JPS6052450B2 - ROM check method - Google Patents

ROM check method

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Publication number
JPS6052450B2
JPS6052450B2 JP53103677A JP10367778A JPS6052450B2 JP S6052450 B2 JPS6052450 B2 JP S6052450B2 JP 53103677 A JP53103677 A JP 53103677A JP 10367778 A JP10367778 A JP 10367778A JP S6052450 B2 JPS6052450 B2 JP S6052450B2
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JP
Japan
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rom
address
output
signal
lsi
Prior art date
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JP53103677A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS5532232A (en
Inventor
知洋 清水
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KASHIO KEISANKI KK
Original Assignee
KASHIO KEISANKI KK
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Publication date
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Publication of JPS6052450B2 publication Critical patent/JPS6052450B2/en
Expired legal-status Critical Current

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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は大規模集積回路(LSI)内に組込まれたリ
ードオンリメモリ(ROM)の機能をチェックするRO
Mチェック方式に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention provides an RO that checks the function of a read-only memory (ROM) built into a large-scale integrated circuit (LSI).
Regarding the M check method.

小型電子式計算機等では、マイクロインストラクショ
ン記憶用のROMを備え、このROMの出力によつて演
算処理を実行するのが一般的である。
Small electronic calculators and the like are generally equipped with a ROM for storing microinstructions, and arithmetic processing is executed based on the output of this ROM.

しカルて、このROMを含む各種回路をLSI化した場
合、不良動作を起すのはほとんどROM部であり、この
ROMをチェックする必要があるが、従来では、ROM
の出力信号により所定の演算処理を実行させて、その結
果を判別する方法が行われていた。しかしながらこのよ
うなチェック方法では、予めプログラムされた種々の演
算を実行するために、多くの時間を必要とし、しかも、
十分な精度のチェックが出来ないという欠改があつた。
また、ROMをチェックする方法としては、上記の方
法の外に、ROMのアドレスを自動的に進め、その際R
OMより出力する信号をチェックする方法もあるが、そ
の場合は、ROMから出力された次アドレス信号のチェ
ックは行えず、従つて十分な精度のチェックは不可能で
あつた。 本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、
ROMより出力する次アドレス信号に対し、LSIの外
部から所定の検査信号を入力して、その両信号に従つて
ROMのアドレスを連続的に進め、また、その際ROM
の出力信号を検査することにより、次アドレス信号を含
むROM出力全てのチェックが可能なROMチェック方
式を提供することを目的とする。
However, when various circuits including this ROM are integrated into an LSI, most malfunctions occur in the ROM section, and it is necessary to check this ROM.
A method has been used in which predetermined arithmetic processing is executed based on the output signal of the controller, and the results are determined. However, such a checking method requires a lot of time to execute various pre-programmed operations, and
There was a flaw in the lack of sufficient accuracy checks.
In addition to the method described above, there is also a method to check the ROM, in which the address of the ROM is automatically advanced and R
Although there is a method of checking the signal output from the OM, in that case, the next address signal output from the ROM cannot be checked, and therefore it is impossible to check with sufficient accuracy. The present invention has been made in view of the above points, and
A predetermined test signal is input from outside the LSI to the next address signal output from the ROM, and the ROM address is continuously advanced according to both signals.
It is an object of the present invention to provide a ROM check method that can check all ROM outputs including the next address signal by checking the output signal of the address signal.

以下図面を参照して本発明の一実施例を説明する。 An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図に於て、1は小型電子式計算機の中央処理回路
(CPU)であり、1チップのLSIで構成されている
In FIG. 1, numeral 1 indicates a central processing circuit (CPU) of a small electronic computer, which is composed of one chip of LSI.

