JPH0411414Y2 - - Google Patents
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- JPH0411414Y2 JPH0411414Y2 JP1985014048U JP1404885U JPH0411414Y2 JP H0411414 Y2 JPH0411414 Y2 JP H0411414Y2 JP 1985014048 U JP1985014048 U JP 1985014048U JP 1404885 U JP1404885 U JP 1404885U JP H0411414 Y2 JPH0411414 Y2 JP H0411414Y2
- Authority
- JP
- Japan
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- linear image
- axis
- camera
- image sensor
- image sensors
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- Expired
Links
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 21
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 13
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 3
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本考案は形状複雑な対象物の表面欠陥の有無等
を光学的に検査するために使用される欠陥検査用
カメラに関するものである。
を光学的に検査するために使用される欠陥検査用
カメラに関するものである。
(従来の技術)
従来、板ガラスや鋼板のような板状体の欠陥検
査には多数の画素を直線状に配列させた直線撮像
素子(リニアイメージセンサ)をテレビカメラの
レンズの軸線上に配置した欠陥検査用カメラが使
用されているが、このような欠陥検査用カメラは
対象物表面の明るさを直接電気信号に変換するも
のであるから、例えば碍子のような複雑な凹凸面
を有する対象物に使用したときには照明むらによ
る明るさの変化と欠陥による明るさの変化とを識
別することができない欠点がある。そこで本考案
者はテレビカメラの撮像面に2本の直線撮像素子
を近接させて並列に配置し、双方の直線撮像素子
から生ずる出力信号の差を演算することにより照
明むらの影響をキヤンセルするようにした視覚セ
ンサシステムを開発して先に特願昭59−67016号
として提案したところである。
査には多数の画素を直線状に配列させた直線撮像
素子(リニアイメージセンサ)をテレビカメラの
レンズの軸線上に配置した欠陥検査用カメラが使
用されているが、このような欠陥検査用カメラは
対象物表面の明るさを直接電気信号に変換するも
のであるから、例えば碍子のような複雑な凹凸面
を有する対象物に使用したときには照明むらによ
る明るさの変化と欠陥による明るさの変化とを識
別することができない欠点がある。そこで本考案
者はテレビカメラの撮像面に2本の直線撮像素子
を近接させて並列に配置し、双方の直線撮像素子
から生ずる出力信号の差を演算することにより照
明むらの影響をキヤンセルするようにした視覚セ
ンサシステムを開発して先に特願昭59−67016号
として提案したところである。
ところが一般に直線撮像素子はそのセンサチツ
プの周囲にシフトレジスタ回路や出力回路が一体
的に組込まれて全体の幅が約10mm程度もあるため
に10mm以下の距離に近接配置することができず、
レンズ倍率をMとすれば対象物表面上においては
10×Mmmも離れた線上の明るさを対比することと
なつて検査精度を一定値以上に向上させることが
できぬ問題があることが分つた。
プの周囲にシフトレジスタ回路や出力回路が一体
的に組込まれて全体の幅が約10mm程度もあるため
に10mm以下の距離に近接配置することができず、
レンズ倍率をMとすれば対象物表面上においては
10×Mmmも離れた線上の明るさを対比することと
なつて検査精度を一定値以上に向上させることが
できぬ問題があることが分つた。
(考案が解決しようとする問題点)
本考案は上記のような従来の問題点を解決し、
通常の直線撮像素子を利用して対象物表面の非常
に近接した2本の線上の明るさの対比を正確に行
わせることができる欠陥検査用カメラを目的とし
て完成されたものである。
