JPS6057270A - 回路試験器 - Google Patents
回路試験器Info
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- JPS6057270A JPS6057270A JP58166025A JP16602583A JPS6057270A JP S6057270 A JPS6057270 A JP S6057270A JP 58166025 A JP58166025 A JP 58166025A JP 16602583 A JP16602583 A JP 16602583A JP S6057270 A JPS6057270 A JP S6057270A
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- electric
- electrode
- conductor
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、試験される電気回路または電気部品の導体
に、電極を接近させるだけで電気回路または電気部品の
試験を可能とする回路試験器に関するものである。この
回路試験器では。
に、電極を接近させるだけで電気回路または電気部品の
試験を可能とする回路試験器に関するものである。この
回路試験器では。
電気信号は、導体と電極の間を変位電流となって移動し
、電極側に接続された高入力インピーダンス増幅器によ
って検出される。従って、この発明における回路試験器
で検出される電気信号は、試験される電気回路または電
気部品」−において、電極が接近した場所における電位
の変化によって生ずる電気信号である。
、電極側に接続された高入力インピーダンス増幅器によ
って検出される。従って、この発明における回路試験器
で検出される電気信号は、試験される電気回路または電
気部品」−において、電極が接近した場所における電位
の変化によって生ずる電気信号である。
ところで、従来より、高人力インピーダンス増幅器を内
蔵した電圧計等の測定機器は存在する。しかし、従来の
機器をそのまま用いた場合。
蔵した電圧計等の測定機器は存在する。しかし、従来の
機器をそのまま用いた場合。
■−記の変位電流を検出することはむずかしい。
なぜならば、従来の測定機器で電位の変化を検出する場
合、電気回路の2ケ所で導体と直接接触できることが前
提であり、測定機器もそのように設計されているからで
ある。
合、電気回路の2ケ所で導体と直接接触できることが前
提であり、測定機器もそのように設計されているからで
ある。
さて、絶縁電線が断線して、外見上、断線した場所が不
明な場合を考える。このような場合。
明な場合を考える。このような場合。
従来の機器では、電線の被覆材である絶縁材料を部分的
に破壊しなければ、電圧計測、導通試験ができず、従っ
て、断線の位置を発見できなかった。従って、従来の機
器を用いれば作業性が悪く、被覆材の品質を損うことに
なる。ところが、この発明の場合、導体に直接接触する
必要のない電極を用いて電位の変化を検出するから、絶
縁電線の一端に接地点を持つことができれば、絶縁電線
の被覆材を破損することなく断線した位置を発見できる
。従って、この発明を用いれば1作業性が良<、°被覆
材の品質を損うことが少ない。なお、この発明による回
路試験器は、キャブタイヤケーブルのように、1本のケ
ーブル内に、数本の絶縁電線が入っていて。
に破壊しなければ、電圧計測、導通試験ができず、従っ
て、断線の位置を発見できなかった。従って、従来の機
器を用いれば作業性が悪く、被覆材の品質を損うことに
なる。ところが、この発明の場合、導体に直接接触する
必要のない電極を用いて電位の変化を検出するから、絶
縁電線の一端に接地点を持つことができれば、絶縁電線
の被覆材を破損することなく断線した位置を発見できる
。従って、この発明を用いれば1作業性が良<、°被覆
材の品質を損うことが少ない。なお、この発明による回
路試験器は、キャブタイヤケーブルのように、1本のケ
ーブル内に、数本の絶縁電線が入っていて。
その内の1本が断線している場合に、その断線場所を発
見する場合にも利用できる。ただし。
見する場合にも利用できる。ただし。
その場合、調べようとする導線が他の導線や導体によっ
てシールドされていてはならない。
てシールドされていてはならない。
以上は、絶縁電線の断線場所を調べる場合の説明であっ
た。しかし、この発明は、電位の変化を検出するという
特徴のゆえに1回路動作等の点検にも利用できる。
た。しかし、この発明は、電位の変化を検出するという