このCPUI内にはROM2、ランダムアクセスメモリ
(RAM)3、演算処理回路(ALU)4等が設けられ
ている。ROM2は、種々のマイクロインストラクショ
ンが固定的に記憶されており、ROMアドレス部5によ
つて指定されたアドレスに対応して、RAM3のアドレ
ス指定を行うアドレス指定信号ADをラインaを介して
、ALU4に対するコード信号CODE及び種々の制御
信号INSをそれぞれラインb、cを介して出力すると
ともに、ラインdを介して次アドレス信号NAを出力す
る。なお、本実施例では説明を簡略化する為に次アドレ
ス信号NAは5ビツトとして説明する。RAM3及びA
LU4は上記のアドレス指定信号ADlコード信号CO
DEl制御信号1NS等によつて、所定の演算処理を実
行し記憶するとともに、表示部(図示せず。)にそのデ
ータを転送し表示させる。また、ラインaを介して出力
されたアドレス指定信号鳩はアンド回路6を介して出力
端子01〜012より、ラインbを介して出力されたコ
ード信号CODEはアンド回路7を介して出力端子01
3〜016より、ラインcを介して出力された制御信号
1NSはアンド回路8を介して出力端子017〜020
により出力される。なお、上記のアンド回路6〜8は入
力端子ちより入力する制御信号によつて開成制御される
。そして、出力端子01〜020より出力された信号は
、外部に接続されたチエツク回路9に入力し、検査され
る。このチエツク回路9は、予期される出力を予め組み
込んでおき、実際の出力と比較することにより自動的に
判定するか、あるいは転送されてきたROM2出力を印
字し、それによつて判定するように構成されている。ラ
インdを介して出力された次アドレス信号NAは、次ア
ドレス信号制御部10内の排他的オア回路11〜15の
一方の入力端に与えられる。そして、この排他的オア回
路11〜15の他方の入力端には、上記制御信号ちによ
つて開成制御されるアンド回路16〜20を介して入力
端子11〜ちより次アドレス信号NAチエツク用の制御
信号が1、2、4、8、16の重み付けをされて入力さ
れる。そして、この排他的オア回路11〜15の−出力
は、アドレスレジスタ21に、制御信号中にROMAに
よつて読込まれる。このアドレスレジスタ21の出力は
、上記ROMアドレス部5に入力し、対応するアドレス
ラインを選択して、ROM2から各種信号を出力させる
。第2図は、第1図の要部を詳細に示した図である。
A ROM 2, a random access memory (RAM) 3, an arithmetic processing circuit (ALU) 4, and the like are provided within the CPUI. The ROM 2 stores various microinstructions in a fixed manner, and sends an address designation signal AD for addressing the RAM 3 to the ALU 4 via a line a, corresponding to an address designated by the ROM address section 5. A code signal CODE and various control signals INS are outputted via lines b and c, respectively, and a next address signal NA is outputted via line d. In this embodiment, in order to simplify the explanation, the next address signal NA will be explained as having 5 bits. RAM3 and A
LU4 is the above address designation signal ADl code signal CO
Using the DE1 control signal 1NS and the like, predetermined arithmetic processing is executed and stored, and the data is transferred to and displayed on a display section (not shown). Further, the address designation signal outputted through the line a is transmitted through the AND circuit 6 to the output terminals 01 to 012, and the code signal CODE outputted through the line b is transmitted through the AND circuit 7 to the output terminals 01 to 012.
The control signal 1NS output from line c from 3 to 016 is sent to output terminals 017 to 020 via AND circuit 8.
is output by Note that the above AND circuits 6 to 8 are controlled to open or open by a control signal inputted from the input terminal. The signals output from the output terminals 01 to 020 are input to a check circuit 9 connected to the outside and inspected. This check circuit 9 is configured to have an expected output installed in advance and automatically judge it by comparing it with the actual output, or print the transferred ROM2 output and make a judgment based on it. has been done. The next address signal NA output via line d is applied to one input terminal of exclusive OR circuits 11 to 15 in next address signal control section 10. The other input terminals of the exclusive OR circuits 11 to 15 are connected to the input terminals 11 through AND circuits 16 to 20 whose openings are controlled by the control signals. The control signals are inputted with weights of 1, 2, 4, 8, and 16. The negative outputs of the exclusive OR circuits 11 to 15 are then read into the address register 21 by ROMA in the control signal. The output of this address register 21 is input to the ROM address section 5, the corresponding address line is selected, and various signals are outputted from the ROM 2. FIG. 2 is a diagram showing the main parts of FIG. 1 in detail.