通常の直線撮像素子を利用して対象物表面の非常
に近接した2本の線上の明るさの対比を正確に行
わせることができる欠陥検査用カメラを目的とし
て完成されたものである。
(問題点を解決するための手段)
本考案は、レンズの軸線上に該軸線に直交する
稜線を挟んで軸線に対して等角度に傾斜する対称
な2つの反射面を持つ反射鏡を取付けるととも
に、この反射鏡を送りねじにより軸線方向に進退
可能とし、またこれらの反射面からの反射光を受
けるカメラ内面上の2位置には、少なくとも一方
に画素の配列方向への取付位置の微調整機構が付
設された直線撮像素子を配したことを特徴とする
ものである。
稜線を挟んで軸線に対して等角度に傾斜する対称
な2つの反射面を持つ反射鏡を取付けるととも
に、この反射鏡を送りねじにより軸線方向に進退
可能とし、またこれらの反射面からの反射光を受
けるカメラ内面上の2位置には、少なくとも一方
に画素の配列方向への取付位置の微調整機構が付
設された直線撮像素子を配したことを特徴とする
ものである。
(実施例)
次に本考案を図示の実施例について詳細に説明
すれば、1はレンズ2を備えたカメラ主体であ
り、3はレンズ2に軸線l上に送りねじ4及びガ
イド5によつて進退動自在に取付けられた5角柱
状の反射鏡である。この反射鏡3は軸線lに直交
するよう位置付けられた稜線6を挟んで軸線lに
対して45°の等角度で左右に傾斜した対称な2つ
の反射面7,8を持つものであり、また、カメラ
内面上のこれらの反射面7,8からの反射光を受
ける2位置にはそれぞれ直線撮像素子9,10が
配置されている。これらの直線撮像素子の少くと
も一方にはその画素の配列方向への取付位置の微
調整機構11が付設されている。本実施例では微
調整機構11はマイクロメータの送り機構を利用
したものであつて、そのアウタースリーブ12を
カメラ主体1の外壁に固定するとともに、シンブ
ル13を回転させることによつて10μmの精度で
移動できるスピンドル14の先端に一方の直線撮
像素子9を取付けたものである。本実施例では微
調整機構11としてマイクロメータの送り機構を
利用したがこれに限定されるものではなく、また
本実施例では他方の直線撮像素子10はカメラ主
体1の内面に固定されたものとしたが、両方の直
線撮像素子9,10に取付位置の微調整機構11
を付設することもできる。これらの直線撮像素子
9,10は第3図に示されるように駆動回路に設
けられた単一のクロツク信号発生器15によつて
同時に駆動され、対応する画素から取出された電
気信号は差分回路16へ同時に入力されてその差
信号を得るものである。
すれば、1はレンズ2を備えたカメラ主体であ
り、3はレンズ2に軸線l上に送りねじ4及びガ
イド5によつて進退動自在に取付けられた5角柱
状の反射鏡である。この反射鏡3は軸線lに直交
するよう位置付けられた稜線6を挟んで軸線lに
対して45°の等角度で左右に傾斜した対称な2つ
の反射面7,8を持つものであり、また、カメラ
内面上のこれらの反射面7,8からの反射光を受
ける2位置にはそれぞれ直線撮像素子9,10が
配置されている。これらの直線撮像素子の少くと
も一方にはその画素の配列方向への取付位置の微
調整機構11が付設されている。本実施例では微
調整機構11はマイクロメータの送り機構を利用
したものであつて、そのアウタースリーブ12を
カメラ主体1の外壁に固定するとともに、シンブ
ル13を回転させることによつて10μmの精度で
移動できるスピンドル14の先端に一方の直線撮
像素子9を取付けたものである。本実施例では微
調整機構11としてマイクロメータの送り機構を
利用したがこれに限定されるものではなく、また
本実施例では他方の直線撮像素子10はカメラ主
体1の内面に固定されたものとしたが、両方の直
線撮像素子9,10に取付位置の微調整機構11
を付設することもできる。これらの直線撮像素子
9,10は第3図に示されるように駆動回路に設
けられた単一のクロツク信号発生器15によつて
同時に駆動され、対応する画素から取出された電
気信号は差分回路16へ同時に入力されてその差
信号を得るものである。
(作用)
このように構成されたものは、第4図に示され
るように懸垂碍子等の対象物20の上方に対象物
20の半径方向と反射鏡3の稜線6の長手方向と
を一致させてセツトし、対象物20を自転させつ
つその表面からの反射光をレンズ2により受光さ
せて使用するものであるが、レンズ2からの入射
光はその軸線l上に設けられた反射鏡3の軸線l
に直交する稜線6を挟んで軸線lに対して等角度
に傾斜させた対称な2つの反射面7,8によつて
