JPS6055212A - 非接触三次元測定装置 - Google Patents
非接触三次元測定装置Info
- Publication number
- JPS6055212A JPS6055212A JP16344383A JP16344383A JPS6055212A JP S6055212 A JPS6055212 A JP S6055212A JP 16344383 A JP16344383 A JP 16344383A JP 16344383 A JP16344383 A JP 16344383A JP S6055212 A JPS6055212 A JP S6055212A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- spot position
- measuring device
- light
- detectors
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は立体の被測定物の形状を非接触で計測する三次
元測定装置に関するものである。
元測定装置に関するものである。
三次元測定装置としては被加工物を測定する接触式の三
次元測定装置が提案されているが、例えば人の体を測定
するのに接触式では被測定者に不快感を与え適当でない
。また、非触式で測定するにしても測定に長時間を要す
る様では、被測者を長時間拘束するばかりかその間被測
定者が動くことＫよる測定精度が確保されないといった
問題を生じ適当でない。そこで、非接触で短時間内にて
自動的に人の体形等の被測定物が測定できる三次元測定
装置が望まれている。
次元測定装置が提案されているが、例えば人の体を測定
するのに接触式では被測定者に不快感を与え適当でない
。また、非触式で測定するにしても測定に長時間を要す
る様では、被測者を長時間拘束するばかりかその間被測
定者が動くことＫよる測定精度が確保されないといった
問題を生じ適当でない。そこで、非接触で短時間内にて
自動的に人の体形等の被測定物が測定できる三次元測定
装置が望まれている。
本発明の目的は非接触で立体の三次元測定が可能で測定
装置を提供することにある。
装置を提供することにある。
本発明によれば複数個のスポット位置検出器と、回転機
構と垂直移動機構を備えた非接触三次元測定装置が得ら
れる。
構と垂直移動機構を備えた非接触三次元測定装置が得ら
れる。
次に図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
第１図は本発明による非接触三次元測定装置の一実施例
を示す斜視図、第２図は本発明に用いるスポット位置検
出器の動作原理図、第３図と第４図は主要部の光学的配
置図を示す。
を示す斜視図、第２図は本発明に用いるスポット位置検
出器の動作原理図、第３図と第４図は主要部の光学的配
置図を示す。
第１図において、１は被測定物、２，３．４および５は
スポット位置検出器、６，７．８および９はスポット位
置検出器、２，３，４および５によシそれぞれ得られる
投、受光光軸位置、１０゜１１．１２および１３は投、
受光光軸を屈折させる屈折ミラーを示す。前記スポット
位置検出器２，３゜４および５と共にそれぞれ所定の位
置に１５の支持リングに固定されている。支持リング１
５の側面には１６の歯車が設けられており、１８の駆動
歯車と結合している。駆動歯車１８は１７の支持台に固
定された１９の回転駆動用モータによって回転運動が可
能となっている。また、支持台１７は２０の基板と２１
の天板とで結合された２２゜２３および２４のスライド
棒とあらかじめネジ加工がほどこされた２５のネジ棒と
によって支持される。さらに前記支持台１７はネジ棒２
５と接触する部分にメスネジが設けであるため、基板２
０に固定された２６の上下駆動用モータの駆動によって
ネジ棒２５を回転させることにより上下移動が可能とな
る。この様なスポット位置器の配置および回転機構と上
下移動機構を備えることによって被測定物の概ね全域に
わたってスポット光を照射しその反射位置を検出するこ
とが可能となる。
スポット位置検出器、６，７．８および９はスポット位
置検出器、２，３，４および５によシそれぞれ得られる
投、受光光軸位置、１０゜１１．１２および１３は投、
受光光軸を屈折させる屈折ミラーを示す。前記スポット
位置検出器２，３゜４および５と共にそれぞれ所定の位
置に１５の支持リングに固定されている。支持リング１
５の側面には１６の歯車が設けられており、１８の駆動
歯車と結合している。駆動歯車１８は１７の支持台に固
定された１９の回転駆動用モータによって回転運動が可
能となっている。また、支持台１７は２０の基板と２１
の天板とで結合された２２゜２３および２４のスライド
棒とあらかじめネジ加工がほどこされた２５のネジ棒と