特徴のゆえに1回路動作等の点検にも利用できる。
ところで、特許請求の範囲第1項における電極から電気
信号を検出するため、従来の機器を用いれば2次のよう
な問題を生ずる。
信号を検出するため、従来の機器を用いれば2次のよう
な問題を生ずる。
(イ)信号対雑音の比(S/N)が悪い。
(ロ)一般に、プローブから機器の入力端子まで数メー
トルの同軸ケーブルが用いられ。
トルの同軸ケーブルが用いられ。
増幅器の入力端子には9周波数特性を補償するためにコ
ンデンサと抵抗による回路が取付けられるため、プロー
ブの先端から機器側を見た場合のインピーダンスは、こ
の発明の特許請求の範囲第2項で述べる方法で得られる
人力インピーダンスはど高くできない。
ンデンサと抵抗による回路が取付けられるため、プロー
ブの先端から機器側を見た場合のインピーダンスは、こ
の発明の特許請求の範囲第2項で述べる方法で得られる
人力インピーダンスはど高くできない。
従って、従来の機器は、そのままでは使えない。
さて、試験される電気回路または電気部品の導体から、
接近して来た電極に流入する電流は。
接近して来た電極に流入する電流は。
極めて小さい。というのは、特許請求の範囲第1項で述
べた静電容量は極めて小さく、この静電容量によるイン
ピーダンスが非常に大きな値となるからである。それゆ
え、電極から得られた電気信号は、増幅器によって、増
幅されなければならない。ところで、このとき、できる
だけ高い入力インピーダンスを持つ増幅器を用いれば、
検出すべき電気信号の電圧が電極の位置(すなわち、増
幅器の入力側)で高くなる。その結果、雑音対信号の比
(S/N )が改善される。さらに、特許請求の範囲第
2項で言うように、電極に高入力インピーダンス増幅器
を接近して取付ければ、雑音信号が流入することも少な
く、同時に、(ロ)に記述するような従来の機器で見ら
れる欠点も少なくすることができる。
べた静電容量は極めて小さく、この静電容量によるイン
ピーダンスが非常に大きな値となるからである。それゆ
え、電極から得られた電気信号は、増幅器によって、増
幅されなければならない。ところで、このとき、できる
だけ高い入力インピーダンスを持つ増幅器を用いれば、
検出すべき電気信号の電圧が電極の位置(すなわち、増
幅器の入力側)で高くなる。その結果、雑音対信号の比
(S/N )が改善される。さらに、特許請求の範囲第
2項で言うように、電極に高入力インピーダンス増幅器
を接近して取付ければ、雑音信号が流入することも少な
く、同時に、(ロ)に記述するような従来の機器で見ら
れる欠点も少なくすることができる。
次に、この発明における回路試験器で対象となる周波数
帯域にういて考える。
帯域にういて考える。
さて、試巖される電気回路または電気部品の導体と、こ
れに接近した電極とによって定まる静電容量をC2電極
が接近した位置におけるこの導体の電位(接地点に対す
る電圧)をe、静電容量Cを通って流れる交流信号の角
周波数をω、高入力インピーダンス増幅器の入力インピ
ーダンスを2とすれば、高入力インピーダンス増幅器へ
入力される信号の電圧Vは次式で与えられる。
れに接近した電極とによって定まる静電容量をC2電極
が接近した位置におけるこの導体の電位(接地点に対す
る電圧)をe、静電容量Cを通って流れる交流信号の角
周波数をω、高入力インピーダンス増幅器の入力インピ
ーダンスを2とすれば、高入力インピーダンス増幅器へ
入力される信号の電圧Vは次式で与えられる。
V=−−□−(1)
従って、(1)式より明らかなように、V=eを満足す
るために、または、Vの値をeの値に近づけるためには
、1ω(zlを太き(しなければならない。また1ωc
zlが充分に太きければ、Cが多少変化しても、Vの値
は太き(変化しない。
るために、または、Vの値をeの値に近づけるためには
、1ω(zlを太き(しなければならない。また1ωc
zlが充分に太きければ、Cが多少変化しても、Vの値
は太き(変化しない。
とこ、ろで、Cの値は極めて小さいから、ωもある程度
大きい値にしなければならない。しがし、ωが高過ぎれ
ば、高周波回路におけるさまざまな問題を生ずる。従っ
て、ωは1回路試験が可能な限り低い値にすべきである
。ただし。
大きい値にしなければならない。しがし、ωが高過ぎれ
ば、高周波回路におけるさまざまな問題を生ずる。従っ
て、ωは1回路試験が可能な限り低い値にすべきである
。ただし。
試験される電気回路または電気部品が高い周波数で動作
するように設計されている場合は、ωの値を大きく考え
て回路試験器を設計することができる。
するように設計されている場合は、ωの値を大きく考え
て回路試験器を設計することができる。