左右に2分され、これらの反射面7,8からの反
射光を受けるカメラ内面上の2位置に配された直
線撮像素子9,10によつて受光されて対象物2
0の半径方向の明るさの変化を示す電気信号に変
換され、演算処理部17によつて処理されること
となる。このとき、第1図及び第3図からも明ら
かなように、軸線lから左右いずれかにわずかに
外れた光路から入射する光線が反射面7,8のい
ずれかにより振り分けられて直線撮像素子9また
は10へ入ることとなり、このようなわずかな光
路の差を持つ光線の振り分けは反射鏡3によつて
行われるので、従来のように直線撮像素子9,1
0を近接配置しなくとも対象物20の表面の非常
に近接した2本の線21,22上の明るさを適確
に把えて直線撮像素子9,10により電気信号に
変換させることが可能となる。
るように懸垂碍子等の対象物20の上方に対象物
20の半径方向と反射鏡3の稜線6の長手方向と
を一致させてセツトし、対象物20を自転させつ
つその表面からの反射光をレンズ2により受光さ
せて使用するものであるが、レンズ2からの入射
光はその軸線l上に設けられた反射鏡3の軸線l
に直交する稜線6を挟んで軸線lに対して等角度
に傾斜させた対称な2つの反射面7,8によつて
左右に2分され、これらの反射面7,8からの反
射光を受けるカメラ内面上の2位置に配された直
線撮像素子9,10によつて受光されて対象物2
0の半径方向の明るさの変化を示す電気信号に変
換され、演算処理部17によつて処理されること
となる。このとき、第1図及び第3図からも明ら
かなように、軸線lから左右いずれかにわずかに
外れた光路から入射する光線が反射面7,8のい
ずれかにより振り分けられて直線撮像素子9また
は10へ入ることとなり、このようなわずかな光
路の差を持つ光線の振り分けは反射鏡3によつて
行われるので、従来のように直線撮像素子9,1
0を近接配置しなくとも対象物20の表面の非常
に近接した2本の線21,22上の明るさを適確
に把えて直線撮像素子9,10により電気信号に
変換させることが可能となる。
このような直線撮像素子9,10からの出力信
号は、対象物20の表面に欠陥がない場合にはそ
れぞれの長手方向には変化があるものの各直線撮
像素子9,10の相対応する画素からの出力信号
はそれぞれ同一であるために、直線撮像素子9か
らの出力信号と直線撮像素子10からの出力信号
との差を演算すれば差信号はゼロとなる。これに
対して第4図に示すように対象物20の表面に欠
陥30が存在すれば線21を把えた直線撮像素子
9の出力信号は第5図上段のように欠陥30によ
る明るさの変化を含む波形となり、線22を把え
た直線撮像素子10の出力信号は第5図中段のよ
うな波形となる。従つて両者の差を演算すれば第
5図下段に示されるように欠陥信号のみとなつた
差信号を取り出すことができる。しかも、対比さ
れる線21と線22との間隔を極めて接近させる
ことができるので、非常に微細な欠陥30をも検
出することができ、検査精度を著しく向上させる
ことができる。一方、対比される線21と線22
との間隔は必要以上に狭すぎると検出すべき欠点
も捉えられなくなる。従つて、最適な間隔は対象
物の移動速度、直線撮像素子9の走査速度、検出
すべき最小欠点の大きさに基づいて決定する必要
がある。この点、本考案においては反射鏡3を送
りねじ4により軸線方向に進退可能としてあるの
で、対比される線21と線22との間隔を容易に
最適な間隔に設定できる。
号は、対象物20の表面に欠陥がない場合にはそ
れぞれの長手方向には変化があるものの各直線撮
像素子9,10の相対応する画素からの出力信号
はそれぞれ同一であるために、直線撮像素子9か
らの出力信号と直線撮像素子10からの出力信号
との差を演算すれば差信号はゼロとなる。これに
対して第4図に示すように対象物20の表面に欠
陥30が存在すれば線21を把えた直線撮像素子
9の出力信号は第5図上段のように欠陥30によ
る明るさの変化を含む波形となり、線22を把え
た直線撮像素子10の出力信号は第5図中段のよ
うな波形となる。従つて両者の差を演算すれば第
5図下段に示されるように欠陥信号のみとなつた
差信号を取り出すことができる。しかも、対比さ
れる線21と線22との間隔を極めて接近させる
ことができるので、非常に微細な欠陥30をも検
出することができ、検査精度を著しく向上させる
ことができる。一方、対比される線21と線22
との間隔は必要以上に狭すぎると検出すべき欠点
も捉えられなくなる。従つて、最適な間隔は対象
物の移動速度、直線撮像素子9の走査速度、検出
すべき最小欠点の大きさに基づいて決定する必要