によって支持される。さらに前記支持台１７はネジ棒２
５と接触する部分にメスネジが設けであるため、基板２
０に固定された２６の上下駆動用モータの駆動によって
ネジ棒２５を回転させることにより上下移動が可能とな
る。この様なスポット位置器の配置および回転機構と上
下移動機構を備えることによって被測定物の概ね全域に
わたってスポット光を照射しその反射位置を検出するこ
とが可能となる。
第２図は本発明の実施例におけるスポット位置検出器の
動作を説明するもので、３０は半導体発光素子あるいは
ガスレーザ発光体で３２の投光レンズを介して３１の光
ビームを細く絞シ、被測定物の表面に光スポットを形成
せしめるものである。
動作を説明するもので、３０は半導体発光素子あるいは
ガスレーザ発光体で３２の投光レンズを介して３１の光
ビームを細く絞シ、被測定物の表面に光スポットを形成
せしめるものである。
一方、３９は前記光スポットを被測定物の表面や状態に
応じて反射あるいは散乱した光の一部を受光して、光検
出素子４０の受光面上に結像させる受光レンズで光検出
素子４０と共に投光光軸の上方または下方に位置するよ
う配置される。本第２図において被測定域面上のスポッ
ト位置がそれぞれ３３，３４および３５と移動した時、
光検出索子４０の受光面上で結像したスポットはそれぞ
れ３６．３７および３８と変化する。従ってあらかじめ
両者の位置関係を調べておけば光検出索子４０の検出出
力を信号処理することによって任意の被測定物の位置か
明らかとなる。光検出素子４０はその受光面上の位置情
報をデジタル形式で出力する、ＣＯＤイメージ素子でも
、あるいは位置情軸をアナログ形式で出力する半導体装
置検出素子でもかまわない。４２は光検出素子４０の前
記出力形式にかなった信号処理回路で被測定物の移動変
化量の実寸法に変換するもので４３に出力する。
応じて反射あるいは散乱した光の一部を受光して、光検
出素子４０の受光面上に結像させる受光レンズで光検出
素子４０と共に投光光軸の上方または下方に位置するよ
う配置される。本第２図において被測定域面上のスポッ
ト位置がそれぞれ３３，３４および３５と移動した時、
光検出索子４０の受光面上で結像したスポットはそれぞ
れ３６．３７および３８と変化する。従ってあらかじめ
両者の位置関係を調べておけば光検出索子４０の検出出
力を信号処理することによって任意の被測定物の位置か
明らかとなる。光検出素子４０はその受光面上の位置情
報をデジタル形式で出力する、ＣＯＤイメージ素子でも
、あるいは位置情軸をアナログ形式で出力する半導体装
置検出素子でもかまわない。４２は光検出素子４０の前
記出力形式にかなった信号処理回路で被測定物の移動変
化量の実寸法に変換するもので４３に出力する。
４４は前記光検出素子４０の形式にみあった光検出素子
４０の駆動回路あるいは単に直流バイアス回路であるこ
とはいうまでもない。
４０の駆動回路あるいは単に直流バイアス回路であるこ
とはいうまでもない。
第３図は本発明の実施例における主要部の平面シ１で第
４図は前記主動部の１部側面図である。第３図において
４個のスポット位置検出器２，３゜４および５と４個の
屈折ミラー１０，１１，１２およ０：１３はそれぞれ９
０°間隔で配置され支持リング１５に固定されている。
４図は前記主動部の１部側面図である。第３図において
４個のスポット位置検出器２，３゜４および５と４個の
屈折ミラー１０，１１，１２およ０：１３はそれぞれ９
０°間隔で配置され支持リング１５に固定されている。
又、前記のそれぞれのスポット位置検出器より与えられ
る投、受光光軸６゜４図において向い合うスポット位置
検出器３と５とで代表させてこれらで形成される光学的
位置関係を明らかにする。７丁は屈折ミラー１１を介し
て、支持リング１５の中心点３０に向って正しく水平に
位置される。スポット位置検出器３の与える投光光軸で
あシ、投光ビームもこれと一致する。
る投、受光光軸６゜４図において向い合うスポット位置
検出器３と５とで代表させてこれらで形成される光学的
位置関係を明らかにする。７丁は屈折ミラー１１を介し
て、支持リング１５の中心点３０に向って正しく水平に
位置される。スポット位置検出器３の与える投光光軸で
あシ、投光ビームもこれと一致する。
また７Ｒは前記検出器３の受光系の光軸であり、この受
光光軸７Ｒと５３の点で前記投光光軸７Ｔと交わる。前
記検出器３の受け持つ有効な位置測定範囲は点５７と支
持リングの中心点５０を結ぶ線分で前記の点５３は前記
測定範囲の中心に位置する。他方、検出器５においては
９Ｔが投光光軸、９Ｒが受光光軸であって中心点５０と
点５９を結ぶ線分が有効な位置測定範囲となる。点５５
は該位置測定範囲の中心に位置する。
光光軸７Ｒと５３の点で前記投光光軸７Ｔと交わる。前
記検出器３の受け持つ有効な位置測定範囲は点５７と支
持リングの中心点５０を結ぶ線分で前記の点５３は前記