ところで、高入力インピーダンス増幅器の出力インピー
ダンスは小さくできるし、その出力信号の電力は太き(
できするがら、この増幅器の出力端子に電気信号を伝送
するためのコードを接続しても、誘導による雑音信号が
混入する恐れは少ない。従って、特許請求の第2項で記
述する高入力インピーダンス増幅器の出方端子には、高
感度の電圧計、ブラウン管オシロスコープ、ペンレコー
ダ、電圧比較回路を持つ機器。
ダンスは小さくできるし、その出力信号の電力は太き(
できするがら、この増幅器の出力端子に電気信号を伝送
するためのコードを接続しても、誘導による雑音信号が
混入する恐れは少ない。従って、特許請求の第2項で記
述する高入力インピーダンス増幅器の出方端子には、高
感度の電圧計、ブラウン管オシロスコープ、ペンレコー
ダ、電圧比較回路を持つ機器。
A/D変換器を持つ機器等を接続することが可能である
。それゆえ、目的に適合した機器を高入力インピーダン
ス増幅器に接続して2回路試験器を構成することができ
る。また、S/Nが良い場合に、4ま、特許請求の範囲
第2項が厳密に守られなくとも、特許請求の範囲第1項
を満足する回路試験器を作ることは可能である。
。それゆえ、目的に適合した機器を高入力インピーダン
ス増幅器に接続して2回路試験器を構成することができ
る。また、S/Nが良い場合に、4ま、特許請求の範囲
第2項が厳密に守られなくとも、特許請求の範囲第1項
を満足する回路試験器を作ることは可能である。
次に、特許請求の範囲第3項で1回路試験器が、試験さ
れる電気回路または電気部品に交流電圧を印加するため
の電源を持つことを述べている。しかし、試験される電
気回路が交流電源を持つ場合、他に交流電源があって、
これを利用できる場合等においては1回路試験器は交流
電源を内蔵している必要性はない。ところが。
れる電気回路または電気部品に交流電圧を印加するため
の電源を持つことを述べている。しかし、試験される電
気回路が交流電源を持つ場合、他に交流電源があって、
これを利用できる場合等においては1回路試験器は交流
電源を内蔵している必要性はない。ところが。
一般的には7交流電源を持たない電気回路を試験するこ
とも多いから、試験に必要な交流電源を回路試験器に内
蔵させる。この場合の交流電源は正弦波電圧を発生ずる
ものがよい。しかし。
とも多いから、試験に必要な交流電源を回路試験器に内
蔵させる。この場合の交流電源は正弦波電圧を発生ずる
ものがよい。しかし。
回路試験器をより簡単で小型にする目的で、ブロッキン
グオシレータのように方形波に類する電圧波形を発生す
る発振器を利用することができる。
グオシレータのように方形波に類する電圧波形を発生す
る発振器を利用することができる。
次に1図面を用いて、この発明の実施例について説明す
る。
る。
第1図は、この実施例における回路試験器の配線図と試
験のための結線図を合せて書いたものである。この実施
例において2回路試験器は二つの主要部分に分割され、
相互にシールド線で結合される。まず、第1は、電極P
Lと、これに接近して取付けられた高入力インピーダン
ス増幅器AMPとによって構成されたプローブ(a)で
ある。このプローブ(a)には、AMPの接地のための
アース端子G1と、AMPのための直流電源の供給およ
びAMPの出力信号を伝送するためのシールド線i4を
取付けるための接栓が取付けられる。第2は、増幅器A
と電圧計Mによって構成された交流増幅型電圧計V M
、試験される電気回路または電気部品に交流電圧を印
加するだめの交流電源O89回路試験器を構成する電子
回路のための直流電源Eおj;び電源スィッチSによっ
て構成された回路試験器の本体(1))である。この本
体(blには、アース端子G2゜シールド線)4でプロ
ーブ(a)と結線するための接栓、さらに、交流電源O
8の出力端子Iおよび2が取付5.けられる。なお、こ
の配線図において、5はVMの入力端子、3はAMPの
入力端子、VCCは直流電源のプラス側の配線およびそ
の端子、Gは接地線およびその端子を示す。
験のための結線図を合せて書いたものである。この実施
例において2回路試験器は二つの主要部分に分割され、
相互にシールド線で結合される。まず、第1は、電極P
Lと、これに接近して取付けられた高入力インピーダン
ス増幅器AMPとによって構成されたプローブ(a)で
ある。このプローブ(a)には、AMPの接地のための
アース端子G1と、AMPのための直流電源の供給およ
びAMPの出力信号を伝送するためのシールド線i4を
取付けるための接栓が取付けられる。第2は、増幅器A
と電圧計Mによって構成された交流増幅型電圧計V M