がある。この点、本考案においては反射鏡3を送
りねじ4により軸線方向に進退可能としてあるの
で、対比される線21と線22との間隔を容易に
最適な間隔に設定できる。
例えば、対象物の移動速度が250mm/sec、2048
ビツトCCDの直線撮像素子9の走査速度が
3msec、検出すべき最小欠点の大きさを1mmとし
た場合には、2本の線21と線22との間隔の最
適値は2mmとなり、送りねじ4により反射鏡3を
移動させることにより容易にこの間隔に設定する
ことができる。
ビツトCCDの直線撮像素子9の走査速度が
3msec、検出すべき最小欠点の大きさを1mmとし
た場合には、2本の線21と線22との間隔の最
適値は2mmとなり、送りねじ4により反射鏡3を
移動させることにより容易にこの間隔に設定する
ことができる。
またこのように、本考案の欠陥検査用カメラに
おいては2本の直線撮像素子9,10の相対応す
る画素上に対象物20上の隣接する2点の像が正
確に結ばれる必要があるが、従来のように2本の
直線撮像素子をテレビカメラの撮像面に近接させ
て並列配置する場合とは異なり、カメラ本体1の
離れた場所に別々に直線撮像素子を取付ける場合
には両者の位置合せが必ずしも容易ではない。即
ち、ひとつの画素は十数μmの大きさを有するの
みであるから、2本の直線撮像素子9,10の画
素の配列方向への取付位置が十数μmずれていた
場合には対象物20に欠陥がないにもかかわらず
照明むらによる明るさの変化による欠点信号を出
力することとなる。しかし、本考案においては直
線撮像素子9,10の少くとも一方に取付位置の
微調整機構11を付設したので、このような取付
位置のずれは一方の直線撮像素子9を画素の配列
方向へ10μmの精度で移動させて補正することが
でき、直線撮像素子9,10をカメラ本体1の内
面上の離れた位置に取付けたことによる検査精度
の低下を防止することができる。
おいては2本の直線撮像素子9,10の相対応す
る画素上に対象物20上の隣接する2点の像が正
確に結ばれる必要があるが、従来のように2本の
直線撮像素子をテレビカメラの撮像面に近接させ
て並列配置する場合とは異なり、カメラ本体1の
離れた場所に別々に直線撮像素子を取付ける場合
には両者の位置合せが必ずしも容易ではない。即
ち、ひとつの画素は十数μmの大きさを有するの
みであるから、2本の直線撮像素子9,10の画
素の配列方向への取付位置が十数μmずれていた
場合には対象物20に欠陥がないにもかかわらず
照明むらによる明るさの変化による欠点信号を出
力することとなる。しかし、本考案においては直
線撮像素子9,10の少くとも一方に取付位置の
微調整機構11を付設したので、このような取付
位置のずれは一方の直線撮像素子9を画素の配列
方向へ10μmの精度で移動させて補正することが
でき、直線撮像素子9,10をカメラ本体1の内
面上の離れた位置に取付けたことによる検査精度
の低下を防止することができる。
(考案の効果)
本考案は以上の説明からも明らかなように、通
常の直線撮像素子を利用して対象物表面の極めて
近接した2本の線上の明るさを電気信号に変換し
て対比することができ、しかも少くとも一方の直
線撮像素子に画素の配列方向への取付位置の微調
整機構を付設することにより直線撮像素子を離れ
た位置に取付けたことによる検査精度の低下を防
止することに成功したものである。また反射鏡を
送りねじにより軸線方向に進退可能としてあるの
で、対比される線と線との間隔を最適な間隔に容
易に設定できる。このように本考案は対象物の表
面の欠陥を精度良く適確に検査することができる
ものであるから、碍子その他の複雑な凹凸面を有
する対象物の欠陥をオンラインで適確に検査でき
る欠陥検査用カメラとしてその実用的価値は極め
て大なものである。
常の直線撮像素子を利用して対象物表面の極めて
近接した2本の線上の明るさを電気信号に変換し
て対比することができ、しかも少くとも一方の直
線撮像素子に画素の配列方向への取付位置の微調
整機構を付設することにより直線撮像素子を離れ
た位置に取付けたことによる検査精度の低下を防
止することに成功したものである。また反射鏡を
送りねじにより軸線方向に進退可能としてあるの
で、対比される線と線との間隔を最適な間隔に容
易に設定できる。このように本考案は対象物の表
面の欠陥を精度良く適確に検査することができる
ものであるから、碍子その他の複雑な凹凸面を有
する対象物の欠陥をオンラインで適確に検査でき
る欠陥検査用カメラとしてその実用的価値は極め
て大なものである。
第1図は本考案の実施例を示す水平断面図、第
