増幅器へ
入力される信号の電圧Vは次式で与えられる。
V=−−□−(1) 従って、(1)式より明らかなように、V=eを満足す
るために、または、Vの値をeの値に近づけるためには
、1ω(zlを太き(しなければならない。また1ωc
zlが充分に太きければ、Cが多少変化しても、Vの値
は太き(変化しない。
とこ、ろで、Cの値は極めて小さいから、ωもある程度
大きい値にしなければならない。しがし、ωが高過ぎれ
ば、高周波回路におけるさまざまな問題を生ずる。従っ
て、ωは1回路試験が可能な限り低い値にすべきである
。ただし。
試験される電気回路または電気部品が高い周波数で動作
するように設計されている場合は、ωの値を大きく考え
て回路試験器を設計することができる。
ところで、高入力インピーダンス増幅器の出力インピー
ダンスは小さくできるし、その出力信号の電力は太き(
できするがら、この増幅器の出力端子に電気信号を伝送
するためのコードを接続しても、誘導による雑音信号が
混入する恐れは少ない。従って、特許請求の第2項で記
述する高入力インピーダンス増幅器の出方端子には、高
感度の電圧計、ブラウン管オシロスコープ、ペンレコー
ダ、電圧比較回路を持つ機器。
A/D変換器を持つ機器等を接続することが可能である
。それゆえ、目的に適合した機器を高入力インピーダン
ス増幅器に接続して2回路試験器を構成することができ
る。また、S/Nが良い場合に、4ま、特許請求の範囲
第2項が厳密に守られなくとも、特許請求の範囲第1項
を満足する回路試験器を作ることは可能である。
次に、特許請求の範囲第3項で1回路試験器が、試験さ
れる電気回路または電気部品に交流電圧を印加するため
の電源を持つことを述べている。しかし、試験される電
気回路が交流電源を持つ場合、他に交流電源があって、
これを利用できる場合等においては1回路試験器は交流
電源を内蔵している必要性はない。ところが。
一般的には7交流電源を持たない電気回路を試験するこ
とも多いから、試験に必要な交流電源を回路試験器に内
蔵させる。この場合の交流電源は正弦波電圧を発生ずる
ものがよい。しかし。
回路試験器をより簡単で小型にする目的で、ブロッキン
グオシレータのように方形波に類する電圧波形を発生す
る発振器を利用することができる。
次に1図面を用いて、この発明の実施例について説明す
る。
第1図は、この実施例における回路試験器の配線図と試
験のための結線図を合せて書いたものである。この実施
例において2回路試験器は二つの主要部分に分割され、
相互にシールド線で結合される。まず、第1は、電極P
Lと、これに接近して取付けられた高入力インピーダン
ス増幅器AMPとによって構成されたプローブ(a)で
ある。このプローブ(a)には、AMPの接地のための
アース端子G1と、AMPのための直流電源の供給およ
びAMPの出力信号を伝送するためのシールド線i4を
取付けるための接栓が取付けられる。第2は、増幅器A
と電圧計Mによって構成された交流増幅型電圧計V M
 、試験される電気回路または電気部品に交流電圧を印
加するだめの交流電源O89回路試験器を構成する電子
回路のための直流電源Eおj;び電源スィッチSによっ
て構成された回路試験器の本体(1))である。この本
体(blには、アース端子G2゜シールド線)4でプロ
ーブ(a)と結線するための接栓、さらに、交流電源O
8の出力端子Iおよび2が取付5.けられる。なお、こ
の配線図において、5はVMの入力端子、3はAMPの
入力端子、VCCは直流電源のプラス側の配線およびそ
の端子、Gは接地線およびその端子を示す。
次に、第1図において2回路試験を行うための結線につ
いて述べる。図において、15および16は、試験され
る電気回路または電気部品の導体の一部を示す。まず、
O8の出力端子lおよび2が、それぞれ導線11および
12によって、導体15の接点PIおよびノロの接点P
2に接続される。次に、プローブ(alに取付けられた
アース端子G1と導体15の接点P3が導線)3によっ
て接続される。以上のように結線された状態で9図のよ
うに電極PLを導体i6に接近させれば、電圧計Mは数
式(1)の電圧Vの値を表示できる。また、電極P L
を導体ノ5に接近させれば、電圧計Mは0に近い値を表
示することができる。P4とP5は、それぞれ、導体j
15と16の端部を示す。ここで、2導体ノ5と16が
一本の導体であったものであり、R4およびR5で示さ
れる部分で断線したものであるとすれば、電極P)Lを
導体15およびJ16に沿って移動しながら、電圧計M
の指示値を観察することによって、端部P5を発見する
ことができる。
第2図は、第1図における交流電源O8の回路図である
。この場合、簡単化のために、無安定マルチバイブレー
タ回路によって方形波電圧を発生させ、トランスTを介
して出力信号を得る方法を用いた。ここで、コンデンサ
COは。
直流電流がトランスTの2次側コイルへ流入することを
防ぐために用いる。第2図において。
交流電源の周波数ωは、R1,R2: ct、c2によ
って決定される。また、ダイオードDI〜D4は、トラ
ンジスタQlおよびQ2が不飽和で動作するために、さ
らに、これらのトランジスタのベース電流が逆流するこ
とにより、周波数ωが不安定になることがないように用
いる。
さらには、これらのダイオードは、端子Iおよび2に接
続される負荷の大きさが変化することがあっても7.ト