すなわち、上記アドレスレジスタ21の出力は重み付け
1、2、4、8、16をもつてROMアドレス部5に入
力され、所定のアドレスライン11,12・・・・・・
を選択する。そして、その選択された・アドレスライン
により、ROM2からは、上記した如く所定のアドレス
指定信号AD(フアーストレジスタF指定用の6ビツト
、セカンドレジスタS指定用の6ビツトの計12ビツト
)、コード信号CODE(4ビツト)、インストラクシ
ヨン信号INS(4ビツト)及び次アドレス信号NA(
5ビツト)を出力する。次に、上記のように構成された
本発明の動作を説明する。
That is, the output of the address register 21 is input to the ROM address section 5 with weightings of 1, 2, 4, 8, 16, and predetermined address lines 11, 12, . . .
Select. Then, according to the selected address line, the predetermined address designation signal AD (6 bits for designating first register F, 6 bits for designating second register S, 6 bits for designating second register S, total 12 bits) and code are output from ROM 2 as described above. Signal CODE (4 bits), instruction signal INS (4 bits) and next address signal NA (
5 bits). Next, the operation of the present invention configured as described above will be explained.

ROM2の出力をチエツクする際は、入力端子ちより制
御信号がアンド回路6〜8及びアンド回路16〜20に
各々入力し、夫々のゲートを開成する。そして、先ず、
アドレスライン11を選定するように、入力端子11〜
15からは、信号J(1、0、0、0、0)が入力され
る。(以下、データを記述する際は左から1、2、4、
8・・・・・・の重み付けをして行う。)なお、このと
きの排他的アンド回路11〜15には、次アドレス信号
NAは何も印加されていない。従つて、アドレスレジ.
スタ21には、入力端子11〜15より入力した信号(
1、0、0、0、0)が入力し記憶される。従つて、ア
ドレスライン11をROMアドレス部5に於て選択し、
その結果、RAM3のアドレス指定信号ADとしては(
1、0、1、0、0、0)の・フアーストレジスタF指
定信号と、(1、0、0、0、1)のセカンドレジスタ
S指定信号とを出力する。また、制御信号1NSとして
は、(0、1、0、0)を出力する。なお、このとき、
コード信号CODEは何も出力しない。)従つて、チエ
ツク回路9に於て、上述した如く、アドレス指定信号A
Dlコード信号CODEl制御信号1NSが、それぞれ
設計どおりに出力しているかどうか判定される。また、
このとき次アドレス信号NAは、(0、0、0、1、0
)を出力する。
When checking the output of the ROM 2, control signals are input from the input terminals to AND circuits 6 to 8 and AND circuits 16 to 20, respectively, and the respective gates are opened. And first,
In order to select the address line 11, input terminals 11~
A signal J (1, 0, 0, 0, 0) is input from 15. (Hereafter, when writing data, 1, 2, 4 from the left,
This is done with weighting of 8... ) Note that no next address signal NA is applied to the exclusive AND circuits 11 to 15 at this time. Therefore, the address register.
The star 21 receives signals input from the input terminals 11 to 15 (
1, 0, 0, 0, 0) is input and stored. Therefore, select the address line 11 in the ROM address section 5,
As a result, the address designation signal AD of RAM3 is (
A first register F designation signal of (1, 0, 1, 0, 0, 0) and a second register S designation signal of (1, 0, 0, 0, 1) are output. Furthermore, (0, 1, 0, 0) is output as the control signal 1NS. Furthermore, at this time,
The code signal CODE outputs nothing. ) Therefore, in the check circuit 9, as mentioned above, the address designation signal A
It is determined whether the Dl code signal CODEl control signal 1NS is outputting as designed. Also,
At this time, the next address signal NA is (0, 0, 0, 1, 0
) is output.