2図はその垂直断面図、第3図はそのシステム構
成図、第4図は本考案の欠陥検査用カメラの使用
状態を示す一部切欠斜視図、第5図は各撮像素子
の出力信号及びその差信号の波形図である。 2……レンズ、3……反射鏡、6……稜線、
7,8……反射面、9,10……直線撮像素子、
11……微調整機構、l……レンズ2の軸線。
2図はその垂直断面図、第3図はそのシステム構
成図、第4図は本考案の欠陥検査用カメラの使用
状態を示す一部切欠斜視図、第5図は各撮像素子
の出力信号及びその差信号の波形図である。 2……レンズ、3……反射鏡、6……稜線、
7,8……反射面、9,10……直線撮像素子、
11……微調整機構、l……レンズ2の軸線。
Claims (1)
- レンズ2の軸線l上に該軸線lに直交する稜線
6を挟んで軸線lに対して等角度に傾斜する対称
な2つの反射面7,8を持つ反射鏡3を取付ける
とともに、この反射鏡3を送りねじ4により軸線
l方向に進退可能とし、またこれらの反射面7,
8からの反射光を受けるカメラ内面上の2位置に
は、少なくとも一方に画素の配列方向への取付位
置の微調整機構11が付設された直線撮像素子
9,10を配したことを特徴とする欠陥検査用カ
メラ。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1985014048U JPH0411414Y2 (ja) | 1985-02-01 | 1985-02-01 | |
US06/776,892 US4664520A (en) | 1984-09-29 | 1985-09-17 | Camera for visual inspection |
DE8585306844T DE3581870D1 (de) | 1984-09-29 | 1985-09-26 | Kamera zur optischen untersuchung. |
EP85306844A EP0177273B1 (en) | 1984-09-29 | 1985-09-26 | Camera for visual inspection |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1985014048U JPH0411414Y2 (ja) | 1985-02-01 | 1985-02-01 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61131174U JPS61131174U (ja) | 1986-08-16 |
JPH0411414Y2 true JPH0411414Y2 (ja) | 1992-03-23 |
Family
ID=30498611
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1985014048U Expired JPH0411414Y2 (ja) | 1984-09-29 | 1985-02-01 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0411414Y2 (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS447278Y1 (ja) * | 1965-06-14 | 1969-03-18 | ||
JPS4964485A (ja) * | 1972-10-20 | 1974-06-21 | ||
JPS5322A (en) * | 1976-06-23 | 1978-01-05 | Fujitsu Ltd | Solid pickup unit |
-
1985
- 1985-02-01 JP JP1985014048U patent/JPH0411414Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS447278Y1 (ja) * | 1965-06-14 | 1969-03-18 | ||
JPS4964485A (ja) * | 1972-10-20 | 1974-06-21 | ||
JPS5322A (en) * | 1976-06-23 | 1978-01-05 | Fujitsu Ltd | Solid pickup unit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS61131174U (ja) | 1986-08-16 |
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