、試験される電気回路または電気部品に交流電圧を印
加するだめの交流電源O89回路試験器を構成する電子
回路のための直流電源Eおj;び電源スィッチSによっ
て構成された回路試験器の本体(1))である。この本
体(blには、アース端子G2゜シールド線)4でプロ
ーブ(a)と結線するための接栓、さらに、交流電源O
8の出力端子Iおよび2が取付5.けられる。なお、こ
の配線図において、5はVMの入力端子、3はAMPの
入力端子、VCCは直流電源のプラス側の配線およびそ
の端子、Gは接地線およびその端子を示す。
次に、第1図において2回路試験を行うための結線につ
いて述べる。図において、15および16は、試験され
る電気回路または電気部品の導体の一部を示す。まず、
O8の出力端子lおよび2が、それぞれ導線11および
12によって、導体15の接点PIおよびノロの接点P
2に接続される。次に、プローブ(alに取付けられた
アース端子G1と導体15の接点P3が導線)3によっ
て接続される。以上のように結線された状態で9図のよ
うに電極PLを導体i6に接近させれば、電圧計Mは数
式(1)の電圧Vの値を表示できる。また、電極P L
を導体ノ5に接近させれば、電圧計Mは0に近い値を表
示することができる。P4とP5は、それぞれ、導体j
15と16の端部を示す。ここで、2導体ノ5と16が
一本の導体であったものであり、R4およびR5で示さ
れる部分で断線したものであるとすれば、電極P)Lを
導体15およびJ16に沿って移動しながら、電圧計M
の指示値を観察することによって、端部P5を発見する
ことができる。
いて述べる。図において、15および16は、試験され
る電気回路または電気部品の導体の一部を示す。まず、
O8の出力端子lおよび2が、それぞれ導線11および
12によって、導体15の接点PIおよびノロの接点P
2に接続される。次に、プローブ(alに取付けられた
アース端子G1と導体15の接点P3が導線)3によっ
て接続される。以上のように結線された状態で9図のよ
うに電極PLを導体i6に接近させれば、電圧計Mは数
式(1)の電圧Vの値を表示できる。また、電極P L
を導体ノ5に接近させれば、電圧計Mは0に近い値を表
示することができる。P4とP5は、それぞれ、導体j
15と16の端部を示す。ここで、2導体ノ5と16が
一本の導体であったものであり、R4およびR5で示さ
れる部分で断線したものであるとすれば、電極P)Lを
導体15およびJ16に沿って移動しながら、電圧計M
の指示値を観察することによって、端部P5を発見する
ことができる。
第2図は、第1図における交流電源O8の回路図である
。この場合、簡単化のために、無安定マルチバイブレー
タ回路によって方形波電圧を発生させ、トランスTを介
して出力信号を得る方法を用いた。ここで、コンデンサ
COは。
。この場合、簡単化のために、無安定マルチバイブレー
タ回路によって方形波電圧を発生させ、トランスTを介
して出力信号を得る方法を用いた。ここで、コンデンサ
COは。
直流電流がトランスTの2次側コイルへ流入することを
防ぐために用いる。第2図において。
防ぐために用いる。第2図において。
交流電源の周波数ωは、R1,R2: ct、c2によ
って決定される。また、ダイオードDI〜D4は、トラ
ンジスタQlおよびQ2が不飽和で動作するために、さ
らに、これらのトランジスタのベース電流が逆流するこ
とにより、周波数ωが不安定になることがないように用
いる。
って決定される。また、ダイオードDI〜D4は、トラ
ンジスタQlおよびQ2が不飽和で動作するために、さ
らに、これらのトランジスタのベース電流が逆流するこ
とにより、周波数ωが不安定になることがないように用
いる。
さらには、これらのダイオードは、端子Iおよび2に接
続される負荷の大きさが変化することがあっても7.ト
ランジスタが導通状態にあるとき、そのトランジスタの
コレクタ電圧をベース電圧と同じ電圧にするように働く
から、交流電源O8の動作を安定にする。
続される負荷の大きさが変化することがあっても7.ト
ランジスタが導通状態にあるとき、そのトランジスタの
コレクタ電圧をベース電圧と同じ電圧にするように働く
から、交流電源O8の動作を安定にする。
第3図は、高入力インピーダンス増幅器AMPの回路図
である。この増幅器は、電界効果トランジスタQ3,1
−ランジスタQ4およびQ5によって構成される。まず
、Q3はソースホロウで用いている。次に、その出力信
号は、Q4およびQ5により増幅される。このようにし
て増幅された信号は抵抗R11に印加される。ところで
、抵抗R11に生じた電圧は、第3図より明らかである