測定範囲の中心に位置する。他方、検出器５においては
９Ｔが投光光軸、９Ｒが受光光軸であって中心点５０と
点５９を結ぶ線分が有効な位置測定範囲となる。点５５
は該位置測定範囲の中心に位置する。
以上述べた通り本発明は、スポット位置検出器の機能と
該スポット位置検出器の回転および上下移動によって二
次元の被測定物表面全体にわたってきめ細かく分解でき
、その位置を測定することが可能となる。さらに１本発
明は投、受光光転を上下に位置させているために複数個
のスポット位置検出器の光学的な相互干渉がされるため
同時に並列駆動ができること、あるいは屈折ミラーの採
用によって該スポット位置検出器を支持する支持リング
の径を実質的に小さくできるなどの特徴を有するために
測定時間の短縮化のための測定の高連化あるいは装置の
小型化および軽量の点で大きな利点を持つものである。
該スポット位置検出器の回転および上下移動によって二
次元の被測定物表面全体にわたってきめ細かく分解でき
、その位置を測定することが可能となる。さらに１本発
明は投、受光光転を上下に位置させているために複数個
のスポット位置検出器の光学的な相互干渉がされるため
同時に並列駆動ができること、あるいは屈折ミラーの採
用によって該スポット位置検出器を支持する支持リング
の径を実質的に小さくできるなどの特徴を有するために
測定時間の短縮化のための測定の高連化あるいは装置の
小型化および軽量の点で大きな利点を持つものである。
第１図は本発明の一実施例を示す余１視図、第２図は本
発鞠に用いるスポット位置検出器の動作原理図、＾３図
と第４図は主要部の光学的配置図である。 １・・・被測定物、２，３，４．訃・・スポット位置検
出器、Ｇ、７，８．９・・・投、受光々軸位置。 １υ、１１，１２．１３・・・屈折ミラー。 １５・・・支持リング、１６・・・歯車。 １７・・・支持台、 １８・・・駆動歯車。 １９・・・回転、駆動用モータ、 ２０・・・基板。 ２１・・・天板、２２，２３，２４・・・スライド棒。 ２５・・・ネジ棒、 ２６・・・上下駆動用モータ。 ３０−・・発光体、３１・・・元ビーム。 ３２・・・投光レンズ、３３，３４，３５・・・スポッ
ト位置、３６，３７，３８・・・受光面上の結像スポッ
ト。 ３９・・・受光レンズ、 ４０・・・光検出菓子。 ４２・・・信号処理回路、 ４３・・・出力。 ４４・・・駆動回路ちるいは直流バイアス回路。 ７Ｔ＋９Ｔ・・・投光々軸、７Ｂ、９．・・・受光光軸
。
発鞠に用いるスポット位置検出器の動作原理図、＾３図
と第４図は主要部の光学的配置図である。 １・・・被測定物、２，３，４．訃・・スポット位置検
出器、Ｇ、７，８．９・・・投、受光々軸位置。 １υ、１１，１２．１３・・・屈折ミラー。 １５・・・支持リング、１６・・・歯車。 １７・・・支持台、 １８・・・駆動歯車。 １９・・・回転、駆動用モータ、 ２０・・・基板。 ２１・・・天板、２２，２３，２４・・・スライド棒。 ２５・・・ネジ棒、 ２６・・・上下駆動用モータ。 ３０−・・発光体、３１・・・元ビーム。 ３２・・・投光レンズ、３３，３４，３５・・・スポッ
ト位置、３６，３７，３８・・・受光面上の結像スポッ
ト。 ３９・・・受光レンズ、 ４０・・・光検出菓子。 ４２・・・信号処理回路、 ４３・・・出力。 ４４・・・駆動回路ちるいは直流バイアス回路。 ７Ｔ＋９Ｔ・・・投光々軸、７Ｂ、９．・・・受光光軸
。
Claims (1)
- 複数個の光によるスポット位置検出器を有し、前記スポ
ット位置検出器が被測定物を囲み、かつ水平面で所定の
円周上を移動するようＫした回転機構と、該回転機構を
上下方向に移動するようにした上下移動機構とを備える
ことを特徴とする非接触二次元測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16344383A JPS6055212A (ja) | 1983-09-06 | 1983-09-06 | 非接触三次元測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16344383A JPS6055212A (ja) | 1983-09-06 | 1983-09-06 | 非接触三次元測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6055212A true JPS6055212A (ja) | 1985-03-30 |
Family
ID=15773983