すなわち第3図の如くライン13を選択するよう指令さ
れるわけであるが、同時に入力端子11〜ちからは信号
(0、1、0、1、0)が入力され、その結果、アドレ
スレジスタ21には、排他的オア回路11〜15の出力
(イ)、1、0、0、0)が記憶されることになり、従
つて次ステツプとしてはライン12を選択することにな
る。そして、ライン12がROMアドレス部5に於て選
択されると、上記同様にして、アドレス指定信号ADす
なわちフアーストレジスタF指定信号(0、1、0、1
、0、1)及びセカンドレジスタS指定信号(0、1、
0、0、1、0)コード信号CODE(1、0、0、0
)、制御信号1NS(0、0、0、1)がそれぞれ出力
端子01〜022より出力され、チエツク回路9に於て
検査される。
In other words, a command is given to select line 13 as shown in FIG. 3, but at the same time signals (0, 1, 0, 1, 0) are input from input terminals 11 to The outputs (A), 1, 0, 0, 0) of the exclusive OR circuits 11 to 15 are stored, and therefore line 12 is selected as the next step. Then, when line 12 is selected in the ROM address section 5, the address designation signal AD, that is, the first register F designation signal (0, 1, 0, 1
, 0, 1) and second register S designation signal (0, 1,
0, 0, 1, 0) code signal CODE (1, 0, 0, 0)
) and control signal 1NS (0, 0, 0, 1) are outputted from output terminals 01 to 022, respectively, and are checked in check circuit 9.

また、このとき次アドレス信号NAとして(0、0、0
、0、1)が出力され、そして同時に入力端子11〜I
,より第3図に示す如く信号(1、1、0、0、1)が
入力されることにより、排他的オア回路11〜15の出
力は(1、1、0、0、0)となり、従つて次ステツプ
としてライン13が選択される。以下同様にして、順次
ライン13,1,・・・・・が連続して選択され、RO
M2の出力がチエツクされる。
Also, at this time, as the next address signal NA (0, 0, 0
, 0, 1) are output, and at the same time input terminals 11 to I
, by inputting the signals (1, 1, 0, 0, 1) as shown in FIG. 3, the outputs of exclusive OR circuits 11 to 15 become (1, 1, 0, 0, 0), Therefore, line 13 is selected as the next step. Thereafter, in the same way, lines 13, 1, etc. are successively selected, and RO
The output of M2 is checked.

もし、このとき、ROM2、ROMアドレス部5に欠陥
がある場合は、次アドレス信号NAを除くROM2出力
がチエツク回路9においてチエツクされることにより異
常が検出され、また、次アドレス信号NAが誤つて出力
する際にも、アドレスライン11,12・・・・・・の
選択が順序正しく選択されなくなり、従つて、次ステツ
プのROM2の出力は予期される出力とは異なつたもの
となり、その異常が検出されることになる。なお、上記
実施例においては、排他的オア回路11〜15を用いて
次アドレス信号NAと入力端子11〜ちよりの信号とを
利用し、順次アドレス指定するようにしたが、排他的ノ
ア回路等の一致回路によつて制御するようにしてもよい
If, at this time, there is a defect in ROM2 and ROM address section 5, the abnormality will be detected by checking the ROM2 outputs except for the next address signal NA in the check circuit 9, and the next address signal NA will be erroneously detected. When outputting, the address lines 11, 12, etc. are not selected in the correct order, so the output of ROM2 in the next step is different from the expected output, and this abnormality is caused. It will be detected. In the above embodiment, the exclusive OR circuits 11 to 15 are used to sequentially specify addresses using the next address signal NA and the signals from the input terminals 11 to next. It may also be controlled by a matching circuit.