ように、Q3のソース側に帰還されるから、この場合A
MPの利得はOdBとなる。ここで、AMPの出力電圧
は、コンデンサC5によってQ3のドレインへ、および
、コンデンサC4によってQ3のゲートの7(イアメ回
路とAMPの過大入力信号に対する保護回路の一部であ
るダイオードD5とD6の接続点へ帰還されている。従
って、AM、Pへ人力された電気信号は、Q3のバイア
ス回路やAMPの保護回路、および、Q3のドレインを
通して接地側へ流入しにくくなるから、AMPの入力イ
ンピーダンスは高くなる。ところで、R3およびダイオ
ードD5.D6’は、’AMPの保護回路を構成する。
である。この増幅器は、電界効果トランジスタQ3,1
−ランジスタQ4およびQ5によって構成される。まず
、Q3はソースホロウで用いている。次に、その出力信
号は、Q4およびQ5により増幅される。このようにし
て増幅された信号は抵抗R11に印加される。ところで
、抵抗R11に生じた電圧は、第3図より明らかである
ように、Q3のソース側に帰還されるから、この場合A
MPの利得はOdBとなる。ここで、AMPの出力電圧
は、コンデンサC5によってQ3のドレインへ、および
、コンデンサC4によってQ3のゲートの7(イアメ回
路とAMPの過大入力信号に対する保護回路の一部であ
るダイオードD5とD6の接続点へ帰還されている。従
って、AM、Pへ人力された電気信号は、Q3のバイア
ス回路やAMPの保護回路、および、Q3のドレインを
通して接地側へ流入しにくくなるから、AMPの入力イ
ンピーダンスは高くなる。ところで、R3およびダイオ
ードD5.D6’は、’AMPの保護回路を構成する。
第4図は、交流増幅型電圧計の増幅器Aの回路図である
。この回路の特徴は、入力端子5にプローブ(a)を接
続する代りに1通常の電圧計で用いるプローブを接続し
た場合、低い電圧から高い電圧まで測定できるようにレ
ンジ切換えのスイッチS1およびS2が取付けられてい
ること、および、プローブ(a)を使用する場合、電圧
計の感度を微調節できる可変抵抗器VR2が取付けられ
ていることである。このために、増幅器Aの入力インピ
ーダンスは比較的高くしてあり、過大入力信号に対して
、ダイオードD7゜D8を用いて回路を保護している。
。この回路の特徴は、入力端子5にプローブ(a)を接
続する代りに1通常の電圧計で用いるプローブを接続し
た場合、低い電圧から高い電圧まで測定できるようにレ
ンジ切換えのスイッチS1およびS2が取付けられてい
ること、および、プローブ(a)を使用する場合、電圧
計の感度を微調節できる可変抵抗器VR2が取付けられ
ていることである。このために、増幅器Aの入力インピ
ーダンスは比較的高くしてあり、過大入力信号に対して
、ダイオードD7゜D8を用いて回路を保護している。
電界効果トランジスタQ(3,l−ランジスタQ7は、
高入力インピーダンス増幅器を構成している。コンデン
サC9は、、、Q6のバイアス回路へ、増幅器の出力信
号を正帰還させることにより入力インピーダンスを高く
する作用を行なう。スイ・チS1および抵抗R13,R
14は1人力信号を分圧する回路を構成する。スイッチ
S2と抵抗R20−R25は、増幅器Aの前段の出力信
号をさらに分圧するために動作する。増幅器Aの後段は
、トランジスタQ8.QIOおよび電界効果トランジス
タQ9によって構成されている。
高入力インピーダンス増幅器を構成している。コンデン
サC9は、、、Q6のバイアス回路へ、増幅器の出力信
号を正帰還させることにより入力インピーダンスを高く
する作用を行なう。スイ・チS1および抵抗R13,R
14は1人力信号を分圧する回路を構成する。スイッチ
S2と抵抗R20−R25は、増幅器Aの前段の出力信
号をさらに分圧するために動作する。増幅器Aの後段は
、トランジスタQ8.QIOおよび電界効果トランジス
タQ9によって構成されている。
この後段の増幅器は高い電圧利得を有するが。
出力端子6および7に接続された電圧計を流れた電流に
比例した電圧が入力側へ抵抗R35を介して負帰還され
る。この場合、帰還率は、半固定抵抗V、R1によって
調節される。従って。
比例した電圧が入力側へ抵抗R35を介して負帰還され
る。この場合、帰還率は、半固定抵抗V、R1によって
調節される。従って。
交流増幅型電圧計VMは、VRIによって感度を較正で
きる。ところで1スイツチS3と可変抵抗VR2は、増
幅器Aの帰還率を変化させることにより、電圧計の感度
を微調節するために用いる。
きる。ところで1スイツチS3と可変抵抗VR2は、増
幅器Aの帰還率を変化させることにより、電圧計の感度
を微調節するために用いる。