ランジスタが導通状態にあるとき、そのトランジスタの
コレクタ電圧をベース電圧と同じ電圧にするように働く
から、交流電源O8の動作を安定にする。
第3図は、高入力インピーダンス増幅器AMPの回路図
である。この増幅器は、電界効果トランジスタQ3,1
−ランジスタQ4およびQ5によって構成される。まず
、Q3はソースホロウで用いている。次に、その出力信
号は、Q4およびQ5により増幅される。このようにし
て増幅された信号は抵抗R11に印加される。ところで
、抵抗R11に生じた電圧は、第3図より明らかである
ように、Q3のソース側に帰還されるから、この場合A
MPの利得はOdBとなる。ここで、AMPの出力電圧
は、コンデンサC5によってQ3のドレインへ、および
、コンデンサC4によってQ3のゲートの7(イアメ回
路とAMPの過大入力信号に対する保護回路の一部であ
るダイオードD5とD6の接続点へ帰還されている。従
って、AM、Pへ人力された電気信号は、Q3のバイア
ス回路やAMPの保護回路、および、Q3のドレインを
通して接地側へ流入しにくくなるから、AMPの入力イ
ンピーダンスは高くなる。ところで、R3およびダイオ
ードD5.D6’は、’AMPの保護回路を構成する。
第4図は、交流増幅型電圧計の増幅器Aの回路図である
。この回路の特徴は、入力端子5にプローブ(a)を接
続する代りに1通常の電圧計で用いるプローブを接続し
た場合、低い電圧から高い電圧まで測定できるようにレ
ンジ切換えのスイッチS1およびS2が取付けられてい
ること、および、プローブ(a)を使用する場合、電圧
計の感度を微調節できる可変抵抗器VR2が取付けられ
ていることである。このために、増幅器Aの入力インピ
ーダンスは比較的高くしてあり、過大入力信号に対して
、ダイオードD7゜D8を用いて回路を保護している。
電界効果トランジスタQ(3,l−ランジスタQ7は、
高入力インピーダンス増幅器を構成している。コンデン
サC9は、、、Q6のバイアス回路へ、増幅器の出力信
号を正帰還させることにより入力インピーダンスを高く
する作用を行なう。スイ・チS1および抵抗R13,R
14は1人力信号を分圧する回路を構成する。スイッチ
S2と抵抗R20−R25は、増幅器Aの前段の出力信
号をさらに分圧するために動作する。増幅器Aの後段は
、トランジスタQ8.QIOおよび電界効果トランジス
タQ9によって構成されている。
この後段の増幅器は高い電圧利得を有するが。
出力端子6および7に接続された電圧計を流れた電流に
比例した電圧が入力側へ抵抗R35を介して負帰還され
る。この場合、帰還率は、半固定抵抗V、R1によって
調節される。従って。
交流増幅型電圧計VMは、VRIによって感度を較正で
きる。ところで1スイツチS3と可変抵抗VR2は、増
幅器Aの帰還率を変化させることにより、電圧計の感度
を微調節するために用いる。
【図面の簡単な説明】
第1図は9回路試験器の配線および試験のための結線を
示す回路図。第2図は、交流電源O8の回路図。第3図
は、高人力インピーダンス増幅器AMPの回路図。第4
図は、増幅器Aの回路図。O8は交流電源。Aは増幅器
。Mは電圧計。Sはスイッチ。Eは直流電源。AMPは
高入力インピーダンス増幅器。PLは電極。VMは交流
増幅型電圧別。fa)はプローブ。[有])は回路試験
器の本体。vCCは直流電源のプラス側配線。Gは直流
電源のマイナス側の配線。1および2はO8の出力端子
。3はAMPの入力端子。4はAMPの出力端子。5は
VMの入力端−r−06および7は増幅器Aの出力端子
。Gl。 G2はアース端子。1l−13は導線。i4はシールド
線。i5.76は試験される電気回路または電気部品の
導体。P1〜P3は接点。P4、P5は導体i5.ノロ
の端部。′rはトランス。Co−CF2はコンデンヤ゛
。R1−R35は抵抗。1つ1〜1月Oはダイメー−I
’oQ’〜Q10は電界、効果トランジスタまた(まト
ランジスタ。81〜S3はスイッチ。V Rl it半
固定(氏抗。V R,2は可変抵抗。 特許出願人 阿武伸昭 ¥1■ 潴ン1g O

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1) 試験される電気回路または電気部品の導体と、
    これに接近することができる電極とによって定まる静電
    容量を利用し、試験される電気回路または電気部品の導
    体の電位変化による電気信号を、この電極に通して検出
    することを特徴とする回路試験器。
  2. (2) 特許請求の範囲第1項に記す電極に接近して高
    入力インピーダンス増幅器を接続し、試験される電気回
    路または電気部品の導体」−に接地点を設けるための端
    子をこの高入方インピーダンス増幅器に取付け、さらに
    、この高入力インピーダンス増幅器の出方端子に出力信
    号の大きさを表示または記録するための機器を接続した
    特許請求の範囲第1項の回路試験器。
  3. (3) 試験される電気回路または電気部品に試験で用
    いる交流電圧を印加するための電源を内蔵する特1、許
    請求の範囲第1項の回路試験器。
JP58166025A 1983-09-08 1983-09-08 回路試験器 Pending JPS6057270A (ja)

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