また、上記実施例においては、ROM2出力をチエツク
する為に出力端子01〜020を別設し、その端子01
〜020よりの出力をチエツク回路9によつて検査する
ようにしたが、RAM3に所定のデータを記憶しておき
、このRAM3をROM2の出力を利用してアドレス指
定し、このRAM3の記憶内容を外部メモリあるいは表
示部等に出力する端子より読出して、ROM2の設計に
より予期される設計データと実際の読出しデータを比較
して判定するようにすれば、外部出力端子01〜020
を別設することなくチエツクを行うことが可能となる。
Further, in the above embodiment, output terminals 01 to 020 are separately provided in order to check the ROM2 output, and the terminals 01 to 020 are separately provided.
The output from ~020 is checked by the check circuit 9. Predetermined data is stored in the RAM 3, and this RAM 3 is addressed using the output of the ROM 2, and the stored contents of this RAM 3 are If the design data expected by the design of ROM2 is compared with the actual read data by reading from a terminal output to an external memory or display unit, etc., the external output terminals 01 to 020
It becomes possible to perform the check without separately installing the .

以上詳細に説明した如く本発明によれば、ROMより出
力する次ステツプ指定用の次アドレス信号に対し、LS
Iの外部より所定の検査信号を入力し、その両信号に従
つてROMのアドレス指定を連続して行い、そして同時
にROM出力を検査してROMの良否を判定することに
より簡単なチエツク用の回路を外部接続するだけで、上
記次アドレス信号を含むROM出力全てのチエツクを簡
単にしかも確実に行うことが出来るという優れた効果を
奏する。
As explained in detail above, according to the present invention, the LS
A simple check circuit is created by inputting a predetermined test signal from outside the I, sequentially specifying the address of the ROM according to both signals, and simultaneously checking the ROM output to determine the quality of the ROM. This has the excellent effect that all ROM outputs including the next address signal can be easily and reliably checked simply by externally connecting the address signal.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

l 第1図は本発明の1実施例を説明するための小型電
子式計算機のプロツク回路図、第2図は第1図の要部詳
細図、第3図は本発明の動作を説明する為の各種信号を
示す図である。 1・・・・・・CPUl2・・・・・・ROMl3・・
・・・・RAMl4・・・・・AL,Ul5・・・・・
・ROMアドレス部、9・・・・・・チエツク回路、1
0・・・・・・次アドレス信号制御部、11〜15・・
・・・・排他的オア回路、21・・・・アドレスレジス
タ。
l Figure 1 is a block circuit diagram of a small electronic calculator for explaining one embodiment of the present invention, Figure 2 is a detailed diagram of the main part of Figure 1, and Figure 3 is for explaining the operation of the present invention. It is a figure showing various signals of. 1...CPU12...ROM13...
...RAM14...AL, Ul5...
・ROM address section, 9...Check circuit, 1
0...Next address signal control section, 11-15...
...Exclusive OR circuit, 21...Address register.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 自己の次アドレス指定信号を含む種々のマイクロイ
ンストラクションを固定的に記憶するROMの出力に制
御され種々の演算処理を実行する所定の論理回路を備え
たLSIに於て、上記次アドレス指定信号に対し、上記
LSI外部から入力された検査信号によりアドレス修飾
する手段と、該手段によつて修飾されたアドレス指定信
号によつて指定されるアドレスの記憶内容を直接あるい
は間接的に上記LSI外部に導出する手段とを設けたこ
とを特徴とするROMチェック方式。
1. In an LSI equipped with a predetermined logic circuit that executes various arithmetic operations under the control of the output of a ROM that permanently stores various microinstructions including its own next address designation signal, Means for modifying an address by a test signal input from outside the LSI, and directly or indirectly leading out the memory contents of the address designated by the address designation signal modified by the means to the outside of the LSI. A ROM check method characterized in that a means for checking a ROM is provided.
JP53103677A 1978-08-25 1978-08-25 ROM check method Expired JPS6052450B2 (en)

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