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16344383A Pending JPS6055212A (ja) | 1983-09-06 | 1983-09-06 | 非接触三次元測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6055212A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59151007A (ja) * | 1983-02-17 | 1984-08-29 | Fujitsu Autom Kk | 卵の自動搬送検査装置 |
| JPS63193040A (ja) * | 1987-02-06 | 1988-08-10 | Mitsubishi Nuclear Fuel Co Ltd | ペレツト欠け検知装置 |
| JPS6434329A (en) * | 1987-07-31 | 1989-02-03 | Hamamatsu Photonics Kk | Three-dimensional shape measuring apparatus |
| JPH01207607A (ja) * | 1988-02-15 | 1989-08-21 | Fuji Electric Co Ltd | 外観検査装置 |
| JPH02157606A (ja) * | 1988-10-18 | 1990-06-18 | Sms Hasenclever Mas Fab Gmbh | 工作物の幾何学的な形状を決定する方法と装置 |
| US5072121A (en) * | 1990-11-15 | 1991-12-10 | Siemens Gammasonics Inc. | Body contour determining apparatus for a rotating gamma camera |
| US5376796A (en) * | 1992-11-25 | 1994-12-27 | Adac Laboratories, Inc. | Proximity detector for body contouring system of a medical camera |
| JP2009291354A (ja) * | 2008-06-04 | 2009-12-17 | Tanita Corp | 腹部周囲径測定装置 |
| FR2982664A1 (fr) * | 2011-11-10 | 2013-05-17 | Spincontrol | Systeme et procede de telemetrie sans contact adaptes aux objets de forme complexe |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS539142A (en) * | 1976-07-13 | 1978-01-27 | Atsunori Miyamura | Photoelectric distance measuring device |
| JPS55153932A (en) * | 1979-05-11 | 1980-12-01 | Chlestil Gustav | Method and device for photography using data carrier for reproducing threeedimensional body |
| JPS56115904A (en) * | 1980-02-19 | 1981-09-11 | Unitika Ltd | Automatic measuring method for size of human body and device therefor |
| JPS56117107A (en) * | 1980-02-20 | 1981-09-14 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Measuring method of profile |
-
1983
- 1983-09-06 JP JP16344383A patent/JPS6055212A/ja active Pending
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| JPH01207607A (ja) * | 1988-02-15 | 1989-08-21 | Fuji Electric Co Ltd | 外観検査装置 |
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| FR2982664A1 (fr) * | 2011-11-10 | 2013-05-17 | Spincontrol | Systeme et procede de telemetrie sans contact adaptes aux objets de forme complexe |
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