第1図は9回路試験器の配線および試験のための結線を
示す回路図。第2図は、交流電源O8の回路図。第3図
は、高人力インピーダンス増幅器AMPの回路図。第4
図は、増幅器Aの回路図。O8は交流電源。Aは増幅器
。Mは電圧計。Sはスイッチ。Eは直流電源。AMPは
高入力インピーダンス増幅器。PLは電極。VMは交流
増幅型電圧別。fa)はプローブ。[有])は回路試験
器の本体。vCCは直流電源のプラス側配線。Gは直流
電源のマイナス側の配線。1および2はO8の出力端子
。3はAMPの入力端子。4はAMPの出力端子。5は
VMの入力端−r−06および7は増幅器Aの出力端子
。Gl。 G2はアース端子。1l−13は導線。i4はシールド
線。i5.76は試験される電気回路または電気部品の
導体。P1〜P3は接点。P4、P5は導体i5.ノロ
の端部。′rはトランス。Co−CF2はコンデンヤ゛
。R1−R35は抵抗。1つ1〜1月Oはダイメー−I
’oQ’〜Q10は電界、効果トランジスタまた(まト
ランジスタ。81〜S3はスイッチ。V Rl it半
固定(氏抗。V R,2は可変抵抗。 特許出願人 阿武伸昭 ¥1■ 潴ン1g O
示す回路図。第2図は、交流電源O8の回路図。第3図
は、高人力インピーダンス増幅器AMPの回路図。第4
図は、増幅器Aの回路図。O8は交流電源。Aは増幅器
。Mは電圧計。Sはスイッチ。Eは直流電源。AMPは
高入力インピーダンス増幅器。PLは電極。VMは交流
増幅型電圧別。fa)はプローブ。[有])は回路試験
器の本体。vCCは直流電源のプラス側配線。Gは直流
電源のマイナス側の配線。1および2はO8の出力端子
。3はAMPの入力端子。4はAMPの出力端子。5は
VMの入力端−r−06および7は増幅器Aの出力端子
。Gl。 G2はアース端子。1l−13は導線。i4はシールド
線。i5.76は試験される電気回路または電気部品の
導体。P1〜P3は接点。P4、P5は導体i5.ノロ
の端部。′rはトランス。Co−CF2はコンデンヤ゛
。R1−R35は抵抗。1つ1〜1月Oはダイメー−I
’oQ’〜Q10は電界、効果トランジスタまた(まト
ランジスタ。81〜S3はスイッチ。V Rl it半
固定(氏抗。V R,2は可変抵抗。 特許出願人 阿武伸昭 ¥1■ 潴ン1g O
Claims (3)
- (1) 試験される電気回路または電気部品の導体と、
これに接近することができる電極とによって定まる静電
容量を利用し、試験される電気回路または電気部品の導
体の電位変化による電気信号を、この電極に通して検出
することを特徴とする回路試験器。 - (2) 特許請求の範囲第1項に記す電極に接近して高
入力インピーダンス増幅器を接続し、試験される電気回
路または電気部品の導体」−に接地点を設けるための端
子をこの高入方インピーダンス増幅器に取付け、さらに
、この高入力インピーダンス増幅器の出方端子に出力信
号の大きさを表示または記録するための機器を接続した
特許請求の範囲第1項の回路試験器。 - (3) 試験される電気回路または電気部品に試験で用
いる交流電圧を印加するための電源を内蔵する特1、許
請求の範囲第1項の回路試験器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58166025A JPS6057270A (ja) | 1983-09-08 | 1983-09-08 | 回路試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58166025A JPS6057270A (ja) | 1983-09-08 | 1983-09-08 | 回路試験器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6057270A true JPS6057270A (ja) | 1985-04-03 |
Family
ID=15823535
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58166025A Pending JPS6057270A (ja) | 1983-09-08 | 1983-09-08 | 回路試験器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6057270A (ja) |
-
1983
- 1983-09-08 JP JP58166025A patent/JPS6057270A/ja active Pending
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